本技術涉及測試設備，特別是涉及一種對接結構及測試設備。

背景技術：

1、現(xiàn)有的用于測試的設備一般是通過pin針與待測試設備之間進行信號傳輸。但是現(xiàn)有的測試設備中，pin針用于與待測試設備對接的端部直接暴露在空氣中，容易受到外界的污染，導致在使用過程中影響信號傳輸，進而影響測試效果。

技術實現(xiàn)思路

1、基于此，有必要針對測試設備的pin針的端部暴露在外界容易受到污染，影響信號傳輸?shù)膯栴}，提供一種避免pin針受到污染，確保測試效果的對接結構及測試設備。

2、一種對接結構，包括：

3、主體和pin針，所述pin針連接于所述主體；及

4、防護蓋，可往復移動地連接于所述主體，以相對所述主體在對接位置與防護位置之間切換；且所述防護蓋貫穿開設有供所述pin針穿過的防護孔；

5、其中，當所述防護蓋移動至所述防護位置時，所述防護蓋與所述主體圍合形成有與所述防護孔連通的防護空間，所述pin針靠近所述防護蓋的端部收容于所述防護孔和/或所述防護空間內(nèi)；當所述防護蓋移動至所述對接位置時，所述pin針靠近所述防護蓋的端部伸出所述防護孔。

6、在其中一個實施例中，所述對接結構還包括復位件，所述復位件設置于所述主體與所述防護蓋之間。

7、在其中一個實施例中，所述主體朝向所述防護蓋的一側開設有第一安裝孔，所述防護蓋朝向所述主體的一側開設有與所述第一安裝孔相對應的第二安裝孔，所述復位件的兩端分別伸入于所述第一安裝孔和所述第二安裝孔內(nèi)。

8、在其中一個實施例中，所述對接結構還包括連接件，所述連接件連接于所述主體，所述防護蓋沿所述pin針的長度方向可往復移動地連接于所述連接件。

9、在其中一個實施例中，所述連接件包括連接部及活動部，所述連接部連接于所述主體，所述活動部形成于所述連接部背離所述主體的一端，所述防護蓋沿所述pin針的長度方向可往復移動地連接于所述活動部。

10、在其中一個實施例中，所述連接件還包括限位部，所述限位部形成于所述活動部背離所述連接部的一端并與所述防護蓋限位連接。

11、在其中一個實施例中，所述對接結構還包括連接件，所述連接件的一端沿所述pin針的長度方向可往復移動地連接于所述主體，另一端連接于所述防護蓋。

12、在其中一個實施例中，所述對接結構還包括導向柱，所述導向柱沿所述pin針的長度方向延伸，所述導向柱一端與所述主體和所述防護蓋中的一者連接，所述主體和所述防護蓋中的另一者開設有導向孔，所述導向柱另一端伸入所述導向孔。

13、在其中一個實施例中，所述主體包括安裝部及防護部，所述pin針和所述防護部均連接于所述安裝部，且所述防護部貫穿開設有供所述pin針穿過的第一通孔，所述防護蓋可往復移動地連接于所述防護部；

14、當所述防護蓋移動至所述防護位置時，所述防護蓋與所述防護部圍合形成有所述防護空間，且所述防護空間與所述第一通孔連通。

15、一種測試設備，包括上述的對接結構。

16、采用上述的對接結構及測試設備，在對待測試設備測試過程中，防護蓋因受壓移動至對接位置，使得pin針的端部伸出防護孔以與待測試設備對接；測試結束后，防護蓋復位至防護位置，使得pin針的端部收容于防護孔和/或防護空間內(nèi)，從而避免pin針的端部因直接暴露在空氣中而受到外界的污染，避免影響pin針的信號傳輸，確保測試效果的準確。

技術特征：

1.一種對接結構，其特征在于，包括：

2.根據(jù)權利要求1所述的對接結構，其特征在于，所述對接結構還包括復位件，所述復位件設置于所述主體與所述防護蓋之間。

3.根據(jù)權利要求2所述的對接結構，其特征在于，所述主體朝向所述防護蓋的一側開設有第一安裝孔，所述防護蓋朝向所述主體的一側開設有與所述第一安裝孔相對應的第二安裝孔，所述復位件的兩端分別伸入于所述第一安裝孔和所述第二安裝孔內(nèi)。

4.根據(jù)權利要求1所述的對接結構，其特征在于，所述對接結構還包括連接件，所述連接件連接于所述主體，所述防護蓋沿所述pin針的長度方向可往復移動地連接于所述連接件。

5.根據(jù)權利要求4所述的對接結構，其特征在于，所述連接件包括連接部及活動部，所述連接部連接于所述主體，所述活動部形成于所述連接部背離所述主體的一端，所述防護蓋沿所述pin針的長度方向可往復移動地連接于所述活動部。

6.根據(jù)權利要求5所述的對接結構，其特征在于，所述連接件還包括限位部，所述限位部形成于所述活動部背離所述連接部的一端并與所述防護蓋限位連接。

7.根據(jù)權利要求1所述的對接結構，其特征在于，所述對接結構還包括連接件，所述連接件的一端沿所述pin針的長度方向可往復移動地連接于所述主體，另一端連接于所述防護蓋。

8.根據(jù)權利要求1所述的對接結構，其特征在于，所述對接結構還包括導向柱，所述導向柱沿所述pin針的長度方向延伸，所述導向柱一端與所述主體和所述防護蓋中的一者連接，所述主體和所述防護蓋中的另一者開設有導向孔，所述導向柱另一端伸入所述導向孔。

9.根據(jù)權利要求1所述的對接結構，其特征在于，所述主體包括安裝部及防護部，所述pin針和所述防護部均連接于所述安裝部，且所述防護部貫穿開設有供所述pin針穿過的第一通孔，所述防護蓋可往復移動地連接于所述防護部；

10.一種測試設備，其特征在于，包括權利要求1-9任一項所述的對接結構。

技術總結
本申請涉及一種對接結構及測試設備。對接結構包括主體、PIN針及防護蓋。防護蓋可往復移動地連接于主體，以相對主體在對接位置和防護位置之間切換，且防護蓋貫穿開設有供PIN針穿過防護孔；當防護蓋移動至防護位置時，防護蓋與主體圍合形成有與防護孔連通的防護空間，PIN針靠近防護蓋的端部收容于防護孔和/或防護空間內(nèi)；當防護蓋移動至對接位置時，PIN針靠近防護蓋的端部伸出防護孔。采用上述的對接結構及測試設備，測試結束后，將防護蓋移動至防護位置，PIN針的端部收容于防護孔和/或防護空間內(nèi)，從而避免PIN針的端部因直接暴露在空氣中而受到外界的污染，避免影響PIN針的信號傳輸，確保測試效果的準確。

技術研發(fā)人員：盛偉峰,國巖
受保護的技術使用者：杭州長川科技股份有限公司
技術研發(fā)日：20240226
技術公布日：2025/1/9