本技術(shù)涉及電路檢測(cè)領(lǐng)域，特別涉及一種阻抗檢測(cè)電路、方法和系統(tǒng)。

背景技術(shù)：

1、絕緣阻抗測(cè)定是一種電氣測(cè)試，用于評(píng)估電氣設(shè)備、電路或系統(tǒng)的絕緣性能，絕緣阻抗是衡量電氣設(shè)備或電路對(duì)地絕緣性能的關(guān)鍵參數(shù)。

2、相關(guān)技術(shù)中，在引入等效電容來(lái)實(shí)現(xiàn)絕緣阻抗測(cè)定時(shí)，設(shè)v0為t＝0時(shí)刻電容的初始電壓值，vu為電容充電終止電壓值，vt為任意時(shí)刻t的電容電壓值，則電容充電時(shí)間計(jì)算公式為其中，τ為電阻-電容電路(resistor-capacitorcircuit，rc電路)的時(shí)間常數(shù)?？梢?jiàn)，因?yàn)橹笖?shù)值只可能無(wú)限接近于0，但永遠(yuǎn)不會(huì)等于0，所以電容電量要完全充滿，需要無(wú)窮大的時(shí)間。

3、因此，在通過(guò)電容實(shí)現(xiàn)對(duì)電氣設(shè)備或電路進(jìn)行測(cè)試絕緣阻抗時(shí)，測(cè)得的絕緣阻抗存在準(zhǔn)確率低或測(cè)試時(shí)間過(guò)長(zhǎng)的問(wèn)題。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本技術(shù)實(shí)施例提供了一種阻抗檢測(cè)電路、方法和系統(tǒng)。所述技術(shù)方案如下：

2、一方面，提供了一種阻抗檢測(cè)電路，所述電路包括帶電體、正極負(fù)載電路和負(fù)極負(fù)載電路；

3、所述帶電體的正極與所述正極負(fù)載電路連接，所述帶電體的負(fù)極與所述負(fù)極負(fù)載電路連接，所述正極負(fù)載電路和所述負(fù)極負(fù)載電路的串聯(lián)節(jié)點(diǎn)接地；

4、所述正極負(fù)載電路中包括第一電容和第一負(fù)載，所述負(fù)極負(fù)載電路中包括第二電容和第二負(fù)載；

5、在所述第一電容的充電或放電過(guò)程中，所述第一電容用于提供至少三個(gè)時(shí)間節(jié)點(diǎn)分別對(duì)應(yīng)的第一電壓；

6、在所述第二電容的充電或放電過(guò)程中，所述第二電容用于提供所述至少三個(gè)時(shí)間節(jié)點(diǎn)分別對(duì)應(yīng)的第二電壓；

7、所述第一電壓和所述第二電壓用于確定所述帶電體對(duì)地的絕緣阻抗檢測(cè)結(jié)果。

8、在一些實(shí)施例中，所述至少三個(gè)時(shí)間節(jié)點(diǎn)分別對(duì)應(yīng)的第一電壓用于確定所述第一電容處于第一穩(wěn)定狀態(tài)時(shí)的第一穩(wěn)定電壓，所述第一穩(wěn)定狀態(tài)為所述第一電容經(jīng)過(guò)充電或放電后的狀態(tài)；

9、所述至少三個(gè)時(shí)間節(jié)點(diǎn)分別對(duì)應(yīng)的第二電壓用于確定所述第二電容處于第二穩(wěn)定狀態(tài)時(shí)的第二穩(wěn)定電壓，所述第二穩(wěn)定狀態(tài)為所述第二電容經(jīng)過(guò)充電或放電后的狀態(tài)；

10、所述第一穩(wěn)定電壓和所述第二穩(wěn)定電壓用于確定所述帶電體對(duì)地的所述絕緣阻抗檢測(cè)結(jié)果。

11、在一些實(shí)施例中，所述第一負(fù)載與所述第一電容并聯(lián)；

12、所述第二負(fù)載與所述第二電容并聯(lián)；

13、所述第一穩(wěn)定電壓和所述第二穩(wěn)定電壓用于確定所述第一負(fù)載的第一負(fù)載阻抗和所述第二負(fù)載的第二負(fù)載阻抗；

14、所述第一負(fù)載阻抗和所述第二負(fù)載阻抗用于確定所述帶電體對(duì)地的所述絕緣阻抗檢測(cè)結(jié)果。

15、在一些實(shí)施例中，所述正極負(fù)載電路還包括與所述第一電容并聯(lián)的第三負(fù)載和第一開(kāi)關(guān)，所述第三負(fù)載與所述第一開(kāi)關(guān)串聯(lián)；

16、所述負(fù)極負(fù)載電路還包括與所述第二電容并聯(lián)的第四負(fù)載和第二開(kāi)關(guān)，所述第四負(fù)載與所述第二開(kāi)關(guān)串聯(lián)；

17、在所述第一開(kāi)關(guān)導(dǎo)通，且所述第二開(kāi)關(guān)斷開(kāi)的情況下，在所述第一電容的充電或放電過(guò)程中，所述第三負(fù)載用于提供所述至少三個(gè)時(shí)間節(jié)點(diǎn)分別對(duì)應(yīng)的第一負(fù)載電壓，所述至少三個(gè)時(shí)間節(jié)點(diǎn)分別對(duì)應(yīng)的第一負(fù)載電壓用于確定所述第一電容在所述至少三個(gè)時(shí)間節(jié)點(diǎn)分別對(duì)應(yīng)的第一電壓，其中，第i個(gè)時(shí)間節(jié)點(diǎn)的第一負(fù)載電壓用于確定第i個(gè)時(shí)間節(jié)點(diǎn)的第一電壓，i為正整數(shù)；

18、在所述第二開(kāi)關(guān)導(dǎo)通，且所述第一開(kāi)關(guān)斷開(kāi)的情況下，在所述第二電容的充電或放電過(guò)程中，所述第四負(fù)載用于提供所述至少三個(gè)時(shí)間節(jié)點(diǎn)分別對(duì)應(yīng)的第二負(fù)載電壓，所述至少三個(gè)時(shí)間節(jié)點(diǎn)分別對(duì)應(yīng)的第二負(fù)載電壓用于確定所述第二電容在所述至少三個(gè)時(shí)間節(jié)點(diǎn)分別對(duì)應(yīng)的第二電壓，其中，第j個(gè)時(shí)間節(jié)點(diǎn)的第二負(fù)載電壓用于確定第j個(gè)時(shí)間節(jié)點(diǎn)的第二電壓，j為正整數(shù)。

19、在一些實(shí)施例中，第三負(fù)載包括多個(gè)第一子負(fù)載，所述多個(gè)第一子負(fù)載為串聯(lián)關(guān)系，所述第一負(fù)載電壓為所述多個(gè)第一子負(fù)載中第m個(gè)第一子負(fù)載的電壓，m為正整數(shù)；

20、第四負(fù)載包括多個(gè)第二子負(fù)載，所述多個(gè)第二子負(fù)載為串聯(lián)關(guān)系，所述第二負(fù)載電壓為所述多個(gè)第二子負(fù)載中第n個(gè)第二子負(fù)載的電壓，n為正整數(shù)。

21、另一方面，提供了一種阻抗檢測(cè)方法，應(yīng)用于如上述的阻抗檢測(cè)電路中，所述方法包括：

22、在所述第一電容的充電或放電過(guò)程中，獲取所述第一電容在所述至少三個(gè)時(shí)間節(jié)點(diǎn)分別對(duì)應(yīng)的所述第一電壓；

23、在所述第二電容的充電或放電過(guò)程中，獲取所述第二電容在所述至少三個(gè)時(shí)間節(jié)點(diǎn)分別對(duì)應(yīng)的所述第二電壓；

24、基于所述第一電壓和所述第二電壓，確定所述帶電體對(duì)地的絕緣阻抗檢測(cè)結(jié)果。

25、另一方面，提供了一種阻抗檢測(cè)裝置，所述裝置包括：

26、第一獲取模塊，用于在所述第一電容的充電或放電過(guò)程中，獲取所述第一電容在所述至少三個(gè)時(shí)間節(jié)點(diǎn)分別對(duì)應(yīng)的所述第一電壓；

27、第二獲取模塊，用于在所述第二電容的充電或放電過(guò)程中，獲取所述第二電容在所述至少三個(gè)時(shí)間節(jié)點(diǎn)分別對(duì)應(yīng)的所述第二電壓；

28、確定模塊，用于基于所述第一電壓和所述第二電壓，確定所述帶電體對(duì)地的絕緣阻抗檢測(cè)結(jié)果。

29、另一方面，提供了一種阻抗檢測(cè)系統(tǒng)，所述阻抗檢測(cè)系統(tǒng)中包括如上所述的阻抗檢測(cè)電路，所述阻抗檢測(cè)系統(tǒng)用于執(zhí)行如上所述的阻抗檢測(cè)方法。

30、另一方面，提供了一種計(jì)算機(jī)設(shè)備，所述計(jì)算機(jī)設(shè)備包括處理器和存儲(chǔ)器，所述存儲(chǔ)器中存儲(chǔ)有至少一條指令、至少一段程序、代碼集或指令集，所述至少一條指令、所述至少一段程序、所述代碼集或指令集由所述處理器加載并執(zhí)行以實(shí)現(xiàn)如上述本技術(shù)實(shí)施例中任一所述的阻抗檢測(cè)方法。

31、另一方面，提供了一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，所述存儲(chǔ)介質(zhì)中存儲(chǔ)有至少一條指令、至少一段程序、代碼集或指令集，所述至少一條指令、所述至少一段程序、所述代碼集或指令集由處理器加載并執(zhí)行以實(shí)現(xiàn)如上述本技術(shù)實(shí)施例中任一所述的阻抗檢測(cè)方法。

32、另一方面，提供了一種計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品或計(jì)算機(jī)程序，該計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品或計(jì)算機(jī)程序包括計(jì)算機(jī)指令，該計(jì)算機(jī)指令存儲(chǔ)在計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)中。計(jì)算機(jī)設(shè)備的處理器從計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)讀取該計(jì)算機(jī)指令，處理器執(zhí)行該計(jì)算機(jī)指令，使得該計(jì)算機(jī)設(shè)備執(zhí)行上述實(shí)施例中任一所述的阻抗檢測(cè)方法。

33、本技術(shù)的提供的技術(shù)方案至少包括以下有益效果：

34、設(shè)計(jì)了一種阻抗檢測(cè)電路，其中正極負(fù)載電路和負(fù)極負(fù)載電路串聯(lián)于帶電體的正負(fù)兩端，并于正極負(fù)載電路和負(fù)極負(fù)載電路的串聯(lián)節(jié)點(diǎn)接地，通過(guò)在正極負(fù)載電路和負(fù)極負(fù)載電路分別設(shè)置電容來(lái)等效帶電體對(duì)地的絕緣寄生電容，設(shè)置負(fù)載來(lái)等效帶電體對(duì)地的絕緣阻抗，通過(guò)在至少三個(gè)時(shí)間節(jié)點(diǎn)分別采集正極負(fù)載電路中第一電容對(duì)應(yīng)的第一電壓，以及在至少三個(gè)時(shí)間節(jié)點(diǎn)分別采集負(fù)極負(fù)載電路中第二電容對(duì)應(yīng)的第二電壓，來(lái)確定帶電體對(duì)地的絕緣阻抗檢測(cè)結(jié)果，由于在上述至少三個(gè)時(shí)間節(jié)點(diǎn)的第一電壓和第二電壓基礎(chǔ)上，能夠獲取到第一電容和第二電容在穩(wěn)定狀態(tài)下的準(zhǔn)確的電壓，因此，能夠提升在通過(guò)電容來(lái)檢測(cè)帶電體對(duì)地的絕緣阻抗時(shí)的結(jié)果準(zhǔn)確度，同時(shí)，由于在確定第一電容和第二電容在穩(wěn)定狀態(tài)下的電壓時(shí)無(wú)需為了消元而引入自然對(duì)數(shù)函數(shù)，可以減少設(shè)備在檢測(cè)帶電體對(duì)地的絕緣阻抗時(shí)的計(jì)算效率，從而提升阻抗檢測(cè)的效率。