本發(fā)明涉及芯片測試，尤其涉及一種led驅(qū)動芯片測試系統(tǒng)及方法。

背景技術：

1、部分led驅(qū)動芯片測試系統(tǒng)通常采用不同場景的模擬測試方法來評估芯片在多種負載條件下的性能表現(xiàn)。具體來說，這些測試主要關注驅(qū)動芯片在不同負載、電壓和溫度場景中的穩(wěn)態(tài)或瞬態(tài)響應情況。然而，這些測試方法通常將各電氣參數(shù)如電流、電壓、功率等的表現(xiàn)視為獨立個體，缺少對這些電氣參數(shù)間關聯(lián)特性和聯(lián)動特性的綜合考慮。雖能捕捉芯片在單一場景下的表現(xiàn)，但無法全面揭示不同電氣參數(shù)間相互影響的復雜關系，使得在使用設計的測試場景進行l(wèi)ed驅(qū)動芯片測試時，對其潛在性能瓶頸的挖掘不夠準確，測試的有效性和準確性有待提升。

技術實現(xiàn)思路

1、為解決上述技術問題，本發(fā)明提出了一種led驅(qū)動芯片測試系統(tǒng)及方法，將不同電氣參數(shù)之間的關聯(lián)性納入測試方案，以更真實地模擬芯片在復雜條件下的工作表現(xiàn)，便于更精準地發(fā)現(xiàn)潛在性能瓶頸，提升測試的有效性和全面性。

2、本發(fā)明第一方面提供了一種led驅(qū)動芯片測試方法，包括：

3、確定用于對led驅(qū)動芯片進行負載波動測試的穩(wěn)態(tài)負載測試場景，基于穩(wěn)態(tài)負載測試場景對led驅(qū)動芯片進行穩(wěn)態(tài)負載測試，采集穩(wěn)態(tài)負載測試過程中的第一電氣數(shù)據(jù)；

4、確定用于對led驅(qū)動芯片進行負載波動測試的瞬態(tài)負載測試場景，基于瞬態(tài)負載測試場景對led驅(qū)動芯片進行瞬態(tài)負載測試，采集瞬態(tài)負載測試過程中的第二電氣數(shù)據(jù)；

5、提取第一電氣數(shù)據(jù)中多個負載點的穩(wěn)態(tài)指標參數(shù)以及第二電氣數(shù)據(jù)中多個負載點的瞬態(tài)指標參數(shù)，構建每個負載點的第一電氣參數(shù)特征向量和第二電氣參數(shù)特征向量并確定多個目標負載點；

6、根據(jù)負載點的第一電氣參數(shù)特征向量和第二電氣參數(shù)特征向量對多個目標負載點進行特征相關性分析，構建多個目標負載點對應的電氣特征相關矩陣；

7、從負載點的穩(wěn)態(tài)指標參數(shù)和瞬態(tài)指標參數(shù)中提取出多個目標負載點的第一電氣參數(shù)波動向量和第二電氣參數(shù)波動向量，對多個目標負載點進行波動相關性分析，構建多個目標負載點對應的電氣波動相關矩陣；

8、對電氣波動相關矩陣和電氣特征相關矩陣進行特征融合生成目標關聯(lián)矩陣，目標關聯(lián)矩陣包括任意兩個電氣參數(shù)之間的目標相關性因子，基于目標關鍵矩陣確定多個電氣參數(shù)聯(lián)動組合，生成每個電氣參數(shù)聯(lián)動組合的第一聯(lián)動測試方案，基于多個第一聯(lián)動測試方案對led驅(qū)動芯片進行聯(lián)動測試。

9、優(yōu)選地，基于目標關鍵矩陣確定多個電氣參數(shù)聯(lián)動組合，生成每個電氣參數(shù)聯(lián)動組合的第一聯(lián)動測試方案，包括：

10、基于目標關鍵矩陣選擇出目標相關性因子大于預設相關閾值的多個第一參數(shù)組合，若存在與第一參數(shù)組合中的多個電氣參數(shù)之間的目標相關性因子大于預設相關閾值的電氣參數(shù)，則將電氣參數(shù)添加到第一參數(shù)組合生成第一參數(shù)組合對應的第二參數(shù)組合；

11、遍歷多個第一參數(shù)組合以確定多個第二參數(shù)組合，將第二參數(shù)組合記為電氣參數(shù)聯(lián)動組合，確定每個電氣參數(shù)聯(lián)動組合的主驅(qū)動參數(shù)；

12、其中，對于任意一個電氣參數(shù)聯(lián)動組合，將電氣參數(shù)聯(lián)動組合中屬于該電氣參數(shù)聯(lián)動組合所屬的第一參數(shù)組合中包含的多個電氣參數(shù)記為參考驅(qū)動參數(shù)，計算每個參考驅(qū)動參數(shù)與電氣參數(shù)聯(lián)動組合中其余電氣參數(shù)之間的目標相關性因子總和，選擇目標相關性因子總和最大的參考驅(qū)動參數(shù)作為主驅(qū)動參數(shù)；

13、根據(jù)主驅(qū)動參數(shù)確定對電氣參數(shù)聯(lián)動組合進行測試的多個采樣閾值，根據(jù)對電氣參數(shù)聯(lián)動組合進行測試的多個采樣閾值確定電氣參數(shù)聯(lián)動組合對應的第一聯(lián)動測試方案；

14、其中，對于電氣參數(shù)聯(lián)動組合中除主驅(qū)動參數(shù)以外的電氣參數(shù)，采樣閾值采用如下方式確定：

15、

16、式中，為電氣參數(shù)聯(lián)動組合中除主驅(qū)動參數(shù)以外的第個電氣參數(shù)的采樣閾值，為電氣參數(shù)聯(lián)動組合的參考閾值，為電氣參數(shù)聯(lián)動組合中除主驅(qū)動參數(shù)以外的第個電氣參數(shù)與主驅(qū)動參數(shù)之間的目標相關性因子。

17、優(yōu)選地，在基于目標關鍵矩陣確定多個電氣參數(shù)聯(lián)動組合后，還包括：

18、對于任意一個電氣參數(shù)聯(lián)動組合，根據(jù)第一電氣數(shù)據(jù)和第二電氣數(shù)據(jù)提取出電氣參數(shù)聯(lián)動組合每個電氣參數(shù)的第一負載特征向量和第二負載特征向量，對每個電氣參數(shù)的第一負載特征向量和第二負載特征向量進行融合生成目標負載特征向量；

19、根據(jù)目標負載特征向量確定電氣參數(shù)聯(lián)動組合中主驅(qū)動參數(shù)與多個電氣參數(shù)之間的觀測點，根據(jù)主驅(qū)動參數(shù)與多個電氣參數(shù)之間的觀測點確定每個電氣參數(shù)聯(lián)動組合的聯(lián)動觀測條件，根據(jù)聯(lián)動觀測條件確定每個電氣參數(shù)聯(lián)動組合對應的第二聯(lián)動測試方案，基于多個第二聯(lián)動測試方案對led驅(qū)動芯片進行聯(lián)動測試。

20、優(yōu)選地，構建每個負載點的第一電氣參數(shù)特征向量和第二電氣參數(shù)特征向量并確定多個目標負載點，包括：

21、從穩(wěn)態(tài)指標參數(shù)中提取出每個負載點關于每個電氣參數(shù)的穩(wěn)態(tài)值，構建得到每個負載點的包含多個電氣參數(shù)的穩(wěn)態(tài)值的第一電氣參數(shù)波動向量；

22、從瞬態(tài)指標參數(shù)中提取出每個負載點關于每個電氣參數(shù)的瞬態(tài)值，構建得到每個負載點的包含多個電氣參數(shù)的瞬態(tài)值的第二電氣參數(shù)波動向量；

23、根據(jù)第一電氣參數(shù)波動向量和第二電氣參數(shù)波動向量生成每個負載點的電氣參數(shù)差異特征向量，對電氣參數(shù)差異特征向量中的多個特征值進行加權求和以生成每個負載點的電氣參數(shù)差異評分，將電氣參數(shù)差異評分大于預設篩選閾值的多個負載點記為目標負載點。

24、優(yōu)選地，對于電氣特征相關矩陣和電氣波動相關矩陣，還包括：

25、根據(jù)以第一電氣參數(shù)波動向量和第二電氣參數(shù)波動向量生成的每個負載點的電氣參數(shù)差異特征向量對多個目標負載點進行特征相關性分析，包括計算任意兩個目標負載點之間的電氣參數(shù)差異特征向量的第一相關性因子，根據(jù)多個第一相關性因子構建得到多個目標負載點對應的電氣波動相關矩陣；

26、根據(jù)目標負載點的第一電氣參數(shù)波動向量和第二電氣參數(shù)波動向量生成每個目標負載點的電氣參數(shù)差異波動向量，根據(jù)電氣參數(shù)差異波動向量對多個目標負載點進行波動相關性分析，包括計算任意兩個目標負載點之間的電氣參數(shù)差異波動向量的第二相關性因子，根據(jù)多個第二相關性因子構建得到多個目標負載點對應的電氣波動相關矩陣。

27、優(yōu)選地，對電氣波動相關矩陣和電氣特征相關矩陣進行特征融合生成目標關聯(lián)矩陣，包括：

28、確定每個電氣參數(shù)對所對應的第一相關性因子和第二相關性因子，基于第二相關性因子對第一相關性因子進行修正，得到每個電氣參數(shù)對所對應的目標相關性因子，生成包含多個目標相關性因子的目標關聯(lián)矩陣。

29、本發(fā)明第二方面提供了一種led驅(qū)動芯片測試系統(tǒng)，用于實現(xiàn)上述的一種led驅(qū)動芯片測試方法，包括：

30、穩(wěn)態(tài)負載測試模塊，用于確定用于對led驅(qū)動芯片進行負載波動測試的穩(wěn)態(tài)負載測試場景，基于穩(wěn)態(tài)負載測試場景對led驅(qū)動芯片進行穩(wěn)態(tài)負載測試，采集穩(wěn)態(tài)負載測試過程中的第一電氣數(shù)據(jù)；

31、瞬態(tài)負載測試模塊，用于確定用于對led驅(qū)動芯片進行負載波動測試的瞬態(tài)負載測試場景，基于瞬態(tài)負載測試場景對led驅(qū)動芯片進行瞬態(tài)負載測試，采集瞬態(tài)負載測試過程中的第二電氣數(shù)據(jù)；

32、負載點分析模塊，用于提取第一電氣數(shù)據(jù)中多個負載點的穩(wěn)態(tài)指標參數(shù)以及第二電氣數(shù)據(jù)中多個負載點的瞬態(tài)指標參數(shù)，構建每個負載點的第一電氣參數(shù)特征向量和第二電氣參數(shù)特征向量并確定多個目標負載點；

33、特征相關性分析模塊，用于根據(jù)負載點的第一電氣參數(shù)特征向量和第二電氣參數(shù)特征向量對多個目標負載點進行特征相關性分析，構建多個目標負載點對應的電氣特征相關矩陣；

34、波動相關性分析模塊，用于從負載點的穩(wěn)態(tài)指標參數(shù)和瞬態(tài)指標參數(shù)中提取出多個目標負載點的第一電氣參數(shù)波動向量和第二電氣參數(shù)波動向量，對多個目標負載點進行波動相關性分析，構建多個目標負載點對應的電氣波動相關矩陣；

35、電氣參數(shù)聯(lián)動分析模塊，用于對電氣波動相關矩陣和電氣特征相關矩陣進行特征融合生成目標關聯(lián)矩陣，目標關聯(lián)矩陣包括任意兩個電氣參數(shù)之間的目標相關性因子，基于目標關鍵矩陣確定多個電氣參數(shù)聯(lián)動組合；

36、聯(lián)動測試模塊，用于生成每個電氣參數(shù)聯(lián)動組合的第一聯(lián)動測試方案，基于多個第一聯(lián)動測試方案對led驅(qū)動芯片進行聯(lián)動測試。

37、優(yōu)選地，負載點分析模塊構建每個負載點的第一電氣參數(shù)特征向量和第二電氣參數(shù)特征向量并確定多個目標負載點，包括：

38、從穩(wěn)態(tài)指標參數(shù)中提取出每個負載點關于每個電氣參數(shù)的穩(wěn)態(tài)值，構建得到每個負載點的包含多個電氣參數(shù)的穩(wěn)態(tài)值的第一電氣參數(shù)波動向量；

39、從瞬態(tài)指標參數(shù)中提取出每個負載點關于每個電氣參數(shù)的瞬態(tài)值，構建得到每個負載點的包含多個電氣參數(shù)的瞬態(tài)值的第二電氣參數(shù)波動向量；

40、根據(jù)第一電氣參數(shù)波動向量和第二電氣參數(shù)波動向量生成每個負載點的電氣參數(shù)差異特征向量，對電氣參數(shù)差異特征向量中的多個特征值進行加權求和以生成每個負載點的電氣參數(shù)差異評分，將電氣參數(shù)差異評分大于預設篩選閾值的多個負載點記為目標負載點。

41、本發(fā)明具有以下有益效果：

42、本發(fā)明通過分析穩(wěn)態(tài)測試數(shù)據(jù)和瞬態(tài)測試數(shù)據(jù)，構建電氣特征相關矩陣和電氣波動相關矩陣并融合生成目標關聯(lián)矩陣，根據(jù)目標關聯(lián)矩陣篩選高相關性參數(shù)組合并設計測試方案，使得測試過程中能夠捕捉到電氣參數(shù)間更真實的聯(lián)動特性；基于目標相關性因子確定主驅(qū)動參數(shù)確保了主驅(qū)動參數(shù)具有較高的影響力和聯(lián)動性，通過合理選擇主驅(qū)動參數(shù)，可以有效縮小測試范圍以將測試的重點放在對其他參數(shù)影響較大的主參數(shù)上，以提高測試效率；根據(jù)目標關聯(lián)矩陣中不同參數(shù)的關聯(lián)強度動態(tài)調(diào)整采樣閾值，能夠更靈活地捕捉各個參數(shù)的變化情況，從而對關鍵聯(lián)動參數(shù)的變化進行精確采樣；通過融合第一負載特征向量和第二負載特征向量生成目標負載特征向量并確定各個電氣參數(shù)的觀測點，使得采集的數(shù)據(jù)能夠更準確地反映在不同負載點下電氣參數(shù)的穩(wěn)態(tài)和瞬態(tài)特性。這種觀測點的設定確保了測試的重點集中在電氣參數(shù)變化最顯著的負載點，從而提高了數(shù)據(jù)采集的針對性；通過將穩(wěn)態(tài)特性和瞬態(tài)響應的數(shù)據(jù)融合，可以從系統(tǒng)穩(wěn)態(tài)和動態(tài)兩方面更深入地洞察電氣參數(shù)的聯(lián)動特性，幫助識別出芯片在復雜負載條件下的潛在問題，便于更全面地評估芯片在實際工作條件下的表現(xiàn)。