1.基于低場(chǎng)磁共振弛豫技術(shù)的砂漿抗壓強(qiáng)度預(yù)測(cè)模型構(gòu)建方法,其特征在于:所述基于低場(chǎng)磁共振弛豫技術(shù)的砂漿抗壓強(qiáng)度預(yù)測(cè)模型構(gòu)建方法是通過(guò)以下步驟實(shí)現(xiàn)的:
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于低場(chǎng)磁共振弛豫技術(shù)的砂漿抗壓強(qiáng)度預(yù)測(cè)模型構(gòu)建方法,其特征在于:s2中所述標(biāo)準(zhǔn)砂漿試件低場(chǎng)磁共振弛豫測(cè)試分析具體包括:
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的基于低場(chǎng)磁共振弛豫技術(shù)的砂漿抗壓強(qiáng)度預(yù)測(cè)模型構(gòu)建方法,其特征在于:所述快速弛豫理論為第i組孔隙的等效半徑ri與其內(nèi)部水分的橫向弛豫時(shí)間t2i成正比,表達(dá)式如下:
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的基于低場(chǎng)磁共振弛豫技術(shù)的砂漿抗壓強(qiáng)度預(yù)測(cè)模型構(gòu)建方法,其特征在于:s4中所述確定標(biāo)準(zhǔn)砂漿試件與孔結(jié)構(gòu)關(guān)系模型具體包括:
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的基于低場(chǎng)磁共振弛豫技術(shù)的砂漿抗壓強(qiáng)度預(yù)測(cè)模型構(gòu)建方法,其特征在于:s4.2中所述抗壓強(qiáng)度預(yù)測(cè)模型最終優(yōu)化為:
6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的基于低場(chǎng)磁共振弛豫技術(shù)的砂漿抗壓強(qiáng)度預(yù)測(cè)模型構(gòu)建方法,其特征在于:s2.2中所述測(cè)試參數(shù)包括:回波間隔、回波個(gè)數(shù)、等待時(shí)間、掃描次數(shù)、采樣時(shí)間間隔、采集點(diǎn)數(shù)。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于低場(chǎng)磁共振弛豫技術(shù)的砂漿抗壓強(qiáng)度預(yù)測(cè)模型構(gòu)建方法,其特征在于:s1中所述標(biāo)準(zhǔn)砂漿試件的尺寸為20mm×20mm×50mm。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于低場(chǎng)磁共振弛豫技術(shù)的砂漿抗壓強(qiáng)度預(yù)測(cè)模型構(gòu)建方法,其特征在于:s1中所述應(yīng)用環(huán)境為干燥環(huán)境、高濕環(huán)境或水中環(huán)境。
9.基于低場(chǎng)磁共振弛豫技術(shù)的砂漿抗壓強(qiáng)度預(yù)測(cè)方法,其特征在于:先對(duì)待測(cè)砂漿試件進(jìn)行低場(chǎng)磁共振弛豫測(cè)試分析,再通過(guò)權(quán)利要求1-8中任意一項(xiàng)所述的基于低場(chǎng)磁共振弛豫技術(shù)的砂漿抗壓強(qiáng)度預(yù)測(cè)模型構(gòu)建方法獲得的抗壓強(qiáng)度預(yù)測(cè)模型對(duì)待測(cè)砂漿試件抗壓強(qiáng)度進(jìn)行預(yù)測(cè)。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的基于低場(chǎng)磁共振弛豫技術(shù)的砂漿抗壓強(qiáng)度預(yù)測(cè)方法,其特征在于:所述待測(cè)砂漿試件低場(chǎng)磁共振弛豫測(cè)試分析是通過(guò)以下步驟實(shí)現(xiàn)的: