專利名稱:袖珍式ttl集成電路在線測(cè)試器的制作方法
本實(shí)用新型是關(guān)于集成電路在線測(cè)試儀器，特別是袖珍式TTL集成電路在線測(cè)試器，該測(cè)試器帶有雙列直插式集成電路在線測(cè)試夾和扁平封裝集成電路在線測(cè)試夾；裝有用以直接顯示TTL集成電路各引腳的邏輯狀態(tài)的紅、綠色的發(fā)光二極管；裝有用以控制接通IC、引腳分組測(cè)試用的撥動(dòng)式波段開(kāi)關(guān)，該測(cè)試器用以對(duì)雙列直插式TTL集成電路或扁平封裝集成電路TTL在電路上直接測(cè)試其邏輯狀態(tài)和故障檢查。
當(dāng)前國(guó)內(nèi)外現(xiàn)有集成電路在線測(cè)試儀器帶微電腦，結(jié)構(gòu)復(fù)雜，體積大，攜帶不便，造價(jià)高，(每臺(tái)幾千元～幾萬(wàn)元)且只能用于對(duì)雙列直插式集成電路在線測(cè)試定量精測(cè)。
而當(dāng)前國(guó)內(nèi)外現(xiàn)有集成電路測(cè)試筆，雖然結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，體積小，攜帶方便，造價(jià)低，用于定性初測(cè)，但使用時(shí)須要一手執(zhí)筆，將筆尖指在IC，各根引腳上，逐腳檢測(cè)，操作麻煩，使用不便，工作效率低。
本實(shí)用新型針對(duì)上述測(cè)試儀器和集成電路測(cè)試筆的缺點(diǎn)，并吸取其優(yōu)點(diǎn)，提出了一種新的技術(shù)改進(jìn)方案－－袖珍式TTL集成電路在線測(cè)試器。
現(xiàn)有技術(shù)參考文獻(xiàn)1、美國(guó)佛里達(dá)州32780鐵特斯維爾懷特德來(lái)夫1400測(cè)試儀器公司仙童測(cè)試系統(tǒng)組生產(chǎn)的AFIT300A瞬時(shí)／連續(xù)測(cè)試儀樣本。
Fairchild Test Systems GroupTestline Lnstruments 1400 White Drive
Titusville Florida 327802.科學(xué)畫報(bào)1984年11期TTL集成電路測(cè)試筆，上海東風(fēng)變壓器廠。
本實(shí)用新型的目的是為了提供一種結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、體積小、攜帶方便、操作簡(jiǎn)單、使用方便、造價(jià)低(每臺(tái)100元～幾百元)。不但對(duì)雙列直插式TTL集成電路能在線測(cè)試，而且對(duì)按標(biāo)準(zhǔn)統(tǒng)一彎腳的扁平封裝TTL集成電路也能在線測(cè)試，通用初測(cè)的袖珍TTL集成電路在線測(cè)試器。
本實(shí)用新型是采用我們稱之為“袖珍式TTL集成電路在線測(cè)試電路”并通過(guò)雙列直插式集成電路在線測(cè)試夾和扁平封裝集成電路在線測(cè)試夾將已插在印刷電路板上的雙列直插式TTL集成電路或?qū)⒁押冈谟∷㈦娐钒迳系谋馄椒庋bTTL集成電路先后分別與上述集成電路在線測(cè)試電路連接，使其構(gòu)成不用拆下IC的情況下，而是在電路內(nèi)直接測(cè)試該集成電路的邏輯狀態(tài)和故障檢查的一種袖珍式TTL集成電路在線測(cè)試器。
圖1是本袖珍式TTL集成電路測(cè)試器的電路方框圖，圖2是本袖珍式TTL集成電路在線測(cè)試器的電路原理圖。
該電路原理圖由過(guò)電壓保護(hù)。高電平鑒別，低電平鑒別、紅、綠色發(fā)光二極管邏輯顯示幾部分構(gòu)成。如附圖1，附圖2所示。
在本袖珍式測(cè)試器面板上裝有微型開(kāi)關(guān)，本實(shí)施例為撥動(dòng)式波段開(kāi)關(guān)KB－2型，其輸入輸出端均與電路連通，用以控制IC，引腳的接通或斷開(kāi)，分組測(cè)試，每組最好只控制四只IC，引腳。
在本袖珍式測(cè)試器面板上裝有n個(gè)紅、綠色發(fā)光二極管，本實(shí)施例為8個(gè)發(fā)光二極管。4只紅的、4只綠的，其輸入輸出端均與電路接通，用以顯示IC。引腳的邏輯狀態(tài)，紅的發(fā)光二極管發(fā)亮?xí)r顯示高電平，綠的發(fā)光二極管發(fā)亮?xí)r顯示低電平。紅、綠發(fā)光二極管都不亮?xí)r顯示邏輯電平處于懸空電壓狀態(tài)，或虛焊，便于故障檢查，紅、綠發(fā)光二極管交替發(fā)亮?xí)r表示脈沖信號(hào)，交替亮的速度表示膠沖延遲的時(shí)間長(zhǎng)短。
本袖珍式集成電路在線測(cè)試器帶有雙列直插式集成電路在線測(cè)試夾和扁平封裝集成電路在線測(cè)試夾。
本實(shí)用新型與國(guó)內(nèi)外現(xiàn)有集成電路在線測(cè)試儀相比較，它具有結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、體積小、重量輕、袖珍式、攜帶方便、造價(jià)低、清晰直觀、定性測(cè)試，不但對(duì)雙列直插式TTL集成電路能在電路內(nèi)直接測(cè)試其邏輯狀態(tài)，和故障檢查，而且對(duì)扁平封裝TTL集成電路也能在電路內(nèi)直接測(cè)試其邏輯狀態(tài)和故障檢查。
而與TTL集成電路測(cè)試筆相比，它不像使用集成電路測(cè)試筆那樣，要一手執(zhí)筆，指在IC。引腳上，逐腳檢查，致使操作麻煩，工效低，而是通過(guò)集成電路在線測(cè)試夾連接，對(duì)IC，引腳分組檢測(cè)，操作簡(jiǎn)易，使用方便，工作效率高。
附圖的說(shuō)明圖1是本袖珍式TTL集成電路在線測(cè)試器電路方框圖，圖中21——雙列直插式集成電路在線測(cè)試夾，或扁平封裝集成電路在線測(cè)試夾。
22——微型插頭與插座(本實(shí)施例為24芯插頭與插座LCH25－24K)。
23——微型開(kāi)關(guān)(本實(shí)施例為撥動(dòng)式波段開(kāi)關(guān)KB－2型由5只組成)。
24——過(guò)電壓保護(hù)。
25——高電平鑒別。
26——低電平鑒別。
27——發(fā)光二極管顯示。
圖2是本袖珍式集成電路在線測(cè)試器電路原理圖。圖中1——微型插座 本實(shí)施例為24芯插座LCH25－24K2——微型開(kāi)關(guān) 本實(shí)施例為撥動(dòng)波段開(kāi)關(guān)KB－2型由5只組成。
3及3′、3”、3”——電阻 本實(shí)施例為75Ω。
4及4′——二極管 本實(shí)施例為2AP95及5′——二極管 本實(shí)施例為2CZ82
6及6′——穩(wěn)壓管 本實(shí)施例為2CW527及7′——電阻本實(shí)施例為RTX－ 1/8 W－75Ω8及8′——三極管 本實(shí)施例為3DK2A9及9′——可調(diào)電阻 本實(shí)施例為WS20－1KΩ10及10′——電阻 本實(shí)施例為1KΩ11及11′——二極管 本實(shí)施例為2AP912及12′——集成電路四 2輸入與非門TO65B13及13′——電阻 本實(shí)施例為75Ω14及14′——電阻 本實(shí)施例為75Ω15及15′——紅色發(fā)光二極管 本實(shí)施例為L(zhǎng)ED16及16′——綠色發(fā)光二極管 本實(shí)施例為L(zhǎng)ED17——電源電壓 本實(shí)施例為Vcc＝5.5～6.5VA、A′、A″、A′″－－四個(gè)相同的電路如圖2虛線所圍部分其中A″、A′″，在圖2中省略未畫。
權(quán)利要求
1.一種集成電路在線測(cè)試儀，特別是一種袖珍式TTL集成電路在線測(cè)試器，它由雙列直插式集成電路在線測(cè)試夾或扁平封裝集成電路在線測(cè)試夾[21]、微型插頭與插座[22]、一組微型開(kāi)關(guān)[23]、過(guò)電壓保護(hù)電路[24]、高電平鑒別電路[25]、低電平鑒別電路[26]和邏輯狀態(tài)顯示電路[27]組成。
2.如權(quán)利要求
1所述的測(cè)試器，其特征在于它的一組微型開(kāi)關(guān)中每一只開(kāi)關(guān)最好是只控制TTL集成電路的每四只引腳的電路接通與斷開(kāi)。
3.如權(quán)利要求
1或2所述的測(cè)試器，其特征在于其邏輯狀態(tài)顯示電路內(nèi)裝有一組最好是八只兩種對(duì)符數(shù)目的彩色發(fā)光二極管。
專利摘要
本實(shí)用新型是關(guān)于集成電路在線測(cè)試儀器，特別是袖珍式TTL集成電路在線測(cè)試器，它帶有雙列直插式集成電路在線測(cè)試夾和扁平封裝集成電路在線測(cè)試夾；裝有用以直接顯示各種電路邏輯狀態(tài)的發(fā)光二極管；裝有用以控制接通IC引腳，分組測(cè)試用的微型開(kāi)關(guān)。結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、體積小、重量輕、造價(jià)低、操作簡(jiǎn)便、清晰直觀、工作效率高。適用于對(duì)雙列直插式和扁平封裝TTL集成電路在線測(cè)其邏輯狀態(tài)和故障檢查。
文檔編號(hào)G01R31/26GK85203558SQ85203558
公開(kāi)日1987年1月28日 申請(qǐng)日期1985年8月20日
發(fā)明者涂春華, 羅春根, 熊富根 申請(qǐng)人:羅春根, 涂春華, 熊富根導(dǎo)出引文BiBTeX, EndNote, RefMan