本技術(shù)涉及一種外徑的快速檢測環(huán)規(guī)。

背景技術(shù)：

1、在圓形零件外徑檢測方法中，通常有：千分尺測量、三坐標(biāo)測量等。

2、千分尺測量法，只需用量程范圍足夠的千分尺，沿直徑方向測量產(chǎn)品外徑即可。目前很多工廠仍以千分尺測量為主。使用千分尺測量外圓時，需要注意以下幾點：選擇合適的測量位置，外圓的直徑可能存在微小的偏差，為避免誤差，應(yīng)在多個位置進行測量，并取平均值；為了保證測量結(jié)果的準(zhǔn)確，需要在測量時適當(dāng)施加力度，使大千分尺與被測物貼合；

3、三坐標(biāo)測量儀，在測量中廣泛應(yīng)用。測量時，探針在樣品上移動，按選定的布點測取各測量點相對于測量基準(zhǔn)的數(shù)據(jù)，再經(jīng)過數(shù)據(jù)處理評定出外徑尺寸。探頭的測量精度很高，但其效率較低，通常一個樣品需要幾分鐘，離生產(chǎn)節(jié)拍的期望相差甚遠(yuǎn)。

4、檢測結(jié)果的準(zhǔn)確性(全面性)：傳統(tǒng)檢測存在一定的檢測缺陷，如千分尺的檢測位置、測量力度等；三坐標(biāo)測量的區(qū)域、點數(shù)，環(huán)境要求等，無法全面、準(zhǔn)確的測量產(chǎn)品的真實狀態(tài)。

5、傳統(tǒng)通過千分尺、三坐標(biāo)等方式測量外徑，通常情況需要數(shù)分種，多則數(shù)十分鐘。且對檢測人員要求較高，非專業(yè)人員不能完成檢測，效率低下，嚴(yán)重影響生產(chǎn)的連續(xù)性。

技術(shù)實現(xiàn)思路

1、針對上述問題，本實用新型的目的是提供提高檢測效率和生產(chǎn)效率的一種外徑的快速檢測環(huán)規(guī)。

2、實現(xiàn)本實用新型的技術(shù)方案如下

3、一種外徑的快速檢測環(huán)規(guī)，包括檢具本體，檢具本體一端設(shè)有第一錐形檢測孔，檢具本體另一端設(shè)有第二錐形檢測孔；所述第一錐形檢測孔與第二錐形檢測孔之間形成觀察區(qū)域；所述檢具本體兩端均罩設(shè)有保護罩。

4、所述觀察區(qū)域的檢具本體為中空結(jié)構(gòu)，觀察區(qū)域的檢具本體外表面上均布有若干不連續(xù)的觀察槽。

5、所述觀察槽為條形開槽。

6、所述保護罩為環(huán)形的硅膠保護罩，硅膠保護罩與檢具本體接觸的一端設(shè)有向內(nèi)延伸的環(huán)形安裝部；所述環(huán)形安裝部可拆卸的安裝在檢具本體端面上。

7、所述第一錐形檢測孔側(cè)面和第二錐形檢測孔側(cè)面上均設(shè)有與外界連通的開槽。

8、所述開槽一側(cè)的檢具本體上設(shè)有刻度區(qū)。

9、采用了上述技術(shù)方案，顯著的提高檢測效率和生產(chǎn)效率：并且本裝置可放在生產(chǎn)現(xiàn)場，操作工在數(shù)秒內(nèi)即可完成檢測，減少周轉(zhuǎn)時間，無需停機，不影響生產(chǎn)；檢測效率可以提高數(shù)倍。

10、檢測過程無人為干涉，提高檢測的一致性。同時可以檢測到產(chǎn)品的所有表面區(qū)域，是否合格。

技術(shù)特征：

1.一種外徑的快速檢測環(huán)規(guī)，其特征在于，包括檢具本體，檢具本體一端設(shè)有第一錐形檢測孔，檢具本體另一端設(shè)有第二錐形檢測孔；所述第一錐形檢測孔與第二錐形檢測孔之間形成觀察區(qū)域；所述檢具本體兩端均罩設(shè)有保護罩。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種外徑的快速檢測環(huán)規(guī)，其特征在于，所述觀察區(qū)域的檢具本體為中空結(jié)構(gòu)，觀察區(qū)域的檢具本體外表面上均布有若干不連續(xù)的觀察槽。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種外徑的快速檢測環(huán)規(guī)，其特征在于，所述觀察槽為條形開槽。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種外徑的快速檢測環(huán)規(guī)，其特征在于，所述保護罩為環(huán)形的硅膠保護罩，硅膠保護罩與檢具本體接觸的一端設(shè)有向內(nèi)延伸的環(huán)形安裝部；所述環(huán)形安裝部可拆卸的安裝在檢具本體端面上。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種外徑的快速檢測環(huán)規(guī)，其特征在于，所述第一錐形檢測孔側(cè)面和第二錐形檢測孔側(cè)面上均設(shè)有與外界連通的開槽。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種外徑的快速檢測環(huán)規(guī)，其特征在于，所述開槽一側(cè)的檢具本體上設(shè)有刻度區(qū)。

技術(shù)總結(jié)
本技術(shù)公開了一種外徑的快速檢測環(huán)規(guī)。包括檢具本體，檢具本體一端設(shè)有第一錐形檢測孔，檢具本體另一端設(shè)有第二錐形檢測孔；所述第一錐形檢測孔與第二錐形檢測孔之間形成觀察區(qū)域；所述檢具本體兩端均罩設(shè)有保護罩；檢測過程無人為干涉，提高檢測的一致性；同時可以檢測到產(chǎn)品的所有表面區(qū)域，是否合格。

技術(shù)研發(fā)人員：楊冬洋
受保護的技術(shù)使用者：騰普(常州)精機有限公司
技術(shù)研發(fā)日：20240509
技術(shù)公布日：2025/1/6