1.一種電芯的循環(huán)老化測(cè)試方法，其特征在于，所述電芯的循環(huán)老化測(cè)試方法包括：
2.如權(quán)利要求1所述的電芯的循環(huán)老化測(cè)試方法，其特征在于，所述對(duì)充電結(jié)束的所述待測(cè)電芯執(zhí)行放電操作包括：
3.如權(quán)利要求2所述的電芯的循環(huán)老化測(cè)試方法，其特征在于，所述第一放電倍率為1c~2c，所述第二放電倍率為0.05c~0.33c，所述第三放電倍率為0.02c~0.1c。
4.如權(quán)利要求2所述的電芯的循環(huán)老化測(cè)試方法，其特征在于，所述電芯的循環(huán)老化測(cè)試方法，還包括：
5.如權(quán)利要求2所述的電芯的循環(huán)老化測(cè)試方法，其特征在于，所述電芯的循環(huán)老化測(cè)試方法，還包括：
6.如權(quán)利要求2所述的電芯的循環(huán)老化測(cè)試方法，其特征在于，所述電芯的循環(huán)老化測(cè)試方法，還包括：
7.如權(quán)利要求1至6任一項(xiàng)所述的電芯的循環(huán)老化測(cè)試方法，其特征在于，所述電芯的循環(huán)老化測(cè)試方法，還包括：
8.如權(quán)利要求7所述的電芯的循環(huán)老化測(cè)試方法，其特征在于，每輪老化測(cè)試時(shí)的測(cè)試溫度為45℃~60℃。
9.如權(quán)利要求1所述的電芯的循環(huán)老化測(cè)試方法，其特征在于，所述電芯的循環(huán)老化測(cè)試包括：
10.一種電芯的性能評(píng)估方法，其特征在于，所述電芯的性能評(píng)估方法，包括：
11.如權(quán)利要求10所述的電芯的性能評(píng)估方法，其特征在于，所述標(biāo)準(zhǔn)膨脹力包括標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)部壓力，所述實(shí)測(cè)膨脹力包括實(shí)測(cè)外部膨脹力和實(shí)測(cè)內(nèi)部壓力，所述根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)膨脹力和所述實(shí)測(cè)膨脹力，得到所述待測(cè)電芯的真實(shí)膨脹力包括：
12.如權(quán)利要求11所述的電芯的性能評(píng)估方法，其特征在于，所述基于所述實(shí)測(cè)內(nèi)部壓力和所述標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)部壓力，確定所述實(shí)測(cè)外部膨脹力的修正值包括：
13.一種電芯的循環(huán)老化測(cè)試設(shè)備，其特征在于，所述電芯的循環(huán)老化測(cè)試設(shè)備包括：
14.一種電芯的性能評(píng)估設(shè)備，其特征在于，所述電芯的性能評(píng)估設(shè)備包括：
15.一種電芯的循環(huán)老化測(cè)試設(shè)備，其特征在于，所述電芯的循環(huán)老化測(cè)試設(shè)備包括：存儲(chǔ)器、處理器及存儲(chǔ)在所述存儲(chǔ)器上并可在所述處理器上運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序，所述計(jì)算機(jī)程序配置為實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1至9中任一項(xiàng)所述的電芯的循環(huán)老化測(cè)試方法的步驟。
16.一種電芯的性能評(píng)估設(shè)備，其特征在于，所述電芯的性能評(píng)估設(shè)備包括：存儲(chǔ)器、處理器及存儲(chǔ)在所述存儲(chǔ)器上并可在所述處理器上運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序，所述計(jì)算機(jī)程序配置為實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求10至12中任一項(xiàng)所述的電芯的性能評(píng)估方法的步驟。
17.一種電芯的測(cè)試和評(píng)估系統(tǒng)，其特征在于，所述電芯的測(cè)試和評(píng)估系統(tǒng)包括：
18.如權(quán)利要求17所述的電芯的測(cè)試和評(píng)估系統(tǒng)，其特征在于，所述膨脹力監(jiān)測(cè)模塊包括：外部膨脹力監(jiān)測(cè)模塊以及內(nèi)部壓力監(jiān)測(cè)模塊。
19.一種存儲(chǔ)介質(zhì)，其特征在于，所述存儲(chǔ)介質(zhì)為計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，所述存儲(chǔ)介質(zhì)上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1至9中任一項(xiàng)所述的電芯的循環(huán)老化測(cè)試方法的步驟，或者，所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求10至12中任一項(xiàng)所述的電芯的性能評(píng)估方法的步驟。