本技術(shù)涉及電路生產(chǎn)設(shè)備，特別涉及一種測(cè)試裝置和檢測(cè)設(shè)備。

背景技術(shù)：

1、一個(gè)電池包括電芯和電路板，其中電芯用于儲(chǔ)能，而電路板則用于監(jiān)控和管理電芯。電路板不僅控制電池的充電和放電過程，還監(jiān)控電芯的電壓、電流、溫度等參數(shù)，以確定電池處于正常工作狀態(tài)，避免出現(xiàn)過充、過放和過熱等情況，防止電池出現(xiàn)異常。

2、現(xiàn)有的電池生產(chǎn)設(shè)備會(huì)在電池生產(chǎn)工藝的后續(xù)，利用測(cè)試板和電池的電路板相連接，利用測(cè)試板內(nèi)設(shè)置的程序檢測(cè)電路板是否能正常運(yùn)行。而現(xiàn)有的測(cè)試板在多次測(cè)量電路板后，容易磨損測(cè)量板的電路結(jié)構(gòu)，導(dǎo)致測(cè)量板不耐用，測(cè)量成本高。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本實(shí)用新型的主要目的是提供一種測(cè)試裝置和檢測(cè)設(shè)備，旨在解決現(xiàn)有的電路檢測(cè)裝置的測(cè)試板不耐用的問題。

2、為實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型提出一種測(cè)試裝置，包括：

3、安裝架，所述安裝架設(shè)有相連通的第一腔和第二腔；

4、測(cè)試板，所述測(cè)試板設(shè)于所述第一腔內(nèi)；及

5、微針結(jié)構(gòu)，所述微針結(jié)構(gòu)可拆卸地設(shè)于所述第二腔內(nèi)，并連接或抵接所述測(cè)試板，所述微針結(jié)構(gòu)遠(yuǎn)離所述測(cè)試板的一端設(shè)有電路板觸頭，所述電路板觸頭用于連接或抵接所述電路板。

6、可選地，所述微針結(jié)構(gòu)包括：

7、支架，所述支架設(shè)有安裝槽，所述支架可拆卸連接于所述第二腔；和

8、微針，所述微針設(shè)于所述安裝槽內(nèi)。

9、可選地，所述支架設(shè)有多個(gè)間隔設(shè)置的安裝槽，所述微針包括多個(gè)，一所述微針設(shè)于一所述安裝槽內(nèi)。

10、可選地，所述微針包括：

11、安裝部，所述安裝部連接于所述安裝槽；

12、第一微針部，所述第一微針部連接于所述安裝部的一側(cè)，所述第一微針部設(shè)有所述電路板觸頭；和

13、第二微針部，所述第二微針部連接于所述安裝部的遠(yuǎn)離所述第一微針部的一側(cè)，所述第二微針部設(shè)有測(cè)試板觸頭，所述測(cè)試板觸頭用于連接或抵接所述測(cè)試板。

14、可選地，所述第一微針部和/或所述第二微針部設(shè)有形變槽。

15、可選地，所述安裝架包括：

16、第一架，所述第一架設(shè)有第一凹槽，所述第一凹槽用于安裝所述測(cè)試板；和

17、第二架，所述第二架連接于所述第一架，所述第一架和所述第二架圍合形成所述第一腔，所述第二架設(shè)有貫穿所述第二架的第二腔。

18、可選地，所述第二腔內(nèi)遠(yuǎn)離所述第一架的一側(cè)設(shè)有第一臺(tái)階，所述微針結(jié)構(gòu)設(shè)有第二臺(tái)階，所述第一臺(tái)階和所述第二臺(tái)階配合以使所述微針結(jié)構(gòu)嵌入所述第二腔內(nèi)。

19、可選地，所述安裝架還包括第三架，所述第三架連接于所述第二架背向所述第一架的一側(cè)，所述第三架設(shè)有穿過孔，所述電路板觸頭穿過所述穿過孔設(shè)置。

20、可選地，所述第三架設(shè)有第二凹槽，所述穿過孔穿設(shè)于所述第二凹槽，所述第二凹槽用于安裝所述電路板。

21、本實(shí)用新型還提出一種檢測(cè)設(shè)備，包括：

22、設(shè)備主體；和

23、上述中任意一種所述測(cè)試裝置，所述測(cè)試裝置設(shè)于所述設(shè)備主體內(nèi)。

24、本實(shí)用新型技術(shù)方案通過采用了一種微針結(jié)構(gòu)以連接電路板和測(cè)試板。安裝架設(shè)有相連通的第一腔和第二腔，測(cè)試板設(shè)于安裝架的第一腔，微針結(jié)構(gòu)設(shè)于安裝架的第二腔，以使得微針結(jié)構(gòu)的一端連接或抵接測(cè)試板，另一端延伸出電路板觸頭。測(cè)量時(shí)，測(cè)試板位于第一腔內(nèi)并抵接微針結(jié)構(gòu)，然后將電池的電路板放置于安裝架并抵接電路板觸頭，則使得微針結(jié)構(gòu)作為中間件連接測(cè)試板和電路板。多次測(cè)量電路板后只會(huì)磨損微針結(jié)構(gòu)而減少測(cè)試板的磨損，進(jìn)而延長(zhǎng)了測(cè)試板的使用壽命，降低檢測(cè)成本。

技術(shù)特征：

1.一種測(cè)試裝置，用于測(cè)試電路板，其特征在于，所述測(cè)試裝置包括：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，其特征在于，所述微針結(jié)構(gòu)包括：

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測(cè)試裝置，其特征在于，所述支架設(shè)有多個(gè)間隔設(shè)置的安裝槽，所述微針包括多個(gè)，一所述微針設(shè)于一所述安裝槽內(nèi)。

4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測(cè)試裝置，其特征在于，所述微針包括：

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的測(cè)試裝置，其特征在于，所述第一微針部和/或所述第二微針部設(shè)有形變槽。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，其特征在于，所述安裝架包括：

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的測(cè)試裝置，其特征在于，所述第二腔內(nèi)遠(yuǎn)離所述第一架的一側(cè)設(shè)有第一臺(tái)階，所述微針結(jié)構(gòu)設(shè)有第二臺(tái)階，所述第一臺(tái)階和所述第二臺(tái)階配合以使所述微針結(jié)構(gòu)嵌入所述第二腔內(nèi)。

8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的測(cè)試裝置，其特征在于，所述安裝架還包括第三架，所述第三架連接于所述第二架背向所述第一架的一側(cè)，所述第三架設(shè)有穿過孔，所述電路板觸頭穿過所述穿過孔設(shè)置。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的測(cè)試裝置，其特征在于，所述第三架設(shè)有第二凹槽，所述穿過孔穿設(shè)于所述第二凹槽，所述第二凹槽用于安裝所述電路板。

10.一種檢測(cè)設(shè)備，其特征在于，所述檢測(cè)設(shè)備包括：

技術(shù)總結(jié)
本技術(shù)公開一種測(cè)試裝置和檢測(cè)設(shè)備，其中，測(cè)試裝置包括安裝架、測(cè)試板和微針結(jié)構(gòu)。所述安裝架設(shè)有相連通的第一腔和第二腔。所述測(cè)試板設(shè)于所述第一腔內(nèi)。所述微針結(jié)構(gòu)可拆卸地設(shè)于所述第二腔內(nèi)，并連接或抵接所述測(cè)試板，所述微針結(jié)構(gòu)遠(yuǎn)離所述測(cè)試板的一端設(shè)有電路板觸頭，所述電路板觸頭用于連接或抵接所述電路板。本技術(shù)技術(shù)方案具有延長(zhǎng)了測(cè)試板的使用壽命，降低檢測(cè)成本的優(yōu)點(diǎn)。

技術(shù)研發(fā)人員：黎國和,張雷,周維明,劉賓洋
受保護(hù)的技術(shù)使用者：深圳市興禾自動(dòng)化股份有限公司
技術(shù)研發(fā)日：20240311
技術(shù)公布日：2025/1/9