專利名稱：鉑熱電阻的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型提供種鉑熱電阻，它由厚膜鉑熱電阻元件或繞線式鉑熱電阻元件，該電阻元件從其內(nèi)孔穿過的絕緣瓷管，位于絕緣瓷管外的并同其一起固接在容裝電阻元件和接線盒的保護(hù)管等構(gòu)成，屬于測溫儀器。
鉑熱電阻屬于一次測溫儀表。普遍用于與顯示儀表、調(diào)節(jié)儀表，計算機(jī)配套以直接測量和控制各種場合的溫度，測量范圍廣，精度和穩(wěn)定性都較好。但是，現(xiàn)在工業(yè)中實(shí)際使用的鉑熱電阻，由于鉑熱電阻元件采用單層厚壁管保護(hù)，因此，耐壓，耐沖擊，抗震性能差，熱響應(yīng)時間相對較長，存在測溫滯后現(xiàn)象。
針對現(xiàn)有鉑熱電阻的上述不足，本實(shí)用新型的目的是提供一種熱響應(yīng)時間快，靈敏度高，壽命長的鉑熱電阻。
本實(shí)用新型的目的，是通過采取以下技術(shù)措施來實(shí)現(xiàn)的。
鉑熱電阻的保護(hù)管由兩層薄壁管構(gòu)成，其內(nèi)層薄壁管密封鉑熱元件，外層薄壁管罩住內(nèi)層薄壁管，并且外層薄壁管前端開口，前端管壁上設(shè)置至少兩排的通孔。
具有這種技術(shù)特征，的鉑熱電阻測溫時，內(nèi)層薄壁管承受被測介質(zhì)的壓力，外層薄壁管隨受沖擊力以及設(shè)置其上的終端卡套的固定支承力。外層薄壁管下端開孔，以及下端管壁設(shè)置的通孔，使被測介質(zhì)直接接觸內(nèi)層管。下端管壁上的通孔，起緩流作用。
本實(shí)用新型提供的鉑熱電阻，溫度關(guān)系符合于IEC751／－83和ZBY30／－83標(biāo)準(zhǔn)，熱響應(yīng)時間＜4S，在－40－650℃介質(zhì)環(huán)境中，允差可達(dá)A級±(0.15＋1.002｜t｜)、B級±(0.3＋0.005｜t｜)。
附圖
是本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖，
以下結(jié)合附圖，通過最佳實(shí)施例進(jìn)一步敘述其技術(shù)特征。
鉑熱電阻由厚膜鉑熱電阻元件(1)、絕緣瓷管、保護(hù)管及接線盒(4)構(gòu)成，其中鉑熱電阻的保護(hù)管包括兩層薄壁管。內(nèi)層薄壁管(3)密封鉑熱元件，外層薄壁管(2)罩住內(nèi)層薄壁管，外層薄壁管的前端開口(7)，下端管壁設(shè)置通孔(6)。
本實(shí)施例中，選用小管徑的不銹鋼管作內(nèi)，外層薄壁管，內(nèi)薄壁管(3)采用φ6×1、φ6×0.5的不銹鋼管，外薄壁管(2)采用φ10×1、10×1.5的不銹鋼管，效果較好。通孔(6)為四排，第一排距開口端5mm，排間距10mm。通孔(6)繞管壁對稱布置，孔徑φ4mm。)
權(quán)利要求1.一種鉑熱電阻，它具有由厚膜鉑熱電阻元件或繞線或鉑熱電阻元件，該電阻元件從其內(nèi)孔穿過的絕緣瓷管，位于絕緣瓷管外的并同其一起固接在容裝電阻元件接線盒的保護(hù)管，其特征為鉑熱電阻的保護(hù)管由兩層薄壁管構(gòu)成，其內(nèi)層薄壁管密封鉑熱電元件，外層薄壁管罩住內(nèi)層薄壁管，并且外層薄壁管前端開口，前端管壁上設(shè)置至少兩排的通孔。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的鉑熱電阻，其特征為通孔(6)為四排，第一排距開口端5mm，排間距10mm。通孔(6)繞管壁對稱布置，孔徑φ4mm。內(nèi)薄壁管(3)φ6×1，外薄壁管φ10×1。
專利摘要一種保護(hù)管由兩層薄壁管構(gòu)成，其內(nèi)層薄壁管密封鉑熱元件，外層薄壁管罩住內(nèi)層薄壁管，并且外層薄壁管前端開口，前端管壁上設(shè)置至少兩排的通孔的鉑熱電阻。溫度關(guān)系符合于IEC751/—83和ZBY30/-83標(biāo)準(zhǔn)，熱響應(yīng)時間＜4S，在-40—650℃介質(zhì)環(huán)境中，該種鉑熱電阻＜4S，在-40—650℃介質(zhì)環(huán)境中，允差可達(dá)A級±(0.15+1.002|t|)、B級±(0.3+0.005|t|)。
文檔編號G01K7/18GK2108912SQ9122229
公開日1992年7月1日 申請日期1991年10月12日 優(yōu)先權(quán)日1991年10月12日
發(fā)明者高云金, 張輝 申請人:高云金