1.一種電機(jī)絕緣剩余壽命預(yù)測方法，其特征在于，包括：
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電機(jī)絕緣剩余壽命預(yù)測方法，其特征在于，構(gòu)建電機(jī)絕緣剩余壽命預(yù)測模型包括以下內(nèi)容：
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電機(jī)絕緣剩余壽命預(yù)測方法，其特征在于，基于退化量一致的原則，對時變溫度進(jìn)行離散化處理，得到等效溫度，具體表達(dá)式為：
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電機(jī)絕緣剩余壽命預(yù)測方法，其特征在于，模型參數(shù)的具體表達(dá)式為：
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電機(jī)絕緣剩余壽命預(yù)測方法，其特征在于，獲得電機(jī)繞組的電機(jī)絕緣加速退化數(shù)據(jù)包括以下內(nèi)容：
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電機(jī)絕緣剩余壽命預(yù)測方法，其特征在于，得到模型參數(shù)的先驗(yàn)分布包括以下內(nèi)容：
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電機(jī)絕緣剩余壽命預(yù)測方法，其特征在于，得到模型參數(shù)的后驗(yàn)分布近似解包括以下內(nèi)容：
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電機(jī)絕緣剩余壽命預(yù)測方法，其特征在于，得到預(yù)測的電機(jī)絕緣剩余壽命包括以下內(nèi)容：
9.應(yīng)用于權(quán)利要求1-8任一項(xiàng)所述的電機(jī)絕緣剩余壽命預(yù)測方法的系統(tǒng)，其特征在于，包括：
10.一種電子設(shè)備，包括存儲器、處理器及存儲在存儲器上并可在處理器上運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序，其特征在于，所述處理器執(zhí)行所述計(jì)算機(jī)程序時實(shí)現(xiàn)權(quán)利要求1至8中任一項(xiàng)所述電機(jī)絕緣剩余壽命預(yù)測方法的步驟。
11.一種計(jì)算機(jī)可讀的存儲介質(zhì)，所述計(jì)算機(jī)可讀的存儲介質(zhì)存儲有計(jì)算機(jī)程序，其特征在于，所述計(jì)算機(jī)程序被處理器運(yùn)行時執(zhí)行所述權(quán)利要求1至8中任一項(xiàng)所述的電機(jī)絕緣剩余壽命預(yù)測方法。