1.一種相控陣天線幅相標(biāo)校方法，其特征在于：由兩套測(cè)試系統(tǒng)的測(cè)試數(shù)據(jù)實(shí)現(xiàn)，兩套測(cè)試系統(tǒng)均包括被測(cè)天線、穩(wěn)相線纜、矢網(wǎng)、地檢和pc電腦，第一套測(cè)試系統(tǒng)還包括被測(cè)天線、轉(zhuǎn)運(yùn)工裝、測(cè)試工裝、測(cè)試天線和天線包裝箱，所述天線包裝箱內(nèi)部放置轉(zhuǎn)運(yùn)工裝，轉(zhuǎn)運(yùn)工裝上安裝被測(cè)天線和測(cè)試工裝，測(cè)試工裝上方安裝測(cè)試天線；
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種相控陣天線幅相標(biāo)校方法，其特征在于：所述被測(cè)天線包括輻射單元和天線安裝板，天線安裝板側(cè)面留有轉(zhuǎn)運(yùn)工裝安裝及定位接口，轉(zhuǎn)運(yùn)工裝安裝及定位接口用于安裝和定位轉(zhuǎn)運(yùn)工裝。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種相控陣天線幅相標(biāo)校方法，其特征在于：所述轉(zhuǎn)運(yùn)工裝包括主框架和連接凸耳，主框架上設(shè)有測(cè)試工裝定位銷(xiāo)，測(cè)試工裝定位銷(xiāo)用于定位測(cè)試工裝，所述連接凸耳上留有固定及定位孔，固定及定位孔用于與被測(cè)天線上的轉(zhuǎn)運(yùn)工裝安裝及定位接口定位與緊固。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種相控陣天線幅相標(biāo)校方法，其特征在于：所述測(cè)試工裝上開(kāi)設(shè)有測(cè)試工裝定位孔和測(cè)試天線安裝孔，測(cè)試工裝定位孔用于與轉(zhuǎn)運(yùn)工裝上的測(cè)試工裝定位銷(xiāo)定位，測(cè)試天線安裝孔用于安裝測(cè)試天線。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種相控陣天線幅相標(biāo)校方法，其特征在于：所述穩(wěn)相線纜用于確保被測(cè)天線每次測(cè)試不會(huì)引入測(cè)試天線的幅相誤差；
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種相控陣天線幅相標(biāo)校方法，其特征在于：所述矢網(wǎng)與測(cè)試天線之間的信號(hào)通道為數(shù)據(jù)流a，矢網(wǎng)與被測(cè)天線之間的信號(hào)通道為數(shù)據(jù)流b，地檢與被測(cè)天線之間的信號(hào)通道為數(shù)據(jù)流c，矢網(wǎng)與pc電腦之間的信號(hào)通道為數(shù)據(jù)流d，矢網(wǎng)與地檢之間的信號(hào)通道為數(shù)據(jù)流e，地檢與pc電腦之間的信號(hào)通道為數(shù)據(jù)流f；
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種相控陣天線幅相標(biāo)校方法，其特征在于：矢網(wǎng)與波導(dǎo)探頭之間的信號(hào)通道為數(shù)據(jù)流a，矢網(wǎng)與被測(cè)天線之間的信號(hào)通道為數(shù)據(jù)流b，地檢與被測(cè)天線之間的信號(hào)通道為數(shù)據(jù)流d，矢網(wǎng)與地檢之間的信號(hào)通道為數(shù)據(jù)流e，地檢與掃描架之間的信號(hào)通道為數(shù)據(jù)流f，矢網(wǎng)與pc電腦之間的信號(hào)通道為數(shù)據(jù)流g，地檢與pc電腦之間的信號(hào)通道為數(shù)據(jù)流c；
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種相控陣天線幅相標(biāo)校方法，其特征在于：天線轉(zhuǎn)運(yùn)至暗室后，第一套測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行幅相測(cè)試，測(cè)試步驟如下：
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種相控陣天線幅相標(biāo)校方法，其特征在于：第一套測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試完成后，利用第二套測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行暗室測(cè)試，步驟如下：