本發(fā)明涉及安檢，更具體地，涉及一種安檢設(shè)備。

背景技術(shù)：

1、四源的雙通道雙視角安檢設(shè)備為四個(gè)射線源，兩個(gè)安檢通道，每個(gè)安檢通道上具備雙視角檢測，也即每個(gè)安檢通道分別有自己的側(cè)視角和頂視角的射線源，兩個(gè)安檢通道做到了完全獨(dú)立。每個(gè)安檢通道的射線源只有本安檢通道檢測包裹時(shí)才會(huì)出束，邏輯控制簡單，可靠性大大提升。同時(shí)，頂視角射線源的束面只需要覆蓋本通道，安裝位置可以壓低，距離檢測包裹更近，因此可以提升設(shè)備的成像性能。

2、四源雙通道雙視角的安檢設(shè)備雖然能夠?qū)崿F(xiàn)兩安檢通道獨(dú)立運(yùn)行，但由于安檢場地的限制，安檢通道的長度和兩安檢通道之間的距離需要被限制在一定范圍內(nèi)。例如在某些機(jī)場，安檢通道長度只能為2米，兩安檢通道間距只能在150mm以內(nèi)。為了解決該問題，現(xiàn)有做法是采用小間距探測器、進(jìn)而壓縮探測器尺寸和探測器盒的尺寸，但是采用小尺寸探測器和探測器盒，安檢設(shè)備成本會(huì)大幅增加。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、為解決現(xiàn)有技術(shù)中的上述問題，本發(fā)明實(shí)施例提出一種體積小和成本低的安檢設(shè)備。

2、本發(fā)明的一個(gè)方面提供了一種安檢設(shè)備，包括：第一安檢通道；第二安檢通道，與所述第一安檢通道間隔開，形成間隔通道；安裝于所述第一安檢通道的兩個(gè)第一射線源，射線出束分別形成第一束面和第二束面，所述第一束面至少與所述第一安檢通道的遠(yuǎn)離形成所述第一束面的第一射線源的相鄰兩個(gè)壁面相交，形成第一交匯位置，所述第二束面至少與所述第一安檢通道的遠(yuǎn)離形成所述第二束面的第一射線源的另外相鄰的兩個(gè)壁面相交，形成第二交匯位置；安裝于所述第二安檢通道的兩個(gè)第二射線源，射線出束分別形成第三束面和第四束面，所述第三束面至少與所述第二安檢通道的遠(yuǎn)離形成所述第三束面的第二射線源的相鄰兩個(gè)壁面相交，形成第三交匯位置，所述第四束面至少與所述第二安檢通道的遠(yuǎn)離形成所述第四束面的第二射線源的另外相鄰的兩個(gè)壁面相交，形成第四交匯位置；安裝于所述第一安檢通道的所述第一交匯位置處和所述第二交匯位置處的兩個(gè)第一探測器組；安裝于所述第二安檢通道的所述第三交匯位置處和所述第四交匯位置處的兩個(gè)第二探測器組；其中，位于所述間隔通道的所述第一探測器組與位于所述間隔通道的所述第二探測器組在所述間隔通道的延伸方向上間隔開。

3、根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的安檢設(shè)備，將位于間隔通道的第一探測器組與位于間隔通道的第二探測器組在間隔通道的延伸方向上間隔開設(shè)置，可以縮小間隔通道的寬度，也即可以縮小第一安檢通道與第二安檢通道之間的距離，從而可以減小安檢設(shè)備整體的體積，減小占地空間。另外，在間隔通道的寬度方向上，由于無需同時(shí)放置第一探測器組和第二探測器組，因此，第一探測器組和/或第二探測器組可以采用較大尺寸的探測器，這樣可以減少第一探測器組和/或第二探測器組中探測器的個(gè)數(shù)，可以降低安裝第一探測器組和/或第二探測器組的工時(shí)，從而節(jié)約安檢設(shè)備的制造成本。

4、在一些實(shí)施例中，所述第一交匯位置的相鄰的兩個(gè)壁面中，包括所述第一安檢通道的遠(yuǎn)離所述第二安檢通道的側(cè)壁面；所述第三交匯位置的相鄰的兩個(gè)壁面中，包括所述第二安檢通道的靠近所述第一安檢通道的側(cè)壁面；所述第一束面與所述第三束面位于同一平面。

5、在一些實(shí)施例中，形成第一束面的所述第一射線源安裝于所述第一安檢通道的頂端，其中一個(gè)所述第一探測器組安裝于所述第一安檢通道的遠(yuǎn)離所述第二安檢通道的側(cè)面和底端；形成第三束面的所述第二射線源安裝于所述第二安檢通道的遠(yuǎn)離第一安檢通道的側(cè)面，其中一個(gè)所述第二探測器組安裝于所述第二安檢通道的靠近所述第一安檢通道的側(cè)面和頂端，或者其中一個(gè)所述第二探測器組安裝于所述第二安檢通道的靠近所述第一安檢通道的側(cè)面和底端；或者形成第一束面的所述第一射線源安裝于所述第一安檢通道的底端，其中一個(gè)所述第一探測器組安裝于所述第一安檢通道的遠(yuǎn)離所述第二安檢通道的側(cè)面和頂端；形成第三束面的所述第二射線源安裝于所述第二安檢通道的遠(yuǎn)離所述第一安檢通道的側(cè)面，其中一個(gè)所述第二探測器組安裝于所述第二安檢通道的靠近所述第一安檢通道的側(cè)面和頂端，或者其中一個(gè)所述第二探測器組安裝于所述第二安檢通道的靠近所述第一安檢通道的側(cè)面和底端。

6、在一些實(shí)施例中，所述第二交匯位置的相鄰的兩個(gè)壁面中，包括所述第一安檢通道的靠近所述第二安檢通道的側(cè)壁面；所述第四交匯位置的相鄰的兩個(gè)壁面中，包括所述第二安檢通道的遠(yuǎn)離所述第一安檢通道的側(cè)壁面；所述第二束面與所述第四束面位于同一平面。

7、在一些實(shí)施例中，形成第四束面的所述第二射線源安裝于所述第二安檢通道的頂端，另一個(gè)所述第二探測器組安裝于所述第二安檢通道的遠(yuǎn)離所述第一安檢通道的側(cè)面和底端；形成第二束面的所述第一射線源安裝于所述第一安檢通道的遠(yuǎn)離所述第二安檢通道的側(cè)面，另一個(gè)所述第一探測器組安裝于所述第一安檢通道的靠近所述第二安檢通道的側(cè)面和頂端，或者另一個(gè)所述第一探測器組安裝于所述第一安檢通道的靠近所述第二安檢通道的側(cè)面和底端；或者形成第四束面的所述第二射線源安裝于所述第二安檢通道的底端，另一個(gè)所述第二探測器組安裝于所述第二安檢通道的遠(yuǎn)離所述第一安檢通道的側(cè)面和頂端；形成第二束面的所述第一射線源安裝于所述第一安檢通道的遠(yuǎn)離所述第二安檢通道的側(cè)面，另一個(gè)所述第一探測器組安裝于所述第一安檢通道的靠近所述第二安檢通道的側(cè)面和頂端，或者另一個(gè)所述第一探測器組安裝于所述第一安檢通道的靠近所述第二安檢通道的側(cè)面和底端。

8、在一些實(shí)施例中，所述兩個(gè)第一探測器組中的一個(gè)包括m個(gè)第一探測器，所述m個(gè)第一探測器中的一部分安裝于所述第一安檢通道的遠(yuǎn)離所述第二安檢通道的側(cè)面，覆蓋所述第一束面與該側(cè)面的交匯位置，所述m個(gè)第一探測器中的另一部分安裝于所述第一安檢通道的頂端或底端，覆蓋所述第一束面與該頂端或底端的交匯位置，m為大于等于2的整數(shù)；所述兩個(gè)第一探測器組中的另一個(gè)包括n個(gè)第一探測器，所述n個(gè)第一探測器中的一部分安裝于所述第一安檢通道的靠近所述第二安檢通道的側(cè)面，覆蓋所述第二束面與該側(cè)面的交匯位置，所述n個(gè)第一探測器中的另一部分安裝于所述第一安檢通道的底端或頂端，覆蓋所述第一束面與該底端或頂端的交匯位置，n為大于等于2的整數(shù)。

9、在一些實(shí)施例中，每個(gè)所述第一探測器組中的多個(gè)第一探測器分別單獨(dú)安裝至所述第一安檢通道，或者每個(gè)所述第一探測器組中的多個(gè)第一探測器集成后整體安裝至所述第一安檢通道。

10、在一些實(shí)施例中，所述兩個(gè)第二探測器組中的一個(gè)包括g個(gè)第二探測器，所述g個(gè)第二探測器中的一部分安裝于所述第二安檢通道的靠近所述第一安檢通道的側(cè)面，覆蓋所述第三束面與該側(cè)面的交匯位置，所述g個(gè)第二探測器中的另一部分安裝于所述第二安檢通道的頂端或底端，覆蓋所述第三束面與該頂端或底端的交匯位置，g為大于等于2的整數(shù)；所述兩個(gè)第二探測器組中的另一個(gè)包括r個(gè)第二探測器，所述r個(gè)第二探測器中的一部分安裝于所述第二安檢通道的遠(yuǎn)離所述第一安檢通道的側(cè)面，覆蓋所述第四束面與該側(cè)面的交匯位置，所述r個(gè)第二探測器中的另一部分安裝于所述第二安檢通道的底端或頂端，覆蓋所述第四束面與該底端或頂端的交匯位置，r為大于等于2的整數(shù)。

11、在一些實(shí)施例中，每個(gè)所述第二探測器組中的多個(gè)第二探測器分別單獨(dú)安裝至所述第二安檢通道，或者每個(gè)所述第二探測器組中的多個(gè)第二探測器集成后整體安裝至所述第二安檢通道。

12、在一些實(shí)施例中，所述的安檢設(shè)備還包括：兩個(gè)第一準(zhǔn)直器，每個(gè)所述第一準(zhǔn)直器沿所述第一安檢通道的延伸方向插入安裝至每個(gè)所述第一射線源與所述第一安檢通道之間；和/或兩個(gè)第二準(zhǔn)直器，每個(gè)所述第二準(zhǔn)直器沿所述第二安檢通道的延伸方向插入安裝至每個(gè)所述第二射線源與所述第二安檢通道之間。

13、在一些實(shí)施例中，所述第一安檢通道的內(nèi)壁平滑；和/或所述第二安檢通道的內(nèi)壁平滑。

14、本發(fā)明的附加方面和優(yōu)點(diǎn)將在下面的描述中部分給出，部分將從下面的描述中變得明顯，或通過本發(fā)明的實(shí)踐了解到。