本技術(shù)涉及光學(xué)檢測，特別是一種基于光柵尺的鏡片半徑測量裝置。

背景技術(shù)：

1、光學(xué)鏡片是成像光學(xué)系統(tǒng)的主要組成部分，球面光學(xué)鏡片曲率半徑是決定光學(xué)鏡片光學(xué)特性的重要參數(shù)之一。通過測量鏡片半徑，可判定被測光學(xué)元件的加工質(zhì)量。當(dāng)前，測量半徑的主要方法為球徑儀法，此類方法采用接觸式測量定位，測量重復(fù)性較好，其測量精度可達(dá)到3μm以內(nèi)，但在測量過程中需探針接觸被測光學(xué)鏡片，易出現(xiàn)鏡片劃傷等外觀問題，且測量范圍小，只能測量口徑為70mm以下的光學(xué)鏡片，難以滿足大口徑鏡片測量需求。

2、因此，亟需一種基于光柵尺的鏡片半徑測量裝置。

技術(shù)實現(xiàn)思路

1、本實用新型的目的在于提供一種基于光柵尺的鏡片半徑測量裝置，用于滿足大口徑鏡片測量需求。具體技術(shù)方案如下：

2、本實用新型提供一種基于光柵尺的鏡片半徑測量裝置，所述裝置包括：干涉儀組合和光柵尺檢測組合；

3、所述干涉儀組合包括干涉儀、橫向滑軌，所述光柵尺檢測組合包括：光柵尺、縱向滑軌、鏡片夾持結(jié)構(gòu)；所述光柵尺設(shè)置在所述縱向滑軌上，所述鏡片加持結(jié)構(gòu)設(shè)置在所述縱向滑軌上，所述干涉儀安裝在所述橫向滑軌上，調(diào)整干涉儀的位置與待測鏡片對焦，調(diào)整光柵尺檢測組合的位置使得干涉儀中獲取的條紋發(fā)生變化，并基于條紋的變化確定待測鏡片的半徑。

4、本實用新型的另一實施例中，所述干涉儀組合還包括：升降平臺、干涉儀乘靠底板；

5、所述干涉儀乘靠底板設(shè)置在所述橫向滑軌上，所述升降平臺設(shè)置在所述干涉儀乘靠底板上，所述干涉儀設(shè)置在所述升降平臺上；通過調(diào)整所述升降平臺微調(diào)所述干涉儀的高度位置。

6、本實用新型的另一實施例中，所述橫向?qū)к壴O(shè)置有兩個，每個橫向?qū)к壈M向直線軌道和橫向直線軌道滑塊；每個橫向直線導(dǎo)軌上設(shè)置有多個所述橫向直線導(dǎo)軌滑塊，每個橫向直線導(dǎo)軌滑塊固定在所述干涉儀乘靠底板上。

7、本實用新型的另一實施例中，所述干涉儀組合還包括微調(diào)組合，所述微調(diào)組合安裝在所述橫向滑軌和所述干涉儀乘靠底板之間，所述微調(diào)組合包括：精密滾珠絲桿，固定座、微調(diào)組合滑塊；

8、所述固定座設(shè)置在所述橫向滑軌的滑塊上，所述固定座上設(shè)置所述精密滾珠絲杠，所述精密滾珠絲杠上設(shè)置微調(diào)組合滑塊，所述微調(diào)組合滑塊固定在所述干涉儀乘靠底板上；通過轉(zhuǎn)動所述精密滾珠絲桿微調(diào)所述干涉儀的水平位置。

9、本實用新型的另一實施例中，所述微調(diào)組合的調(diào)整精度為0.01mm。

10、本實用新型的另一實施例中，光柵尺檢測組合包括：光柵尺、鏡片固定座、橋式拖鏈、鏡片夾；

11、所述光柵尺固定安裝所述縱向滑軌的側(cè)面，所述鏡片固定座固定在所述縱向滑軌的滑塊上，所述橋式拖鏈固定在所述鏡片固定座上，所述鏡片夾安裝在所述橋式拖鏈上。

12、本實用新型的另一實施例中，所述縱向滑軌設(shè)置有1個。

13、本實用新型的另一實施例中，所述光柵尺為電子光柵尺。

14、本實用新型的另一實施例中，光柵尺檢測組合還設(shè)置有位置檢測裝置，所述位置檢測裝置用于測量鏡片在光柵尺上的位置。

15、本實用新型的另一實施例中，所述縱向滑軌為電動滑軌，可通過電機控制實現(xiàn)鏡片的移動。

16、本實用新型的有益效果如下：

17、本實用新型提供一種基于光柵尺的鏡片半徑測量裝置，所述干涉儀組合包括干涉儀、橫向滑軌，所述光柵尺檢測組合包括：光柵尺、縱向滑軌、鏡片夾持結(jié)構(gòu)；所述光柵尺設(shè)置在所述縱向滑軌上，所述鏡片加持結(jié)構(gòu)設(shè)置在所述縱向滑軌上，所述干涉儀安裝在所述橫向滑軌上，調(diào)整干涉儀的位置與待測鏡片對焦，調(diào)整光柵尺檢測組合的位置使得干涉儀中獲取的條紋發(fā)生變化，并基于條紋的變化確定待測鏡片的半徑。該方法可實現(xiàn)自動化鏡片半徑測量，適用于大型鏡片，測量時不會對鏡片造成損傷。

技術(shù)特征：

1.一種基于光柵尺的鏡片半徑測量裝置，其特征在于，所述裝置包括：干涉儀組合和光柵尺檢測組合；

2.如權(quán)利要求1所述的一種基于光柵尺的鏡片半徑測量裝置，其特征在于，所述干涉儀組合還包括：升降平臺、干涉儀乘靠底板；

3.如權(quán)利要求2所述的一種基于光柵尺的鏡片半徑測量裝置，其特征在于，所述橫向滑軌設(shè)置有兩個，每個橫向滑軌包括橫向直線軌道和橫向直線軌道滑塊；每個橫向直線導(dǎo)軌上設(shè)置有多個所述橫向直線導(dǎo)軌滑塊，每個橫向直線導(dǎo)軌滑塊固定在所述干涉儀乘靠底板上。

4.如權(quán)利要求1所述的一種基于光柵尺的鏡片半徑測量裝置，其特征在于，所述干涉儀組合還包括微調(diào)組合，所述微調(diào)組合安裝在所述橫向滑軌和所述干涉儀乘靠底板之間，所述微調(diào)組合包括：精密滾珠絲桿，固定座、微調(diào)組合滑塊；

5.如權(quán)利要求4所述的一種基于光柵尺的鏡片半徑測量裝置，其特征在于，所述微調(diào)組合的調(diào)整精度為0.01mm。

6.如權(quán)利要求1所述的一種基于光柵尺的鏡片半徑測量裝置，其特征在于，光柵尺檢測組合包括：光柵尺、鏡片固定座、橋式拖鏈、鏡片夾；

7.如權(quán)利要求1所述的一種基于光柵尺的鏡片半徑測量裝置，其特征在于，所述縱向滑軌設(shè)置有1個。

8.如權(quán)利要求1所述的一種基于光柵尺的鏡片半徑測量裝置，其特征在于，所述光柵尺為電子光柵尺。

9.如權(quán)利要求1所述的一種基于光柵尺的鏡片半徑測量裝置，其特征在于，光柵尺檢測組合還設(shè)置有位置檢測裝置，所述位置檢測裝置用于測量鏡片在光柵尺上的位置。

10.如權(quán)利要求1所述的一種基于光柵尺的鏡片半徑測量裝置，其特征在于，所述縱向滑軌為電動滑軌，可通過電機控制實現(xiàn)鏡片的移動。

技術(shù)總結(jié)
本技術(shù)提供一種基于光柵尺的鏡片半徑測量裝置，所述干涉儀組合包括干涉儀、橫向滑軌，所述光柵尺檢測組合包括：光柵尺、縱向滑軌、鏡片夾持結(jié)構(gòu)；所述光柵尺設(shè)置在所述縱向滑軌上，所述鏡片加持結(jié)構(gòu)設(shè)置在所述縱向滑軌上，所述干涉儀安裝在所述橫向滑軌上，調(diào)整干涉儀的位置與待測鏡片對焦，調(diào)整光柵尺檢測組合的位置使得干涉儀中獲取的條紋發(fā)生變化，并基于條紋的變化確定待測鏡片的半徑。該方法可實現(xiàn)自動化鏡片半徑測量，適用于大型鏡片，測量時不會對鏡片造成損傷。

技術(shù)研發(fā)人員：白靜,司壯,趙東坡,胡丙陽,尤嘉
受保護(hù)的技術(shù)使用者：北京遙感設(shè)備研究所
技術(shù)研發(fā)日：20240312
技術(shù)公布日：2025/1/9