專利名稱：照片處理機用的光學檢測裝置的底片檢測方法
技術領域：
本發(fā)明涉及利用照片處理機中的光學裝置的底片檢測方法。
在照片印相裝置等的照片處理機中設置用于檢測處理機內插入底片的光學系統(tǒng)的底片檢測裝置，以便在檢測出底片插入時根據該信號啟動其它的自動機器。
在使底片檢測裝置動作的情況下，用預先顯影過的底片進行動作基準的調整從而設定合適的電平。該調整是在沒有底片情況下的電平和有調整底片情況的檢測電平的中間進行的，在裝置出廠時或維護檢修時由維修人員進行這樣的調整。
然而，上述已有的檢測方法由于是用顯影過的底片確認有無底片的方法，所以必須有顯影過的底片，調整麻煩，特別是在設置多個底片檢測裝置時必須要逐個調整，因而很費時間。
并且，在根據顯影過的底片進行靈敏度調整時，應使用密度最小的底片進行電平調整，但在錯誤地用密度大的底片調整時，則在實際檢測底片時就不能檢測密度小的底片，照片印相裝置整體就會發(fā)生錯誤動作，引起故障的發(fā)生。
而且，即使最初正常地進行調整，由于時效的作用也會使動作基準狀態(tài)緩慢地改變，往往也不能發(fā)現(xiàn)檢測裝置上附著污物的情況。
本發(fā)明的課題是注意到由上述已有的底片檢測裝置的底片檢測方法的現(xiàn)狀，提供在不用底片的條件下也能確實地檢測有無底片、沒有麻煩的人工調整作業(yè)、能防止因錯誤設定的檢測機構引起的誤動作的底片測檢方法。
作為解決上述課題的手段，本發(fā)明的照片處理機用的光學檢測裝置的底片檢測方法是這樣構成的，即用受光機構接受從照片處理機中處理工藝的底片檢測位置上所設置的光學底片檢測裝置的發(fā)光機構來的光并檢測有無底片時，使檢測裝置相對于控制機構引起的有無底片的判定基準值而變化，以便使受光機構的輸出電平超過該值，使該輸出電平與判定基準值相比具有規(guī)定的富裕度地設定上述檢測裝置，從而不用底片就能檢測有無底片。
這時，上述富裕度由使用的底片檢測裝置的靈敏度特性決定。
在上述任何一種底片檢測方法中，在上述受光機構的輸出電路上設置判定基準值可變機構，由此按上述規(guī)定的富裕度增加設定基準值，使發(fā)光機構的光通量增大直至達到該增加基準值，在超過基準值的瞬間狀態(tài)使設定發(fā)光機構后的上述可變機構的基準值返回初期值，從而形定在發(fā)光機構上附加上述規(guī)定的富裕度的方法。
作為其它的方法，也可以更增大地設定發(fā)光機構的光量，以便通過上述控制機構使發(fā)光機構的光量增大，對于超過判定基準值的瞬間的光通量形成規(guī)定富裕度。
或者，也可以通過上述控制機構使受光機構的增益增大，相對于超過判定基準值的瞬間增益增加設定上述規(guī)定富裕度的增益值。
而且，也可以讀取對應于上述發(fā)光機構任意狀態(tài)的光通量的感光機構的輸出電平，將對應該讀取值并按規(guī)定比例減小的值作為判定基準值而存儲。


圖1是第一實施例全部控制電路的概要方框圖2是說明上述底片檢測方法作用的流程圖；圖3是第一和第四實施例作用的說明圖；圖4是第二實施例全部控制電路的概要方框圖；圖5是說明上述底片檢測方法作用的流程圖；圖6是第三實施例全部控制電路的概要方框圖；圖7是說明上述底片檢測方法作用的流程圖；圖8是第四實施例全部控制電路的概要方框圖；圖9說明上述底片檢測方法作用的流程圖。
下面，參照附圖1說明該發(fā)明的實施例。
圖1作為一例是控制照片印相機的光學底片檢測裝置電路的概要方框圖。電子控制電路10附設有顯示器11和鍵盤12，顯示器11顯示底片檢測裝置的檢測狀態(tài)等信息，鍵盤通過鍵的操作，即使人工操作也能復核檢測狀態(tài)。
電子控制電路10省略了圖示，但該電路是控制照片印相機的底片輸送裝置、導軌、掃描機構、曝光用光源、調整濾光器等種種功能部的電子控制電路，在該控制電路內還內裝著下述底片檢測裝置的控制程序。
通常在由電子控制電路10驅動照片印相機的操作開始時或某一定時間的間隔內用被設定的定時器(圖示省略)控制光學底片檢測裝置的動作或設定動作，但也能如上所述，用上述鍵盤通過人工操作控制這些動作。
13是輸入輸出接口，14是總線電路，15是RAM(隨機存取存儲器)，16是ROM(只讀存儲器)，17是CPU(中央運算處理機)。
光學底片檢測裝置由一對例如用LED發(fā)光二極管的發(fā)光元件1a和用Pin-PD點接觸型二極管的受光元件2a構成，它們被設置在照片相機的各個位置上。通過圖中1n和2n的組合顯示著這些多對底片檢測裝置。
上述發(fā)光元件1a…1n是由D/A變換電路3將電子控制電路10的數(shù)字控制信號變換成模擬信號，再根據這些信號通過恒流電路4來控制的。
用輸入電路5分別處理受光元件2a…2n的受光信號并傳送到電子控制電路10，同時在途中用比較電路6將該受光信號的輸出電平與基準電壓發(fā)生電路7的基準電壓相比較，然后將該比較信號(H(高)或L(低))送到電子控制電路10。在基準電壓發(fā)生電路7內根據電子控制電路10的信號產生基準電壓。
通過以上所述的控制電路，用光學底片檢測裝置的底片檢測方法如下述那樣地檢測底片。
首先，如上述那樣地進行人工操作時，通過操作鍵盤12開始圖2的流程動作。又，在全自動裝置時，通過鍵操作選擇照片印相機的開始作業(yè)點檢測模式，同時開始動作。當動作開始時，在步驟S1首先因為底片檢測裝置的發(fā)光元件1和受光元件2之間不能遮光，所以使底片檢測裝置從底片上移動。該移動由圖示省略的移動機構進行。或者也可以在底片插入的狀態(tài)使底片后退，變?yōu)榉钦诠鉅顟B(tài)。
在步驟S2中，通過電子控制電路10的指令，使基準電壓發(fā)生電路7的基準電壓設定值暫時提高。在本實施例中，該提高的電壓比原來的標準值提高20％，但也不一定非提高20％，在將底片插入檢測裝置遮光時可以使底片檢測裝置的電壓減少50-60％左右，也可以由使用的底片檢測裝置的靈敏度特性來決定。在下面其它實施例中全都將該數(shù)值取為20％或80％。
然后，在步驟S3中復核受光元件2的輸出電壓電平是否是H(高)。若不是H，則在步驟S4中使發(fā)光元件1的電流值上升，增大發(fā)光元件1a的發(fā)光強度，直至使上述輸出電壓從L(低)變?yōu)镠。這時，H、L是有下述含義。即，如圖3所示，適宜設定感光元件1的基準電壓(標準值)，設超過此基準電壓值的狀態(tài)為H、不超過的狀態(tài)為L，H對應無底片，L對應有底片的狀態(tài)。因而，在步驟S2中，使基準電壓提高時，相對于該調整的基準電壓，判斷受光元件2的輸出電壓電平是否是H、L。
當受光元件2的輸出電壓是H時，這時在步驟S5使發(fā)光元件1的電流減少，使發(fā)光元件1的光通量減少直至受光元件2的輸出電壓變?yōu)長。在步驟S6中，當受光元件的輸出電壓變?yōu)長時，按對應此時發(fā)光量的電流值設定發(fā)光元件1(在該狀態(tài)固定電流值)。
這時，設定發(fā)光元件1的電流值，使其不是與原來的基準電壓、而是與增大的調整基準電壓相對應的值，使電流值上升，直至受光元件2的輸出電壓變?yōu)镠，這樣就能排除底片檢測裝置滯后特性的影響，在受光元件2的輸出電壓減少側的特性曲線上檢測出從H變?yōu)長的點。
然后，在步驟S7使受光元件基準電壓值返回原來的設定值。因此，應該確認以下事項。
用底片檢測裝置檢測出有無底片時，將底片插入在底片檢測裝置期間由受光元件2感受發(fā)光元件1的光，但在該實施例中，所感受到的光通量由于插入底片而遮光，在底片密度小的情況下減少50-60％左右。
另外，若如已有技術那樣與發(fā)光元件1的設定相對應的受光元件2的輸出電壓設定成初期設定的基準電壓(標準值)，在1年，2年和長時間每日地使用底片檢測裝置時由于時效影響使各元件的動作狀態(tài)變化，作為一個極端的例子，是受光元件2側的基準電壓相同，但發(fā)光元件1的發(fā)光量減少相當多。
在這樣的情況下，如已有技術那樣，通常利用人工調整發(fā)光元件1的發(fā)光量，但這樣的調整極其麻煩且費時工夫。并且，因錯誤調整而使基準電壓值變大并在下次檢測時，即使沒有插入底片，輸出電壓也變成在基準電壓以下，產生輸出有底片信號的誤動作。
本實施例在沒有插入底片的狀態(tài)，一定要設定發(fā)光元件1的發(fā)光量，以便使受光元件2輸出比基準電壓大規(guī)定比例的輸出電壓，所以能防止錯誤動作。
在這種情況下，上述增大的比例值在20％附近是適當?shù)?，相反若大?0％左右就過度，由于插入底片時光的透過量減少50-60％，使受光元件2的輸出電壓超過基準電壓電平，所以在插入底片時也會發(fā)生無底片的檢測信號，產生誤動作。
與此相反，若設上述富余值為10％以下，由時效變化而引起的影響不能忽視，所以考慮到各種經驗的判斷，把富裕值選為20％左右。
歸納以上所述，在底片檢測裝置的發(fā)光元件1和受光元件2之間沒有插入底片的狀態(tài)，使發(fā)光元件1的電流值從低電平開始增大，認定上述電流值以便使受光元件2的輸出電壓超過調整基準電壓，使受光側的基準電壓返回原來的規(guī)定值，所以即使沒有底片時也能檢測出有無底片插入，然后實際插入底片，該插入在途中變?yōu)闆]有時，與此相對應，也能確實地得知底片是否插入。
在上述檢測作用下，即使因時效變化使基準電壓的設定值從當初制造底片檢測裝置的設定值下降時，底片檢測裝置在通常操作開始之前必須進行上述設定的調整，然后進行通常的操作。因而，即使在每次的設定調整時基準電壓都緩慢地下降，也應與該下降的基準電壓相對應地提高20％的調整基準電壓，再與該電壓相對應地設定發(fā)光元件1的電流值。因此，雖然底片檢測裝置的操作電壓變化，但由于是以基準電壓為中心通過判斷是否超過該值來檢測有無底片的，所以完全沒有影響。
圖4是第二實施例全部控制電路的概要方框圖。在該實施例中，沒有設置第一實施例的比較電路6和基準電壓發(fā)生電路7。其它相同功能的構件都用同一符號表示并省略其說明。
在該實施例中，變更電子控制電路10內程序的一部分以代替上述2個省略的構件。
如圖5所示，在步驟S12中，與步驟S3情況相同地復核受光元件2的輸出電壓是否是H，但這時不變動檢測受光元件輸出電壓是否超過基準電壓時的基準電壓，而是通過在電子控制電路10內復核成為預先設定值的電壓值，判斷上述輸出電壓是否是H。
因而，步驟13、步驟14與步驟S4、S5相對應。步驟S15也基本上與步驟S6相同，只有一點不同，即判斷基準是當初的設定基準電壓。
而且，在步驟S16使發(fā)光元件1的電流設定值上升。該電流的設定值是用計算機檢測與上述設定基準電壓相對應的發(fā)光元件1的電流值，使該值上升20％。由此和第1實施例相同，能以設定基準電壓為中心使發(fā)光側的設定處在比規(guī)定比例大的狀態(tài)，即使設定基準電壓因時效變化等引起變化時，由于對于變化了的基準電壓設定發(fā)光側，所以完全沒有影響。
圖6是表示第三實施例全部控制電路的概要結構方框圖。在該實施例中，省略了D/A變換電路3，恒電流電路4、輸入電路5、比較電路6和基準電壓發(fā)生電路7，所示不同點是為了代替這些而在受光元件2的輸入側和電子控制電路10之間設置著放大電路8。
這時，電子控制電路10通常由微型計算機組成，信號全是數(shù)字，但發(fā)光元件1、受光元件2由模擬信號驅動，當然在發(fā)光側設置D/A變換電路、信號放大驅動電路，在受光側設置A/D變換電路，但由這些由于在實施本發(fā)明底片檢測方法方面僅使操作狀態(tài)積極地變化而對底片檢測方法沒有直接影響，所以省略了圖示。就這一點來說采用在所有實施例都相同的圖示方法。
在該實施例中，通過使放大電路8的增益變化，根據圖7的流程圖實施本發(fā)明的底片檢測方法。在步驟S22，和第三實施例相同地，將由放大電路8輸送的受光元件2的輸出電壓與在電子控制電路內設定的基準電壓信號作比較，檢測是否是超過基準值的H，使放大電路的增益增大，使輸出電壓變大直至變成H為止(S23)。
一旦輸出電壓變?yōu)镠，相反就使增益減少，在電子控制電路10讀取輸出電壓變成L時的放大電路8的增益值，將與該讀取值相對應的輸出電壓值作為基準電壓并存儲該值，在新的放大電路8中設定比該讀取值大規(guī)定比例的增益值。這時的規(guī)定比例也和第一實施例相同，是20％左右。
而且，增加設定放大電路8的增益，即使受光量相同，受光元件2的輸出電壓也比規(guī)定比例大。這就意味著具有和使發(fā)光元件1的發(fā)光量增大的作用相同的效果。因而，和在發(fā)光元件1側給與富裕度的第一或第二實施例相同，在沒有底片時確實進行調整底片檢測裝置的操作。
圖8是表示第四實施例全部控制電路概要的方框圖。在實施例中僅設置A/D變換電路9，通過該電路9和電子控制電路10實施本發(fā)明的底片檢測方法。
在步驟31，和第一實施例的S1相同地進行底片檢測裝置的非遮光移動，在步驟32讀取A/D變換電路的輸出數(shù)據，將這讀取數(shù)據作為基準值，在步驟33使讀取數(shù)據按規(guī)定比例降低并將該降低值存儲在RAM15中。該規(guī)定比例相對基準值在本實施例設成80％，但也可以是80％左右，這和其它實施例相同。
圖3(b)表示利用上述底片檢測方法的有無底片的檢測方法。如圖所示，對于A/D變換電路9的輸出數(shù)據的讀取值，然后在實際的底片有無的判斷時，在沒有插入底片的情況測定電壓一定比存儲基準值高(H)則就判斷無底片，當?shù)灼迦霑r使光通量減少，使測定電壓比存儲基準值低(L)，則就判斷有底片。即，測定電壓對存儲基準值有20％的富裕度。
如以上詳細說明的那樣，本申請的第一發(fā)明的底片檢測方法由于使檢測裝置變化并使受光機構的輸出電平超過判定基準值，從而檢測裝置具有規(guī)定的富裕度，因此不用底片就能檢測有無底片，具有不用麻煩的手工調整作業(yè)且能防止誤操作的優(yōu)點，可以不受底片濃淡的限制而確實地檢測有無底片。
在第二發(fā)明中，利用受光側的判定基準值可變機構使發(fā)光機構的光通量增大，使對應于增大了基準值的電平所設定發(fā)光機構后的基準值返回原來狀態(tài)，給與發(fā)光機構規(guī)定的富裕度，所以通過附加簡易的機構就能確實地檢測有無底片，在沒有麻煩的人工調整作業(yè)的同時也能防止誤操作，從而也可以降低成本。
第三發(fā)明具有與第二發(fā)明的不同式樣，通過控制電路給與發(fā)生光機構以規(guī)定的富裕度，所以這時也能以經濟成本得到與第二發(fā)明同樣的效果。
第四、第五發(fā)明是通過在感光側的電路設置可變機構給與發(fā)光機構以規(guī)定的富裕度和得到同樣效果的方法，與第二、第三發(fā)明相比更能以簡易、經濟的成本得到同樣的效果。
權利要求
1.一種照片處理機用的光學檢測裝置的底片檢測方法，其特征在于，在利用受光機構接受在照片處理處中處理工藝的底片檢測位置所設置的光學底片檢測裝置的發(fā)光機構產生的光并檢測有無底片時，使檢測裝置相對于控制機構引起的有無底片的判定基準值變化，以便使受光機構的輸出電平超過該值，使該輸出電平與判定基準值相比具有規(guī)定的富裕度地設定上述檢測裝置，這樣不用底片就能檢測出有無底片。
2.如權利要求1所述的照片處理機用的光學檢測裝置的底片檢測方法，其特征在于，在上述受光機構的輸出電路上設置判定基準可變機構，通過該機構以上述規(guī)定的富裕度增加設定基準值，使發(fā)光機構的光通量增大直至達到該增加的基準值，在超過基準值的瞬時狀態(tài)，使設定發(fā)光機構后的上述可變機構的基準值返回初始值，這樣就能給與發(fā)光機構以上述規(guī)定的富裕度。
3.如權利要求1所述的照片處理機用的光學檢測裝置的底片檢測方法，其特征在于，通過上述控制機構使發(fā)光機構的光通量增大，更增大地設定發(fā)光機構的光通量，以便超過判定基準值的瞬間的光通量達到規(guī)定的富裕度。
4.如權利要求1所述的照片處理機用的光學檢測裝置的底片檢測方法，其特征在于，通過上述控制機構使受光機構的增益增大，對于超過判定基準值的瞬間增益值，增加設定上述規(guī)定的富裕度的增益值。
5.如權利要求1所述的照片處理機用的光學檢測裝置用的底片檢測方法，其特征在于，讀取對應于上述發(fā)光機構任意狀態(tài)的光通量的受光機構的輸出電平，將對于該讀取值并按規(guī)定比例減小的值作為判定基準值并存儲。
全文摘要
一種照片處理機用的光學檢測裝置的底片檢測方法，其特征在于，在利用受光機構接受在照片處理中處理工藝的底片檢測位置所設置的光學底片檢測裝置的發(fā)光機構產生的光并檢測有無底片時，使檢測裝置相對于控制機構引起的有無底片的判定基準值變化，以便使受光機構的輸出電平超過該值，使該輸出電平與判定基準值相比具有規(guī)定的富裕度地設定上述檢測裝置，這樣不用底片就能檢測出有無底片。
文檔編號G01V8/12GK1148693SQ95102920
公開日1997年4月30日 申請日期1995年2月10日 優(yōu)先權日1994年2月10日
發(fā)明者江原拓志 申請人:諾日士鋼機株式會社