本說明書涉及電磁監(jiān)測，特別涉及一種電磁監(jiān)測的管控系統(tǒng)、方法、裝置和介質。

背景技術：

1、電磁監(jiān)測廣泛應用于通信、雷達、航空航天，以及無線電頻譜管理等領域。傳統(tǒng)的電磁監(jiān)測設備一般按人工提前調試或預設的設備參數(shù)自動進行測試。在自動測試前，為了保證測試數(shù)據(jù)的可靠性，需要做好設備校準和設備測試參數(shù)的合理配置。

2、在獲取電磁測試數(shù)據(jù)后，設備可以基于自身配套系統(tǒng)對電磁監(jiān)測數(shù)據(jù)的進行實時統(tǒng)計分析和預處理，但是在自動測試時，設備校準誤差以及設備測試參數(shù)設置錯誤等問題往往比較隱蔽，加上可能存在人工核查疏漏問題，這樣獲取的電磁測試數(shù)據(jù)質量較低，甚至無法使用，而且往往在自動測試完成后才發(fā)現(xiàn)此類問題。

3、因此，有必要提供一種電磁監(jiān)測的管控系統(tǒng)、方法、裝置和介質，可以在設備本身對數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析階段，及時發(fā)現(xiàn)前期設備校準問題和/或設備測試參數(shù)錯誤設置問題，進而保證后續(xù)采集的電磁測試數(shù)據(jù)的質量，提高監(jiān)測效率和準確性，避免產(chǎn)生不必要的采集成本。

技術實現(xiàn)思路

1、為了解決上述在設備本身對數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析階段，不能及時發(fā)現(xiàn)前期設備校準問題和/或設備測試參數(shù)錯誤設置問題，以保證后續(xù)采集的電磁測試數(shù)據(jù)的質量，提高監(jiān)測效率和準確性，避免產(chǎn)生不必要的采集成本。本說明書提供了一種電磁監(jiān)測的管控系統(tǒng)、方法、裝置和介質。

2、本說明書的一個或多個實施例提供一種電磁監(jiān)測的管控系統(tǒng)，包括：數(shù)據(jù)傳輸模塊、數(shù)據(jù)緩存模塊、處理模塊、存儲模塊和分析反饋模塊；所述數(shù)據(jù)傳輸模塊被配置為接收電磁環(huán)境測試數(shù)據(jù)，所述電磁環(huán)境測試數(shù)據(jù)包括至少一組測試項數(shù)據(jù)，所述測試項數(shù)據(jù)包括采樣頻譜數(shù)據(jù)、校準數(shù)據(jù)、天線和系統(tǒng)增益數(shù)據(jù)；所述數(shù)據(jù)緩存模塊被配置為緩存所述電磁環(huán)境測試數(shù)據(jù)；以及基于所述分析反饋模塊的控制指令，將所述電磁環(huán)境測試數(shù)據(jù)發(fā)送至所述處理模塊和/或所述存儲模塊；所述處理模塊被配置為基于所述電磁環(huán)境測試數(shù)據(jù)確定待分析數(shù)據(jù)，以及將所述待分析數(shù)據(jù)發(fā)送至所述存儲模塊；所述存儲模塊被配置為存儲所述電磁環(huán)境測試數(shù)據(jù)和所述待分析數(shù)據(jù)；所述分析反饋模塊被配置為確定所述控制指令以控制所述數(shù)據(jù)緩存模塊的數(shù)據(jù)傳輸流向；基于所述存儲模塊的所述待分析數(shù)據(jù)，通過測試參數(shù)判斷模型確定所述測試參數(shù)錯誤，其中，所述測試參數(shù)判斷模型為機器學習模型；所述測試參數(shù)判斷模型的訓練過程包括第一階段訓練和第二階段訓練，所述第一階段訓練是指初始的訓練，所述第二階段訓練是指第一階段訓練完成后進行的訓練，所述第一階段訓練包括：基于第一訓練集對測試參數(shù)判斷模型進行第一階段訓練；第一訓練集可以包括預設比例的第一類數(shù)據(jù)、第二類數(shù)據(jù)和第三類數(shù)據(jù)；所述第一類數(shù)據(jù)、第二類數(shù)據(jù)和第三類數(shù)據(jù)是指滿足所述預設比例的第一訓練集的三類不同的數(shù)據(jù)；響應于存在所述測試參數(shù)錯誤，發(fā)出參數(shù)錯誤預警。

3、本說明書的一個或多個實施例提供一種電磁監(jiān)測的管控方法，包括：接收電磁環(huán)境測試數(shù)據(jù)，所述電磁環(huán)境測試數(shù)據(jù)包括至少一組測試項數(shù)據(jù)，所述測試項數(shù)據(jù)包括采樣頻譜數(shù)據(jù)、校準數(shù)據(jù)、天線和系統(tǒng)增益數(shù)據(jù)；基于所述電磁環(huán)境測試數(shù)據(jù)確定待分析數(shù)據(jù)，以及存儲所述電磁環(huán)境測試數(shù)據(jù)和所述待分析數(shù)據(jù)；基于所述待分析數(shù)據(jù)，通過測試參數(shù)判斷模型確定是否存在測試參數(shù)錯誤，其中，所述測試參數(shù)判斷模型為機器學習模型；所述測試參數(shù)判斷模型的訓練過程包括第一階段訓練和第二階段訓練，所述第一階段訓練是指初始的訓練，所述第二階段訓練是指第一階段訓練完成后進行的訓練，所述第一階段訓練包括：基于第一訓練集對測試參數(shù)判斷模型進行第一階段訓練；第一訓練集可以包括預設比例的第一類數(shù)據(jù)、第二類數(shù)據(jù)和第三類數(shù)據(jù)；所述第一類數(shù)據(jù)、第二類數(shù)據(jù)和第三類數(shù)據(jù)是指滿足所述預設比例的第一訓練集的三類不同的數(shù)據(jù)；

4、響應于存在所述測試參數(shù)錯誤，發(fā)出參數(shù)錯誤預警。

技術特征：

1.一種電磁監(jiān)測的管控系統(tǒng)，其特征在于，包括：數(shù)據(jù)傳輸模塊、數(shù)據(jù)緩存模塊、處理模塊、存儲模塊和分析反饋模塊；

2.根據(jù)權要要求1所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述第二階段訓練基于第二訓練集對第一階段訓練后的測試參數(shù)判斷模型進行，第二訓練集包括第四類數(shù)據(jù)和第五類數(shù)據(jù)；

3.如權利要求1所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述分析反饋模塊進一步被配置為：

4.如權利要求3所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述分析反饋模塊進一步被配置為：

5.如權利要求4述的系統(tǒng)，其特征在于，所述分析反饋模塊進一步被配置為：

6.一種電磁監(jiān)測的管控方法，包括：

7.如權利要求6所述的方法，其特征在于，所述第二階段訓練基于第二訓練集對第一階段訓練后的測試參數(shù)判斷模型進行，第二訓練集包括第四類數(shù)據(jù)和第五類數(shù)據(jù)；

8.如權利要求6所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

9.一種電磁監(jiān)測的管控裝置，其特征在于，所述裝置包括至少一個存儲器和至少一個處理器，所述至少一個存儲器用于存儲計算機指令，所述至少一個處理器執(zhí)行所述計算機指令或部分指令，以實現(xiàn)權利要求6-8中任一項所述的電磁監(jiān)測的管控方法。

10.一種計算機可讀存儲介質，其特征在于，所述存儲介質存儲計算機指令，當計算機讀取所述計算機指令時，所述計算機執(zhí)行如權利要求6-8中任一項所述的電磁監(jiān)測的管控方法。

技術總結
本說明書實施例提供一種電磁監(jiān)測的管控系統(tǒng)、方法、裝置和介質，包括：數(shù)據(jù)傳輸模塊、數(shù)據(jù)緩存模塊、處理模塊、存儲模塊和分析反饋模塊；所述數(shù)據(jù)傳輸模塊被配置為接收電磁環(huán)境測試數(shù)據(jù)，所述電磁環(huán)境測試數(shù)據(jù)包括至少一組測試項數(shù)據(jù)，所述測試項數(shù)據(jù)包括采樣頻譜數(shù)據(jù)、校準數(shù)據(jù)、天線和系統(tǒng)增益數(shù)據(jù)；所述數(shù)據(jù)緩存模塊被配置為緩存所述電磁環(huán)境測試數(shù)據(jù)；以及基于所述分析反饋模塊的控制指令，將所述電磁環(huán)境測試數(shù)據(jù)發(fā)送至所述處理模塊和/或所述存儲模塊；所述處理模塊被配置為基于所述電磁環(huán)境測試數(shù)據(jù)確定待分析數(shù)據(jù)，以及將所述待分析數(shù)據(jù)發(fā)送至所述存儲模塊；所述存儲模塊被配置為存儲所述電磁環(huán)境測試數(shù)據(jù)和所述待分析數(shù)據(jù)。

技術研發(fā)人員：王凡,李正培,張光云,劉冬,劉旭,蔣波
受保護的技術使用者：成都德辰博?？萍加邢薰?br/>技術研發(fā)日：
技術公布日：2025/1/2