本申請涉及電磁，具體涉及一種基于梳狀信號的測試方法及裝置。

背景技術(shù)：

1、在電磁兼容(emc)測試領(lǐng)域，確保測試環(huán)境與布置符合標(biāo)準(zhǔn)的要求是至關(guān)重要的。這一過程通常包括對測試系統(tǒng)進(jìn)行定期的核查，以驗(yàn)證其是否滿足預(yù)定的測試標(biāo)準(zhǔn)。為實(shí)現(xiàn)對傳導(dǎo)和輻射騷擾系統(tǒng)的核查，傳統(tǒng)上采用梳狀信號源作為發(fā)射源。梳狀信號源是一種能夠生成具有多個等間距頻率成分的信號的設(shè)備，其信號頻譜在頻率軸上呈現(xiàn)出類似梳子的形狀，因此被稱為“梳狀信號”。

2、盡管這種傳統(tǒng)方法能夠有效地生成并測量多個頻率成分的信號，但其局限性也較為明顯。傳統(tǒng)的梳狀信號源通常只能依據(jù)其硬件特性產(chǎn)生固定的頻率點(diǎn)和相應(yīng)的幅值。這種固定的頻率點(diǎn)和幅值設(shè)置雖能滿足基本的測試需求，但缺乏靈活性，無法對特定的、用戶自定義的頻率點(diǎn)進(jìn)行核查。因此，測試過程中對頻率點(diǎn)的自定義需求無法得到滿足，從而限制了測試系統(tǒng)的適用范圍和靈活性。這種局限性使得在需要對特定頻率點(diǎn)進(jìn)行細(xì)致的核查時，傳統(tǒng)方法無法提供足夠的支持，導(dǎo)致測試和分析過程中的信息缺失。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本發(fā)明實(shí)施例的一個目的旨在提供一種基于梳狀信號的測試方法及裝置，用于解決在電磁兼容實(shí)驗(yàn)室測試時無法對自定義的頻率點(diǎn)進(jìn)行測試的技術(shù)問題。

2、在第一方面，本發(fā)明實(shí)施例提供了一種基于梳狀信號的測試方法，應(yīng)用于測試系統(tǒng)，所述測試系統(tǒng)包括頻譜分析儀，所述方法包括：

3、獲取基于梳狀信號的至少一個頻率點(diǎn)及所述至少一個頻率點(diǎn)中每個頻率點(diǎn)對應(yīng)的幅值；

4、將所述至少一個頻率點(diǎn)及所述至少一個頻率點(diǎn)中每個頻率點(diǎn)對應(yīng)的幅值進(jìn)行時域轉(zhuǎn)換，得到所述至少一個頻率點(diǎn)對應(yīng)的時域數(shù)據(jù)；

5、根據(jù)獲取的采集參數(shù)，對所述至少一個頻率點(diǎn)對應(yīng)的時域數(shù)據(jù)進(jìn)行信號處理，得到目標(biāo)頻譜數(shù)據(jù)；

6、控制所述頻譜分析儀采集所述目標(biāo)頻譜數(shù)據(jù)，得到目標(biāo)頻譜圖；

7、根據(jù)所述目標(biāo)頻譜圖確定所述測試系統(tǒng)是否滿足測試標(biāo)準(zhǔn)。

8、結(jié)合第一方面，在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述將所述至少一個頻率點(diǎn)及所述至少一個頻率點(diǎn)中每個頻率點(diǎn)對應(yīng)的幅值進(jìn)行時域轉(zhuǎn)換，得到所述至少一個頻率點(diǎn)對應(yīng)的時域數(shù)據(jù)，包括：根據(jù)所述至少一個頻率點(diǎn)及所述至少一個頻率點(diǎn)中每個頻率點(diǎn)對應(yīng)的幅值，生成頻譜數(shù)據(jù)矩陣；對所述頻譜數(shù)據(jù)矩陣進(jìn)行傅里葉逆變換計(jì)算，得到所述至少一個頻率點(diǎn)對應(yīng)的時域數(shù)據(jù)。

9、結(jié)合第一方面，在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述采集參數(shù)包括采樣率和采樣時間；所述根據(jù)獲取的采集參數(shù)，對所述至少一個頻率點(diǎn)對應(yīng)的時域數(shù)據(jù)進(jìn)行信號處理，得到目標(biāo)頻譜數(shù)據(jù)，包括：根據(jù)所述采樣率和所述采樣時間，確定采樣點(diǎn)數(shù)；對所述至少一個頻率點(diǎn)對應(yīng)的時域數(shù)據(jù)進(jìn)行數(shù)據(jù)預(yù)處理，得到預(yù)處理后的多個時域數(shù)據(jù)；將所述預(yù)處理后的多個時域數(shù)據(jù)按照所述采樣時間分成多個目標(biāo)段，所述每個目標(biāo)段的數(shù)據(jù)長度等于所述采樣點(diǎn)數(shù)；對所述多個目標(biāo)段進(jìn)行傅里葉變換計(jì)算，得到所述多個目標(biāo)段中每個目標(biāo)段對應(yīng)的頻譜數(shù)據(jù)；確定全部所述每個目標(biāo)段對應(yīng)的頻譜數(shù)據(jù)為所述目標(biāo)頻譜數(shù)據(jù)。

10、結(jié)合第一方面，在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述控制所述頻譜分析儀采集所述目標(biāo)頻譜數(shù)據(jù)，得到目標(biāo)頻譜圖，包括：將所述頻譜分析儀對應(yīng)的采樣率與所述采集參數(shù)對應(yīng)的采樣率設(shè)置為同一數(shù)值；控制所述頻譜分析儀，根據(jù)所述采集參數(shù)對應(yīng)的采樣率采集所述目標(biāo)頻譜數(shù)據(jù)，得到目標(biāo)頻譜圖。

11、結(jié)合第一方面，在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，在所述根據(jù)所述目標(biāo)頻譜圖確定所述測試系統(tǒng)是否滿足測試標(biāo)準(zhǔn)之前，所述方法還包括：根據(jù)獲取的采集參數(shù)及所述至少一個頻率點(diǎn)對應(yīng)的時域數(shù)據(jù)，得到第一頻譜圖。

12、結(jié)合第一方面，在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述根據(jù)所述目標(biāo)頻譜圖確定所述測試系統(tǒng)是否滿足測試標(biāo)準(zhǔn)，包括：將所述目標(biāo)頻譜圖與所述第一頻譜圖進(jìn)行比對，判斷是否出現(xiàn)偏移點(diǎn)；判斷所述偏移點(diǎn)是否處于預(yù)設(shè)偏移范圍內(nèi)；若處于所述預(yù)設(shè)偏移范圍內(nèi)，則確定當(dāng)前所述測試系統(tǒng)滿足測試標(biāo)準(zhǔn)；或者，若不處于所述預(yù)設(shè)偏移范圍內(nèi)，則確定當(dāng)前所述測試系統(tǒng)不滿足測試標(biāo)準(zhǔn)。

13、結(jié)合第一方面，在一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，在所述若不處于所述預(yù)設(shè)偏移范圍內(nèi)，則確定當(dāng)前所述測試系統(tǒng)不滿足測試標(biāo)準(zhǔn)之后，所述方法還包括：獲取所述偏移點(diǎn)的位置和幅值，及所述偏移點(diǎn)的偏離程度；對所述偏移點(diǎn)進(jìn)行分析，得到調(diào)整參數(shù)，所述調(diào)整參數(shù)用于調(diào)整所述測試系統(tǒng)；根據(jù)所述調(diào)整參數(shù)，重新進(jìn)行測試。

14、第二方面，本發(fā)明實(shí)施例提供了一種基于梳狀信號的測試裝置，應(yīng)用于測試系統(tǒng)，所述測試系統(tǒng)包括頻譜分析儀，所述裝置包括：

15、獲取單元，用于獲取基于梳狀信號的至少一個頻率點(diǎn)及所述至少一個頻率點(diǎn)中每個頻率點(diǎn)對應(yīng)的幅值；

16、轉(zhuǎn)換單元，用于將所述至少一個頻率點(diǎn)及所述至少一個頻率點(diǎn)中每個頻率點(diǎn)對應(yīng)的幅值進(jìn)行時域轉(zhuǎn)換，得到所述至少一個頻率點(diǎn)對應(yīng)的時域數(shù)據(jù)；

17、確定單元，用于根據(jù)獲取的采集參數(shù)，對所述至少一個頻率點(diǎn)對應(yīng)的時域數(shù)據(jù)進(jìn)行信號處理，得到目標(biāo)頻譜數(shù)據(jù)；

18、所述確定單元，還用于控制所述頻譜分析儀采集所述目標(biāo)頻譜數(shù)據(jù)，得到目標(biāo)頻譜圖；

19、所述確定單元，還用于根據(jù)所述目標(biāo)頻譜圖確定所述測試系統(tǒng)是否滿足測試標(biāo)準(zhǔn)。

20、在第三方面，本發(fā)明實(shí)施例提供一種計(jì)算機(jī)設(shè)備，包括：

21、至少一個處理器；以及，

22、與所述至少一個處理器通信連接的存儲器；其中，

23、所述存儲器存儲有可被所述至少一個處理器執(zhí)行的指令，所述指令被所述至少一個處理器執(zhí)行，以使所述至少一個處理器能夠執(zhí)行如第一方面所述的方法。

24、在第四方面，提供一種計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì)，所述計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì)存儲有計(jì)算機(jī)程序，所述計(jì)算機(jī)程序包括程序指令，所述程序指令當(dāng)被處理器執(zhí)行時使所述處理器執(zhí)行如第一方面所述的方法。

25、上述基于梳狀信號的測試方法、裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì)所實(shí)現(xiàn)的方案中，本方法通過獲取并定義多個頻率點(diǎn)及其對應(yīng)的幅值，用戶可以根據(jù)具體需求自定義測試信號的頻率成分，提高了測試的靈活性，使得測試可以針對特定的頻率點(diǎn)進(jìn)行精確核查，而不受傳統(tǒng)梳狀信號源固定頻率點(diǎn)的限制；進(jìn)一步的將頻率點(diǎn)及其幅值進(jìn)行時域轉(zhuǎn)換，再通過控制頻譜分析儀采集這些數(shù)據(jù)，可以得到更準(zhǔn)確的目標(biāo)頻譜圖，有助于識別和量化測試系統(tǒng)中的性能偏差；且通過分析目標(biāo)頻譜圖，確定測試系統(tǒng)是否滿足預(yù)定的測試標(biāo)準(zhǔn)，自動化的標(biāo)準(zhǔn)符合性檢測提高了測試過程的效率，減少了人工干預(yù)的需要，可以更容易地識別出測試系統(tǒng)中的問題點(diǎn)，如偏移、干擾等，進(jìn)而確定系統(tǒng)是否存在偏差或不符合標(biāo)準(zhǔn)的情況；由此通過本方法提供了一種更加高效、精確和靈活的測試方法，有助于提升整個測試過程的可靠性和效率。

技術(shù)特征：

1.一種基于梳狀信號的測試方法，其特征在于，應(yīng)用于測試系統(tǒng)，所述測試系統(tǒng)包括頻譜分析儀，所述方法包括：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述將所述至少一個頻率點(diǎn)及所述至少一個頻率點(diǎn)中每個頻率點(diǎn)對應(yīng)的幅值進(jìn)行時域轉(zhuǎn)換，得到所述至少一個頻率點(diǎn)對應(yīng)的時域數(shù)據(jù)，包括：

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述采集參數(shù)包括采樣率和采樣時間；所述根據(jù)獲取的采集參數(shù)，對所述至少一個頻率點(diǎn)對應(yīng)的時域數(shù)據(jù)進(jìn)行信號處理，得到目標(biāo)頻譜數(shù)據(jù)，包括：

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述控制所述頻譜分析儀采集所述目標(biāo)頻譜數(shù)據(jù)，得到目標(biāo)頻譜圖，包括：

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，在所述根據(jù)所述目標(biāo)頻譜圖確定所述測試系統(tǒng)是否滿足測試標(biāo)準(zhǔn)之前，所述方法還包括：

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)所述目標(biāo)頻譜圖確定所述測試系統(tǒng)是否滿足測試標(biāo)準(zhǔn)，包括：

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，在所述若不處于所述預(yù)設(shè)偏移范圍內(nèi)，則確定當(dāng)前所述測試系統(tǒng)不滿足測試標(biāo)準(zhǔn)之后，所述方法還包括：

8.一種基于梳狀信號的測試裝置，應(yīng)用于測試系統(tǒng)，所述測試系統(tǒng)包括頻譜分析儀，所述裝置包括：

9.一種計(jì)算機(jī)設(shè)備，包括存儲器、處理器，所述存儲器連接至所述處理器，所述處理器用于執(zhí)行存儲在所述存儲器中的一個或多個計(jì)算機(jī)程序，所述處理器在執(zhí)行所述一個或多個計(jì)算機(jī)程序時，使得所述計(jì)算機(jī)設(shè)備實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1-7任一項(xiàng)所述的方法。

10.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì)，其特征在于，所述計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì)存儲有計(jì)算機(jī)程序，所述計(jì)算機(jī)程序包括程序指令，所述程序指令當(dāng)被處理器執(zhí)行時使所述處理器執(zhí)行如權(quán)利要求1-7任一項(xiàng)所述的方法。

技術(shù)總結(jié)
本申請涉及電磁技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種基于梳狀信號的測試方法及裝置，本方案包括：獲取基于梳狀信號的至少一個頻率點(diǎn)及所述至少一個頻率點(diǎn)中每個頻率點(diǎn)對應(yīng)的幅值；將所述至少一個頻率點(diǎn)及所述至少一個頻率點(diǎn)中每個頻率點(diǎn)對應(yīng)的幅值進(jìn)行時域轉(zhuǎn)換，得到所述至少一個頻率點(diǎn)對應(yīng)的時域數(shù)據(jù)；根據(jù)獲取的采集參數(shù)，對所述至少一個頻率點(diǎn)對應(yīng)的時域數(shù)據(jù)進(jìn)行信號處理，得到目標(biāo)頻譜數(shù)據(jù)；控制所述頻譜分析儀采集所述目標(biāo)頻譜數(shù)據(jù)，得到目標(biāo)頻譜圖；根據(jù)所述目標(biāo)頻譜圖確定所述測試系統(tǒng)是否滿足測試標(biāo)準(zhǔn)。本方法提升了電磁兼容測試的靈活性和準(zhǔn)確性，簡化了測試流程并擴(kuò)大了頻率覆蓋范圍，同時，減少了硬件依賴，促進(jìn)了測試標(biāo)準(zhǔn)化和自動化。

技術(shù)研發(fā)人員：鄒仁其,白祖強(qiáng),馬翔,王韋,許暢,楊吉
受保護(hù)的技術(shù)使用者：深圳東昇射頻技術(shù)有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2025/1/6