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一種應(yīng)用于金屬材料定量檢測的LIBS特征譜線篩選方法

文檔序號:39900680發(fā)布日期:2024-11-05 17:05閱讀:38來源:國知局
一種應(yīng)用于金屬材料定量檢測的LIBS特征譜線篩選方法

本申請屬于金屬材料檢測,尤其涉及一種應(yīng)用于金屬材料定量檢測的libs特征譜線篩選方法。


背景技術(shù):

1、光譜數(shù)據(jù)選取作為光譜分析中重要的一環(huán),在相關(guān)研究和工程中都有著舉足輕重的地位。通常,光譜數(shù)據(jù)選取通過評估光譜數(shù)據(jù)相關(guān)指標(biāo)來完成,如利用信噪比、分辨率和穩(wěn)定性來衡量。盡管目前已誕生出多種有效的光譜選擇技術(shù)來幫助獲取到優(yōu)質(zhì)的光譜數(shù)據(jù),但是逐條判別光譜受干擾性,并排除光譜發(fā)射線位置相鄰、重疊峰等數(shù)據(jù)的方法較少,使得從中獲取到高質(zhì)量光譜信息仍然具有挑戰(zhàn)性。例如,在進行激光誘導(dǎo)擊穿光譜(libs)分析時,不同類型的元素發(fā)射線位置發(fā)生干擾或重疊,在對某一元素進行分析時易受到非目標(biāo)元素的影響,利用這類譜線進行定量分析將會極大地干擾定量檢測模型的穩(wěn)定性與精度。


技術(shù)實現(xiàn)思路

1、有鑒于此,本申請的目的在于提供一種應(yīng)用于金屬材料定量檢測的libs特征譜線篩選方法,通過對libs特征譜線進行洛倫茲擬合,提取出受干擾程度較低的第一目標(biāo)譜線,同時進行敏感度與波動性分析篩選出更加穩(wěn)定的第二目標(biāo)譜線,以減少對發(fā)射線位置相鄰發(fā)生干擾或重疊譜線的利用率,同時解決因為譜線相互干擾而導(dǎo)致定量精度無法提高的問題。

2、本申請?zhí)峁┝艘环N應(yīng)用于金屬材料定量檢測的libs特征譜線篩選方法,包括:利用激光誘導(dǎo)等離子體技術(shù)獲取具有不同目標(biāo)元素濃度的金屬材料樣品的libs特征譜線;

3、對每一個目標(biāo)元素濃度下的libs特征譜線進行洛倫茲擬合,以得到符合面積差值要求的該目標(biāo)元素濃度下的第一目標(biāo)譜線;

4、對不同目標(biāo)元素濃度的第一目標(biāo)譜線進行敏感度分析和波動性分析,得到能夠反映所述金屬材料樣品元素含量變化的第二目標(biāo)譜線。

5、進一步的,所述利用激光誘導(dǎo)等離子體技術(shù)獲取具有不同目標(biāo)元素濃度的金屬材料樣品的libs特征譜線,包括:

6、制備出具有不同元素濃度的多個金屬材料樣品;

7、利用激光誘導(dǎo)等離子體技術(shù)獲取每一個金屬材料樣品的libs光譜;

8、根據(jù)預(yù)先確定的目標(biāo)元素,基于nist數(shù)據(jù)庫,從每一個libs光譜中提取出所述目標(biāo)元素對應(yīng)的libs特征譜線;

9、其中,所述目標(biāo)元素為組成所述金屬材料樣品的金屬元素。

10、進一步的,所述對每一個目標(biāo)元素濃度下的libs特征譜線進行洛倫茲擬合,以得到符合面積差值要求的該目標(biāo)元素濃度下的第一目標(biāo)譜線,包括:

11、針對每一個目標(biāo)元素濃度下的libs特征譜線,識別出每一個libs特征譜線的波峰,并以該波峰為中心,向兩側(cè)采集相同數(shù)量的數(shù)據(jù)點;

12、針對每一個libs特征譜線,基于采集到的數(shù)據(jù)點進行洛倫茲擬合,并計算波峰兩側(cè)的面積差值;

13、將面積差值小于預(yù)定閾值的libs特征譜線,確定為該目標(biāo)元素濃度下的第一目標(biāo)譜線。

14、進一步的,所述相同數(shù)量的取值范圍為[3,8];每一邊采集到的數(shù)據(jù)點的強度按照采集順序遞減。

15、進一步的,所述對不同目標(biāo)元素濃度的第一目標(biāo)譜線進行敏感度分析和波動性分析,得到能夠反映所述金屬材料樣品元素含量變化的第二目標(biāo)譜線,包括:

16、針對每一個第一目標(biāo)譜線,根據(jù)該第一目標(biāo)譜線的強度和所對應(yīng)的目標(biāo)元素的濃度,判斷該第一目標(biāo)譜線是否滿足敏感度要求;

17、若判定該第一目標(biāo)譜線滿足敏感度要求,則利用z分?jǐn)?shù)法判斷該第一目標(biāo)譜線是否滿足波動性要求;

18、若判定該第一目標(biāo)譜線滿足波動性要求,則將該第一目標(biāo)譜線確定為能夠反映所述金屬材料樣品元素含量變化的第二目標(biāo)譜線。

19、進一步的,根據(jù)該第一目標(biāo)譜線的強度和所對應(yīng)的目標(biāo)元素的濃度,判斷該第一目標(biāo)譜線是否滿足敏感度要求,包括:

20、若該第一目標(biāo)譜線的強度和所對應(yīng)的目標(biāo)元素的濃度為正相關(guān),則判定該第一目標(biāo)譜線滿足敏感度要求;

21、若該第一目標(biāo)譜線的強度和所對應(yīng)的目標(biāo)元素的濃度不為正相關(guān),則判定該第一目標(biāo)譜線不滿足敏感度要求,并剔除該第一目標(biāo)譜線。

22、進一步的,所述利用z分?jǐn)?shù)法判斷該第一目標(biāo)譜線是否滿足波動性要求,包括:

23、若該第一目標(biāo)譜線的z分?jǐn)?shù)的絕對值小于2,則判定該第一目標(biāo)譜線滿足波動性要求;

24、若該第一目標(biāo)譜線的z分?jǐn)?shù)的絕對值不小于2,則判定該第一目標(biāo)譜線不滿足波動性要求,并剔除該第一目標(biāo)譜線。

25、進一步的,其特征在于,通過以下公式計算所述第一目標(biāo)譜線的z分?jǐn)?shù):

26、;

27、式中,代表第一目標(biāo)譜線的強度,代表各第一目標(biāo)譜線的強度的平均值,代表各第一目標(biāo)譜線的強度的標(biāo)準(zhǔn)差。

28、進一步的,在得到能夠反映所述金屬材料樣品元素含量變化的第二目標(biāo)譜線之后,所述方法還包括:

29、將所述第二目標(biāo)譜線作為輸入變量,將該第二目標(biāo)譜線所對應(yīng)的目標(biāo)元素濃度作為輸出變量,訓(xùn)練人工神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型,以得到金屬材料定量檢測模型;

30、其中,所述人工神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型包括:輸入層、注意力層、隱藏層和輸出層。

31、本申請?zhí)峁┑膽?yīng)用于金屬材料定量檢測的libs特征譜線篩選方法,通過對libs特征譜線進行洛倫茲擬合,提取出受干擾程度較低的第一目標(biāo)譜線,同時進行敏感度與波動性分析篩選出更加穩(wěn)定的第二目標(biāo)譜線,以減少對發(fā)射線位置相鄰發(fā)生干擾或重疊譜線的利用率,同時解決因為譜線相互干擾而導(dǎo)致定量精度無法提高的問題。



技術(shù)特征:

1.一種應(yīng)用于金屬材料定量檢測的libs特征譜線篩選方法,其特征在于,所述方法包括:

2.如權(quán)利要求1所述的方法,所述利用激光誘導(dǎo)等離子體技術(shù)獲取具有不同目標(biāo)元素濃度的金屬材料樣品的libs特征譜線,包括:

3.如權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述對每一個目標(biāo)元素濃度下的libs特征譜線進行洛倫茲擬合,以得到符合面積差值要求的該目標(biāo)元素濃度下的第一目標(biāo)譜線,包括:

4.如權(quán)利要求3所述的方法,其特征在于,所述相同數(shù)量的取值范圍為[3,8];每一邊采集到的數(shù)據(jù)點的強度按照采集順序遞減。

5.如權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述對不同目標(biāo)元素濃度的第一目標(biāo)譜線進行敏感度分析和波動性分析,得到能夠反映所述金屬材料樣品元素含量變化的第二目標(biāo)譜線,包括:

6.如權(quán)利要求5所述的方法,其特征在于,根據(jù)該第一目標(biāo)譜線的強度和所對應(yīng)的目標(biāo)元素的濃度,判斷該第一目標(biāo)譜線是否滿足敏感度要求,包括:

7.如權(quán)利要求5所述的方法,其特征在于,所述利用z分?jǐn)?shù)法判斷該第一目標(biāo)譜線是否滿足波動性要求,包括:

8.如權(quán)利要求7所述的方法,其特征在于,通過以下公式計算所述第一目標(biāo)譜線的z分?jǐn)?shù):

9.如權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,在得到能夠反映所述金屬材料樣品元素含量變化的第二目標(biāo)譜線之后,所述方法還包括:


技術(shù)總結(jié)
本申請?zhí)峁┝艘环N應(yīng)用于金屬材料定量檢測的LIBS特征譜線篩選方法,包括:利用激光誘導(dǎo)等離子體技術(shù)獲取具有不同目標(biāo)元素濃度的金屬材料樣品的LIBS特征譜線;對每一個目標(biāo)元素濃度下的LIBS特征譜線進行洛倫茲擬合,以得到符合面積差值要求的該目標(biāo)元素濃度下的第一目標(biāo)譜線;對不同目標(biāo)元素濃度的第一目標(biāo)譜線進行敏感度分析和波動性分析,得到能夠反映所述金屬材料樣品元素含量變化的第二目標(biāo)譜線。所述方法能夠減少對發(fā)射線位置相鄰發(fā)生干擾或重疊譜線的利用率,同時解決因為譜線相互干擾而導(dǎo)致定量精度無法提高的問題。

技術(shù)研發(fā)人員:林京君,代攀楊,黃玉濤,林曉梅
受保護的技術(shù)使用者:長春工業(yè)大學(xué)
技術(shù)研發(fā)日:
技術(shù)公布日:2024/11/4
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