本發(fā)明適用于鋁箔檢測，尤其涉及一種鋁箔表面質(zhì)量檢測裝置及檢測方法。

背景技術(shù)：

1、隨著技術(shù)的發(fā)展，在追求快充及高能量密度電池時代，由于鋁箔表面質(zhì)量不佳而導(dǎo)致電池在涂布階段涂布不均勻性及不同程度打皺，極大的降低了生產(chǎn)效率及質(zhì)量，對正極集流體鋁箔表面真實質(zhì)量的要求日趨嚴(yán)峻，迫切需要對鋁箔表面質(zhì)量量化標(biāo)準(zhǔn)，因此對鋁箔表面各類缺陷，包括波浪、串泡、塌邊、褶皺、粗糙度等表面缺陷，需提供一種量化標(biāo)準(zhǔn)。

2、然而，目前鋁箔表面質(zhì)量檢測方法主要通過離線板形儀進(jìn)行激光單點測距檢測，并對距離極值進(jìn)行極差求解，得出單點極值代替鋁箔表面整體質(zhì)量，該測試方法無法對鋁箔表面整體質(zhì)量進(jìn)行測量并量化結(jié)果，檢測效率低且檢測準(zhǔn)確率低。

3、因此，亟需一種新的鋁箔表面質(zhì)量檢測裝置及檢測方法，解決上述技術(shù)問題。

技術(shù)實現(xiàn)思路

1、本發(fā)明提供一種鋁箔表面質(zhì)量檢測裝置及檢測方法，旨在提高鋁箔表面缺陷檢查的效率和準(zhǔn)確率。

2、第一方面，一種鋁箔表面質(zhì)量檢測裝置，所述鋁箔表面質(zhì)量檢測裝置包括依次設(shè)置的放卷輥、檢測平臺以及收卷輥，所述放卷輥用于放置待檢測的鋁箔卷材，所述檢測平臺用于對所述鋁箔卷材進(jìn)行質(zhì)量檢測，所述收卷輥用于對經(jīng)所述檢測平臺檢測后的所述鋁箔卷材進(jìn)行收卷；

3、所述檢測平臺包括測試臺和依次設(shè)置于所述測試臺上的第一偏導(dǎo)輥、輸送輥、張力輥、第一平衡輥、第二平衡輥、第二偏導(dǎo)輥、以及設(shè)置于所述第一平衡輥和所述第二平衡輥之間的線陣掃描儀；所述第一偏導(dǎo)輥設(shè)置于所述測試臺靠近所述放卷輥的一側(cè)，所述第二偏導(dǎo)輥設(shè)置于所述測試臺靠近所述偏導(dǎo)輥的一側(cè)；所述線陣掃描儀與所述測試臺通信連接，所述線陣掃描儀用于對所述鋁箔卷材進(jìn)行縱向掃描以采集鋁箔表面數(shù)據(jù)，并將所述鋁箔表面數(shù)據(jù)傳輸至所述測試臺進(jìn)行質(zhì)量檢測。

4、優(yōu)選地，所述張力輥對所述鋁箔卷材施加的張力為0.69kgf/mm2。

5、優(yōu)選地，所述線陣掃描儀包括相互間隔的第一線陣掃描儀和第二線陣掃描儀，所述第一線陣掃描儀和所述第二線陣掃描儀依次設(shè)置于所述第一平衡輥和所述第二平衡輥之間。

6、優(yōu)選地，所述第一平衡輥和所述第二平衡輥之間的距離為1.5m。

7、優(yōu)選地，所述測試臺包括第一導(dǎo)軌和第二導(dǎo)軌，所述第一導(dǎo)軌和所述第二導(dǎo)軌的高度相同，且所述第一導(dǎo)軌位于所述第二導(dǎo)軌的內(nèi)側(cè)，所述第一偏導(dǎo)輥、所述輸送輥、所述張力輥設(shè)置于所述第一導(dǎo)軌，所述第一平衡輥和所述第二平衡輥設(shè)置于所述第二導(dǎo)軌。

8、優(yōu)選地，所述放卷輥的高度和所述收卷輥的高度大于所述第一偏導(dǎo)輥的高度、所述輸送輥的高度、所述張力輥的高度以及所述第二偏導(dǎo)輥的高度，所述第一平衡輥和所述第二平衡輥的高度大于所述放卷輥的高度和所述收卷輥的高度。

9、第二方面，本發(fā)明還提供一種鋁箔表面質(zhì)量檢測方法，所述鋁箔表面質(zhì)量檢測方法基于如上述實施例任一項所述的鋁箔表面質(zhì)量檢測裝置，所述鋁箔表面質(zhì)量檢測方法包括以下步驟：

10、s1、將待檢測的鋁箔卷材放置于所述鋁箔表面質(zhì)量檢測裝置上，使得待檢測的鋁箔卷材由所述放卷輥至所述收卷輥之間進(jìn)行勻速運(yùn)動；

11、s2、通過張力輥對所述鋁箔卷材施加張力以消除所述鋁箔卷材的內(nèi)應(yīng)力；

12、s3、通過所述線陣掃描儀對所述鋁箔卷材進(jìn)行縱向掃描，得到鋁箔表面數(shù)據(jù)；

13、s4、通過測試臺獲取所述鋁箔表面數(shù)據(jù)，并根據(jù)鋁箔表面數(shù)據(jù)進(jìn)行質(zhì)量檢測，得到鋁箔質(zhì)量檢測結(jié)果。

14、優(yōu)選地，步驟s3中，在對所述鋁箔卷材進(jìn)行縱向掃描前，先判斷線陣掃描儀的誤差是否超過預(yù)設(shè)閾值，若是，則對所述線陣掃描儀進(jìn)行誤差校準(zhǔn)。

15、優(yōu)選地，步驟s3中，所述線陣掃描儀對所述鋁箔表面數(shù)據(jù)進(jìn)行采集滿足如下條件：

16、

17、δh＝h(t)-h-(d)；

18、

19、其中，t表示總時間；l表示所述鋁箔卷材的檢測距離；v表示鋁箔卷材的縱向移動速度；δh表示所述鋁箔卷材在時刻t時的縱向高度差；h(t)表示在時刻t時所述線陣掃描儀到所述鋁箔卷材的距離；h表示所述線陣掃描儀到所述第一平衡輥的距離；d表示鋁箔厚度；h(average)表示所述鋁箔卷材的縱向高度均值；f表示所述線陣掃描儀的工作頻率；w(x)表示所述鋁箔卷材在寬度方向坐標(biāo)為x下的所述鋁箔表面數(shù)據(jù)。

20、優(yōu)選地，步驟s3中，所述預(yù)設(shè)閾值滿足：

21、m＝p*l*l(x)*d；

22、

23、其中，m表示所述鋁箔卷材的重量，p表示鋁箔密度常數(shù)，l(x)表示所述鋁箔卷材的寬度，g表示重力加速度常數(shù)，f表示所述張力輥施加張力，α表示所述鋁箔卷材的重力與張力t之間的角度，h′表示所述預(yù)設(shè)閾值。

24、與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明通過鋁箔表面質(zhì)量檢測裝置，包括依次設(shè)置的放卷輥、檢測平臺以及收卷輥，放卷輥用于放置待檢測的鋁箔卷材，檢測平臺用于對鋁箔卷材進(jìn)行質(zhì)量檢測，收卷輥用于對檢測后的鋁箔卷材進(jìn)行收集；依次設(shè)置于檢測平臺的第一偏導(dǎo)輥、輸送輥、張力輥、第一平衡輥、第二平衡輥以及第二偏導(dǎo)輥，第一偏導(dǎo)輥設(shè)置于靠近放卷輥的一側(cè)，第二偏導(dǎo)輥設(shè)置于靠近偏導(dǎo)輥的一側(cè)；設(shè)置于第一平衡輥和第二平衡輥之間的線陣掃描儀，線陣掃描儀用于對鋁箔卷材進(jìn)行縱向掃描以采集鋁箔表面數(shù)據(jù)，并將鋁箔表面數(shù)據(jù)傳輸至檢測平臺進(jìn)行質(zhì)量檢測。本發(fā)明對鋁箔表面缺陷檢查的效率更高和準(zhǔn)確率更高，提高了鋁箔的生產(chǎn)質(zhì)量。

技術(shù)特征：

1.一種鋁箔表面質(zhì)量檢測裝置，所述鋁箔表面質(zhì)量檢測裝置包括依次設(shè)置的放卷輥、檢測平臺以及收卷輥，所述放卷輥用于放置待檢測的鋁箔卷材，所述檢測平臺用于對所述鋁箔卷材進(jìn)行質(zhì)量檢測，所述收卷輥用于對經(jīng)所述檢測平臺檢測后的所述鋁箔卷材進(jìn)行收卷；其特征在于，

2.如權(quán)利要求1所述的鋁箔表面質(zhì)量檢測裝置，其特征在于，所述張力輥對所述鋁箔卷材施加的張力為0.69kgf/mm2。

3.如權(quán)利要求1所述的鋁箔表面質(zhì)量檢測裝置，其特征在于，所述線陣掃描儀包括相互間隔的第一線陣掃描儀和第二線陣掃描儀，所述第一線陣掃描儀和所述第二線陣掃描儀依次設(shè)置于所述第一平衡輥和所述第二平衡輥之間。

4.如權(quán)利要求1所述的鋁箔表面質(zhì)量檢測裝置，其特征在于，所述第一平衡輥和所述第二平衡輥之間的距離為1.5m。

5.如權(quán)利要求1所述的鋁箔表面質(zhì)量檢測裝置，其特征在于，所述測試臺包括第一導(dǎo)軌和第二導(dǎo)軌，所述第一導(dǎo)軌和所述第二導(dǎo)軌的高度相同，且所述第一導(dǎo)軌位于所述第二導(dǎo)軌的內(nèi)側(cè)，所述第一偏導(dǎo)輥、所述輸送輥、所述張力輥設(shè)置于所述第一導(dǎo)軌，所述第一平衡輥和所述第二平衡輥設(shè)置于所述第二導(dǎo)軌。

6.如權(quán)利要求1所述的鋁箔表面質(zhì)量檢測裝置，其特征在于，所述放卷輥的高度和所述收卷輥的高度大于所述第一偏導(dǎo)輥的高度、所述輸送輥的高度、所述張力輥的高度以及所述第二偏導(dǎo)輥的高度，所述第一平衡輥和所述第二平衡輥的高度大于所述放卷輥的高度和所述收卷輥的高度。

7.一種鋁箔表面質(zhì)量檢測方法，其特征在于，所述鋁箔表面質(zhì)量檢測方法基于如權(quán)利要求1-6任一項所述的鋁箔表面質(zhì)量檢測裝置，所述鋁箔表面質(zhì)量檢測方法包括以下步驟：

8.如權(quán)利要求7所述的鋁箔表面質(zhì)量檢測方法，其特征在于，步驟s3中，在對所述鋁箔卷材進(jìn)行縱向掃描前，先判斷線陣掃描儀的誤差是否超過預(yù)設(shè)閾值，若是，則對所述線陣掃描儀進(jìn)行誤差校準(zhǔn)。

9.如權(quán)利要求7所述的鋁箔表面質(zhì)量檢測方法，其特征在于，步驟s3中，所述線陣掃描儀對所述鋁箔表面數(shù)據(jù)進(jìn)行采集滿足如下條件：

10.如權(quán)利要求8所述的鋁箔表面質(zhì)量檢測方法，其特征在于，步驟s3中，所述預(yù)設(shè)閾值滿足：

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明提供了一種鋁箔表面質(zhì)量檢測裝置及方法，鋁箔表面質(zhì)量檢測裝置包括依次設(shè)置的放卷輥、檢測平臺以及收卷輥；依次設(shè)置于檢測平臺的第一偏導(dǎo)輥、輸送輥、張力輥、第一平衡輥、第二平衡輥以及第二偏導(dǎo)輥，第一偏導(dǎo)輥設(shè)置于靠近放卷輥的一側(cè)，第二偏導(dǎo)輥設(shè)置于靠近偏導(dǎo)輥的一側(cè)；設(shè)置于第一平衡輥和第二平衡輥之間的線陣掃描儀，線陣掃描儀用于對鋁箔卷材進(jìn)行縱向掃描以采集鋁箔表面數(shù)據(jù)，并將鋁箔表面數(shù)據(jù)傳輸至檢測平臺進(jìn)行質(zhì)量檢測。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明對鋁箔表面缺陷檢查的效率更高和準(zhǔn)確率更高，提高了鋁箔的生產(chǎn)質(zhì)量。

技術(shù)研發(fā)人員：劉磊,萬寶偉,舒竹霞,饒竹貴,王海慶,嚴(yán)夢夢,陳文奡
受保護(hù)的技術(shù)使用者：杭州五星鋁業(yè)有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2025/1/6