專利名稱:無標(biāo)尺測量儀的制作方法
無標(biāo)尺測量儀屬測量技術(shù)領(lǐng)域：
。
無標(biāo)尺測量儀是世界上還沒有的一項(xiàng)儀器。
發(fā)明是為了不用標(biāo)尺測量，達(dá)到省人省工省時準(zhǔn)確無誤的目的。
無標(biāo)尺測量儀的內(nèi)容一、反視定理反視定理是根據(jù)看近和看遠(yuǎn)、看高和看矮的變化規(guī)律而研究出來的。
定理一當(dāng)物體高度不變時，反視值與距離成反比，(即距離越長，反視值越小;距離越短，反視值越大)。比一米距離的反視值縮小的倍數(shù)等于距離。
定理二當(dāng)距離不變時，反視值與高度成正比。(即物體越高，反視值越大;物體越矮，反視值越小)，比一米高度的反視值增大的倍數(shù)等于高度。
結(jié)論(1)根據(jù)定理一，一定高度的物體，在一米距離位置上的反視值(為常數(shù))是所測距離的分子，在任何位置上的反視值，是所測距離的分母。
(2)根據(jù)定理二，物體在一條直線任何一個位置上的反視值(簡稱高值)是所測高的分子，一米高度的反視值(簡稱米反視值)是所測高的分母。
二、構(gòu)造和用途(一)構(gòu)造無標(biāo)尺測量儀由標(biāo)鏡、測鏡、標(biāo)桿、刻尺、垂直角度盤、羅盤、三腳架等七部份組成(附圖1)。
(二)用途標(biāo)鏡-用于找測點(diǎn)和移標(biāo)，與測鏡配合，把儀器上的標(biāo)高移到被測物體上。
測鏡-測鏡內(nèi)裝以縱橫刻度等距的光學(xué)玻璃刻劃板一塊，通過物鏡把標(biāo)或物體的高度折射到測鏡內(nèi)刻劃板上，顯出反視值數(shù)據(jù)。從反視值數(shù)據(jù)中計算出距離和高度。
標(biāo)桿-由一根或二根標(biāo)桿連接標(biāo)鏡和測鏡，并要使兩鏡成絕對垂直線組成一個整體，標(biāo)鏡中心至測鏡中心稱為標(biāo)高，作為測量使用。
刻尺-測鏡外安裝縱刻尺一塊，通過轉(zhuǎn)比(即內(nèi)刻測高分母轉(zhuǎn)為外刻測高分母比例)進(jìn)行測高。
垂直角度盤-用于斜距離轉(zhuǎn)水平距離和測山高。
羅盤-用于測面積。
三角架-用于架設(shè)儀器。
三、測量方法(一)測距離用標(biāo)鏡中心對準(zhǔn)測點(diǎn)，固定不動，記下測鏡內(nèi)縱刻線上顯示出的測點(diǎn)至測鏡中心的刻度(即反視值)、公式1距離＝ (常數(shù))/(反視值)(二)測高度先用測距法得反視值，并記好角度。再用反視值乘標(biāo)比(見標(biāo)比表)等于米反視值(即測高分母)。再看測鏡內(nèi)被測物體腳至頂之間的刻度(即高值)。
公式2高度＝ (高值)/(測高分母×角比(見角比表))
當(dāng)測鏡內(nèi)刻度不夠測高用時，就用刻尺測高，其方法是先用測高的方法得測高分母，並記好角度;再用測鏡中心對準(zhǔn)被測物的底部，看測鏡外紅線與刻尺交點(diǎn)處刻度(簡稱下刻);再將測鏡中心對準(zhǔn)被測物的頂部，同樣得交點(diǎn)處刻度(簡稱上刻)，上下刻度之差等于高刻(即高值)。
公式3高度＝ (高值)/(測高分母×角比×轉(zhuǎn)比)轉(zhuǎn)比即內(nèi)刻測高分母轉(zhuǎn)為外刻測高分母的比例(舉例如下表)
無標(biāo)尺測量儀與現(xiàn)有的測量儀器相比無標(biāo)尺測量儀不但不用標(biāo)尺，而且具有重量輕，體積小，計算簡單的優(yōu)點(diǎn)，達(dá)到省人、省工、省時、準(zhǔn)確的目的，并且有彌補(bǔ)現(xiàn)有儀器無法測量，同樣可以測量出來的特點(diǎn)。
無標(biāo)尺測量儀(WC-Ⅲ型)現(xiàn)已試制成功。並已寫好使用說明書一本，通過林業(yè)、水利、郵電等部門試用，精確度均在百分之九十九以上。
附圖1(無標(biāo)尺測量儀示意圖)儀器各部位名稱1.調(diào)焦螺母;2.測鏡;3.刻尺;4.垂直角度盤;5.萬向螺母;6.水平轉(zhuǎn)向盤;7.標(biāo)桿;8.標(biāo)鏡;9.活動架;10.鎖緊螺釘;11.微調(diào)螺釘;12.羅盤;13.水平螺釘;14.緊固螺釘。
附圖21.移標(biāo)AB是標(biāo)高。A′B′是標(biāo)鏡和測鏡把標(biāo)高移到被測的物體上。2.反尺物體A′點(diǎn)反回通過焦點(diǎn)F到物鏡折射到刻劃板上，顯示出反視值。
附圖31.是刻劃板(裝入測鏡內(nèi));
2.是分劃板(裝入標(biāo)鏡內(nèi))。
權(quán)利要求
1.無標(biāo)尺測量儀，該裝置有用桿子或其它連接方法[附圖1(7)]并垂直于標(biāo)鏡[附圖1(8)]和測鏡[附圖1(2)]。在其測鏡外左邊或右邊垂直裝有刻尺一根[附圖1(3)]，其特征a、所述標(biāo)鏡內(nèi)裝有分劃板一塊[附圖3(2)]；b、所述測鏡內(nèi)裝有刻劃板一塊[附圖3(1)]。
2.根據(jù)權(quán)利要求
1所述的裝置，其特征是“移標(biāo)反尺”在測量時把附圖2中的標(biāo)鏡A點(diǎn)至測鏡B點(diǎn)(即標(biāo)高)的距離移到被測物體A′點(diǎn)至B′點(diǎn)上，A′點(diǎn)反回通過焦點(diǎn)F到物鏡折射到刻劃板上顯示出反視值。
3.根據(jù)權(quán)利要求
1所述的裝置及權(quán)利要求
2所述的特征， (測鏡外刻尺上的常數(shù)(物體高度在一米距離位置上的反視值))/(測鏡內(nèi)刻劃板上的常數(shù)(物體高度在一米距離位置上的反視值)) ＝轉(zhuǎn)比(即內(nèi)刻反視值轉(zhuǎn)為外刻反視值的比例)。
專利摘要
無標(biāo)尺測量儀屬測量技術(shù)領(lǐng)域：
，解決測量不用標(biāo)尺的技術(shù)。
文檔編號G01C3/04GK85100452SQ85100452
公開日1986年5月10日 申請日期1985年4月1日
發(fā)明者黃盛和 申請人:黃盛和導(dǎo)出引文BiBTeX, EndNote, RefMan