本申請(qǐng)涉及位姿測(cè)量領(lǐng)域,尤其涉及一種位姿跟蹤測(cè)量方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)。
背景技術(shù):
1、位姿精度是評(píng)價(jià)工業(yè)機(jī)器人加工能力和部件對(duì)接裝配工藝的關(guān)鍵指標(biāo)之一,位姿精度影響了產(chǎn)品加工、裝配的效率和質(zhì)量,決定了產(chǎn)品的制造成本和整體質(zhì)量。基于工業(yè)化制造對(duì)高質(zhì)量、高效率發(fā)展的急切需求,需要提出更高精度的位姿測(cè)量技術(shù)和更便捷、更高容錯(cuò)的位姿測(cè)量手段。
2、現(xiàn)有的位姿測(cè)量技術(shù)是基于t系列的光學(xué)傳感器來反饋位姿信息。從單點(diǎn)測(cè)量方面來評(píng)價(jià),t系列的光學(xué)傳感器(例如,t-probe和t-mac)的測(cè)量精度較低。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
1、本申請(qǐng)的主要目的在于提供一種位姿跟蹤測(cè)量方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì),旨在解決現(xiàn)有位姿測(cè)量技術(shù)存在的測(cè)量精度較低的技術(shù)問題。
2、為實(shí)現(xiàn)上述目的,本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N位姿跟蹤測(cè)量方法,包括以下步驟:
3、建立被測(cè)對(duì)象的初始坐標(biāo)系,所述被測(cè)對(duì)象上設(shè)有反射鏡;
4、基于所述反射鏡在所述初始坐標(biāo)系中的點(diǎn)位坐標(biāo),計(jì)算所述初始坐標(biāo)系相對(duì)于所述反射鏡的偏移矢量,并根據(jù)所述偏移矢量對(duì)所述初始坐標(biāo)系進(jìn)行平移,得到目標(biāo)坐標(biāo)系;
5、根據(jù)所述目標(biāo)坐標(biāo)系下反射鏡的點(diǎn)位坐標(biāo),計(jì)算空間平面的法向量,并將所述法向量轉(zhuǎn)化為單位向量;
6、根據(jù)所述目標(biāo)坐標(biāo)系旋轉(zhuǎn)前后的關(guān)系,計(jì)算旋轉(zhuǎn)矩陣,根據(jù)所述旋轉(zhuǎn)矩陣和所述單位向量得到目標(biāo)跟蹤矢量;
7、根據(jù)被測(cè)對(duì)象的測(cè)量需求,對(duì)所述目標(biāo)坐標(biāo)系進(jìn)行關(guān)系匹配或擬合;
8、根據(jù)所述目標(biāo)跟蹤矢量,及所述關(guān)系匹配或擬合的結(jié)果,跟蹤反射鏡位置,進(jìn)行位姿跟蹤測(cè)量。
9、可選地,所述初始坐標(biāo)系至少包括初始工具坐標(biāo)系和初始偏移坐標(biāo)系中的一種;
10、所述建立被測(cè)對(duì)象的初始坐標(biāo)系,包括:
11、當(dāng)所述被測(cè)對(duì)象包括固定部件和移動(dòng)部件,選定所述移動(dòng)部件上的第一孔位,并基于所述第一孔位構(gòu)建所述初始偏移坐標(biāo)系。
12、可選地,所述反射鏡包括第一反射鏡、第二反射鏡和第三反射鏡;所述基于所述反射鏡的點(diǎn)位坐標(biāo),計(jì)算所述初始坐標(biāo)系相對(duì)于所述反射鏡的偏移矢量,根據(jù)所述偏移矢量對(duì)初始坐標(biāo)系進(jìn)行平移,得到目標(biāo)坐標(biāo)系,包括步驟:
13、根據(jù)所述偏移矢量,將所述初始坐標(biāo)系的原點(diǎn)平移至所述第一反射鏡所在的點(diǎn)位,得到所述目標(biāo)坐標(biāo)系。
14、可選地,所述根據(jù)所述反射鏡的點(diǎn)位坐標(biāo),計(jì)算空間平面的法向量,并將所述法向量轉(zhuǎn)化為單位向量,包括:
15、根據(jù)所述第一反射鏡、所述第二反射鏡和所述第三反射鏡的點(diǎn)位坐標(biāo)(xa,ya,za)、
16、(xb,yb,zb)和(xc,yc,zc),計(jì)算空間平面的法向量計(jì)算公式為:
17、
18、a=(yb-ya)(zc-za)-(zb-za)(yc-ya)
19、b=(zb-za)(xc-xa)-(zc-za)(xb-xa)
20、c=(xb-xa)(yc-ya)-(xc-xa)(yb-ya);
21、將除以對(duì)應(yīng)的模長(zhǎng)得到單位向量
22、可選地,所述目標(biāo)坐標(biāo)系為o,旋轉(zhuǎn)后的坐標(biāo)系為a;所述根據(jù)目標(biāo)坐標(biāo)系旋轉(zhuǎn)前后的反射鏡坐標(biāo)系計(jì)算旋轉(zhuǎn)矩陣,根據(jù)所述旋轉(zhuǎn)矩陣和所述單位向量得到目標(biāo)跟蹤矢量,包括:
23、計(jì)算旋轉(zhuǎn)矩陣表達(dá)式為:
24、
25、式中:表示目標(biāo)坐標(biāo)系o中ox軸在旋轉(zhuǎn)后的坐標(biāo)系a中的投影;表示目標(biāo)坐標(biāo)系o中oy軸在旋轉(zhuǎn)后的坐標(biāo)系a中的投影;表示目標(biāo)坐標(biāo)系o中oz軸在旋轉(zhuǎn)后的坐標(biāo)系a中的投影;表示旋轉(zhuǎn)后坐標(biāo)系a中ax軸在目標(biāo)坐標(biāo)系o中投影的轉(zhuǎn)置;表示旋轉(zhuǎn)后坐標(biāo)系a中ay軸在目標(biāo)坐標(biāo)系o中投影的轉(zhuǎn)置;表示旋轉(zhuǎn)后坐標(biāo)系a中az軸在目標(biāo)坐標(biāo)系o中投影的轉(zhuǎn)置;
26、oz軸的單位向量的計(jì)算公式如下:
27、
28、所述為目標(biāo)跟蹤矢量。
29、可選地,所述根據(jù)被測(cè)對(duì)象的測(cè)量需求,對(duì)所述目標(biāo)坐標(biāo)系進(jìn)行關(guān)系匹配或擬合,包括步驟:
30、若所述被測(cè)對(duì)象包括固定部件和移動(dòng)部件,測(cè)量被測(cè)對(duì)象的對(duì)合狀態(tài),則選定所述固定部件上的第二孔位;基于所述第二孔位構(gòu)建固定坐標(biāo)系,將目標(biāo)偏移坐標(biāo)系與固定坐標(biāo)系進(jìn)行關(guān)系匹配,得到目標(biāo)偏移坐標(biāo)系與固定坐標(biāo)系的相對(duì)關(guān)系;
31、若需要測(cè)量被測(cè)對(duì)象的絕對(duì)精度,則將所述目標(biāo)工具坐標(biāo)系與基坐標(biāo)系進(jìn)行擬合,建立統(tǒng)一坐標(biāo)系,所述基坐標(biāo)系為根據(jù)跟蹤設(shè)備建立的坐標(biāo)系。
32、基于同一發(fā)明構(gòu)思,本申請(qǐng)還提供一種位姿跟蹤測(cè)量裝置,包括:
33、初始坐標(biāo)系建立模塊,用于建立被測(cè)對(duì)象的初始坐標(biāo)系,所述被測(cè)對(duì)象上設(shè)有反射鏡;
34、目標(biāo)坐標(biāo)系建立模塊,用于基于所述反射鏡的點(diǎn)位坐標(biāo),計(jì)算所述初始坐標(biāo)系相對(duì)于所述反射鏡的偏移矢量,根據(jù)所述偏移矢量對(duì)初始坐標(biāo)系進(jìn)行平移,得到目標(biāo)坐標(biāo)系;
35、空間平面計(jì)算模塊,用于根據(jù)所述反射鏡的點(diǎn)位坐標(biāo),計(jì)算空間平面的法向,并將空間平面的法向量轉(zhuǎn)化為單位向量;
36、目標(biāo)跟蹤矢量解算模塊,用于根據(jù)所述目標(biāo)坐標(biāo)系旋轉(zhuǎn)前后的關(guān)系,計(jì)算旋轉(zhuǎn)矩陣,根據(jù)所述旋轉(zhuǎn)矩陣和所述單位向量得到目標(biāo)跟蹤矢量;
37、目標(biāo)坐標(biāo)系處理模塊,用于根據(jù)被測(cè)對(duì)象的測(cè)量需求,對(duì)所述目標(biāo)坐標(biāo)系進(jìn)行關(guān)系匹配或擬合;
38、跟蹤測(cè)量模塊,用于根據(jù)所述目標(biāo)跟蹤矢量及所述關(guān)系匹配或擬合的結(jié)果,跟蹤反射鏡位置,進(jìn)行位姿跟蹤測(cè)量。
39、可選地,所述裝置還包括:
40、適配器,所述適配器設(shè)置于被檢測(cè)對(duì)象的末端。
41、適配器的作用是作為中間組件將反射鏡穩(wěn)定安裝在被測(cè)對(duì)象上。
42、基于同一發(fā)明構(gòu)思,本申請(qǐng)還提供一種電子設(shè)備,所述電子設(shè)備包括:
43、存儲(chǔ)器,用于存儲(chǔ)計(jì)算機(jī)可執(zhí)行指令或者計(jì)算機(jī)程序;
44、處理器,用于執(zhí)行所述存儲(chǔ)器中存儲(chǔ)的計(jì)算機(jī)可執(zhí)行指令或者計(jì)算機(jī)程序時(shí),實(shí)現(xiàn)上述的位姿跟蹤測(cè)量方法。
45、基于同一發(fā)明構(gòu)思,本申請(qǐng)還提供一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì),存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)可執(zhí)行指令,所述計(jì)算機(jī)可執(zhí)行指令被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)上述的位姿跟蹤測(cè)量方法。
46、本發(fā)明公開了一種位姿跟蹤測(cè)量方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì),所述方法通過采集點(diǎn)位構(gòu)建初始坐標(biāo)系;通過反射鏡設(shè)置跟蹤點(diǎn)位,根據(jù)反射鏡建立目標(biāo)坐標(biāo)系,根據(jù)所述目標(biāo)坐標(biāo)系旋轉(zhuǎn)前后的關(guān)系得到旋轉(zhuǎn)矩陣,實(shí)現(xiàn)了實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)被測(cè)對(duì)象的姿態(tài)變化,以及實(shí)時(shí)跟蹤被測(cè)對(duì)象目標(biāo)坐標(biāo)系,以反射鏡作為跟蹤對(duì)象能實(shí)現(xiàn)更高的測(cè)量精度;本發(fā)明的光學(xué)部件安裝自由度大,可代替現(xiàn)有的基于光學(xué)傳感器的位姿測(cè)量方案,解決了光學(xué)傳感器存在的位姿測(cè)量范圍受限問題;且通過坐標(biāo)系轉(zhuǎn)換映射法和向量積法對(duì)高精度點(diǎn)位數(shù)據(jù)進(jìn)行位姿矩陣數(shù)據(jù)求解,能很好地適應(yīng)被測(cè)對(duì)象間關(guān)聯(lián)關(guān)系構(gòu)建復(fù)雜的場(chǎng)景。
1.一種位姿跟蹤測(cè)量方法,其特征在于,包括以下步驟:
2.如權(quán)利要求1所述的位姿跟蹤測(cè)量方法,其特征在于,所述初始坐標(biāo)系至少包括初始工具坐標(biāo)系和初始偏移坐標(biāo)系中的一種;
3.如權(quán)利要求1所述的位姿跟蹤測(cè)量方法,其特征在于,所述反射鏡包括第一反射鏡、第二反射鏡和第三反射鏡;所述根據(jù)所述偏移矢量對(duì)所述初始坐標(biāo)系進(jìn)行平移,得到目標(biāo)坐標(biāo)系,包括步驟:
4.如權(quán)利要求3所述的位姿跟蹤測(cè)量方法,其特征在于,所述根據(jù)所述反射鏡的點(diǎn)位坐標(biāo),計(jì)算空間平面的法向量,并將所述法向量轉(zhuǎn)化為單位向量,包括:
5.如權(quán)利要求4所述的位姿跟蹤測(cè)量方法,其特征在于,所述目標(biāo)坐標(biāo)系為o,旋轉(zhuǎn)后的坐標(biāo)系為a;所述根據(jù)目標(biāo)坐標(biāo)系旋轉(zhuǎn)前后的反射鏡坐標(biāo)系計(jì)算旋轉(zhuǎn)矩陣,根據(jù)所述旋轉(zhuǎn)矩陣和所述單位向量得到目標(biāo)跟蹤矢量,包括:
6.如權(quán)利要求2所述的位姿跟蹤測(cè)量方法,其特征在于,所述根據(jù)被測(cè)對(duì)象的測(cè)量需求,對(duì)所述目標(biāo)坐標(biāo)系進(jìn)行關(guān)系匹配或擬合,包括步驟:
7.一種位姿跟蹤測(cè)量裝置,其特征在于,包括:
8.如權(quán)利要求7所述的位姿跟蹤測(cè)量裝置,其特征在于,還包括:
9.一種電子設(shè)備,其特征在于,所述電子設(shè)備包括:
10.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì),存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)可執(zhí)行指令,其特征在于,所述計(jì)算機(jī)可執(zhí)行指令被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)權(quán)利要求1至6任一項(xiàng)所述的位姿跟蹤測(cè)量方法。