本申請(qǐng)屬于芯片測試，特別是涉及一種芯片測試中的線路檢測方法及裝置。

背景技術(shù)：

1、為提高芯片測試效率，多占位的芯片測試方式已得到廣泛應(yīng)用。

2、在當(dāng)前的多站位測試過程中，測試儀和測試板之間需要連接大量dio(數(shù)字輸入/輸出)線路。由于線路數(shù)量眾多，人工接線時(shí)容易出現(xiàn)連接錯(cuò)誤，這可能導(dǎo)致測試失效，影響芯片測試結(jié)果的準(zhǔn)確性。

3、因此，如何設(shè)計(jì)出一種檢定芯片測試中線路連接正確性的方法成為目前亟待解決的問題。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本申請(qǐng)的目的在于提供一種芯片測試中的線路檢測方法及裝置，能夠滿足檢測芯片測試中線路連接狀態(tài)的需要。

2、第一方面，本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種芯片測試中的線路檢測方法，該方法包括：

3、分別為測試設(shè)備和測試電路板間的多個(gè)數(shù)字輸入輸出dio通道分配相應(yīng)的目標(biāo)電壓幅值，多個(gè)dio通道用于傳輸芯片測試信號(hào)；

4、當(dāng)多個(gè)dio通道中每個(gè)dio通道的實(shí)際電壓值均在預(yù)設(shè)范圍內(nèi)時(shí)，在測試界面顯示通道連接正確的提示，啟動(dòng)后續(xù)測試程序；或者，

5、當(dāng)多個(gè)dio通道中存在至少一個(gè)dio通道的實(shí)際電壓值不在預(yù)設(shè)范圍內(nèi)時(shí)，在測試界面顯示通道連接錯(cuò)誤的提示，中斷啟動(dòng)后續(xù)測試程序。

6、在第一方面的一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，當(dāng)多個(gè)dio通道中存在至少一個(gè)dio通道的實(shí)際電壓值不在預(yù)設(shè)范圍內(nèi)時(shí)，在測試界面顯示通道連接錯(cuò)誤的提示，中斷啟動(dòng)后續(xù)測試程序，可以包括以下步驟：

7、在測試界面彈出包含有連接錯(cuò)誤的dio通道編號(hào)的提示窗口，提示窗口用于指引操作人員檢查dio通道編號(hào)并進(jìn)行修復(fù)。

8、在第一方面的一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，當(dāng)多個(gè)dio通道的實(shí)際電壓值均不在預(yù)設(shè)范圍內(nèi)時(shí)，該方法還包括以下步驟：

9、響應(yīng)于操作人員對(duì)當(dāng)前提示窗口中確認(rèn)按鈕的點(diǎn)擊操作，彈出下一個(gè)提示窗口，顯示下一個(gè)提示窗口包含的dio通道編號(hào)，一個(gè)提示窗口包含一個(gè)dio通道編號(hào)。

10、在第一方面的一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，該方法還包括以下步驟：

11、響應(yīng)于操作人員對(duì)最后一個(gè)提示窗口中確認(rèn)按鈕的點(diǎn)擊操作，在測試界面顯示第一控件；

12、響應(yīng)于操作人員對(duì)第一控件的點(diǎn)擊操作，重新檢測每個(gè)dio通道的連接狀態(tài)；

13、當(dāng)檢測到當(dāng)前每個(gè)dio通道的實(shí)際電壓值均符合預(yù)設(shè)范圍時(shí)，在測試界面顯示線路連接正確的提示，繼續(xù)啟動(dòng)后續(xù)測試程序。

14、在第一方面的一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，分別為測試設(shè)備和測試電路板間的多個(gè)數(shù)字輸入輸出dio通道分配對(duì)應(yīng)的目標(biāo)電壓幅值，包括：

15、根據(jù)每個(gè)dio通道的目標(biāo)電壓幅值，通過控制測試電路板上繼電器的開合狀態(tài)，將施加到每個(gè)dio通道上的電壓幅值調(diào)整為該dio通道對(duì)應(yīng)的目標(biāo)電壓幅值。

16、在第一方面的一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，測試電路板上設(shè)置有多個(gè)繼電器，每個(gè)繼電器對(duì)應(yīng)一個(gè)預(yù)設(shè)電源，每個(gè)繼電器對(duì)應(yīng)一個(gè)dio通道，根據(jù)每個(gè)dio通道的目標(biāo)電壓幅值，通過控制測試電路板上繼電器的開合狀態(tài)，將施加到每個(gè)dio通道上的電壓幅值調(diào)整為該dio通道對(duì)應(yīng)的目標(biāo)電壓幅值，方法包括：

17、當(dāng)按照預(yù)設(shè)順序逐個(gè)閉合多個(gè)繼電器時(shí)，每個(gè)dio通道按序逐個(gè)與該dio通道對(duì)應(yīng)的預(yù)設(shè)電源連接。

18、在第一方面的一種可能的實(shí)現(xiàn)方式中，多個(gè)預(yù)設(shè)電源是由fovi100模塊生成的。

19、第二方面，本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種芯片測試中的線路檢測裝置，該裝置包括：

20、電壓分配模塊，用于分別為測試設(shè)備和測試電路板間的多個(gè)數(shù)字輸入輸出dio通道分配相應(yīng)的目標(biāo)電壓幅值，每個(gè)數(shù)字輸入輸出dio通道用于傳輸測試信號(hào)；

21、第一檢測模塊，用于當(dāng)多個(gè)dio通道中每個(gè)dio通道的實(shí)際電壓值均在預(yù)設(shè)范圍內(nèi)時(shí)，在測試界面顯示通道連接正確的提示，啟動(dòng)后續(xù)測試程序；

22、第二檢測模塊，用于當(dāng)多個(gè)dio通道中存在至少一個(gè)dio通道的實(shí)際電壓值不在預(yù)設(shè)范圍內(nèi)時(shí)，在測試界面顯示通道連接錯(cuò)誤的提示，中斷啟動(dòng)后續(xù)測試程序。

23、第三方面，本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種計(jì)算機(jī)設(shè)備，包括存儲(chǔ)器、處理器以及存儲(chǔ)在所述存儲(chǔ)器中并可在所述處理器上運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序，當(dāng)處理器執(zhí)行所述計(jì)算機(jī)程序時(shí)使得計(jì)算機(jī)設(shè)備實(shí)現(xiàn)如上述第一方面和第二方面中任一實(shí)現(xiàn)方式。

24、第四方面，本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，該計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，當(dāng)計(jì)算機(jī)程序被計(jì)算機(jī)設(shè)備執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如上述第一方面和第二方面中任一實(shí)現(xiàn)方式。

25、第五方面，本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品，當(dāng)計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品在計(jì)算機(jī)設(shè)備上運(yùn)行時(shí)，使得計(jì)算機(jī)設(shè)備執(zhí)行上述第一方面中任一項(xiàng)所述的實(shí)現(xiàn)方式。

26、本申請(qǐng)實(shí)施例與現(xiàn)有技術(shù)相比存在的有益效果是：

27、本方案，為每個(gè)dio通道分配目標(biāo)電壓幅值，監(jiān)測其實(shí)際電壓值，根據(jù)實(shí)際電壓值來判斷線路是否正確連接：當(dāng)實(shí)際電壓值在預(yù)設(shè)合理范圍內(nèi)，可以判斷線路連接是正確的；否則，說明可能存在線路接錯(cuò)、斷開或短路等問題，能夠及時(shí)中斷后續(xù)測試并指導(dǎo)人員進(jìn)行修復(fù)。通過這一預(yù)先檢定的方案，系統(tǒng)能夠識(shí)別并提示任何可能存在的線路連接錯(cuò)誤，避免由于線路接錯(cuò)或未接導(dǎo)致的測試失誤，從而提高整體測試的準(zhǔn)確性和可靠性。

技術(shù)特征：

1.一種芯片測試中的線路檢測方法，其特征在于，包括：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述當(dāng)所述多個(gè)dio通道中存在至少一個(gè)dio通道的實(shí)際電壓值不在所述預(yù)設(shè)范圍內(nèi)時(shí)，在所述測試界面顯示通道連接錯(cuò)誤的提示，中斷啟動(dòng)后續(xù)測試程序，包括：

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，當(dāng)所述多個(gè)dio通道的實(shí)際電壓值均不在所述預(yù)設(shè)范圍內(nèi)時(shí)，所述方法還包括：

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

5.根據(jù)權(quán)利要求1至4中任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，所述分別為測試設(shè)備和測試電路板間的多個(gè)數(shù)字輸入輸出dio通道分配對(duì)應(yīng)的目標(biāo)電壓幅值，包括：

6.根據(jù)權(quán)利要求1至4中任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，所述測試電路板上設(shè)置有多個(gè)所述繼電器，每個(gè)繼電器對(duì)應(yīng)一個(gè)預(yù)設(shè)電源，每個(gè)繼電器對(duì)應(yīng)一個(gè)dio通道，所述根據(jù)每個(gè)dio通道的目標(biāo)電壓幅值，通過控制所述測試電路板上繼電器的開合狀態(tài)，將施加到每個(gè)dio通道上的電壓幅值調(diào)整為該dio通道對(duì)應(yīng)的目標(biāo)電壓幅值，包括：

7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，所述預(yù)設(shè)電源是由fovi100模塊生成的。

8.一種芯片測試中的線路檢測裝置，其特征在于，包括：

9.一種計(jì)算機(jī)設(shè)備，其特征在于，包括存儲(chǔ)器、處理器以及存儲(chǔ)在所述存儲(chǔ)器中并可在所述處理器上運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序，所述處理器執(zhí)行所述計(jì)算機(jī)程序時(shí)使得所述計(jì)算機(jī)設(shè)備實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1至7任一項(xiàng)所述的方法。

10.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，所述計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，其特征在于，所述計(jì)算機(jī)程序被計(jì)算機(jī)設(shè)備執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1至7任一項(xiàng)所述的方法。

技術(shù)總結(jié)
本申請(qǐng)公開了一種芯片測試中的線路檢測方法及裝置，屬于芯片測試技術(shù)領(lǐng)域。該方法包括：分別為測試設(shè)備和測試電路板間的多個(gè)數(shù)字輸入輸出DIO通道分配相應(yīng)的目標(biāo)電壓幅值；當(dāng)多個(gè)DIO通道中每個(gè)DIO通道的實(shí)際電壓值均在預(yù)設(shè)范圍內(nèi)時(shí)，在測試界面顯示通道連接正確的提示，啟動(dòng)后續(xù)測試程序；或者，當(dāng)多個(gè)DIO通道中存在至少一個(gè)DIO通道的實(shí)際電壓值不在預(yù)設(shè)范圍內(nèi)時(shí)，在測試界面顯示通道連接錯(cuò)誤的提示，中斷啟動(dòng)后續(xù)測試程序。本方法，通過分配目標(biāo)電壓幅值后，檢測每個(gè)通道中的實(shí)際電壓值來判斷線路連接狀態(tài)，在連接失敗時(shí)及時(shí)中斷測試，有效預(yù)防因線路連接錯(cuò)誤導(dǎo)致的測試失誤，提升芯片測試的效率、可靠性。

技術(shù)研發(fā)人員：曠渝,楊澤坤,楚志華,李安平,李曉白
受保護(hù)的技術(shù)使用者：深圳米飛泰克科技股份有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2025/1/9