本發(fā)明涉及石英晶體頻率測量，具體涉及一種石英晶體自動測量頻率的設備。

背景技術：

1、石英晶體以其優(yōu)良頻率穩(wěn)定度、高q值、高振蕩頻率及體積小巧等特點,在軍事、通訊、計算機、家用電器及各種工業(yè)電子設備中得到了廣泛的應用，隨著科學技術的不斷發(fā)展對石英晶體諧振器精確度的要求越來越高。

2、現(xiàn)有石英晶體抽測流程為人工作作業(yè)方式，步驟較為繁瑣，抽測存在不穩(wěn)定因素，作業(yè)效率低下，影響產能且操作人員工作量較大，考慮石英晶體產品頻率測量穩(wěn)定性，故現(xiàn)有抽測工藝流程存在潛在風險，隨著對芯片質量和產量的提升，有必要設計出一種可以代替人工操作的自動化設備滿足生產需求。

技術實現(xiàn)思路

1、為了解決上述技術問題，本發(fā)明提供了一種石英晶體自動測量頻率的設備，滿足石英晶體產品制造中自動精準測量頻率，達到提高抽測穩(wěn)定性，提高作業(yè)效率的目的。

2、本發(fā)明通過以下技術方案實現(xiàn)：

3、一種石英晶體產品自動測量頻率的設備，包括機架，機架頂端上設有料盤機構、移栽機構、攝像機構和測試機構，機架內在測試機構下方設有間距調節(jié)機構，料盤機構用于物料的上料和收料，移栽機構與攝像機構配合用于識別搬運物料，測試機構與間距調節(jié)機構配合用于對物料頻率量測。

4、進一步優(yōu)選的，料盤機構包括料盤、電機一和料盒；電機一的輸出端與料盤連接，料盒設置有多個，多個料盒連接在料盤周向。

5、進一步優(yōu)選的，移栽機構包括吸嘴一、吸嘴二、吸嘴懸臂、電機二和固定支架；電機二安裝在固定支架上，固定支架與機架連接，電機二的輸出端與吸嘴懸臂連接，吸嘴一和吸嘴二均與吸嘴懸臂連接。

6、進一步優(yōu)選的，攝像機構包括相機安裝板和工業(yè)相機，相機安裝板與固定支架連接，工業(yè)相機安裝在相機安裝板上。

7、進一步優(yōu)選的，測量機構包括下電極座、下電極磁環(huán)、下電極、上電極磁環(huán)、上電極、上電極支架、滑塊模塊一、測試機構支架、氣缸連接塊、彈簧、歸零調節(jié)桿緊固環(huán)、歸零調節(jié)桿和氣缸；下電極安裝在下電極磁環(huán)中，下電極磁環(huán)與下電極座連接；下電極座與機架連接，上電極安裝在上電極磁環(huán)中，上電極磁環(huán)與上電極支架連接，上電極設置在下電極正上方，歸零調節(jié)桿連接在歸零調節(jié)桿緊固環(huán)中；歸零調節(jié)桿緊固環(huán)與上電極支架連接，上電極支架與滑塊模塊一滑動連接，滑塊模塊一與測試機構支架連接，氣缸連接塊一端與上電極支架頂端連接，氣缸連接塊另一端與氣缸的伸縮端連接，氣缸連接在測試機構支架上，測試機構支架安裝在機架上，彈簧有兩個，彈簧的兩端分別與上電極支架一側和測試機構支架連接。

8、進一步優(yōu)選的，間距調節(jié)機構包括電機三、電機安裝塊、螺旋微分頭、微分頭固定塊、滑塊連接板、千分表限位板、接觸桿、千分表固定塊、調節(jié)機構安裝板、數(shù)顯千分表和滑塊模塊二；電機三與電機安裝塊連接，電機安裝塊與調節(jié)機構安裝板連接，調節(jié)機構安裝板安裝在機架內頂端，電機三的輸出端與螺旋微分頭軸端連接，螺旋微分頭外徑與微分頭固定塊連接，微分頭固定塊與滑塊連接板連接，千分表限位板一端與滑塊連接板連接，接觸桿在歸零調節(jié)桿正下方，接觸桿與千分表限位板頂端連接，滑塊連接板與滑塊模塊二滑動連接，滑塊模塊二與調節(jié)機構安裝板連接，千分表固定塊與調節(jié)機構安裝板連接，數(shù)顯千分表與千分表固定塊連接，數(shù)顯千分表的表頭與千分表限位板底面抵接。

9、進一步優(yōu)選的，所述機架包括主體，主體頂部設置有報警燈和顯示器，主體底部設置有多個腳輪。

10、進一步優(yōu)選的，設備還包括網絡分析儀和pc端，網絡分析儀與測試機構電連接，pc端分別與料盤機構、移栽機構、攝像機構、測試機構、間距調節(jié)機構、網絡分析儀和顯示器電連接。

11、本發(fā)明的有益效果：

12、本發(fā)明通過料盤機構、移栽機構、攝像機構、測試機構和間距調節(jié)機構對石英晶體進行抽測，可以對石英晶體外觀尺寸識別，數(shù)量計數(shù)，頻率量測。實現(xiàn)芯片頻率抽測作業(yè)自動化，取代人工操作，提高作業(yè)效率。

13、下面結合附圖對本發(fā)明的具體實施方式作進一步詳細的說明。

技術特征：

1.一種石英晶體產品自動測量頻率的設備，其特征在于：包括機架(7)，所述機架(7)頂端上設有料盤機構(1)、移栽機構(2)、攝像機構(3)和測試機構(4)，在所述測試機構(4)下方的所述機架(7)內設有間距調節(jié)機構(5)，所述料盤機構(1)用于物料的上料和收料，所述移栽機構(2)與所述攝像機構(3)配合用于識別搬運物料，所述測試機構(4)與所述間距調節(jié)機構(5)配合用于對物料頻率量測。

2.根據權利要求1所述的一種石英晶體產品自動測量頻率的設備，其特征在于：所述料盤機構(1)包括料盤(11)、電機一(12)和料盒；所述電機一(12)的輸出端與所述料盤(11)連接，料盒設置有多個，多個料盒在所述料盤(11)的周向設置。

3.根據權利要求1所述的一種石英晶體產品自動測量頻率的設備，其特征在于：所述移栽機構(2)包括吸嘴一(21)、吸嘴二(22)、吸嘴懸臂(23)、電機二(24)和固定支架(26)；所述電機二(24)安裝在所述固定支架(26)上，所述固定支架(26)與所述機架(7)連接，所述電機二(24)的輸出端與所述吸嘴懸臂(23)連接，所述吸嘴一(21)和所述吸嘴二(22)均與所述吸嘴懸臂(23)連接。

4.根據權利要求3所述的一種石英晶體產品自動測量頻率的設備，其特征在于：所述攝像機構(3)包括相機安裝板(31)和工業(yè)相機(32)，所述相機安裝板(31)與所述固定支架(26)連接，所述工業(yè)相機(32)安裝在所述相機安裝板(31)上。

5.根據權利要求1所述的一種石英晶體產品自動測量頻率的設備，其特征在于：所述測試機構(4)包括上電極磁環(huán)(44)、上電極(45)、上電極支架(46)、滑塊模塊一(47)、測試機構支架(48)、氣缸連接塊(49)、彈簧(411)、歸零調節(jié)桿緊固環(huán)(412)、歸零調節(jié)桿(413)和氣缸(414)；所述上電極(45)安裝在上電極磁環(huán)(44)中，所述上電極磁環(huán)(44)與所述上電極支架(46)連接，所述歸零調節(jié)桿(413)連接在所述歸零調節(jié)桿緊固環(huán)(412)中；所述歸零調節(jié)桿緊固環(huán)(412)與所述上電極支架(46)連接，所述上電極支架(46)與所述滑塊模塊一(47)滑動連接，所述滑塊模塊一(47)與所述測試機構支架(48)連接，所述氣缸連接塊(49)一端與所述上電極支架(46)頂端連接，所述氣缸連接塊(49)另一端與所述氣缸(414)的伸縮端連接，所述氣缸(414)連接在所述測試機構支架(48)上，所述測試機構支架(48)安裝在所述機架(7)上，所述彈簧(411)有兩個，所述彈簧(411)的兩端分別與所述上電極支架(46)一側和所述測試機構支架(48)連接。

6.根據權利要求5所述的一種石英晶體產品自動測量頻率的設備，其特征在于：所述測試機構(4)還包括下電極座(41)、下電極磁環(huán)(42)和下電極(43)，所述下電極(43)安裝在下電極磁環(huán)(42)中，所述下電極磁環(huán)(42)與所述下電極座(41)連接；所述下電極座(41)與所述機架(7)連接，所述下電極(43)設置在所述上電極(45)正下方。

7.根據權利要求6所述的一種石英晶體產品自動測量頻率的設備，其特征在于：所述間距調節(jié)機構(5)包括電機三(51)、電機安裝塊(53)、螺旋微分頭(54)、微分頭固定塊(55)、滑塊連接板(56)、千分表限位板(57)、接觸桿(58)、千分表固定塊(59)、調節(jié)機構安裝板(510)、數(shù)顯千分表(511)和滑塊模塊二(512)；所述電機三(51)與所述電機安裝塊(53)連接，所述電機安裝塊(53)與所述調節(jié)機構安裝板(510)連接，所述調節(jié)機構安裝板(510)安裝在所述機架(7)內頂端，所述電機三(51)的輸出端與所述螺旋微分頭(54)軸端連接，所述螺旋微分頭(54)與所述微分頭固定塊(55)連接，所述微分頭固定塊(55)與所述滑塊連接板(56)連接，所述千分表限位板(57)一端與所述滑塊連接板(56)連接，所述接觸桿(58)在所述歸零調節(jié)桿(413)正下方，所述接觸桿(58)與所述千分表限位板(57)頂端連接，所述滑塊連接板(56)與所述滑塊模塊二(512)滑動連接，所述滑塊模塊二(512)與所述調節(jié)機構安裝板(510)連接，所述千分表固定塊(59)與所述調節(jié)機構安裝板(510)連接，所述數(shù)顯千分表(511)與所述千分表固定塊(59)連接，所述數(shù)顯千分表(511)的表頭與所述千分表限位板(57)底面抵接。

8.根據權利要求1所述的一種石英晶體產品自動測量頻率的設備，其特征在于：所述機架(7)包括主體(72)，所述主體(72)頂部設置有報警燈(73)和顯示器(8)，所述主體(72)底部設置有多個腳輪(71)。

9.根據權利要求8所述的一種石英晶體產品自動測量頻率的設備，其特征在于：設備還包括網絡分析儀(6)和pc端，所述網絡分析儀(6)與所述測試機構(4)電連接，pc端分別與所述料盤機構(1)、所述移栽機構(2)、所述攝像機構(3)、所述測試機構(4)、所述間距調節(jié)機構(5)、所述網絡分析儀(6)和所述顯示器(8)電連接。

技術總結
本發(fā)明涉及石英晶體頻率測量技術領域，具體涉及一種石英晶體自動測量頻率的設備，包括機架，機架頂端上設有料盤機構、移栽機構、攝像機構和測試機構，機架內在測試機構下方設有間距調節(jié)機構，料盤機構用于物料的上料和收料，移栽機構與攝像機構配合用于識別搬運物料，測試機構與間距調節(jié)機構配合用于對物料頻率量測，本發(fā)明通過料盤機構、移栽機構、攝像機構、測試機構和間距調節(jié)機構對石英晶體進行抽測，可以對石英晶體外觀尺寸識別，數(shù)量計數(shù)，頻率量測。實現(xiàn)芯片頻率抽測作業(yè)自動化，取代人工操作，提高作業(yè)效率。

技術研發(fā)人員：李紹江,陳天學,羅春
受保護的技術使用者：臺晶（重慶）電子有限公司
技術研發(fā)日：
技術公布日：2025/1/2