本技術涉及ct檢測領域，特別是涉及一種ct檢測設備。

背景技術：

1、由于工業(yè)ct(computed?tomography，斷層掃描)系統(tǒng)同時具有直接數字化x射線攝影和計算機層析掃描成像而得到廣泛的應用，比如在工業(yè)中對設備或部件的無損檢測。檢測過程主要是先通過光管對待檢測設備或部件進行照射，探測器接收透過待檢測設備或部件的射線并轉換為數字圖像，在機械驅動結構控制下，光管和探測器不斷在滑軌上移動以調整相對距離進而控制放大倍率，實現對待檢測設備或部件的照射和成像，最后通過對圖像進行重建和分析得到檢測結果。傳統(tǒng)的ct檢測模塊中的光管和探測器的重量較大，容易使滑軌產生較大的扭矩，影響光管及探測器的空間位置精度，進而會影響檢測精度，同時也會降低滑軌的壽命。

技術實現思路

1、基于此，有必要提供一種ct檢測設備，以提高檢測精度及滑軌的使用壽命。

2、一種ct檢測設備，包括：

3、底座，所述底座呈圓盤狀，所述底座設有滑軌組件；

4、光管，通過第一滑塊和第一鉗制器可滑動地連接所述滑軌組件，所述光管用于向待測物發(fā)射探測光線；

5、探測器，通過第二滑塊和第二鉗制器可滑動地連接所述滑軌組件，所述光管和所述探測器相對且間隔設置，所述探測器用于接收所述光管發(fā)射的探測光線；

6、所述第一鉗制器和所述第二鉗制器能夠被驅動以松開或抱緊所述滑軌組件中的滑軌。

7、在本申請所提供的ct檢測設備中，光管和探測器均設于滑軌組件上，且能夠通過滑塊沿滑軌組件的滑軌相對移動以調節(jié)兩者的相對距離，進而調節(jié)放大倍率。而通過在光管和探測器上設置鉗制器的設計，使得光管和探測器沿軌道方向的位置調節(jié)完成后，兩者可通過鉗制器抱緊滑軌，避免光管和探測器因重量不平衡而通過滑塊對滑軌產生較大的扭矩，這樣可以減少滑軌產生的損壞，有助于提升滑軌的使用壽命；同時通過鉗制器抱緊滑軌后，光管和探測器能夠穩(wěn)固地鎖緊在滑軌上，避免兩者因重量不平衡而相對滑軌出現偏轉而影響檢測精度，使光管和探測器在工作時始終保持精確的相對朝向，從而也有助于提高設備的檢測精度。

8、在一個實施例中，所述滑軌組件包括間隔的第一滑軌組和第二滑軌組，所述第一滑軌組和所述第二滑軌組分別包括至少兩根滑軌，所述第一滑軌組的滑軌與所述第二滑軌組的滑軌平行設置；所述光管與所述第一滑軌組的不同滑軌之間均通過所述第一滑塊和所述第一鉗制器滑動連接；所述探測器與所述第二滑軌組的不同滑軌之間均通過所述第二滑塊和所述第二鉗制器滑動連接。

9、在一個實施例中，所述第一鉗制器的數量與所述第一滑軌組的滑軌數量相同，所述第一滑軌組的每條滑軌上分別設有一個所述第一鉗制器；所述第二鉗制器的數量與所述第二滑軌組的滑軌數量相同，所述第二滑軌組的每條滑軌上分別設有一個所述第二鉗制器。

10、在一個實施例中，所述第一滑軌組的每條滑軌上分別連接有兩個所述第一滑塊和一個所述第一鉗制器，同一滑軌上的所述第一鉗制器位于兩個所述第一滑塊之間；所述第二滑軌組的每條滑軌上分別連接有兩個所述第二滑塊和一個所述第二鉗制器，同一滑軌上的所述第二鉗制器位于兩個所述第二滑塊之間。

11、在一個實施例中，所述光管的底部包括第一基座，所述探測器的底部包括第二基座，各所述第一滑塊和所述第一鉗制器均固定于所述第一基座的底部，各所述第二滑塊和所述第二鉗制器均固定于所述第二基座的底部。

12、在一個實施例中，底座包括第一環(huán)形圓盤，第一環(huán)形圓盤中間形成中空區(qū)域，所述第一滑軌組和所述第二滑軌組固定于所述第一環(huán)形圓盤的同一面，且位于所述中空區(qū)域的相對兩側。

13、在一個實施例中，底座還包括第二環(huán)形圓盤，所述第一環(huán)形圓盤設置于第二環(huán)形圓盤上，第一環(huán)形圓盤能夠繞所述第二環(huán)形圓盤的軸向轉動。

14、在一個實施例中，所述第一鉗制器和所述第二鉗制器分別套設所述滑軌組件中的滑軌。

15、在一個實施例中，所述第一鉗制器和所述第二鉗制器為氣動式鉗制器。

16、在一個實施例中，所述底座設有驅動組件，所述驅動組件包括伺服電機和絲杠，所述伺服電機通過所述絲杠連接所述光管及所述探測器，所述伺服電機用于驅動所述絲杠，以帶動所述光管和所述探測器沿所述滑軌組件的滑軌移動。

技術特征：

1.一種ct檢測設備，其特征在于，包括：

2.根據權利要求1所述的ct檢測設備，其特征在于，所述滑軌組件包括間隔的第一滑軌組和第二滑軌組，所述第一滑軌組和所述第二滑軌組分別包括至少兩根滑軌，所述第一滑軌組的滑軌與所述第二滑軌組的滑軌平行設置；所述光管與所述第一滑軌組的不同滑軌之間均通過所述第一滑塊和所述第一鉗制器滑動連接；所述探測器與所述第二滑軌組的不同滑軌之間均通過所述第二滑塊和所述第二鉗制器滑動連接。

3.根據權利要求2所述的ct檢測設備，其特征在于，所述第一鉗制器的數量與所述第一滑軌組的滑軌數量相同，所述第一滑軌組的每條滑軌上分別設有一個所述第一鉗制器；所述第二鉗制器的數量與所述第二滑軌組的滑軌數量相同，所述第二滑軌組的每條滑軌上分別設有一個所述第二鉗制器。

4.根據權利要求2所述的ct檢測設備，其特征在于，所述第一滑軌組的每條滑軌上分別連接有兩個所述第一滑塊和一個所述第一鉗制器，同一滑軌上的所述第一鉗制器位于兩個所述第一滑塊之間；所述第二滑軌組的每條滑軌上分別連接有兩個所述第二滑塊和一個所述第二鉗制器，同一滑軌上的所述第二鉗制器位于兩個所述第二滑塊之間。

5.根據權利要求2所述的ct檢測設備，其特征在于，所述光管的底部包括第一基座，所述探測器的底部包括第二基座，各所述第一滑塊和所述第一鉗制器均固定于所述第一基座的底部，各所述第二滑塊和所述第二鉗制器均固定于所述第二基座的底部。

6.根據權利要求2所述的ct檢測設備，其特征在于，底座包括第一環(huán)形圓盤，第一環(huán)形圓盤中間形成中空區(qū)域，所述第一滑軌組和所述第二滑軌組固定于所述第一環(huán)形圓盤的同一面，且位于所述中空區(qū)域的相對兩側。

7.根據權利要求6所述的ct檢測設備，其特征在于，底座還包括第二環(huán)形圓盤，所述第一環(huán)形圓盤設置于第二環(huán)形圓盤上，第一環(huán)形圓盤能夠繞所述第二環(huán)形圓盤的軸向轉動。

8.根據權利要求1所述的ct檢測設備，其特征在于，所述第一鉗制器和所述第二鉗制器分別套設所述滑軌組件中的滑軌。

9.根據權利要求1所述的ct檢測設備，其特征在于，所述第一鉗制器和所述第二鉗制器為氣動式鉗制器。

10.根據權利要求1所述的ct檢測設備，其特征在于，所述底座設有驅動組件，所述驅動組件包括伺服電機和絲杠，所述伺服電機通過所述絲杠連接所述光管及所述探測器，所述伺服電機用于驅動所述絲杠，以帶動所述光管和所述探測器沿所述滑軌組件的滑軌移動。

技術總結
本技術涉及一種CT檢測設備，包括：底座，底座呈圓盤狀，底座設有滑軌組件；光管，通過第一滑塊和第一鉗制器可滑動地連接滑軌組件，光管用于向待測物發(fā)射探測光線；探測器，通過第二滑塊和第二鉗制器可滑動地連接滑軌組件，光管和探測器相對且間隔設置，探測器用于接收光管發(fā)射的探測光線；第一鉗制器和第二鉗制器能夠被驅動以松開或抱緊滑軌組件中的滑軌。在本申請所提供的CT檢測設備中，可避免光管和探測器因重量不平衡而通過滑塊對滑軌產生較大的扭矩，這樣可以減少滑軌產生的損壞，有助于提升滑軌的使用壽命，以及有助于提高設備的檢測精度。

技術研發(fā)人員：伍新海,王浩,肖海龍
受保護的技術使用者：海目星激光科技集團股份有限公司
技術研發(fā)日：20240401
技術公布日：2025/1/6