專利名稱：晶體器件測試儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明屬于晶體管參數(shù)測試裝置。
現(xiàn)有的晶體管參數(shù)測試儀器雖然很多，但存在功能單一、通用性差和使用不便、工作效率低等問題。一些新器件的出現(xiàn)，也對測試提出了新的要求，例如負(fù)阻器件的測試挑選，如用示波儀、電壓表、電流表等工具，效率不佳，有時精度也受到影響。
本發(fā)明的目的，是以經(jīng)濟(jì)簡便的方法，制作出一種高效率、通用性好、測量范圍寬的晶體管測試挑選裝置。
本發(fā)明的目的是這樣實現(xiàn)的用靈敏的電流檢測器拾取被測晶體管通過的電流，并用以控制穩(wěn)壓電源電壓，然后通過顯示器直接讀出或間接計算出所測參數(shù)。
實施例附圖
為晶體管參數(shù)測試儀的基本電路圖(顯示部分未畫出)。如圖所示，測試儀主要由串聯(lián)可調(diào)穩(wěn)壓器、隨機(jī)自動調(diào)節(jié)控制開并、可調(diào)恒流源等三部分組成。BG1、BG2、BG3、BG4、FED等組成了串聯(lián)可調(diào)穩(wěn)壓電源，調(diào)整管BG4為場效應(yīng)管，因此，可調(diào)穩(wěn)壓電源輸出電壓取決于C2上的充電壓。BG5、BG7、BG8、D2、R8、R9、R12、R14、W2組成第一路隨機(jī)調(diào)控開關(guān)，通過拾取被測器件通過的電流，由測量三極管集電極控制C2上的充電電壓。選通開關(guān)K2接通時進(jìn)入工作狀態(tài)。D2、R8、BG7、W2為一靈敏電流檢測器，其檢測電位器W3或另設(shè)電阻是被串連在可調(diào)恒流源中使用，而使電流檢測器在電路中起開關(guān)作用，即當(dāng)W2上有一定電流流過時產(chǎn)生的壓降達(dá)到一定值－－檢測開關(guān)閥值時開關(guān)動作，BG7由導(dǎo)通變截止，使C7充電停止，穩(wěn)壓器處于穩(wěn)壓輸出狀態(tài)。BG11、D2、D4、R14、W4等組成第一路檢測模擬負(fù)載兼限流器，R15為測量PNP型三極管的基極偏流電阻。
第二路隨機(jī)自動控制開關(guān)由BG6、BG9、BG10、D1、R7、R10、R11、R12、W2組成。BG12、D5、D6、R12、W5等組成第二路檢測模擬負(fù)載兼限流器。R 為測量NPN型管的基極偏流電阻。工作原理同第一路。
測試晶體管的工作過程是假如第一路調(diào)控開關(guān)閥值為0.05V，被測器件為負(fù)阻管，導(dǎo)通電流為5mA。首先要通過調(diào)整W4將恒流源調(diào)至5mA，若D4＝0.6V，則W4＝0.6V／5mA＝120Ω。然后調(diào)定檢流電位器W＝0.05／5mA＝10。測試時將負(fù)阻管正極接A點，負(fù)極接B點，同時K1聯(lián)動，接通電路電源，此時發(fā)生的變化是在接通電源的瞬間，A、B兩點相當(dāng)于開路，穩(wěn)壓電路處自動升壓狀態(tài)。當(dāng)C2上電壓不斷升高，使穩(wěn)壓電路輸出電壓達(dá)到Vs時(負(fù)阻管轉(zhuǎn)折導(dǎo)通電壓)，負(fù)阻管導(dǎo)通，W3上產(chǎn)生0.05V的壓降，于是BG7被迫截止，BG5、BG8也截止，C2充電停止。此時穩(wěn)壓器輸出電壓即為負(fù)阻管的轉(zhuǎn)折電壓Vs＝V0－VW4－VW3。負(fù)阻管的導(dǎo)通端電壓從A、B兩點測出。在A、B、C三點接入PNP三極管的e、c、b時，則可測出三極管的直流放大倍數(shù)。先按三極管的具體測試條件設(shè)定恒流源電流，如Ic＝10mA，則W3＝0.05V／10mA＝5Ω，則三極管直流放大倍數(shù)β＝10mA／〔(V0－0.6V)／R15〕。插入三極管，穩(wěn)壓器輸出5V，R＝20K，則β＝45.5。同理，也可以測試穩(wěn)壓管穩(wěn)壓值、晶體管的正反向漏電流、耐壓值、擊穿電壓、正向壓降、場效應(yīng)管柵極電流、跨導(dǎo)、可控硅的觸發(fā)電壓、維持電流等主要參數(shù)。只要調(diào)整檢流電阻、恒流電流、基極電阻的數(shù)值和電路元件的耐壓等，使可在很寬的范圍內(nèi)取得準(zhǔn)確的測量，同時，接在電源輸出正負(fù)(地)端的電阻(分檔調(diào)節(jié))不僅可為被測三端器件提供測試偏壓偏流，還可為其他擴(kuò)展測試提供條件。有時可根據(jù)需要將被測器件一端直接接于輸出電源的正負(fù)(地)端上。被測量的元件取下后，K1接通C2放電回路，放掉C2上的充電電壓，伸仍留0.3V的殘壓，為下次使用做好準(zhǔn)備。電路反應(yīng)速度根據(jù)需要由W1調(diào)定。
電路原理和計算參見本人的晶體管輸出電流檢測器專利申請說明書D2、BG7與D1、DG10要配合挑選同類型開關(guān)管，使二者工作電壓差較小以提高精度，并用R7、R8分別精調(diào)。如要在很寬的電壓范圍內(nèi)使用，電路中元件參數(shù)可做改動，并選用耐壓足夠的晶體管，必要時將某些電阻用分檔開關(guān)調(diào)整。R15、R18、W2－5可根據(jù)測量精度、范圍要求多設(shè)固定電阻，由分檔開關(guān)和微調(diào)電位器配合調(diào)節(jié)。
這種晶體管測試儀具有制作容易、使用方便、測試效率高、誤差小、測試范圍寬、通用性好等特點，不僅可為專業(yè)和業(yè)余電子工作者提供一種新的實用工具，也為晶體管元件的測試、挑選的自動化準(zhǔn)備了條件。
權(quán)利要求1.一種晶體器件測試裝置，其特征在于所說的測試裝置是由高效率可調(diào)穩(wěn)壓電源、可調(diào)恒流源、電流檢測器及電壓顯示器4種電子單元電路組成。
2.按照權(quán)利要求1中所述的測試裝置，其特征在于所說的裝置中的高效可調(diào)穩(wěn)壓電源的調(diào)整管是高放大倍數(shù)的場效應(yīng)管或達(dá)林頓管，其電壓調(diào)節(jié)控制端并接有可充放電的電容。
3.按照權(quán)利要求1和2所述的測試裝置，其特征在于所說的裝置中的電流檢測器是由比較和放大晶體管及其共同偏流、串接在放大管發(fā)射極的可調(diào)電阻(多個固定電阻)組成。其輸出端是通過開關(guān)、放大極接在可調(diào)穩(wěn)壓電源調(diào)節(jié)控制端的電容上，檢測放大管的發(fā)射極即做為被測晶體器件的正(負(fù))接柱。
4.按照權(quán)利要求1－3所述的測試裝置，其特征在于所說的裝置中的可調(diào)恒流源的灌電流、拉電流輸出端是分別做為被測晶體管器件的正、負(fù)接柱。
5.按照權(quán)利要求1－4所述的測試裝置，其特征在于所說的裝置中的顯示器是接在可調(diào)穩(wěn)壓器的輸出正、負(fù)端和晶體器件測試器正、負(fù)接柱上。
專利摘要用一只由場效應(yīng)管做調(diào)整管的串連穩(wěn)壓器，使其輸出電壓取決于一只電容的充電電壓用靈敏可靠的電流檢測開關(guān)去控制這只電容的充電，用可調(diào)恒流源做假負(fù)載兼限流器，便可以模擬多種晶體管參數(shù)測試條件。他們的科學(xué)結(jié)合組成的晶體管測試儀，具有效率高、精度好、通用性強、測試范圍寬等特點，為電子工作者提供了一件得心應(yīng)手的實用工具。
文檔編號G01R31/26GK2107664SQ91204949
公開日1992年6月17日 申請日期1991年3月29日 優(yōu)先權(quán)日1991年3月29日
發(fā)明者馬軍興 申請人:馬軍興