本發(fā)明涉及一種電子測(cè)量?jī)x器，具體涉及一種用以測(cè)量大電流的電子測(cè)量?jī)x器。

背景技術(shù)：

1、三用電表或夾式電表是一種多用途的電子測(cè)量?jī)x器，一般包含安培計(jì)、電壓表、歐姆計(jì)等，其具備多種不同測(cè)量功能，也稱(chēng)為萬(wàn)用表、多用表、多用電表等。

2、首先，請(qǐng)參閱圖1，圖1為熟知的三用電表的外觀(guān)示意圖。三用電表的主體110設(shè)有四個(gè)孔位111、112、113及114，測(cè)試棒120一端的端子121插設(shè)于孔位111中，另一測(cè)試棒插設(shè)于另一孔位中(未圖示)。使用三用電表時(shí)，以雙手各執(zhí)一測(cè)試棒對(duì)待測(cè)物件進(jìn)行測(cè)量。請(qǐng)參閱圖2，圖2為熟知的三用電表與測(cè)試棒組合后的局部放大剖面圖。當(dāng)測(cè)試棒120的端子121插設(shè)于孔位111中時(shí)，端子121與孔位111內(nèi)部間形成完全導(dǎo)通。

3、然而，由于三用電表的孔位為規(guī)格部件，在做一般測(cè)量時(shí)可任意搭配通用規(guī)格測(cè)試棒，故當(dāng)使用者以通用規(guī)格測(cè)試棒測(cè)量大電流(如30a)時(shí)，因?yàn)樵趯⒋箅娏鳒y(cè)量設(shè)計(jì)于產(chǎn)品內(nèi)部，以及在手持式產(chǎn)品本身的空間限制下，電流所流經(jīng)的回路電阻很難有效地降低，所產(chǎn)生的熱量無(wú)法進(jìn)行有效散熱，會(huì)造成產(chǎn)品塑膠變形，進(jìn)而造成不可預(yù)期的危害或損壞，以上缺陷需要加以改善。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本發(fā)明要解決的技術(shù)問(wèn)題是，提供一種電子測(cè)量?jī)x器，克服現(xiàn)有電子測(cè)量?jī)x器在測(cè)量大電流時(shí)存在的發(fā)熱變形導(dǎo)致測(cè)量?jī)x器損壞甚至導(dǎo)致其他不可預(yù)期事故發(fā)生的缺陷。

2、本發(fā)明解決其技術(shù)問(wèn)題所采用的技術(shù)方案是：構(gòu)造一種電子測(cè)量?jī)x器，包括：電表，該電表設(shè)置有第一孔位、第二孔位、第三孔位、第四孔位及邏輯電路，以及表筆盒，該表筆盒包括一電路板，該表筆盒的一端設(shè)置有第一端子、第二端子、第三端子及第四端子，該表筆盒的另一端設(shè)置有一對(duì)測(cè)試探針，其中，該第一至第四端子系分別對(duì)應(yīng)插設(shè)于該第一至第四孔位中，該電路板耦接至該第三與第四端子及該對(duì)測(cè)試探針；以及其中，該第一端子與該第二端子內(nèi)各包括一金屬?gòu)椘?，?dāng)該第一端子與該第二端子分別插設(shè)于該第一孔位與該第二孔位中時(shí)，該第一孔位與該第二孔位間經(jīng)由該表筆盒形成一回路，借以經(jīng)由該邏輯電路判斷該電表是否插設(shè)有該表筆盒。

3、在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，前述第三孔位及第四孔位系用以獲得來(lái)自該對(duì)測(cè)試探針的測(cè)量訊號(hào)以進(jìn)行對(duì)待測(cè)物的測(cè)量。

4、在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，前述表筆盒包括保險(xiǎn)絲及電流取樣電阻，用以將該測(cè)量信號(hào)回傳至該電表。

5、在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，前述第一孔位與第二孔位更設(shè)置有埋銅嵌件，上述金屬?gòu)椘捣謩e設(shè)置于該第一端子與第二端子的一側(cè)面，當(dāng)該第一端子與第二端子分別插接于該第一孔位與該第二孔位中時(shí)，上述金屬?gòu)椘謩e與上述埋銅嵌件相接觸。

6、在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，前述電表更包括一電連接于該邏輯電路的微控制單元，該微控制單元根據(jù)該邏輯電路輸出端間電位的相對(duì)高低關(guān)系，判斷該電表所進(jìn)入的測(cè)量模式。

7、在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，前述電表更包括一用戶(hù)界面，當(dāng)判斷該電表所進(jìn)入的測(cè)量模式為非正常測(cè)量模式時(shí)，于該用戶(hù)界面顯示一警示訊息。

8、在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，前述表筆盒適用于最大測(cè)量電流為30a的大電流測(cè)量模式。

9、在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，前述第一孔位為10a以下電流測(cè)量孔位、第二孔位為1a以下電流測(cè)量孔位、第三孔位為接地端及第四孔位為復(fù)合測(cè)量孔位。

10、在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，前述復(fù)合測(cè)量孔位可測(cè)量電壓、電阻和電容。

11、在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中，所述埋銅嵌件包括設(shè)置在該嵌件壁上由內(nèi)向外的凸起，該凸起與電表孔位的塑膠材料相嵌合。

12、實(shí)施本發(fā)明的電子測(cè)量?jī)x器，與現(xiàn)有技術(shù)比較，其有益效果是：

13、1、結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，測(cè)量效率高，可適用于測(cè)量常規(guī)電流和大電流，最大測(cè)量電流為30a；當(dāng)需要量測(cè)大電流時(shí)，采用測(cè)量大電流的表筆盒搭配電表進(jìn)行測(cè)量，避免了不可預(yù)期的損害。

14、2、在埋銅嵌件的側(cè)壁上設(shè)置由內(nèi)向外的凸起，該凸起與電表孔位的塑膠材料相嵌合，保證埋銅嵌件定位緊固、可靠，可以提高表筆盒端子與電表孔位的埋銅嵌件接觸配合的可靠性。

技術(shù)特征：

1.一種電子測(cè)量?jī)x器，包括：電表，該電表設(shè)置有第一孔位、第二孔位、第三孔位、第四孔位、邏輯電路以及表筆盒；

2.如權(quán)利要求1所述的電子測(cè)量?jī)x器，其特征在于，所述第三孔位及所述第四孔位用于獲得來(lái)自所述一對(duì)測(cè)試探針的測(cè)量訊號(hào)以進(jìn)行對(duì)待測(cè)物的測(cè)量。

3.如權(quán)利要求2所述的電子測(cè)量?jī)x器，其特征在于，所述表筆盒包括保險(xiǎn)絲及電流取樣電阻，用以將所述測(cè)量訊號(hào)回傳至所述電表。

4.如權(quán)利要求1所述的電子測(cè)量?jī)x器，其特征在于，所述第一孔位、第二孔位設(shè)置有埋銅嵌件，所述金屬?gòu)椘謩e設(shè)置于所述第一端子、第二端子的一側(cè)面，當(dāng)該第一端子、第二端子分別插接于所述第一孔位、第二孔位中時(shí)，所述金屬?gòu)椘謩e與所述埋銅嵌件相接觸。

5.如權(quán)利要求1所述的電子測(cè)量?jī)x器，其特征在于，所述電表包括一電連接于所述邏輯電路的微控制單元，該微控制單元根據(jù)該邏輯電路輸出端間電位的相對(duì)高低關(guān)系，判斷該電表所進(jìn)入的測(cè)量模式。

6.如權(quán)利要求5所述的電子測(cè)量?jī)x器，其特征在于，所述電表包括一用戶(hù)界面，當(dāng)判斷該電表所進(jìn)入的測(cè)量模式為非正常測(cè)量模式時(shí)，該用戶(hù)界面顯示一警示訊息。

7.如權(quán)利要求1所述的電子測(cè)量?jī)x器，其特征在于，所述表筆盒適用于最大測(cè)量電流為30a的大電流測(cè)量模式。

8.如權(quán)利要求1所述的電子測(cè)量?jī)x器，其特征在于，所述第一孔位為10a以下電流測(cè)量孔位，所述第二孔位為1a以下電流測(cè)量孔位，所述第三孔位為接地端，所述第四孔位為復(fù)合測(cè)量孔位。

9.如權(quán)利要求8所述的電子測(cè)量?jī)x器，其特征在于，所述復(fù)合測(cè)量孔位可測(cè)量電壓、電阻和電容。

10.如權(quán)利要求4所述的電子測(cè)量?jī)x器，其特征在于，所述埋銅嵌件包括設(shè)置在該嵌件壁上由內(nèi)向外的凸起，該凸起與電表孔位的塑膠材料相嵌合。

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開(kāi)了一種電子測(cè)量?jī)x器，包括電表及表筆盒，電表設(shè)置有第一、第二、第三、第四孔位及邏輯電路，表筆盒包括電路板；表筆盒一端設(shè)置有第一、第二、第三及第四端子，另一端設(shè)置有一對(duì)測(cè)試探針，其中，第一至第四端子分別對(duì)應(yīng)插入該第一至第四孔位中，電路板耦接至第三、第四端子及該對(duì)測(cè)試探針；第一、第二端子內(nèi)各包括一金屬?gòu)椘?，?dāng)該第一、第二端子分別插入該第一、第二孔位中時(shí)，該第一、第二孔位間經(jīng)由表筆盒形成回路，借以經(jīng)由邏輯電路判斷電表是否插設(shè)有表筆盒。本發(fā)明結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，測(cè)量效率高，可適用于測(cè)量常規(guī)電流及30A大電流，避免電表的不可預(yù)期損害，同時(shí)埋銅嵌件定位緊固，提高表筆盒端子與電表孔位的接觸配合可靠性。

技術(shù)研發(fā)人員：葉富穎
受保護(hù)的技術(shù)使用者：廣東邁世測(cè)量有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2024/12/23