1.一種基于光彈-紅外的全場(chǎng)應(yīng)力同步測(cè)試實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)，其特征在于，包括：智能光彈測(cè)試系統(tǒng)、紅外測(cè)試系統(tǒng)、試件加載系統(tǒng)和同步控制系統(tǒng)；
2.如權(quán)利要求1所述的基于光彈-紅外的全場(chǎng)應(yīng)力同步測(cè)試實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)，其特征在于，所述同步控制系統(tǒng)采用如下方法控制：每當(dāng)所述試件加載系統(tǒng)對(duì)試件施加一次載荷，則所述智能光彈測(cè)試系統(tǒng)中的起偏鏡和檢偏鏡的光軸位置以及第一四分之一波片和第二四分之一波片的快軸位置均轉(zhuǎn)動(dòng)五次，對(duì)應(yīng)的高速cmos相機(jī)采集光學(xué)干涉條紋五次，紅外測(cè)試系統(tǒng)的紅外熱成像采集一次。
3.如權(quán)利要求2所述的基于光彈-紅外的全場(chǎng)應(yīng)力同步測(cè)試實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)，其特征在于，所述智能光彈測(cè)試系統(tǒng)中的起偏鏡和檢偏鏡的光軸位置以及第一四分之一波片和第二四分之一波片的快軸位置轉(zhuǎn)動(dòng)五次包括：按照下表中的角度進(jìn)行轉(zhuǎn)動(dòng)；
4.如權(quán)利要求1所述的基于光彈-紅外的全場(chǎng)應(yīng)力同步測(cè)試實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)，其特征在于，所述試件加載系統(tǒng)包括加載裝置和加載控制系統(tǒng)，所述加載裝置上設(shè)置有夾具，所述夾具上安裝有表面貼有光彈貼片材料的非透明巖石類固體材料的試件，所述加載控制系統(tǒng)用于控制所述加載裝置通過(guò)所述夾具對(duì)試件施加載荷；所述同步控制系統(tǒng)控制所述加載控制系統(tǒng)對(duì)試件施加載荷的頻率。
5.如權(quán)利要求1所述的基于光彈-紅外的全場(chǎng)應(yīng)力同步測(cè)試實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)，其特征在于，所述智能光彈測(cè)試系統(tǒng)包括光彈測(cè)試光路、高速cmos相機(jī)、光彈圖像分析系統(tǒng)、第一控制器、第二控制器和第三控制器；沿著所述光彈測(cè)試光路依次設(shè)置有白光光源、濾波片、起偏鏡、第一四分之一波片、擴(kuò)束鏡、凸透鏡、第二四分之一波片、檢偏鏡和準(zhǔn)直鏡；所述高速cmos相機(jī)用于接收準(zhǔn)直鏡的光信號(hào)并根據(jù)光信號(hào)輸出光彈干涉圖像發(fā)送至所述光彈圖像分析系統(tǒng)中；所述光彈圖像分析系統(tǒng)用于利用光彈干涉圖像計(jì)算分析試件全場(chǎng)應(yīng)力分布及隨應(yīng)力改變的條紋演化過(guò)程；所述第一控制器用于控制起偏鏡和檢偏鏡的光軸位置；所述第二控制器用于控制第一四分之一波片和第二四分之一波片的快軸位置；所述第三控制器用于控制濾波片的啟動(dòng)和結(jié)束；所述試件位于所述擴(kuò)束鏡和凸透鏡之間，以便擴(kuò)束鏡輸出的光束覆蓋所述試件并反射至凸透鏡。
6.一種基于光彈-紅外的全場(chǎng)應(yīng)力同步測(cè)試實(shí)驗(yàn)方法，其特征在于，利用如權(quán)利要求1-5任一項(xiàng)所述的基于光彈-紅外的全場(chǎng)應(yīng)力同步測(cè)試實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)，所述方法包括：
7.如權(quán)利要求6所述的基于光彈-紅外的全場(chǎng)應(yīng)力同步測(cè)試實(shí)驗(yàn)方法，其特征在于，實(shí)驗(yàn)均處在恒溫恒濕的實(shí)驗(yàn)環(huán)境中進(jìn)行。
8.如權(quán)利要求6所述的基于光彈-紅外的全場(chǎng)應(yīng)力同步測(cè)試實(shí)驗(yàn)方法，其特征在于，在步驟一之前，通過(guò)紅外熱成像儀先觀察試件表面的溫度，當(dāng)試件表面的溫度均勻時(shí)再開(kāi)始進(jìn)行實(shí)驗(yàn)。
9.如權(quán)利要求6所述的基于光彈-紅外的全場(chǎng)應(yīng)力同步測(cè)試實(shí)驗(yàn)方法，其特征在于，所述利用第一控制器控制起偏鏡和檢偏鏡的光軸位置，以及利用第二控制器控制第一四分之一波片和第二四分之一波片的快軸位置包括：每當(dāng)所述試件加載系統(tǒng)對(duì)試件施加一次載荷，則起偏鏡和檢偏鏡的光軸位置以及第一四分之一波片和第二四分之一波片的快軸位置均轉(zhuǎn)動(dòng)五次，對(duì)應(yīng)的高速cmos相機(jī)采集光學(xué)干涉條紋五次，紅外測(cè)試系統(tǒng)的紅外熱成像采集一次。
10.如權(quán)利要求9所述的基于光彈-紅外的全場(chǎng)應(yīng)力同步測(cè)試實(shí)驗(yàn)方法，其特征在于，所述起偏鏡和檢偏鏡的光軸位置以及第一四分之一波片和第二四分之一波片的快軸位置轉(zhuǎn)動(dòng)五次包括：按照下表中的角度進(jìn)行轉(zhuǎn)動(dòng)；