本申請涉及電子元器件檢測設(shè)備，尤其是涉及一種用于開關(guān)放電管的測試裝置。

背景技術(shù)：

1、開關(guān)放電管是一種通過電壓導(dǎo)通的開關(guān)型器件，能夠提供短時(shí)間的、峰值極高的前沿電壓和電流脈沖，并產(chǎn)生高壓脈沖。

2、現(xiàn)有的開關(guān)放電管在測試光敏效應(yīng)時(shí)，不僅需要采取光照情況下的數(shù)據(jù)，也需要采取避光情況下的數(shù)據(jù)，將避光情況下測得的數(shù)據(jù)與光照情況下的數(shù)據(jù)進(jìn)行比較，觀察避光情況下和光照情況下的兩組數(shù)據(jù)是否在一個(gè)誤差范圍內(nèi)。

3、在避光情況下對開關(guān)放電管進(jìn)行測試時(shí)，若處在一個(gè)光亮的環(huán)境下，無法直接對開關(guān)放電管進(jìn)行避光情況下的測試，需要先對光源進(jìn)行遮擋或者斷掉光源，使得開關(guān)放電管處于一個(gè)黑暗的環(huán)境前提下，才能夠取得避光情況下開關(guān)放電管的數(shù)據(jù)。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、為了無需對光源進(jìn)行遮擋或者斷掉光源就能夠在光亮的環(huán)境下進(jìn)行避光情況的測試，本申請?zhí)峁┮环N用于開關(guān)放電管的測試裝置。

2、本申請?zhí)峁┑囊环N用于開關(guān)放電管的測試裝置，采用如下的技術(shù)方案：

3、一種用于開關(guān)放電管的測試裝置，包括底座與測試板，所述底座包括順次抵接的絕緣板、銅板和框架，所述測試板嵌入所述框架內(nèi)與所述銅板相抵接，所述測試板與所述銅板相抵接的一端開設(shè)有若干個(gè)等距分布的置物槽，所述置物槽用于放置開關(guān)放電管。

4、通過采用上述技術(shù)方案，將絕緣板、銅板和框架依次抵接，將測試板嵌入框架內(nèi)，且測試板與銅板相抵接，在測試板與銅板相抵接的一端開設(shè)有若干個(gè)等距分布的置物槽，置物槽用于放置開關(guān)放電管，只需將開關(guān)放電管放入置物槽內(nèi)，再將整個(gè)測試板嵌入框架內(nèi)且與銅板相抵接，使得置于置物槽內(nèi)的開關(guān)放電管處于一個(gè)黑暗的環(huán)境下，無需再另外對光源進(jìn)行遮擋或斷掉，有利于在光亮的情況下也能夠?qū)﹂_關(guān)放電管進(jìn)行避光情況的測試。

5、可選的，所述置物槽的槽底部開設(shè)有供探針伸入的測試孔。

6、通過采用上述技術(shù)方案，在置物槽的槽底部開設(shè)有供探針伸入的測試孔，使得探針能夠通過測試孔與開關(guān)放電管接觸，有利于測試數(shù)據(jù)的獲得。

7、可選的，所述框架與所述銅板相抵接的一端設(shè)有若干個(gè)等距分布的卡扣，所述卡扣穿過所述銅板與所述絕緣板卡接。

8、通過采用上述技術(shù)方案，在框架與銅板相抵接的一端設(shè)置有若干個(gè)等距分布的卡扣，將卡扣穿過銅板與絕緣板相卡接，使得框架通過卡扣穿過銅板與絕緣板快速連接。

9、可選的，所述絕緣板開設(shè)有若干個(gè)等距分布的第一定位孔，所述第一定位孔的位置與所述卡扣的位置相一致。

10、通過采用上述技術(shù)方案，在絕緣板處開設(shè)有若干個(gè)等距分布的第一定位孔，且第一定位孔與卡扣的位置相一致，使得框架與絕緣板卡接之前，能夠先通過卡扣對準(zhǔn)第一定位孔實(shí)現(xiàn)框架與絕緣板的預(yù)定位。

11、可選的，所述絕緣板背離與銅板相抵接的一端開設(shè)有若干個(gè)等距分布的卡槽，所述卡槽與所述第一定位孔相連通。

12、通過采用上述技術(shù)方案，在絕緣板背離與銅板相抵接的一端開設(shè)有卡槽，且卡槽與第一定位孔相連通，使得卡扣能夠順次穿過銅板和絕緣板與卡槽相卡接，且卡槽的設(shè)置使得卡扣能夠不穿出絕緣板，有利于對卡扣進(jìn)行保護(hù)。

13、可選的，所述銅板的一側(cè)壁處設(shè)有接觸片。

14、通過采用上述技術(shù)方案，在銅板的一側(cè)壁處設(shè)置有接觸片，有利于對開關(guān)放電管進(jìn)行測試。

15、可選的，所述絕緣板在相對的一對側(cè)壁處設(shè)有扳動部。

16、通過采用上述技術(shù)方案，在絕緣板一對相對的側(cè)壁處設(shè)置有扳動部，使得當(dāng)絕緣板與框架需要拆卸開來時(shí)，可扳動絕緣板上的扳動部，有利于絕緣板和框架的拆卸。

17、可選的，所述測試孔的直徑小于置物槽的直徑。

18、通過采用上述技術(shù)方案，將測試孔的直徑設(shè)置的小于置物槽的直徑，使得光源不易通過測試孔進(jìn)入置物槽內(nèi)。

19、綜上所述，本申請包括以下至少一種有益技術(shù)效果：

20、將絕緣板、銅板和框架依次抵接，將測試板嵌入框架內(nèi)，且測試板與銅板相抵接，在測試板與銅板相抵接的一端開設(shè)有若干個(gè)等距分布的置物槽，置物槽用于放置開關(guān)放電管，只需將開關(guān)放電管放入置物槽內(nèi)，再將整個(gè)測試板嵌入框架內(nèi)且與銅板相抵接，使得置于置物槽內(nèi)的開關(guān)放電管處于一個(gè)黑暗的環(huán)境下，無需再另外對光源進(jìn)行遮擋或斷掉，有利于在光亮的情況下也能夠?qū)﹂_關(guān)放電管進(jìn)行避光情況的測試；

21、在置物槽的槽底部開設(shè)有供探針伸入的測試孔，使得探針能夠通過測試孔與開關(guān)放電管接觸，有利于測試數(shù)據(jù)的獲得；

22、在框架與銅板相抵接的一端設(shè)置有若干個(gè)等距分布的卡扣，將卡扣穿過銅板與絕緣板相卡接，使得框架通過卡扣穿過銅板與絕緣板快速連接。

技術(shù)特征：

1.一種用于開關(guān)放電管的測試裝置，其特征在于：包括底座（1）與測試板（2），所述底座（1）包括順次抵接的絕緣板（13）、銅板（11）和框架（12），所述測試板（2）嵌入所述框架（12）內(nèi)與所述銅板（11）相抵接，所述測試板（2）與所述銅板（11）相抵接的一端開設(shè)有若干個(gè)等距分布的置物槽（21），所述置物槽（21）用于放置開關(guān)放電管。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于開關(guān)放電管的測試裝置，其特征在于：所述置物槽（21）的槽底部開設(shè)有供探針伸入的測試孔（22）。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于開關(guān)放電管的測試裝置，其特征在于：所述框架（12）與所述銅板（11）相抵接的一端設(shè)有若干個(gè)等距分布的卡扣（121），所述卡扣（121）穿過所述銅板（11）與所述絕緣板（13）卡接。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種用于開關(guān)放電管的測試裝置，其特征在于：所述絕緣板（13）開設(shè)有若干個(gè)等距分布的第一定位孔（131），所述第一定位孔（131）的位置與所述卡扣（121）的位置相一致。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種用于開關(guān)放電管的測試裝置，其特征在于：所述絕緣板（13）背離與銅板（11）相抵接的一端開設(shè)有若干個(gè)等距分布的卡槽（132），所述卡槽（132）與所述第一定位孔（131）相連通。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種用于開關(guān)放電管的測試裝置，其特征在于：所述銅板（11）的一側(cè)壁處設(shè)有接觸片（111）。

7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種用于開關(guān)放電管的測試裝置，其特征在于：所述絕緣板（13）在相對的一對側(cè)壁處設(shè)有扳動部（133）。

8.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種用于開關(guān)放電管的測試裝置，其特征在于：所述測試孔（22）的直徑小于置物槽（21）的直徑。

技術(shù)總結(jié)
本申請涉及一種用于開關(guān)放電管的測試裝置屬于電子元器件檢測設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域，其包括底座與測試板，所述底座包括順次抵接的絕緣板、銅板和框架，所述測試板嵌入所述框架內(nèi)與所述銅板相抵接，所述測試板與所述銅板相抵接的一端開設(shè)有若干個(gè)等距分布的置物槽，所述置物槽用于放置開關(guān)放電管。本申請具有無需對光源進(jìn)行遮擋或者斷掉光源就能夠在光亮的環(huán)境下進(jìn)行避光情況的測試的效果。

技術(shù)研發(fā)人員：王彼德
受保護(hù)的技術(shù)使用者：寧波正茂電子有限公司
技術(shù)研發(fā)日：20240418
技術(shù)公布日：2024/12/30