專利名稱：鋁箔搪瓷密著性能的劃痕檢測方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明是屬于搪瓷密著性能檢測方法的技術(shù)領(lǐng)域。
密著是指搪瓷燒成后，瓷釉與金屬牢固結(jié)合的性能。密著檢測是對搪瓷瓷層在金屬坯胎上密著強度的測定。一般采用間接方法對其進行測定。對鋁箔搪瓷密著性能的測定，如《中國搪瓷》1985年第2期(第6卷)中“鋁箔搪瓷的研制”一文中所描述的那樣，是采用彎曲法。即將試樣彎曲90～180°角，按瓷層脫落情況來判斷密著性。
《中華人民共和國國家標準涂料檢驗方法第一冊》中“漆膜附著力測定法”一節(jié)描述了用漆膜附著力測定儀測定漆膜對底材粘合附著力的方法。即將測定儀的針頭壓入被測漆膜內(nèi)，使針頭接觸到底板并在漆膜上劃出園滾線劃痕，檢查劃痕間漆膜脫落情況，以此對漆膜附著力進行定級。
為了更準確可靠地測定鋁箔搪瓷的密著性能，發(fā)明了鋁箔搪瓷密著性能的劃痕檢測方法。
所發(fā)明的劃痕檢測方法是采用漆膜附著力試驗儀作為檢測儀器。測試時，將被測鋁箔搪瓷片固定在試驗儀的試驗臺上，采用螺桿旋緊的方式，用一壓板將被測鋁箔搪瓷片的四周壓緊在試驗臺上，將測定儀的針頭加壓，使針頭壓入鋁箔搪瓷表面0.05±0.01mm深。啟動試驗儀后，針頭會在鋁箔搪瓷表面劃出園滾線劃痕。憑肉眼或者放大鏡檢查劃痕及劃痕邊沿搪瓷層的脫落情況;如果只在劃痕處有搪瓷層脫落，則被檢樣品的密著性能為合格;如果劃痕及劃痕邊沿處均有搪瓷層脫落，則被檢樣品的密著性能為不合格。
所發(fā)明的鋁箔搪瓷密著性能的劃痕檢測方法較之彎曲檢測法能更準確地檢測出鋁箔搪瓷的密著性能。用彎曲法檢測，由于鋁箔具有良好的延展性，在燒制鋁箔搪瓷的過程中又在鋁箔搪瓷內(nèi)產(chǎn)生有內(nèi)應力，即使密著性能不好的被檢品，雖經(jīng)彎曲檢測仍然不會掉瓷，因而會被誤認為合格品。這樣的合格品，經(jīng)過一定時間放置或者遇有酸、堿等氣氛條件的浸蝕，會因為瓷層密著性能不合格而出現(xiàn)瓷層爆落。經(jīng)劃痕檢測方法檢測出的合格品，不會因為密著性能不合格而出現(xiàn)上述瓷層爆落的現(xiàn)象。
最好的鋁箔搪瓷密著性能的劃痕檢測方法采用的儀器為QFD型電動漆膜附著力試驗儀。對試驗儀針頭所加壓力，視鋁箔及瓷層厚度而確定在50克至300克之間。要采用一中間有空位的壓板將被測樣品壓緊在試驗臺上，使試驗儀針頭能在空位內(nèi)的樣品上劃出園滾線劃痕。
權(quán)利要求
1.鋁箔搪瓷密著性能檢測方法，本發(fā)明的特征是用針頭在鋁箔搪瓷面上劃出園滾線劃痕，根據(jù)劃痕及劃痕邊沿的脫瓷情況來確定被測樣品的密著性能是否合格。
全文摘要
本發(fā)明是屬于搪瓷密著性能檢測方法的技術(shù)領(lǐng)域。本發(fā)明是用加有一定壓力的針頭在鋁箔搪瓷面上劃出圓滾線劃痕，檢查劃痕及其邊沿瓷層的脫落情況，以此確定被測鋁箔搪瓷的密著性能。本發(fā)明較之彎曲檢測法，能更準確地確定出鋁箔搪瓷的密著性能合格品。
文檔編號G01N19/04GK1036456SQ8810478
公開日1989年10月18日 申請日期1988年7月30日 優(yōu)先權(quán)日1988年7月30日
發(fā)明者江義齊 申請人:重慶市硅酸鹽研究所