本公開涉及測試，尤其涉及一種低功耗單固定型故障測試裝置及方法、電子設(shè)計自動化產(chǎn)品。

背景技術(shù)：

1、由于具有大規(guī)模邏輯器件的芯片，使得設(shè)計出來的集成電路可以被集成、固化到這些芯片中，從而高密度、更小體積的實現(xiàn)設(shè)計出來的集成電路。固化了集成電路的芯片在批量生產(chǎn)之前必須測試電路特性，比如測試芯片的電路邏輯、時序是否正確，用以檢測芯片是否可以達(dá)到設(shè)計要求的集成電路功能。自測試技術(shù)能夠方便的對集成電路芯片進(jìn)行測試，自測試技術(shù)是指集成電路設(shè)計人員在集成電路芯片中加入一些額外的測試電路，利用測試電路對設(shè)計的集成電路進(jìn)行自測試。然而，目前的自測試方案存在效率、靈活性較低的問題。

技術(shù)實現(xiàn)思路

1、根據(jù)本公開的一方面，提供了一種低功耗單固定型故障測試裝置，所述裝置包括多級線性反饋移位寄存器、相移器、多個多路選擇器、掃描森林、響應(yīng)壓縮器及特征分析器，其中，

2、所述多級線性反饋移位寄存器被配置為實現(xiàn)不同級數(shù)的本原多項式，所述多級線性反饋移位寄存器用于輸出測試向量，所述測試向量與所述掃描森林的結(jié)構(gòu)及目標(biāo)故障類型相關(guān)；

3、所述相移器的各個輸入端連接于所述多級線性反饋移位寄存器的多個輸出節(jié)點，所述相移器用于對所述測試向量進(jìn)行相移處理，所述相移器包括多級輸出，每一級輸出用于輸出不同相位的測試向量以驅(qū)動相連的多路選擇器；

4、所述掃描森林包括多個掃描樹集合，每個掃描樹集合包括多個掃描樹，每個掃描樹包括多個掃描鏈，每個掃描鏈包括多個級聯(lián)的掃描觸發(fā)器，所述掃描觸發(fā)器來自于被測電路的組合邏輯；

5、所述響應(yīng)壓縮器，連接于所述掃描森林，用于對所述掃描森林輸出的電路響應(yīng)信號進(jìn)行壓縮，得到壓縮后的電路響應(yīng)信號；

6、所述特征分析器，連接于所述響應(yīng)壓縮器，用于根據(jù)壓縮后的電路響應(yīng)信號及期望的電路響應(yīng)信號進(jìn)行對比分析，得到所述被測電路的故障測試結(jié)果。

7、在一種可能的實施方式中，所述多級線性反饋移位寄存器包括多個級聯(lián)的d觸發(fā)器，通過在一個或多個特定位置的d觸發(fā)器及與該特定位置的d觸發(fā)器相鄰的d觸發(fā)器之間設(shè)置多路選擇器、及對該多路選擇器的控制，將所述多級線性反饋移位寄存器配置為目標(biāo)級數(shù)的本原多項式。

8、在一種可能的實施方式中，所述多級線性反饋移位寄存器包括第一輸入多路選擇器、n個級聯(lián)的d觸發(fā)器、附加寄存器組、n個二輸入與門及n個異或門，每個二輸入與門、每個d觸發(fā)器及每個異或門對應(yīng)，

9、在第m個d觸發(fā)器與第m+1個d觸發(fā)器之間設(shè)置級數(shù)控制多路選擇器以實現(xiàn)n級本原多項式或n-m級本原多項式，該級數(shù)控制多路選擇器的一輸入端連接于所述第m個d觸發(fā)器的輸出端及與所述第m個d觸發(fā)器對應(yīng)的二輸入與門的一輸入端，該級數(shù)控制多路選擇器的輸出端連接于所述第m+1個d觸發(fā)器的輸入端，其中，n＞m且二者均為正整數(shù)；

10、除上述第m個d觸發(fā)器之外的其他d觸發(fā)器中，第k個d觸發(fā)器的輸出端連接于第k個二輸入與門的一輸入端及第k+1個d觸發(fā)器的輸入端，第k個二輸入與門的另一輸入端連接于所述附加寄存器組中的第k個寄存器，第k個二輸入與門的輸出端連接于第k個異或門的一輸入端，第k個異或門的另一輸入端連接于第k+1個異或門的輸出端，第1個異或門的輸出端連接于所述第一輸入多路選擇器的第一輸入端，所述第一輸入多路選擇器的第二輸入端用于輸入預(yù)設(shè)種子序列，其中，k≤n且為整數(shù)，第n個異或門的另一輸入端連接第n個d觸發(fā)器的輸出端；

11、所述第一輸入多路選擇器的控制端及所述級數(shù)控制多路選擇器的控制端用于接收控制信號，以配置所述多級線性反饋移位寄存器的本原多項式的級數(shù)。

12、在一種可能的實施方式中，當(dāng)所述附加寄存器組中的第k個寄存器的值為1時，第k個二輸入與門輸出為第k個d觸發(fā)器的輸出值；或，當(dāng)所述附加寄存器組中的第k個寄存器的值為0時，第k個二輸入與門輸出為0。

13、在一種可能的實施方式中，若所述第一輸入多路選擇器的控制端及所述級數(shù)控制多路選擇器的控制端分別接收控制信號s及控制信號s’，則，

14、當(dāng)ss’＝00時，所述多級線性反饋移位寄存器被配置為一個線性移位寄存器；或

15、當(dāng)ss’＝11時，所述多級線性反饋移位寄存器被配置為n-m級的本原多項式，第m級d觸發(fā)器用作移位寄存器、且可向連接的相移器移入測試向量；或

16、當(dāng)ss’＝10時，所述多級線性反饋移位寄存器被配置n級的本原多項式。

17、在一種可能的實施方式中，若所述多級線性反饋移位寄存器能夠?qū)崿F(xiàn)n級、i1級、i2級、…、il級、…、ic級的本原多項式，其中n>i1>i2>…>il>…>ic、且i1、i2、il、ic均為正整數(shù)，

18、當(dāng)所述多級線性反饋移位寄存器被配置n級本原多項式時，所述第一輸入多路選擇器101的控制信號為1，i1級、i2級、…、il級、…、ic級的級數(shù)控制多路選擇器的控制信號置為0；

19、當(dāng)所述多級線性反饋移位寄存器被配置il級本原多項式時，所述第一輸入多路選擇器及il級的級數(shù)控制多路選擇器的控制信號置為1，i1、i2、…、il-1級的級數(shù)控制多路選擇器的控制信號置為0；

20、當(dāng)所述多級線性反饋移位寄存器被配置ic級的本原多項式時，所述第一輸入多路選擇器及ic級的級數(shù)控制多路選擇器的控制信號置為1，i1、i2、…、ic-1級的級數(shù)控制多路選擇器的控制信號置為0。

21、在一種可能的實施方式中，所述控制信號由控制信號寄存器提供。

22、在一種可能的實施方式中，所述多級線性反饋移位寄存器還連接于多個附加向量輸入與門，各個附加向量輸入與門的兩輸入端用于接收附加向量位及外部輸入數(shù)據(jù)。

23、根據(jù)本公開的一方面，提供了一種電子設(shè)計自動化產(chǎn)品，所述電子設(shè)計自動化產(chǎn)品包括所述的低功耗單固定型故障測試裝置。

24、根據(jù)本公開的一方面，提供了一種低功耗單固定型故障測試方法，所述方法包括：

25、利用多級線性反饋移位寄存器實現(xiàn)不同級數(shù)的本原多項式，所述多級線性反饋移位寄存器用于根據(jù)掃描森林的結(jié)構(gòu)及目標(biāo)故障類型輸出測試向量，其中，所述掃描森林包括多個掃描樹集合，每個掃描樹集合包括多個掃描樹，每個掃描樹包括多個掃描鏈，每個掃描鏈包括多個級聯(lián)的掃描觸發(fā)器，所述掃描觸發(fā)器來自于被測電路的組合邏輯；

26、利用相移器對所述測試向量進(jìn)行相移處理，所述相移器包括多級輸出，每一級輸出用于輸出不同相位的測試向量以驅(qū)動相連的多路選擇器；

27、利用響應(yīng)壓縮器對掃描森林輸出的電路響應(yīng)信號進(jìn)行壓縮，得到壓縮后的電路響應(yīng)信號；

28、利用特征分析器根據(jù)壓縮后的電路響應(yīng)信號及期望的電路響應(yīng)信號進(jìn)行對比分析，得到所述被測電路的故障測試結(jié)果。

29、根據(jù)本公開的一方面，提供了一種電子設(shè)備，包括：處理器；用于存儲處理器可執(zhí)行指令的存儲器；其中，所述處理器被配置為調(diào)用所述存儲器存儲的指令，以執(zhí)行上述方法。

30、根據(jù)本公開的一方面，提供了一種計算機(jī)可讀存儲介質(zhì)，其上存儲有計算機(jī)程序指令，所述計算機(jī)程序指令被處理器執(zhí)行時實現(xiàn)上述方法。

31、本公開實施例的多級線性反饋移位寄存器可以根據(jù)需要實現(xiàn)不同級數(shù)的本原多項式，以根據(jù)掃描森林的結(jié)構(gòu)及目標(biāo)故障類型靈活地輸出測試向量，相移器對測試向量進(jìn)行相移處理后輸出不同相位的測試向量以驅(qū)動相連的多路選擇器，以使得響應(yīng)壓縮器對掃描森林輸出的電路響應(yīng)信號進(jìn)行壓縮，得到壓縮后的電路響應(yīng)信號，并利用特征分析器根據(jù)壓縮后的電路響應(yīng)信號及期望的電路響應(yīng)信號進(jìn)行對比分析，得到被測電路的故障測試結(jié)果，實現(xiàn)了被測電路的高效測試，可見，本公開實施例的低功耗單固定型故障測試裝置具有較高的測試效率及較高的靈活性。

32、應(yīng)當(dāng)理解的是，以上的一般描述和后文的細(xì)節(jié)描述僅是示例性和解釋性的，而非限制本公開。根據(jù)下面參考附圖對示例性實施例的詳細(xì)說明，本公開的其它特征及方面將變得清楚。