專利名稱：一種檢測(cè)金銀首飾的透空樣品盒的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型是一種用于X射線熒光光譜儀無(wú)損檢測(cè)金銀首飾的裝載試樣的透空樣品盒。屬于金銀首飾的分析檢測(cè)領(lǐng)域。
對(duì)于金銀首飾的檢測(cè)現(xiàn)多采用比重法或X射線熒光光譜法，但這些方法都存在著一定條件的局限性。如比重法對(duì)于選用與金比重相近的金屬做成的合金首飾或包金、鍍金首飾的檢測(cè)就難以得到準(zhǔn)確的檢測(cè)結(jié)果。使用X射線熒光光譜法檢測(cè)金銀首飾則要求被測(cè)樣品在形態(tài)、大小、厚度、表面光潔度等物理形態(tài)盡可能與標(biāo)準(zhǔn)樣品一致，實(shí)際上難以做到。同時(shí)還受試樣裝載方式的影響，通常采用的鉛底托裝載試樣，由于鉛底托裸露面積的不同及與X射線管距離不一致產(chǎn)生測(cè)量強(qiáng)度的變化，加之鉛底托本身及雜志元素的散射，使測(cè)量結(jié)果不能完全反映實(shí)際被測(cè)金銀首飾的真實(shí)散射強(qiáng)度，引起較大的測(cè)量誤差。
鑒于上述存在的問(wèn)題，本實(shí)用新型的目的就是要提供一種不受金銀首飾的形狀、大小、厚度、表面光潔度及裝樣方式的影響，可以準(zhǔn)確檢測(cè)金銀首飾的純度，用于X射線熒光光譜儀檢測(cè)金銀首飾的式樣裝載托架，透空樣品盒。
為了達(dá)到上述目的，本實(shí)用新型的技術(shù)解決方案是根據(jù)X射線熒光光譜法檢測(cè)金銀首飾時(shí)，散射強(qiáng)度與形態(tài)，大小、厚度、表面光潔度的關(guān)系，設(shè)計(jì)了專門(mén)用于金銀首飾檢測(cè)的透空樣品盒，并通過(guò)各種不同純度、不同物理形態(tài)的金銀標(biāo)準(zhǔn)樣品進(jìn)行X射線熒光光譜法透空測(cè)量及數(shù)學(xué)參數(shù)法加以校正，以此做為基準(zhǔn)用于金銀首飾的檢測(cè)。透空樣品盒由不銹鋼盒體，彈簧墊圈、聚四氟乙烯透射環(huán)、鐵質(zhì)面罩及盒蓋組成。其中墊圈、透射環(huán)、面罩及盒蓋中間都開(kāi)有透空?qǐng)@孔。檢測(cè)時(shí)，將彈簧墊圈放于盒體中，透射環(huán)放于彈簧墊圈上，金銀首飾放于透射環(huán)上，并暴露部分于園孔中，加上面罩(如飾物鑲嵌有寶石，用面罩將寶石部分蓋住不露于園孔中)，旋緊盒蓋，使金銀首飾固定住，然后放于X射線熒光光譜儀中樣品測(cè)量照射位置進(jìn)行測(cè)定。測(cè)定結(jié)果通過(guò)事先輸入儀器計(jì)算機(jī)的數(shù)學(xué)參數(shù)校正值進(jìn)行校正后，輸出測(cè)定結(jié)果。
對(duì)于包金，鍍金或表面純金修飾后的K金等非均勻性金銀首飾，可采用本實(shí)用新型與比重法聯(lián)合測(cè)量技術(shù)，并在本實(shí)用新型修正比重法計(jì)算公式的基礎(chǔ)上，通過(guò)測(cè)量校正，克服了單一方法計(jì)算的盲目性，提高了檢測(cè)數(shù)據(jù)的可靠性。
由于本實(shí)用新型采用了透空樣品盒代替了鉛底托裝載試樣，使用透照射測(cè)量和數(shù)學(xué)參數(shù)校正方法，較好地克服了被測(cè)試樣的不同形態(tài)、大小、厚度、表面光潔度和裝樣方法的影響，使被檢測(cè)的金銀首飾金等元素的濃度與相對(duì)測(cè)量強(qiáng)度之間具有良好的線性關(guān)系，提高了測(cè)量的準(zhǔn)確度，并具有無(wú)損傷、快速的優(yōu)點(diǎn)。采用本實(shí)用新型不僅可以檢測(cè)各種均勻性的K金首飾(如市售的24K，22K，20K，18K，14K等金飾品)，而且與比重法結(jié)合進(jìn)行檢測(cè)也可測(cè)定包金、鍍金或表面純金修飾后的K金首飾。用本實(shí)用新型對(duì)24K，18K，14K金首飾檢測(cè)結(jié)果，其檢測(cè)精密度分別達(dá)到0.06％，0.26％，0.52％。
附

圖1是透空樣品盒剖面示意圖
以下結(jié)合附圖1對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步的說(shuō)明。
圖中1－透空樣品盒盒體；2－彈簧墊圈；3－聚四氟乙烯透射環(huán)；4－鐵質(zhì)面罩；5－盒蓋。
透空樣品盒盒體1底部開(kāi)有兩園形透氣孔，進(jìn)行金銀首飾檢測(cè)時(shí)，將彈簧墊圈2放于盒體1中，再將中間開(kāi)有園孔的聚四氟乙烯透射環(huán)3放于墊圈2上，卡在彈簧圈中，把需檢測(cè)的金銀首飾放于透射環(huán)3上，將X射線照射的部分露于園孔中，蓋上中間開(kāi)有園孔的面罩4，旋上盒蓋5(如金銀首飾鑲有寶石，寶石部分用面罩遮蓋住)，將樣品盒放于X射線熒光光譜儀自動(dòng)換樣機(jī)上，啟動(dòng)DF－350B數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)和自編程序，進(jìn)行自動(dòng)分析、校正。八分鐘后，由打字機(jī)一次輸出6個(gè)試樣檢測(cè)結(jié)果。
采用本實(shí)用新型對(duì)不同K金測(cè)定結(jié)果見(jiàn)表1。
表1不同K金測(cè)定結(jié)果對(duì)照(％)－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－樣品純Au 24K 20K 18K14K 成色值99.999 99.99 83.33 75.0058.33 本實(shí)用新型99.999 99.97 83.31 74.7557.92 測(cè)定值－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－
采用本實(shí)用新型與比重法聯(lián)合檢測(cè)非均勻性金首飾，并與單一的X射線熒光光譜法(XRF)及比重法進(jìn)行比較，測(cè)定結(jié)果見(jiàn)表2。
表2聯(lián)測(cè)法與單一法測(cè)定結(jié)果對(duì)照(％)－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－樣品XPF比重法聯(lián)測(cè)法參考值1 99.95 99.4299.91 99.9 2 65.78 36.6339.99 40.0 3 48.90 21.7718.92 18.914 80.383.2380.31 80.0－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－從以上測(cè)定數(shù)據(jù)可以看出采用本實(shí)用新型及比重法聯(lián)合檢測(cè)所得到的各種金銀首飾的檢測(cè)結(jié)果都具有好的準(zhǔn)確度。
權(quán)利要求1.一種用于X射線熒光光譜儀無(wú)損檢測(cè)金銀首飾的透空樣品盒，包括盒體、彈簧墊圈、透射環(huán)、面罩及盒蓋，其特征在于彈簧墊圈放于盒體中，透射環(huán)放于墊圈上，面罩放于透射環(huán)上，盒蓋與盒體通過(guò)螺口相連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的透空樣品盒，其特征在于，彈簧墊圈、透射環(huán)、面罩及盒蓋中間都開(kāi)有透空?qǐng)@孔。
專利摘要本實(shí)用新型是一種用于X射線熒光光譜儀無(wú)損檢測(cè)金銀首飾的裝載試樣的透空樣品盒。由盒體、彈簧墊圈、透射環(huán)、面罩及盒蓋組成。其中墊圈、透射環(huán)、面罩及盒蓋中間都開(kāi)有透空?qǐng)A孔。需檢測(cè)的金銀首飾放于面罩下，露于圓孔中，用盒蓋旋緊固定，放于X射線熒光光譜儀自動(dòng)換樣機(jī)上，進(jìn)行自動(dòng)分析測(cè)定。
文檔編號(hào)G01N23/22GK2208704SQ93206379
公開(kāi)日1995年9月27日 申請(qǐng)日期1993年3月19日 優(yōu)先權(quán)日1993年3月19日
發(fā)明者陳永君, 鄧賽文, 梁國(guó)立 申請(qǐng)人:地質(zhì)礦產(chǎn)部巖礦測(cè)試技術(shù)研究所