本技術(shù)實(shí)施例涉及檢測(cè)分析儀器，尤其是涉及一種x射線衍射儀。

背景技術(shù)：

1、隨著科學(xué)技術(shù)的不斷發(fā)展，人們逐漸開發(fā)出了用于檢測(cè)物質(zhì)的儀器，例如x射線衍儀。x射線衍射儀是利用衍射原理，精確測(cè)定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)，織構(gòu)及應(yīng)力，精確的進(jìn)行物相分析、定性分析以及定量分析，廣泛應(yīng)用于冶金、石油、化工、科研、航空航天、教學(xué)以及材料生產(chǎn)等領(lǐng)域。

2、一般來說,x射線衍射儀包括x射線源、樣品臺(tái)、探測(cè)器以及控制器，探測(cè)器采用單個(gè)的點(diǎn)探測(cè)器。檢測(cè)時(shí)，x射線經(jīng)過光路調(diào)整后射向樣品臺(tái)，探測(cè)器沿著弧形曲線移動(dòng)，同時(shí)探測(cè)從樣品衍射的x射線，每移動(dòng)一步僅能收集一個(gè)小角度的數(shù)據(jù)，并且由于從樣品衍射的x射線分布成以樣品為頂點(diǎn)的圓錐狀，而探測(cè)器在沿著弧形曲線移動(dòng)時(shí)，僅能探測(cè)相對(duì)較少的衍射的一部分x射線，導(dǎo)致獲得可用于分析的數(shù)據(jù)量較少，由此帶來測(cè)量不便。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、為了解決上述技術(shù)問題，本實(shí)用新型實(shí)施例提供了一種方便測(cè)量的x射線衍射儀。

2、本實(shí)用新型實(shí)施例解決其技術(shù)問題采用以下技術(shù)方案：

3、一種x射線衍射儀，包括：樣品臺(tái)，具有用于放置樣品的樣品放置區(qū)；x射線源，所述x射線源用于向所述樣品放置區(qū)發(fā)射x射線；至少一個(gè)探測(cè)器組，所述探測(cè)器組包括多個(gè)探測(cè)器，所述多個(gè)探測(cè)器沿著彎曲的排列方向排列成一列，所述排列方向在探測(cè)器組的中心平面內(nèi)延伸，各個(gè)探測(cè)器的具有有效探測(cè)區(qū)的第一表面朝向所述樣品放置區(qū)，所述有效探測(cè)區(qū)用于探測(cè)衍射后的x射線，所述多個(gè)探測(cè)器的有效探測(cè)區(qū)沿著所述排列方向間隔排列，其中，所述中心平面是所述探測(cè)器組的所述多個(gè)探測(cè)器的所述第一表面的所述有效探測(cè)區(qū)的幾何中心所在的平面，所述有效探測(cè)區(qū)包括多個(gè)像素，所述多個(gè)像素排列成二維陣列。

4、可選地，所述探測(cè)器組能夠繞著垂直于所述中心平面的軸線轉(zhuǎn)動(dòng)，所述軸線垂直于從所述x射線源至所述樣品放置區(qū)的x射線的行進(jìn)路徑，所述軸線穿過所述樣品放置區(qū)。

5、可選地，所述排列方向以圓弧的形式延伸，所述軸線經(jīng)過所述圓弧的圓心，所述圓心位于所述中心平面內(nèi)。

6、可選地，所述圓弧的圓心位于所述樣品放置區(qū)。

7、可選地，所述x射線衍射儀包括兩個(gè)探測(cè)器組，所述兩個(gè)探測(cè)器組以不阻礙彼此探測(cè)所述x射線的方式沿所述兩個(gè)探測(cè)器組的橫向方向排列。

8、可選地，所述有效探測(cè)區(qū)具有沿著所述排列方向的第一尺寸和沿著所述橫向方向的第二尺寸，所述橫向方向垂直于所述第一尺寸所在的直線。

9、可選地，所述探測(cè)器組中的相鄰的兩個(gè)探測(cè)器的有效探測(cè)區(qū)之間的距離不超過所述探測(cè)器的有效探測(cè)區(qū)的第一尺寸，并且，沿著所述橫向方向，所述兩個(gè)探測(cè)器組中的一個(gè)探測(cè)器組的相鄰的兩個(gè)探測(cè)器的有效探測(cè)區(qū)之間的間隙與所述兩個(gè)探測(cè)器組中的另一個(gè)探測(cè)器組的一個(gè)探測(cè)器重疊。

10、可選地，所述多個(gè)探測(cè)器的第一表面垂直于所述中心平面，且所述橫向方向垂直于所述中心平面，

11、所述兩個(gè)探測(cè)器組中的一個(gè)探測(cè)器組的橫向方向平行于所述兩個(gè)探測(cè)器組中的另一個(gè)探測(cè)器組的橫向方向。

12、可選地，x射線衍射儀還包括光路組件，所述光路組件位于所述x射線源和所述樣品放置區(qū)之間，且連接于所述x射線源，所述光路組件的入射端與所述x射線源的射出端對(duì)接，所述光路組件用于將所述x射線源發(fā)射的x射線調(diào)整后射向所述樣品放置區(qū)。

13、可選地，x射線衍射儀還包括主支架、固定支架以及基座，所述樣品臺(tái)、所述x射線源安裝于所述主支架，所述固定支架具有朝向所述樣品放置區(qū)的彎曲表面，所述至少一個(gè)探測(cè)器組的多個(gè)探測(cè)器的與所述第一表面相背的第二表面安裝于所述彎曲表面，所述固定支架設(shè)置于所述基座，所述基座可轉(zhuǎn)動(dòng)地安裝于所述主支架。

14、本實(shí)用新型實(shí)施例的有益效果是：本申請(qǐng)實(shí)施例提供的x射線衍射儀，包括樣品臺(tái)、x射線源以及至少一個(gè)探測(cè)器組，樣品臺(tái)具有用于放置樣品的樣品放置區(qū)；x射線源用于向樣品放置區(qū)發(fā)射x射線；探測(cè)器組包括多個(gè)探測(cè)器，多個(gè)探測(cè)器沿著彎曲的排列方向排列成一列，排列方向在探測(cè)器組的中心平面內(nèi)延伸，各個(gè)探測(cè)器的具有有效探測(cè)區(qū)的第一表面朝向樣品放置區(qū)，有效探測(cè)區(qū)用于探測(cè)衍射后的x射線，多個(gè)探測(cè)器的有效探測(cè)區(qū)沿著排列方向間隔排列。采用上述結(jié)構(gòu)的x射線衍射儀，多個(gè)探測(cè)器采用彎曲的排列方式進(jìn)行排列，多個(gè)探測(cè)器可以同時(shí)探測(cè)衍射后的x射線，從而提高了探測(cè)的效率，并能夠得到在空間上連續(xù)分布的x射線的衍射信息，由于探測(cè)器的有效探測(cè)區(qū)是二維像素陣列，因而獲得的衍射信息更多，從而能夠更全面地獲知衍射后的x射線在空間里的分布狀況，有利于提高x射線衍射儀的探測(cè)效果。

技術(shù)特征：

1.一種x射線衍射儀，其特征在于，包括：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的x射線衍射儀，其特征在于，所述探測(cè)器組能夠繞著垂直于所述中心平面的軸線轉(zhuǎn)動(dòng)，所述軸線垂直于從所述x射線源至所述樣品放置區(qū)的x射線的行進(jìn)路徑，所述軸線穿過所述樣品放置區(qū)。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的x射線衍射儀，其特征在于，所述排列方向以圓弧的形式延伸，所述軸線經(jīng)過所述圓弧的圓心，所述圓心位于所述中心平面內(nèi)。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的x射線衍射儀，其特征在于，所述圓弧的圓心位于所述樣品放置區(qū)。

5.根據(jù)權(quán)利要求1-4任一項(xiàng)所述的x射線衍射儀，其特征在于，所述x射線衍射儀包括兩個(gè)探測(cè)器組，所述兩個(gè)探測(cè)器組以不阻礙彼此探測(cè)所述x射線的方式沿所述兩個(gè)探測(cè)器組的橫向方向排列。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的x射線衍射儀，其特征在于，所述有效探測(cè)區(qū)具有沿著所述排列方向的第一尺寸和沿著所述橫向方向的第二尺寸，所述橫向方向垂直于所述第一尺寸所在的直線。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的x射線衍射儀，其特征在于，所述探測(cè)器組中的相鄰的兩個(gè)探測(cè)器的有效探測(cè)區(qū)之間的距離不超過所述探測(cè)器的有效探測(cè)區(qū)的第一尺寸，并且，沿著所述橫向方向，所述兩個(gè)探測(cè)器組中的一個(gè)探測(cè)器組的相鄰的兩個(gè)探測(cè)器的有效探測(cè)區(qū)之間的間隙與所述兩個(gè)探測(cè)器組中的另一個(gè)探測(cè)器組的一個(gè)探測(cè)器重疊。

8.根據(jù)權(quán)利要求5所述的x射線衍射儀，其特征在于，所述多個(gè)探測(cè)器的第一表面垂直于所述中心平面，且所述橫向方向垂直于所述中心平面，

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的x射線衍射儀，其特征在于，還包括光路組件，所述光路組件位于所述x射線源和所述樣品放置區(qū)之間，且連接于所述x射線源，所述光路組件的入射端與所述x射線源的射出端對(duì)接，所述光路組件用于將所述x射線源發(fā)射的x射線調(diào)整后射向所述樣品放置區(qū)。

10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的x射線衍射儀，其特征在于，還包括主支架、固定支架以及基座，

技術(shù)總結(jié)
本技術(shù)公開了一種X射線衍射儀，包括樣品臺(tái)、X射線源以及至少一個(gè)探測(cè)器組，樣品臺(tái)具有用于放置樣品的樣品放置區(qū)；X射線源用于向樣品放置區(qū)發(fā)射X射線；探測(cè)器組包括多個(gè)探測(cè)器，多個(gè)探測(cè)器沿著彎曲的排列方向排列成一列，排列方向在探測(cè)器組的中心平面內(nèi)延伸，各個(gè)探測(cè)器的具有有效探測(cè)區(qū)的第一表面朝向樣品放置區(qū)，有效探測(cè)區(qū)用于探測(cè)衍射后的X射線，多個(gè)探測(cè)器的有效探測(cè)區(qū)沿著排列方向間隔排列。多個(gè)探測(cè)器采用彎曲的排列方式進(jìn)行排列，多個(gè)探測(cè)器可以同時(shí)探測(cè)衍射后的X射線，從而提高了探測(cè)的效率，并能夠得到在空間上連續(xù)分布的X射線的衍射信息，而且，由于探測(cè)器的有效探測(cè)區(qū)是二維像素陣列，因而獲取的衍射信息更多。

技術(shù)研發(fā)人員：曹元杰,付獻(xiàn),鄭貴聰
受保護(hù)的技術(shù)使用者：深圳幀觀德芯科技有限公司
技術(shù)研發(fā)日：20240401
技術(shù)公布日：2025/1/6