本發(fā)明涉及儀器儀表技術和圖像識別，特別涉及一種基于參數(shù)自動修正的熔點檢測方法和高精度熔點檢測儀。

背景技術：

1、根據(jù)物理化學的定義，物質的熔點是指該物質由固態(tài)變?yōu)橐簯B(tài)時的溫度。在有機化學領域中，熔點測定是辨認物質本性的基本手段，也是純度測定的重要方法之一。因此，熔點測定儀在化學工業(yè)、醫(yī)藥研究中具有重要地位，是生產(chǎn)藥物、香料、染料及其他有機晶體物質的必備儀器。

2、現(xiàn)有熔點測定儀在使用過程中，整個熔點儀的測試精度實際上是與環(huán)境、待測樣本本身的性質等多種因素相關聯(lián)的，任意因素都會導致測試結果的置信度受到影響；為了保證置信度，現(xiàn)有技術往往是采用測試多次，然后排除掉偏差較大的值，以保證置信度，但該方案增加了測試時間，降低了測試效率。

技術實現(xiàn)思路

1、為了解決現(xiàn)有技術的問題，本發(fā)明實施例提供了一種基于參數(shù)自動修正的熔點檢測方法和高精度熔點檢測儀。所述技術方案如下：

2、一方面，提供了一種基于參數(shù)自動修正的熔點檢測方法，所述方法應用于一種高精度熔點儀，所述高精度熔點儀包括放置槽和溫度探頭，所述方法包括：

3、在開始熔點測試后，獲取所述放置槽內(nèi)的圖像信息，以及所述溫度探頭所測所述放置槽內(nèi)的溫度；

4、識別所述圖像信息中待測樣品的溫度參數(shù)；

5、識別所述圖像信息中的環(huán)境參數(shù)；

6、根據(jù)所述溫度和所述環(huán)境參數(shù)，計算補償溫度；

7、根據(jù)所述溫度參數(shù)和所述補償溫度，計算所述待測樣品的熔點。

8、可選的，所述識別所述圖像信息中待測樣品的溫度參數(shù)包括：

9、識別所述圖像信息中待測樣品；

10、根據(jù)所述待測樣品所在圖像區(qū)域的特征值，識別出所述溫度參數(shù)。

11、可選的，所述識別所述圖像信息中待測樣品的溫度參數(shù)之后，所述方法還包括：

12、根據(jù)所述溫度參數(shù)，計算出所述待測樣品的加熱參數(shù)，所述加熱參數(shù)用于指示所述待測樣品的加熱均勻性。

13、可選的，所述識別所述圖像信息中的環(huán)境參數(shù)包括：

14、根據(jù)所述放置槽內(nèi)圖像信息的特征值，識別出所述環(huán)境參數(shù)，所述環(huán)境參數(shù)用于指示所述放置槽內(nèi)的環(huán)境溫度。

15、可選的，所述根據(jù)所述溫度和所述環(huán)境參數(shù)，計算補償溫度包括：

16、計算所述溫度、所述加熱參數(shù)和所述環(huán)境參數(shù)之間的相關性參數(shù)；

17、基于rbf網(wǎng)絡，構建與所述溫度、所述加熱參數(shù)和所述環(huán)境參數(shù)分別對應的溫度補償模型；分別將所述溫度、所述加熱參數(shù)和所述環(huán)境參數(shù)，輸入對應所述溫度補償模型，輸出初始補償溫度；

18、根據(jù)所述相關性參數(shù)，以及所述溫度、所述加熱參數(shù)和所述環(huán)境參數(shù)分別對應的初始補償溫度，計算二次補償溫度；

19、將所述二次補償溫度輸入至時間序列預測模型中，得到所述補償溫度。

20、可選的，所述根據(jù)所述溫度參數(shù)和所述補償溫度，計算所述待測樣品的熔點包括：基于決策森林算法，構建與所述溫度參數(shù)和所述補償溫度分別對應的熔點判定模型；

21、將所述溫度參數(shù)和所述補償溫度，輸入至對應的所述熔點判定模型，輸出所述溫度參數(shù)對應的預測值和所述補償溫度對應的預測值；

22、根據(jù)所述溫度參數(shù)對應的預測值和所述補償溫度對應的預測值，計算所述熔點。

23、可選的，所述獲取放置槽內(nèi)的圖像信息，以及溫度探頭所測的溫度之后，所述方法還包括：

24、獲取放置槽內(nèi)的基準圖像信息，以及溫度探頭所測的基準溫度；

25、根據(jù)所述基準圖像信息，對所述溫度參數(shù)進行矯正；

26、根據(jù)所述基準溫度，對所述溫度進行矯正。

27、另一方面，提供了一種高精度熔點檢測儀，所述高精度熔點檢測儀包括放置槽、溫度探頭、圖像采集模組以及處理模組，其中：

28、在開始熔點測試后，所述圖像采集模組用于獲取所述放置槽內(nèi)的圖像信息，以及所述溫度探頭所測所述放置槽內(nèi)的溫度；

29、所述處理模組用于識別所述圖像信息中待測樣品的溫度參數(shù)；

30、所述處理模組用于識別所述圖像信息中的環(huán)境參數(shù)；

31、所述處理模組用于根據(jù)所述溫度和所述環(huán)境參數(shù)，計算補償溫度；

32、所述處理模組用于根據(jù)所述溫度參數(shù)和所述補償溫度，計算所述待測樣品的熔點。

33、可選的，所述處理模組具體用于：

34、識別所述圖像信息中待測樣品；

35、根據(jù)所述待測樣品所在圖像區(qū)域的特征值，識別出所述溫度參數(shù)。

36、可選的，所述處理模組具體用于：

37、根據(jù)所述溫度參數(shù)，計算出所述待測樣品的加熱參數(shù)，所述加熱參數(shù)用于指示所述待測樣品的加熱均勻性。

38、可選的，所述處理模組具體用于：

39、根據(jù)所述放置槽內(nèi)圖像信息的特征值，識別出所述環(huán)境參數(shù)，所述環(huán)境參數(shù)用于指示所述放置槽內(nèi)的環(huán)境溫度。

40、可選的，所述處理模組具體用于：

41、計算所述溫度、所述加熱參數(shù)和所述環(huán)境參數(shù)之間的相關性參數(shù)；

42、基于rbf網(wǎng)絡，構建與所述溫度、所述加熱參數(shù)和所述環(huán)境參數(shù)分別對應的溫度補償模型；分別將所述溫度、所述加熱參數(shù)和所述環(huán)境參數(shù)，輸入對應所述溫度補償模型，輸出初始補償溫度；

43、根據(jù)所述相關性參數(shù)，以及所述溫度、所述加熱參數(shù)和所述環(huán)境參數(shù)分別對應的初始補償溫度，計算二次補償溫度；

44、將所述二次補償溫度輸入至時間序列預測模型中，得到所述補償溫度。

45、基于決策森林算法，構建與所述溫度參數(shù)和所述補償溫度分別對應的熔點判定模型；將所述溫度參數(shù)和所述補償溫度，輸入至對應的所述熔點判定模型，輸出所述溫度參數(shù)對應的預測值和所述補償溫度對應的預測值；

46、根據(jù)所述溫度參數(shù)對應的預測值和所述補償溫度對應的預測值，計算所述熔點。

47、可選的，所述處理模組具體用于：

48、獲取放置槽內(nèi)的基準圖像信息，以及溫度探頭所測的基準溫度；

49、根據(jù)所述基準圖像信息，對所述溫度參數(shù)進行矯正；

50、根據(jù)所述基準溫度，對所述溫度進行矯正。

51、可選的，所述高精度熔點檢測儀還包括網(wǎng)絡模組，所述網(wǎng)絡模組用于傳輸所述圖像信息、所述溫度所述溫度參數(shù)、所述環(huán)境參數(shù)、所述計算補償溫度以及所述熔點中的至少一個。

52、本發(fā)明實施例提供的技術方案帶來的有益效果是：

53、1、通過根據(jù)溫度和環(huán)境參數(shù)，計算補償溫度，再根據(jù)待測樣品的溫度參數(shù)和補償溫度，計算得到待測樣品的熔點，相較于通過溫度探頭檢測熔點，在計算過程中加入了環(huán)境參數(shù)和樣本本身性質相關的溫度參數(shù)，綜合了環(huán)境和樣本本身性質對檢測結果置信度的影響，從而提高了檢測結果的置信度，且相較于現(xiàn)有技術，減少了測試時間，提高了測試效率；

54、2、在檢測過程中，待測樣品的溫度參數(shù)和環(huán)境參數(shù)，都是對放置槽內(nèi)的圖像信息進行圖像識別獲得，由于放置槽內(nèi)的溫度變化會準確地反映在圖像中，通過圖像信息，獲取待測樣品的溫度參數(shù)和環(huán)境參數(shù)，相較于溫度探頭獲取上述參數(shù)，避免了溫度探頭本身所產(chǎn)生的誤差，從而提高了檢測結果的置信度；

55、3、該方法通過在單次檢測中，結合圖像信息中的環(huán)境參數(shù)和溫度參數(shù)，生成補償溫度，對溫度探頭所測溫度進行補償，得到待測樣品的熔點，相較于現(xiàn)有技術通過多次檢測，來排除掉溫度探頭所測溫度的偏差值，在保證置信度的同時，減少了檢測次數(shù)，進而且相較于現(xiàn)有技術，減少了測試時間，提高了測試效率。