本發(fā)明涉及微波開關(guān)，具體為一種微波開關(guān)用測試系統(tǒng)。

背景技術(shù)：

1、封裝微波開關(guān)是八管腳器件，最高工作頻率在微波段（4ghz以上），其管腳分別為信號輸出、通道一輸出、通道二輸出、工作電源、邏輯控制、輸出使能和兩個接地管腳且器件底部中間有一大塊接地面，以保證器件正常工作。目前封裝微波開關(guān)測試多為利用夾具把器件直接壓在測試電路板對應(yīng)的位置上，然后利用測試設(shè)備進行測試，這種測試方式由于器件管腳與電路板是硬接觸的方式，很容易對器件管腳鍍層造成損傷影響器件的可焊性，同時由于器件本身的管腳高度的差異，造成管腳與電路板之間接觸不是很良好，影響測試效果甚至燒毀器件；另一種測試方式則是直接焊接在電路板上測試，這樣就破壞了微波開關(guān)管腳的焊接面的性能，而且焊接時容易破壞了微波開關(guān)本身結(jié)構(gòu)性能指標，不適用于微波開關(guān)的參數(shù)測試。而且這兩種測試方式的測試效率都不高，不適用于大批量的測試；

2、為解決上述問題，市面有改進技術(shù)提出一種封裝微波開關(guān)測試裝置，包括測試夾具、放置微波開關(guān)的測試探針模塊和測試電路板，測試夾具置于測試電路板上，固定連接到金屬底板上，測試探針模塊固定在測試夾具中部，內(nèi)置一端與測試電路板接觸的可彈性伸縮的測試探針，測試探針上端與微波開關(guān)的信號輸入管腳連接，測試電路板安裝在金屬底板上，通過導線連接到監(jiān)測設(shè)備。該技術(shù)將封裝微波開關(guān)放到測試夾具中，通過測試探針與測試電路板連接微波開關(guān)的管腳，可避免芯片管腳與測試電路板的接觸，測試探針的彈性起到緩沖的作用，能夠與測試電路板保持緊密接觸，減小寄生參數(shù)，保證微波信號的正常傳輸，避免硬壓芯片，提高了測試可靠性和測試效率，還有改進技術(shù)提出一種單刀雙擲射頻微波開關(guān)測試夾具，涉及微波開關(guān)測試技術(shù)領(lǐng)域，一種單刀雙擲射頻微波開關(guān)測試夾具，包括放置臺，所述放置臺的上側(cè)開設(shè)有放置槽，放置臺的上側(cè)設(shè)置有活動臺，活動臺的內(nèi)側(cè)設(shè)置有內(nèi)置框，內(nèi)置框的內(nèi)側(cè)設(shè)置有夾持板，活動臺的內(nèi)部開設(shè)有調(diào)節(jié)槽，該單刀雙擲射頻微波開關(guān)測試夾具，降低了操作者手持單刀雙擲射頻微波開關(guān)與電路板接觸時，操作者手持微波開關(guān)時由于沒有定位對接的支點，容易造成微波開關(guān)與電路板對接擠壓嚴重，而導致微波開關(guān)和電路板損壞的弊端，也降低了手持微波開關(guān)與電路板直接測試時，由于操作時者手部抖動容易造成微波開關(guān)在電路板表面發(fā)生傾斜造成測試斷續(xù)的弊端；

3、然而，上述兩種改進技術(shù)，仍在采用純手動的方式對微波開關(guān)進行測試，操作繁瑣，不夠系統(tǒng)化，測試可靠性以及測試效率均比較低，為此，有必要開發(fā)一種微波開關(guān)用測試系統(tǒng)，以解決上述問題。

技術(shù)實現(xiàn)思路

1、（一）解決的技術(shù)問題

2、針對現(xiàn)有技術(shù)的不足，本發(fā)明提供了一種微波開關(guān)用測試系統(tǒng)，解決了現(xiàn)有技術(shù)中仍采用純手動的方式對微波開關(guān)進行測試，操作繁瑣、不夠系統(tǒng)化、測試可靠性以及測試效率均比較低的問題。

3、（二）技術(shù)方案

4、為實現(xiàn)以上目的，本發(fā)明通過以下技術(shù)方案予以實現(xiàn)：一種微波開關(guān)用測試系統(tǒng)，包括微波開關(guān)本體、底板、控制裝置、測試電路板以及多組導線，所述微波開關(guān)本體左右兩側(cè)壁均設(shè)置有多組信號引腳，所述導線兩端均具有用于夾持固定的夾子，所述底板上壁固定連接有機架，所述機架內(nèi)側(cè)壁且靠近上端位置固定連接有兩組呈前后分布的擋板，兩組所述擋板相對一側(cè)之間呈左右分布依次轉(zhuǎn)動連接有第一轉(zhuǎn)軸和第二轉(zhuǎn)軸，所述第一轉(zhuǎn)軸和第二轉(zhuǎn)軸分別靠近兩組擋板的左端和右端，所述第一轉(zhuǎn)軸、第二轉(zhuǎn)軸外壁均固定連接有傳動筒，兩組所述傳動筒外壁共同套設(shè)有傳送帶，所述第一轉(zhuǎn)軸與擋板之間設(shè)置有用于驅(qū)動第一轉(zhuǎn)軸旋轉(zhuǎn)的傳送驅(qū)動結(jié)構(gòu)，所述傳送帶外壁沿其長度方向等間距設(shè)置有多個凹槽，所述凹槽內(nèi)側(cè)壁通過兩組螺釘螺紋連接有用于擺放微波開關(guān)本體的工裝，兩組所述擋板上壁固定連接有檢測箱，所述檢測箱左壁通過鉸鏈轉(zhuǎn)動連接有維護門，所述檢測箱內(nèi)部通過升降驅(qū)動結(jié)構(gòu)滑動連接有固定架，所述固定架側(cè)視投影呈口部朝下的匚字型，所述固定架內(nèi)側(cè)壁且居中位置固定連接有隔板，所述測試電路板可拆卸連接在隔板上壁，所述固定架內(nèi)側(cè)壁且靠近下壁位置可拆卸連接有測試基板，所述測試基板下壁設(shè)置有用于同微波開關(guān)本體信號引腳接觸的檢測結(jié)構(gòu)，所述檢測結(jié)構(gòu)與測試電路板之間、測試電路板與控制裝置之間分別通過多組導線電連接，兩組所述擋板上壁且位于檢測箱右側(cè)呈左右分布依次設(shè)置有兩組固定板，所述固定板通過立柱與擋板固定連接，所述固定板上壁通過平移驅(qū)動結(jié)構(gòu)滑動連接有滑動座，所述滑動座上壁固定連接有支撐板，所述支撐板朝向滑動座左側(cè)延伸，所述支撐板前壁通過抓料驅(qū)動結(jié)構(gòu)設(shè)置有連接板，所述連接板下壁設(shè)置有用于夾取微波開關(guān)本體的第三氣缸。

5、優(yōu)選的，所述傳送驅(qū)動結(jié)構(gòu)包括第一電機、減速機，所述減速機、第一電機按左右分布依次固定連接在兩組擋板中靠前側(cè)一組擋板的前壁，所述第一電機伸出軸與減速機輸入軸固定連接，所述第一轉(zhuǎn)軸前端貫穿兩組擋板中靠前側(cè)一組擋板內(nèi)壁并伸出至其前側(cè)，所述減速機輸出軸通過聯(lián)軸器與第一轉(zhuǎn)軸伸出至擋板前側(cè)的端部固定連接。

6、優(yōu)選的，兩組所述傳動筒外壁均設(shè)置有多組同步齒牙，多組所述同步齒牙均以傳動筒軸心為中心呈圓周等分分布，所述傳送帶正視投影呈環(huán)形且環(huán)形內(nèi)側(cè)壁設(shè)置多組有與同步齒牙配合同步傳動的傳動齒牙。

7、優(yōu)選的，所述工裝上壁且居中位置設(shè)置有安放槽，所述安放槽深度為微波開關(guān)本體厚度的一半，所述工裝內(nèi)側(cè)左壁及內(nèi)側(cè)右壁均設(shè)置有用于方便取放微波開關(guān)本體的避位槽。

8、優(yōu)選的，所述升降驅(qū)動結(jié)構(gòu)包括第一氣缸以及兩組第一導桿，兩組所述第一導桿呈前后分布依次滑動連接在檢測箱上壁，兩組所述第一導桿朝向檢測箱的一端均貫穿檢測箱上壁并均伸入至檢測箱內(nèi)部，所述固定架上壁與兩組第一導桿伸入至檢測箱內(nèi)部的一端固定連接，所述固定架通過兩組第一導桿與檢測箱上壁滑動連接，所述第一氣缸固定連接在檢測箱上壁且位于兩組第一導桿之間，所述第一氣缸伸出軸端部貫穿檢測箱上壁并伸入至檢測箱內(nèi)部，所述第一氣缸伸入至檢測箱內(nèi)部的一端與固定架上壁固定連接。

9、優(yōu)選的，所述檢測結(jié)構(gòu)包括多組固定管，多組所述固定管均固定連接在測試基板下壁，所述微波開關(guān)本體位于檢測箱正下方時多組固定管分別與微波開關(guān)本體多組信號引腳上下相對，所述固定管內(nèi)側(cè)壁滑動連接有防脫塊，所述固定管遠離測試基板的一端螺紋連接有用于避免防脫塊脫出的鎖緊環(huán)，所述固定管內(nèi)側(cè)上壁與防脫塊之間設(shè)置有彈簧，所述防脫塊遠離彈簧的一端設(shè)置有滑動桿，所述滑動桿遠離防脫塊的一端貫穿鎖緊環(huán)內(nèi)壁并伸出至鎖緊環(huán)下方，所述滑動桿伸出至鎖緊環(huán)下方的一端固定連接有測試頭，所述測試頭為導電材料，所述測試頭與測試電路板之間通過導線電連接。

10、優(yōu)選的，兩組所述擋板之間且位于檢測箱正下方固定連接有用于檢測結(jié)構(gòu)檢測時起支撐作用的墊板，所述墊板上壁與傳送帶內(nèi)側(cè)上壁滑動連接。

11、優(yōu)選的，所述平移驅(qū)動結(jié)構(gòu)包括滑軌、螺桿以及第二電機，所述滑軌固定連接在固定板上壁且滑軌俯視投影下與擋板長度方向垂直，所述滑動座滑動連接在滑軌上壁，所述螺桿通過第一轉(zhuǎn)動座、第二轉(zhuǎn)動座轉(zhuǎn)動連接在固定板上壁且位于滑軌右側(cè)，所述滑動座下壁通過螺套與螺桿螺紋連接，所述第二轉(zhuǎn)動座、第一轉(zhuǎn)動座呈前后分布，所述固定板上壁且靠近后端位置固定連接有背板，所述第二電機固定連接在背板后壁，所述第二電機伸出軸貫穿背板內(nèi)壁并伸出至背板前側(cè)，所述第二電機伸出軸伸出至背板前側(cè)的一端通過聯(lián)軸器與螺桿后端固定連接。

12、優(yōu)選的，所述抓料驅(qū)動結(jié)構(gòu)包括第二氣缸以及兩組第二導桿，兩組所述第二導桿分別通過一組導套座滑動連接在支撐板前壁，兩組所述第二導桿下端分別貫穿兩組導套座并均延伸至導套座下側(cè)，兩組所述第二導桿延伸至導套座下方的一端與連接板上壁固定連接，所述第二氣缸固定連接在支撐板前壁且位于兩組第二導桿之間，所述第二氣缸伸出軸端與連接板上壁固定連接。

13、優(yōu)選的，所述第三氣缸為雙手指氣缸，所述第三氣缸雙手指前端均固定連接有呈左右相對設(shè)置的夾爪，兩組所述夾爪相對一側(cè)均固定連接有緩沖墊。

14、（三）有益效果

15、本發(fā)明提供了一種微波開關(guān)用測試系統(tǒng)。具備以下有益效果：

16、1、相比現(xiàn)有技術(shù)，該微波開關(guān)用測試系統(tǒng)，可以人工或者機械手將微波開關(guān)本體放入安防槽中，多組微波開關(guān)本體通過第一電機帶動傳動帶間歇傳動輸送，輸送到檢測箱下方時，通過控制裝置控制升降驅(qū)動結(jié)構(gòu)帶動檢測結(jié)構(gòu)下移，多組測試頭分別與微波開關(guān)本體側(cè)邊的多組信號引腳抵接，形成測試電路閉環(huán)，由控制裝置輸出測試信號并接收測試結(jié)果，測試完成后檢測結(jié)構(gòu)上移，傳送帶繼續(xù)輸送，合格產(chǎn)品以及不合格產(chǎn)品分別通過兩組第三氣缸進行抓取轉(zhuǎn)移，可實現(xiàn)系統(tǒng)化檢測，可靠性高，測試效率大大提升。

17、2、相比現(xiàn)有技術(shù)，該微波開關(guān)用測試系統(tǒng)，在檢測箱下方設(shè)置用于支撐的墊板，當測試頭壓向微波開關(guān)本體的信號引腳時，通過墊板從下方提供支撐力，避免傳送帶下移導致的測試頭與信號引腳接觸不良，提高了測試可靠性。

18、3、相比現(xiàn)有技術(shù)，該微波開關(guān)用測試系統(tǒng)，工裝通過兩組螺釘螺紋連接在傳送帶表面的凹槽內(nèi)側(cè)壁，測試基板可拆卸連接在固定架內(nèi)側(cè)壁，從而使得面對不同型號微波開關(guān)本體時可以很方便的替換上相應(yīng)的工裝及測試基板，適用范圍廣。