本申請(qǐng)屬于老化測(cè)試,具體涉及一種老化測(cè)試電路及裝置。
背景技術(shù):
1、目前,現(xiàn)有的老化測(cè)試裝置中,一般直接對(duì)電源適配器進(jìn)行老化測(cè)試,這樣在老化測(cè)試過程中將電能轉(zhuǎn)化成了熱能,熱能通過熱傳導(dǎo)和輻射的方式傳遞到空氣中,這樣電能未能循環(huán)利用,而老化測(cè)試往往是長時(shí)間連續(xù)測(cè)試,這樣造成了極大的能源浪費(fèi)。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
1、本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N老化測(cè)試電路及裝置,以期降低能耗。
2、第一方面,本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N老化測(cè)試電路,包括第一升壓模塊、第二升壓模塊、逆變模塊和電能補(bǔ)充模塊,所述第一升壓模塊的輸入端與電源適配器的輸出端連接,所述第一升壓模塊的輸出端連接所述第二升壓模塊的輸入端,所述逆變模塊的輸入端分別連接所述電能補(bǔ)充模塊的輸出端、第二升壓模塊的輸出端,所述逆變模塊的輸出端連接所述電源適配器的輸入端:
3、所述第一升壓模塊,用于對(duì)電源適配器輸出的第一電壓進(jìn)行升壓,輸出直流低壓;
4、所述第二升壓模塊,用于獲取第一升壓模塊輸出的直流低壓,并將所述直流低壓升壓為直流高壓;
5、所述電能補(bǔ)充模塊,連接電網(wǎng),用于將電網(wǎng)電壓轉(zhuǎn)換為補(bǔ)充電能,并向所述逆變模塊隔離輸出所述補(bǔ)充電能;
6、所述逆變模塊,用于將電能補(bǔ)充模塊所產(chǎn)生的所述補(bǔ)充電能和所述第二升壓模塊所產(chǎn)生的所述直流高壓合并后逆變?yōu)榻涣麟妷海鼋涣麟妷河糜跒樗鲭娫催m配器供電。
7、第二方面,本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N老化測(cè)試裝置,包括如第一方面所述的老化測(cè)試電路。
8、可以看出,本申請(qǐng)中,首先通過第一升壓模塊對(duì)電源適配器輸出的第一電壓進(jìn)行升壓,輸出直流低壓;再由第二升壓模塊獲取第一升壓模塊輸出的直流低壓,并將所述直流低壓升壓為直流高壓;然后由電能補(bǔ)充模塊將電網(wǎng)電壓轉(zhuǎn)換為補(bǔ)充電能,并向所述逆變模塊隔離輸出所述補(bǔ)充電能;最后由逆變模塊將電能補(bǔ)充模塊所產(chǎn)生的所述補(bǔ)充電能和第二升壓模塊所產(chǎn)生的所述直流高壓合并后逆變?yōu)榻涣麟妷海鼋涣麟妷河糜跒樗鲭娫催m配器供電。這樣,將電源適配器輸出的電能重新采集,經(jīng)過升壓和電壓補(bǔ)償再次為電源適配器供電,使得電源適配器的部分電能能夠回收利用,降低了老化測(cè)試的能耗。
1.一種老化測(cè)試電路,其特征在于,包括第一升壓模塊、第二升壓模塊、逆變模塊和電能補(bǔ)充模塊,所述第一升壓模塊的輸入端與電源適配器的輸出端連接,所述第一升壓模塊的輸出端連接所述第二升壓模塊的輸入端,所述逆變模塊的輸入端分別連接所述電能補(bǔ)充模塊的輸出端、第二升壓模塊的輸出端,所述逆變模塊的輸出端連接所述電源適配器的輸入端:
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的老化測(cè)試電路,其特征在于,還包括:
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的老化測(cè)試電路,其特征在于,還包括:
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的老化測(cè)試電路,其特征在于,所述第一升壓模塊包括:
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的老化測(cè)試電路,其特征在于,所述第一升壓模塊還包括;
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的老化測(cè)試電路,其特征在于,所述電流控制單元包括第一電阻、第二電阻、第三電阻、第四電阻、第五電阻、第一電容、第二電容、第三電容、第四電容、第五電容、第六電容、第七電容、第一二極管、第一運(yùn)算放大器和第二運(yùn)算放大器;
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的老化測(cè)試電路,其特征在于,所述電壓控制單元包括第六電阻、第七電阻、第八電阻、第九電阻、第八電容、第九電容、第十電容、第二二極管、第三運(yùn)算放大器和第四運(yùn)算放大器;
8.根據(jù)權(quán)利要求5所述的老化測(cè)試電路,其特征在于,所述驅(qū)動(dòng)單元包括第一控制器、第十一電阻、第十二電阻、第十三電阻、第十四電阻、第十一電容、第十二電容、第十三電容、第十四電容、第十五電容、第十六電容、第十七電容、第一三極管;
9.根據(jù)權(quán)利要求5所述的老化測(cè)試電路,其特征在于,所述功率單元包括第十五電阻、第十六電阻、第十七電阻、第一電感、第一電流互感器、第三二極管和第一mos管;
10.一種老化測(cè)試裝置,其特征在于,包括如權(quán)利要求1-9任一項(xiàng)所述的老化測(cè)試電路。