本申請涉及檢測設(shè)備領(lǐng)域，尤其是涉及一種硅片棱邊缺陷檢測裝置及硅片分選機。

背景技術(shù)：

1、硅片作為太陽能電池原材料，被廣泛用于太陽能電池、電路板等產(chǎn)品的生產(chǎn)制造中。在硅片的生產(chǎn)過程中，硅片分選機作為質(zhì)量把控的終端設(shè)備，對硅片尺寸、崩邊、硅落、臟污、隱裂、孔洞及電阻率等方面進行檢測和質(zhì)量等級分選，以保證由硅片制造的太陽能電池、電路板等產(chǎn)品的質(zhì)量。

2、硅片分選機設(shè)置的棱邊檢測機構(gòu)用于對硅片的側(cè)部棱邊的崩邊、硅落等缺陷進行檢測。應(yīng)用在太陽能領(lǐng)域的硅片形狀為方形或矩形，且四個角45°倒鈍?，F(xiàn)有的棱邊檢測機構(gòu)利用光源對硅片進行打光，通過棱鏡的反射把光反射到硅片需檢測的側(cè)棱邊及倒角，再由光路限定元件進入到相機中，該檢測裝置能提高相機的成像效果。但由于硅片檢測時需要經(jīng)過限定元件，存在發(fā)生碰撞的可能性，且光路需通過棱鏡反射，還存在調(diào)試困難的問題。

技術(shù)實現(xiàn)思路

1、本申請的目的在于提供一種硅片棱邊缺陷檢測裝置及硅片分選機，使得檢測全覆蓋硅片側(cè)棱邊、倒角邊、側(cè)棱邊與倒角邊過渡部分，且光路方便調(diào)試，且能夠減少與硅片碰撞的風(fēng)險。

2、本申請?zhí)峁┝艘环N硅片棱邊缺陷檢測裝置，包括棱邊檢測光源、倒角檢測光源和檢測相機；

3、所述棱邊檢測光源與所述硅片的側(cè)棱邊相對，以使所述棱邊檢測光源發(fā)出的光被所述側(cè)棱邊反射進入所述檢測相機的鏡頭；

4、所述倒角檢測光源與所述硅片的倒角邊相對，以使所述倒角檢測光源發(fā)出的光被所述倒角邊反射進入所述檢測相機的鏡頭。

5、在上述技術(shù)方案中，進一步地，所述檢測相機的鏡頭中心位于所述側(cè)棱邊的下方，所述棱邊檢測光源位于所述檢測相機的正上方；

6、或所述檢測相機的鏡頭中心位于所述側(cè)棱邊的上方，所述棱邊檢測光源位于所述檢測相機的正下方。

7、在上述技術(shù)方案中，進一步地，所述倒角檢測光源包括前倒角檢測光源和/或后倒角檢測光源；

8、所述前倒角檢測光源位于所述檢測相機靠近所述硅片的前進方向上的一側(cè)，所述前倒角檢測光源位于所述硅片的下方；

9、所述后倒角檢測光源位于所述檢測相機靠近所述硅片的后退方向上的一側(cè)，所述后倒角檢測光源位于所述硅片的下方。

10、在上述技術(shù)方案中，進一步地，還包括支架；

11、所述棱邊檢測光源和所述倒角檢測光源活動安裝于所述支架，以使所述棱邊檢測光源及所述倒角檢測光源的位置及光線射入角度可調(diào)。

12、在上述技術(shù)方案中，進一步地，所述支架包括第一安裝組件和第二安裝組件；

13、所述第一安裝組件包括第一安裝件和第一調(diào)節(jié)桿；所述棱邊檢測光源安裝于所述第一調(diào)節(jié)桿；所述第一安裝件設(shè)置有第一導(dǎo)軌，所述第一導(dǎo)軌的導(dǎo)向方向為第一方向，且所述第一方向垂直于所述側(cè)棱邊的表面；所述第一調(diào)節(jié)桿安裝于所述第一導(dǎo)軌且能夠相對于所述第一安裝件轉(zhuǎn)動；

14、所述第二安裝組件包括第二安裝件和第二調(diào)節(jié)桿；所述倒角檢測光源安裝于所述第二調(diào)節(jié)桿；所述第二安裝件設(shè)置有第二導(dǎo)軌，所述第二導(dǎo)軌的導(dǎo)向方向為第二方向，且所述第二方向為所述硅片的輸送方向；所述第二調(diào)節(jié)桿安裝于所述第二導(dǎo)軌且能夠相對于所述第二安裝件轉(zhuǎn)動；所述第二調(diào)節(jié)桿設(shè)置有第三導(dǎo)軌，所述第三導(dǎo)軌的導(dǎo)向方向為所述第一方向。

15、在上述技術(shù)方案中，進一步地，所述支架還包括支架主體和調(diào)節(jié)組件；

16、所述第一安裝件、所述第二安裝件與所述支架主體連接；

17、所述檢測相機通過所述調(diào)節(jié)組件安裝于所述支架主體，以使所述檢測相機能夠相對于所述支架主體升降。

18、本申請還提供了一種硅片分選機，包括上述方案所述的硅片棱邊缺陷檢測裝置。

19、在上述技術(shù)方案中，進一步地，還包括輸送機構(gòu)；

20、所述輸送機構(gòu)用于運輸硅片，所述輸送機構(gòu)的兩側(cè)均設(shè)置有所述硅片棱邊缺陷檢測裝置，以對所述硅片兩側(cè)的側(cè)棱邊及倒角邊檢測。

21、在上述技術(shù)方案中，進一步地，還包括距離調(diào)整機構(gòu)，所述距離調(diào)整機構(gòu)包括安裝座、驅(qū)動組件和導(dǎo)軌組件，所述驅(qū)動組件和所述導(dǎo)軌組件安裝于所述安裝座，且所述導(dǎo)軌組件的導(dǎo)向方向垂直于硅片的運輸方向；

22、所述導(dǎo)軌組件包括滑軌和滑動安裝于所述滑軌的兩個滑塊，所述驅(qū)動組件與兩個所述滑塊連接，以驅(qū)動兩個所述滑塊靠近或者遠離；兩個所述硅片棱邊缺陷檢測裝置分別安裝于兩個所述滑塊。

23、在上述技術(shù)方案中，進一步地，所述導(dǎo)軌組件包括驅(qū)動裝置、傳動帶和連接件；

24、所述驅(qū)動裝置安裝于所述安裝座，且所述驅(qū)動裝置的輸出軸與所述傳動帶的主動輪連接，所述傳動帶的從動輪安裝于所述安裝座；

25、所述傳動帶的皮帶包括運動方向相反的兩個連接部，兩個所述連接部均安裝有所述連接件，且兩個所述連接件分別連接兩個所述滑塊；

26、所述連接件開設(shè)有調(diào)節(jié)孔，所述滑塊設(shè)置有調(diào)節(jié)手柄，所述調(diào)節(jié)手柄貫穿所述調(diào)節(jié)孔且能夠沿所述調(diào)節(jié)孔的長度方向往復(fù)運動。

27、與現(xiàn)有技術(shù)相比，本申請的有益效果為：

28、本申請?zhí)峁┑墓杵膺吶毕輽z測裝置，檢測覆蓋范圍更全面，可消除硅片崩邊的漏檢風(fēng)險；檢測光源的光路直接打在硅片上，無需通過棱鏡等光學(xué)元件及光路限定元件對光路進行調(diào)節(jié)，調(diào)整更便捷且有效減少了硅片檢測過程的碰撞風(fēng)險。

29、本申請還提供了硅片分選機，包括上述方案所述的硅片棱邊缺陷檢測裝置?；谏鲜龇治隹芍?，硅片分選機同樣具有上述有益效果，在此不再贅述。

技術(shù)特征：

1.一種硅片棱邊缺陷檢測裝置，其特征在于，包括棱邊檢測光源、倒角檢測光源和檢測相機；

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的硅片棱邊缺陷檢測裝置，其特征在于，所述檢測相機的鏡頭中心位于所述側(cè)棱邊的下方，所述棱邊檢測光源位于所述檢測相機的正上方；

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的硅片棱邊缺陷檢測裝置，其特征在于，所述倒角檢測光源包括前倒角檢測光源和/或后倒角檢測光源；

4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的硅片棱邊缺陷檢測裝置，其特征在于，還包括支架；

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的硅片棱邊缺陷檢測裝置，其特征在于，所述支架包括第一安裝組件和第二安裝組件；

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的硅片棱邊缺陷檢測裝置，其特征在于，所述支架還包括支架主體和調(diào)節(jié)組件；

7.一種硅片分選機，其特征在于，包括如權(quán)利要求1至6中任一項所述的硅片棱邊缺陷檢測裝置。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的硅片分選機，其特征在于，還包括輸送機構(gòu)；

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的硅片分選機，其特征在于，還包括距離調(diào)整機構(gòu)，所述距離調(diào)整機構(gòu)包括安裝座、驅(qū)動組件和導(dǎo)軌組件，所述驅(qū)動組件和所述導(dǎo)軌組件安裝于所述安裝座，且所述導(dǎo)軌組件的導(dǎo)向方向垂直于硅片的運輸方向；

10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的硅片分選機，其特征在于，所述導(dǎo)軌組件包括驅(qū)動裝置、傳動帶和連接件；

技術(shù)總結(jié)
本申請涉及檢測設(shè)備領(lǐng)域，尤其是涉及一種硅片棱邊缺陷檢測裝置及硅片分選機。硅片棱邊缺陷檢測裝置包括棱邊檢測光源、倒角檢測光源和檢測相機；所述棱邊檢測光源與所述硅片的側(cè)棱邊相對，以使所述棱邊檢測光源發(fā)出的光被所述側(cè)棱邊反射進入所述檢測相機的鏡頭；所述倒角檢測光源與所述硅片的倒角邊相對，以使所述倒角檢測光源發(fā)出的光被所述倒角邊反射進入所述檢測相機的鏡頭。本申請?zhí)峁┑墓杵膺吶毕輽z測裝置，檢測覆蓋范圍更全面，可消除硅片崩邊的漏檢風(fēng)險；檢測光源的光路直接打在硅片上，無需通過棱鏡等光學(xué)元件及光路限定元件對光路進行調(diào)節(jié)，調(diào)整更便捷且有效減少了硅片檢測過程的碰撞風(fēng)險。

技術(shù)研發(fā)人員：周禹,付明全,全曉冬,陳康,王成坤,張?zhí)烊A
受保護的技術(shù)使用者：廣東金灣高景太陽能科技有限公司
技術(shù)研發(fā)日：20240416
技術(shù)公布日：2025/1/2