本發(fā)明涉及電磁兼容輻射發(fā)射檢測領(lǐng)域，尤其涉及一種環(huán)形輻射發(fā)射測試裝置及測試方法。

背景技術(shù)：

1、輻射發(fā)射測試常規(guī)要求是在半電波暗室內(nèi)部，保證穩(wěn)定干凈的電磁環(huán)境，暗室內(nèi)部具有轉(zhuǎn)臺、天線支架等、測試系統(tǒng)放置于暗室外部。此種方式是樣品放在轉(zhuǎn)臺上，轉(zhuǎn)臺根據(jù)軟件控制旋轉(zhuǎn)，找到樣品的最大輻射騷擾的角度。由于暗室的尺寸、特殊電壓電流、專業(yè)負載等原因，暗室無法滿足一些大型產(chǎn)品的測試。

2、隨著各個行業(yè)的快速發(fā)展，市場上出現(xiàn)了各種各樣的大型產(chǎn)品，例如大型商業(yè)空調(diào)、大型醫(yī)療設(shè)備、牽引系統(tǒng)等。此類設(shè)備含有以下特點：尺寸大、大電流高電壓、專業(yè)負載等，大多數(shù)電磁兼容試驗室無法滿足它們的測試要求，所以此類產(chǎn)品一般根據(jù)客戶產(chǎn)品的測試大綱及相關(guān)標準的要求進行現(xiàn)場測量。常規(guī)的現(xiàn)場測量是通過天線支架加上測試設(shè)備組成的測試系統(tǒng)，測試期間通過手動移動天線支架，在以產(chǎn)品為中心的3米或10米的距離處進行多角度的測量。因為通常測試天線4米多高，在現(xiàn)場測試移動較為困難，無法覆蓋所有可疑角度，存在遺漏的發(fā)射最大值的可能。并且測試的角度判斷會存在誤差，導(dǎo)致檢測復(fù)現(xiàn)性較差。該類測試方法還存在費時費力等問題。隨著市場及用戶對產(chǎn)品精密度和質(zhì)量的要求越來越高，傳統(tǒng)的人工移動及定位已越來越無法滿足社會需求，軟件加硬件的自動化測試已被廣泛應(yīng)用于各類產(chǎn)品生產(chǎn)和檢測中。

3、公開號為cn117590089a的中國專利公開了《基于全景掃描的電磁輻射發(fā)射最大值測試方法及裝置》，以建立以測試樣品為中心的球面，并對球面進行分割，再采用測試裝置與設(shè)備進行全面掃描測試，尋找輻射發(fā)射最大值并記錄位置。有些大型產(chǎn)品有特定的安裝環(huán)境和安裝方式，無法將被測產(chǎn)品放置于該測試裝置的中心，故無法采用該測試方法。此外，該測試裝置采用的機械掃描裝置必然會使用到較多的導(dǎo)體材料，在電磁波傳播的過程中，與導(dǎo)體相互作用，會出現(xiàn)電磁波發(fā)射的情況，發(fā)射的電磁波再次傳輸?shù)綔y試天線上與被測產(chǎn)品發(fā)射的信號疊加，導(dǎo)致被測產(chǎn)品的電磁發(fā)射值測試結(jié)果不準確。

技術(shù)實現(xiàn)思路

1、本發(fā)明的目的之一在于提供一種環(huán)形輻射發(fā)射測試裝置，適用于各類大型產(chǎn)品的輻射發(fā)射測試，測試效率高。

2、本發(fā)明的目的之一通過如下技術(shù)方案實現(xiàn)：

3、一種環(huán)形輻射發(fā)射測試裝置，包括具有測試天線的天線塔、環(huán)形導(dǎo)軌、信號傳輸電纜和上位機，所述天線塔被構(gòu)造成能夠沿所述導(dǎo)軌移動的活動部件，所述天線塔通過所述信號傳輸電纜連接所述上位機，所述上位機控制所述天線塔在所述導(dǎo)軌上移動；

4、所述天線塔包括天線塔基座、滾輪、豎桿、橫桿和所述測試天線，所述天線塔基座通過所述滾輪在所述導(dǎo)軌上移動，所述豎桿豎立在所述天線塔基座上，所述橫桿被構(gòu)造成安裝在所述豎桿上的高度可調(diào)節(jié)的部件，所述測試天線安裝在所述橫桿上。

5、本發(fā)明的測試裝置，可以測試樣品為中心，標記規(guī)定0°角，以測試樣品要求的測試距離為半徑鋪設(shè)環(huán)形導(dǎo)軌，然后將帶有測試天線的天線塔放置在導(dǎo)軌上，天線塔與上位機進行連接組成測試系統(tǒng)。其中上位機包括與測試天線通信的硬件和軟件。測試時，根據(jù)客戶大綱和相關(guān)標準的要求設(shè)定測試天線角度、測試天線高度、測試限值等，測試系統(tǒng)可以根據(jù)上位機設(shè)定參數(shù)自動準確的完成樣品的輻射發(fā)射測試。

6、本發(fā)明還具有以下優(yōu)選設(shè)計：

7、本發(fā)明的所述橫桿上設(shè)置有天線調(diào)節(jié)部件，所述測試天線具有與所述天線調(diào)節(jié)部件連接的連接部，所述連接部被構(gòu)造成能夠與所述天線調(diào)節(jié)部件相對移動和鎖緊的連接結(jié)構(gòu)，通過所述天線調(diào)節(jié)部件安裝測試天線，可以實現(xiàn)測試天線的前后位置微調(diào)，使測試樣品與測試天線之間的測試距離更準確。

8、本發(fā)明的所述測試天線的測試頻段為：30mhz～1ghz，可以采用寬帶天線或復(fù)合式天線。

9、本發(fā)明的所述測試天線的高度調(diào)節(jié)范圍為1m～4m。測試樣品設(shè)備常見有落地式和臺式兩種，其中臺式設(shè)備需要放置在0.8m的桌子上進行測試，用于模擬使用時的高度。為了覆蓋落地式和臺式所有設(shè)備的測試，當測試天線在高度范圍內(nèi)移動時，接收到的場強以駐波形式變化，波峰波谷的高度差約為λ/4，那么為了保證在30mhz時也能找到最大場強，此時λ＝3×108/30mhz＝10m，λ/4＝2.5m，由于桌子本身高0.8m，所以下限設(shè)為1m，而上限則為0.8+2.5＝3.3m，考慮到天線自身高度，測試天線的高度調(diào)節(jié)范圍為1m～4m。

10、本發(fā)明的所述導(dǎo)軌由多個圓弧導(dǎo)軌通過連接扣拼接而成，導(dǎo)軌可拆卸，并可以從環(huán)形到半環(huán)形，或者1/4環(huán)形進行切換調(diào)整。

11、本發(fā)明的目的之二在于提供采用上述環(huán)形輻射發(fā)射測試裝置的測試方法，包括步驟：

12、s1.將測試樣品放置在測試位置，確認測試天線到所述測試樣品的測試距離；

13、s2.在平面上鋪設(shè)以所述測試樣品的中心為圓心，所述測試距離為半徑的環(huán)形導(dǎo)軌；

14、s3.將天線塔安裝在所述導(dǎo)軌上，并將上位機與所述天線塔連接；

15、s4.設(shè)定所述天線塔在所述導(dǎo)軌上的初始位置、所述測試天線的高度，利用所述上位機設(shè)定所述天線塔移動速度；

16、s5.利用上位機記錄所述測試天線接收的測試信號強度并記錄對應(yīng)的測試天線位置；

17、s6.保存測試結(jié)果，測試結(jié)束。

18、本發(fā)明可以實現(xiàn)在測試樣品的使用現(xiàn)場，準確進行環(huán)繞測試樣品360°范圍的輻射發(fā)射測量。通過上位機軟件設(shè)置測試天線的旋轉(zhuǎn)角度、測試天線高度、天線塔在導(dǎo)軌上的旋轉(zhuǎn)速度等，同步記錄測試天線位置信息與輻射發(fā)射測試結(jié)果信息，極大地方便客戶現(xiàn)場輻射發(fā)射測試的要求。

19、與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明達到的有益效果如下：

20、1.本發(fā)明的測試裝置測試靈活性高，可以攜帶到測試樣品的使用現(xiàn)場開展輻射發(fā)射測試。

21、2.本發(fā)明采用環(huán)形導(dǎo)軌和天線塔相結(jié)合，控制測試天線在導(dǎo)軌上進行旋轉(zhuǎn)移動，可以精確控制測試天線的高度以及在導(dǎo)軌上的移動速度和角度，在平面內(nèi)進行360°滾動尋找測試樣品的最大輻射騷擾點，不會遺漏，測試結(jié)果準確。

22、3.本發(fā)明可以覆蓋落地式和臺式等所有大型設(shè)備的輻射發(fā)射測試，通用性強，利于推廣。

技術(shù)特征：

1.一種環(huán)形輻射發(fā)射測試裝置，包括具有測試天線的天線塔，其特征在于：還包括環(huán)形導(dǎo)軌、信號傳輸電纜和上位機，所述天線塔被構(gòu)造成能夠沿所述導(dǎo)軌移動的活動部件，所述天線塔通過所述信號傳輸電纜連接所述上位機，所述上位機控制所述天線塔在所述導(dǎo)軌上移動；

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種環(huán)形輻射發(fā)射測試裝置，其特征在于：所述橫桿上設(shè)置有天線調(diào)節(jié)部件，所述測試天線具有與所述天線調(diào)節(jié)部件連接的連接部，所述連接部被構(gòu)造成能夠與所述天線調(diào)節(jié)部件相對移動和鎖緊的連接結(jié)構(gòu)。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種環(huán)形輻射發(fā)射測試裝置，其特征在于：所述測試天線的測試頻段為：30mhz～1ghz。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種環(huán)形輻射發(fā)射測試裝置，其特征在于：所述測試天線的高度調(diào)節(jié)范圍為1m～4m。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種環(huán)形輻射發(fā)射測試裝置，其特征在于，所述導(dǎo)軌由多個圓弧導(dǎo)軌通過連接扣拼接而成。

6.一種采用如權(quán)利要求1至5任意一項環(huán)形輻射發(fā)射測試裝置的測試方法，其特征在于，包括步驟：

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開了一種環(huán)形輻射發(fā)射測試裝置及測試方法，包括具有測試天線的天線塔、環(huán)形導(dǎo)軌、信號傳輸電纜和上位機，所述天線塔被構(gòu)造成能夠沿所述導(dǎo)軌移動的活動部件，所述天線塔通過所述信號傳輸電纜連接所述上位機，所述上位機控制所述天線塔在所述導(dǎo)軌上移動；所述天線塔包括天線塔基座、滾輪、豎桿、橫桿和所述測試天線，所述天線塔基座通過所述滾輪在所述導(dǎo)軌上移動，所述豎桿豎立在所述天線塔基座上，所述橫桿被構(gòu)造成安裝在所述豎桿上的高度可調(diào)節(jié)的部件，所述測試天線安裝在所述橫桿上。本發(fā)明適用于各類大型產(chǎn)品的輻射發(fā)射測試，測試效率高。

技術(shù)研發(fā)人員：鄭上上,劉國榮,曾博,陳慶瑜,熊德貴
受保護的技術(shù)使用者：威凱檢測技術(shù)有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2025/1/9