本技術(shù)涉及測試設(shè)備,尤其涉及一種探測器組件加電測試工裝。
背景技術(shù):
1、探測器組件是利用微波光子技術(shù),實現(xiàn)光信號到電信號轉(zhuǎn)換的器件。探測器組件外部主要有三個接口,分別是光纖接口、電接口、射頻接口,起到光輸入,電輸入,射頻輸出的作用。
2、在探測器生產(chǎn)過程中,為保證產(chǎn)品質(zhì)量的可靠性,會在高低溫環(huán)境下,對產(chǎn)品進行性能測試。測試前,將器件放置于高低溫箱中,將探測器組件光纖接口連接光纖、射頻接口連接射頻線纜,電接口連接電源線,然后對產(chǎn)品進行測試?,F(xiàn)有測試工裝僅能滿足單次單個器件的測試,使得測試時間長,測試效率低,并且器件在裝配和轉(zhuǎn)運過程中,產(chǎn)品的光纖與光纖連接器由于反復(fù)插拔,拿取,極易造成損傷、污染。在探測器測試過程中,還需要對光纖進行連接固定,以保護光纖不會在安裝、測試過程中因為受應(yīng)力而損傷。
3、基于此,申請人考慮設(shè)計一種能夠高效、可靠探測器組件加電測試工裝。
技術(shù)實現(xiàn)思路
1、針對上述現(xiàn)有技術(shù)的不足,本實用新型所要解決的技術(shù)問題是:如何提供一種能夠高效、可靠探測器組件加電測試工裝。
2、為了解決上述技術(shù)問題,本實用新型采用了如下的技術(shù)方案:
3、一種探測器組件加電測試工裝,包括探測器組件,所述探測器組件包括射頻接口、光纖接口以及電接口;其還包括固定基座;
4、所述固定基座頂側(cè)開設(shè)有若干供所述探測器組件放置的安裝卡槽,每個所述安裝卡槽上方均可拆卸連接有壓塊,所述壓塊底側(cè)開設(shè)有與所述探測器組件接觸的卡槽;
5、所述固定基座上還固定連接加電插座以及若干光纖法蘭,所述加電插座通過電源線與若干所述探測器組件的電接口連接,每個所述光纖法蘭均通過光纖線纜與一所述探測器組件的光纖接口連接。
6、本技術(shù)方案一種探測器組件加電測試工裝的工作原理與優(yōu)點為:
7、固定基座通過頂側(cè)設(shè)計的多個安裝卡槽,可以同時放置多個探測器組件進行批量測試,與僅能測試單個器件的傳統(tǒng)工裝相比,顯著提高了測試效率;且每個安裝卡槽上方的可拆卸壓塊,能夠?qū)μ綔y器組件進行固定,避免在裝配和測試過程中探測器組件因振動或操作不當(dāng)而損傷;而加電插座和光纖法蘭的固定連接設(shè)計,為電源線和光纖線纜提供了穩(wěn)定可靠的連接點,這不僅便于快速裝配,還確保了在整個測試過程中連接的穩(wěn)定性,避免了因連接不良造成的測試失敗,同時光纖法蘭的固定設(shè)置減少了光纖接口在測試過程中因受力過大而損壞的風(fēng)險,保證了光路的穩(wěn)定性;本方案的探測器組件加電測試工裝的設(shè)計,不僅提高了效率,還確保了測試過程中探測器組件和光纖連接的可靠性。
8、進一步地,所述固定基座頂側(cè)可拆卸連接有第一固定塊和第二固定塊,所述加電插座可拆卸連接在所述第一固定塊上,所述光纖法蘭可拆卸連接在所述第二固定塊上。
9、進一步地,所述固定基座底側(cè)開設(shè)有電源線導(dǎo)向槽,所述固定基座開設(shè)有供電源線穿入所述電源線導(dǎo)向槽的第一穿孔以及若干供電源線穿出所述電源線導(dǎo)向槽的第二穿孔;所述第一穿孔靠近所述加電插座設(shè)置,若干所述第二穿孔與若干安裝卡槽一一對應(yīng),每個所述第二穿孔均靠近一所述安裝卡槽設(shè)置。
10、進一步地,所述固定基座底側(cè)可拆卸連接有對所述電源線導(dǎo)向槽進行遮擋的蓋板。
11、進一步地,若干所述安裝卡槽分布為兩排安裝卡槽,若干所述光纖法蘭安裝在所述兩排安裝卡槽之間。
12、進一步地,每排安裝卡槽與所述光纖法蘭之間均設(shè)置有一所述加電插座。
13、進一步地,每排安裝卡槽包括十個所述安裝卡槽,所述光纖法蘭包括二十個,所述加電插座包括兩個。
14、進一步地,所述固定基座底側(cè)固定連接有若干支撐柱。
15、進一步地,所述固定基座頂側(cè)固定連接有若干把手。
16、進一步地,所述把手與支撐柱均與所述固定基座可拆卸連接。
1.一種探測器組件加電測試工裝,包括探測器組件,所述探測器組件包括射頻接口、光纖接口以及電接口;其特征在于,還包括固定基座;
2.如權(quán)利要求1所述的一種探測器組件加電測試工裝,其特征在于,所述固定基座頂側(cè)可拆卸連接有第一固定塊和第二固定塊,所述加電插座可拆卸連接在所述第一固定塊上,所述光纖法蘭可拆卸連接在所述第二固定塊上。
3.如權(quán)利要求1所述的一種探測器組件加電測試工裝,其特征在于,所述固定基座底側(cè)開設(shè)有電源線導(dǎo)向槽,所述固定基座開設(shè)有供電源線穿入所述電源線導(dǎo)向槽的第一穿孔以及若干供電源線穿出所述電源線導(dǎo)向槽的第二穿孔;所述第一穿孔靠近所述加電插座設(shè)置,若干所述第二穿孔與若干安裝卡槽一一對應(yīng),每個所述第二穿孔均靠近一所述安裝卡槽設(shè)置。
4.如權(quán)利要求3所述的一種探測器組件加電測試工裝,其特征在于,所述固定基座底側(cè)可拆卸連接有對所述電源線導(dǎo)向槽進行遮擋的蓋板。
5.如權(quán)利要求1所述的一種探測器組件加電測試工裝,其特征在于,若干所述安裝卡槽分布為兩排安裝卡槽,若干所述光纖法蘭安裝在所述兩排安裝卡槽之間。
6.如權(quán)利要求5所述的一種探測器組件加電測試工裝,其特征在于,每排安裝卡槽與所述光纖法蘭之間均設(shè)置有一所述加電插座。
7.如權(quán)利要求6所述的一種探測器組件加電測試工裝,其特征在于,每排安裝卡槽包括十個所述安裝卡槽,所述光纖法蘭包括二十個,所述加電插座包括兩個。
8.如權(quán)利要求1所述的一種探測器組件加電測試工裝,其特征在于,所述固定基座底側(cè)固定連接有若干支撐柱。
9.如權(quán)利要求8所述的一種探測器組件加電測試工裝,其特征在于,所述固定基座頂側(cè)固定連接有若干把手。
10.如權(quán)利要求9所述的一種探測器組件加電測試工裝,其特征在于,所述把手與支撐柱均與所述固定基座可拆卸連接。