專利名稱：降低對產(chǎn)品間有偏差的電子功能進行調(diào)整所需時間的方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及調(diào)整離開裝配線的產(chǎn)品中所實現(xiàn)的功能—尤其是電子功能—的方法。特別是，本發(fā)明涉及使能在對制成的產(chǎn)品的特性進行盡量少的測量的基礎(chǔ)上對產(chǎn)品進行快速調(diào)整的方法。本發(fā)明將特別應(yīng)用于無線電話，如GSM型的終端。
當大批生產(chǎn)部件時，在離開裝配線時它們不可能絕對相同。測試顯示出它們之間在特性上存在一定的偏差。只有那些特性位于一個預(yù)定值范圍內(nèi)的部件被認為符合任何給定的質(zhì)量標準。任何生產(chǎn)過程可由一個性能因數(shù)Cp定義，它表示此過程生產(chǎn)在已設(shè)定容許極限內(nèi)的部件的能力。
一批電子產(chǎn)品，如無線電話，由于所用元件的容差，所以在工作特性上也表現(xiàn)出偏差，因此有必要對這些產(chǎn)品進行調(diào)整，或至少對那些不滿足預(yù)定質(zhì)量標準的產(chǎn)品進行調(diào)整。這種調(diào)整可能是修改一個模擬功能中的校正參數(shù)，如調(diào)整一個電位器，或在一個數(shù)字功能中，如改變隨機存取存儲器(RAM)中的值。
在大多數(shù)情況下，可修改的校正參數(shù)校正發(fā)生在此處上游或發(fā)生在它的直接環(huán)境中的偏差；較少情況下它校正出現(xiàn)在下游的偏差。

圖1表示一個將利用此處下游的校正級11得以調(diào)整的電子級10。
為使調(diào)整可以執(zhí)行，一個激勵加到電子級10的輸入端，電子級10呈現(xiàn)由一個偏差函數(shù)Fd表示的偏差。電子級10執(zhí)行一個功能，如壓控振蕩器或濾波器輸出一個響應(yīng)E1，其中E1＝Fd(E)，它是將被調(diào)整的響應(yīng)。響應(yīng)E1加到校正級11，該級執(zhí)行一個校正函數(shù)Fc。更確切地，F(xiàn)c是一個表示對將要補償?shù)暮瘮?shù)F中的一個參數(shù)P進行校正的動作的函數(shù)。F表示總函數(shù)Fc·Fd。校正級11的響應(yīng)寫為S＝Fc(P，E1)＝F(E)。調(diào)整在于修改參數(shù)P以補償函數(shù)F。響應(yīng)S可作為校正級11的輸出直接測量，或在經(jīng)過校正級11下游的一個“中性”級(但不會在所分析的功能中引起偏差)后測量。
圖2給出了對已被調(diào)整的功能進行測量的性能曲線20的圖形曲線20是一個位于范圍[Smin，Smax]內(nèi)的高斯曲線或正態(tài)分布曲線，其中Smin和Smax分別表示最小和最大閾值。橫坐標對應(yīng)函數(shù)F的實際測量值M，縱坐標表示已調(diào)整的產(chǎn)品數(shù)量Q。曲線20不一定以(Smin＋Smax)/2為中心。
一個調(diào)整的復(fù)雜形式在于使用調(diào)整算法來測量一個產(chǎn)品對于不同激勵的響應(yīng)，并校正存儲于產(chǎn)品中的數(shù)字值，以使它的響應(yīng)對應(yīng)最佳值。第一次測量是對于與此功能相關(guān)的校正級中所存儲的一些任意參數(shù)進行的。因此第一次測量很少是最優(yōu)的，逐步修改校正參數(shù)以尋找一個最佳響應(yīng)。這種調(diào)整方法在時間上代價是很高的，本發(fā)明的一個目的是消除這個缺點。
更確切地，本發(fā)明的目的之一是提供一種使能對一組產(chǎn)品中所實現(xiàn)的、在不同產(chǎn)品間有偏差的電子功能進行快速調(diào)整的方法。
這個目的及以下其它目的，通過調(diào)整一個產(chǎn)品中實現(xiàn)的電子功能的方法來達到，這個產(chǎn)品構(gòu)成了一組將被調(diào)整的產(chǎn)品的一部分，所述電子功能在產(chǎn)品之間具有偏差，所述方法在于用一個校正參數(shù)替換存儲于同所述電子功能相結(jié)合的偏差校正級中的初始參數(shù)，以使所述功能和所述校正級對一向其施加的預(yù)定輸入激勵的組合響應(yīng)處于一個預(yù)定范圍內(nèi)，這種方法的特征在于所述初始參數(shù)是一個與用于所述功能的校正參數(shù)性能曲線的平均值相應(yīng)的中間參數(shù)，當所述測量位于所述預(yù)定范圍之外產(chǎn)品的數(shù)量的百分比大于預(yù)定百分比時，所述平均值自身進行更新。
這樣，一組產(chǎn)品的調(diào)整包括一個基本的第一步，它在于存儲將在各校正級中被校正的功能的中間參數(shù)，這一步在進行任何測量之前完成。大部分電子功能將給出位于預(yù)定范圍內(nèi)的響應(yīng)，因此調(diào)整是不必要的。
在一種最佳實施方式中，本發(fā)明的這種方法進一步在于對于所述一組產(chǎn)品的一部分，把位于所述預(yù)定范圍之外的每個測量值存儲到與相應(yīng)校正參數(shù)相關(guān)聯(lián)的一張表中，所述測量值構(gòu)成“參考”測量值；并且對于所述一組產(chǎn)品的其余部分，當執(zhí)行的測量位于預(yù)定范圍之外時，檢驗是否在所述表中存在一個參考測量值，它實際上在一個相差小正數(shù)范圍內(nèi)等于所述測量值，如果是這樣，用與所述相應(yīng)參考測量值相關(guān)聯(lián)的校正參數(shù)替換所述中間參數(shù)。
這樣，這些步驟相當于得到對多個特定產(chǎn)品的測量值，并且如果它們位于預(yù)定范圍之外，則將每個測量值和校正它偏差的相應(yīng)參數(shù)存儲在一起(以使在進行校正后，測量值位于預(yù)定范圍內(nèi))。這樣就建立起一張表，它包含對應(yīng)于每個位于預(yù)定范圍之外的測量值的校正參數(shù)，并稱之為“參考”測量值。此后，當進行的測量位于預(yù)定范圍之外時，表中最接近所進行測量(在相差一個小正數(shù)的誤差范圍內(nèi))的參考測量值被選中，以便用與所述參考測量值相關(guān)聯(lián)的參數(shù)替換中間參數(shù)。
于是認為，如果一個被調(diào)整的特定電子功能和它的校正級產(chǎn)生一個位于一定范圍之外的響應(yīng)，則另一產(chǎn)品給出的相似的響應(yīng)將需要用相同的方法校正，這就在相當大程度上節(jié)省了調(diào)整所需的時間。
在一個最佳實施方式中，本發(fā)明的方法在于用一個校正參數(shù)替換中間參數(shù)以使功能對于對其施加的一個預(yù)定輸入激勵的響應(yīng)位于預(yù)定范圍的中部。
這就相當于在一個校正參數(shù)可能變化的范圍所設(shè)定的界限內(nèi)尋找一個最佳響應(yīng)。
一旦一個中間參數(shù)被與參考測量值相關(guān)聯(lián)的參數(shù)所替換，最好進行一次進一步的測量以確保電子功能現(xiàn)在對于預(yù)定激勵的響應(yīng)位于預(yù)定范圍內(nèi)。
通過閱讀下面以無限制形式說明所給出的一個最佳實施方式并參考附圖，可以看出本發(fā)明的其它特點和優(yōu)點，其中圖1表示一個將由位于其下游的校正級調(diào)整的電子級；圖2是一個對已調(diào)整的產(chǎn)品進行的功能測量的性能曲線；圖3是一個調(diào)整參數(shù)的性能曲線；圖4表示出當在每個校正級中設(shè)定中間參數(shù)時所進行測量的性能曲線；
圖5表示當校正參數(shù)在最小值和最大值之間變化時，對響應(yīng)于此的三個產(chǎn)品的采樣所測得響應(yīng)的變化；圖6是一張表，其中位于容差范圍之外的測量值和相應(yīng)的校正參數(shù)存儲在一起。
圖1和圖2參考現(xiàn)有技術(shù)得以描述。
圖3是一個調(diào)整參數(shù)的性能曲線30。曲線30是高斯曲線，將被調(diào)整產(chǎn)品的數(shù)量Q表示為參數(shù)P取值的函數(shù)。參數(shù)P可在最小參數(shù)Pmin和最大參數(shù)Pmax之間取值。例如，如果參數(shù)是一個四位編碼的數(shù)字值，Pmin是0000，Pmax是1111。曲線30有一個平均值PC，PC稱作“中間參數(shù)”。下面等式表示PC=1NΣi=1NPi]]>其中N是所考慮的參數(shù)的數(shù)目。
第一步中，功能調(diào)整在于在調(diào)整之前設(shè)定每個產(chǎn)品中的PC值(P＝PC)。然后，將一個預(yù)定的激勵(頻率，電壓，衰減)加到要被校正的功能上，并測量所述功能的響應(yīng)。
圖4是與要調(diào)整的電子功能相關(guān)聯(lián)的測量值的性能曲線，而校正級中所包含的校正參數(shù)仍然是這個功能的校正參數(shù)的最佳性能曲線的平均值PC。
實際測量得到的測量值性能曲線標為40，而使用良好校正參數(shù)的測量值最佳性能曲線標為41?？梢钥闯鋈绻鸓C在每個校正級中用作參考值，因為元件的偏差，得到的響應(yīng)位于范圍[Smin，Smax]之外，雖然許多產(chǎn)品給出的響應(yīng)的確處于所述范圍之外。
由于對那些響應(yīng)已經(jīng)滿意，就不必再進行搜索以得到最佳響應(yīng)，這可以減少調(diào)整時間。
在初始步驟把所述功能的性能曲線的平均值保存在每個校正級后，本發(fā)明提出了進一步的步驟測量該組產(chǎn)品中一部分的響應(yīng)，然后保存一張表，表中位于預(yù)定范圍之外的每個測量值與相應(yīng)的校正參數(shù)相關(guān)聯(lián)。這些在預(yù)定范圍之外的測量值構(gòu)成“參考”測量，它們既可以用于調(diào)整其它產(chǎn)品的功能，又可用于更新PC值。這樣，對隨后每一個在預(yù)定范圍之外的測量值，可以查詢該表來找到與該隨后測量值最接近(在相差一個小正數(shù)范圍內(nèi))的參考測量值，并將原來在功能校正級保存的中間參數(shù)替換為與參考測量相關(guān)聯(lián)的校正參數(shù)。
在閱讀下述圖5的描述時會更好地理解這個理論。圖5表示在三個產(chǎn)品采樣中所檢測到的響應(yīng)如何根據(jù)校正參數(shù)在其最小與最大值之間變化而變化。在響應(yīng)中的三個變化由標注為50，51和52的曲線給出。作為參數(shù)P的函數(shù)，含有連接到校正級的電子功能級的每個單元產(chǎn)生一個在范圍[Smin，Smax]之內(nèi)或之外的響應(yīng)。由于每個校正級最初具有保存在其內(nèi)的值PC，各個單元產(chǎn)生相應(yīng)于點53，54和55的第一個測量值。點53和55位于范圍[Smin，Smax]之外，而點54位于范圍[Smin，Smax]之內(nèi)。這樣就可能有兩種方案或者搜尋校正參數(shù)P以使該功能加上校正單元的響應(yīng)與Smin和Smax等距(在最佳值Vopt)；或者只要校正參數(shù)導(dǎo)致響應(yīng)位于范圍[Smin，Smax]之內(nèi)，就接受它們。在最佳調(diào)整方案中，對于產(chǎn)生響應(yīng)53的功能，需把PC的值減少△P53以使參數(shù)PC由參數(shù)P53代替，而對于施加到給出響應(yīng)55的功能上的校正級，則需要一個校正參數(shù)P55。
本發(fā)明提出把位于范圍[Smin，Smax]之外的各個測量值與響應(yīng)的校正參數(shù)存儲在一起。例如，對于最佳調(diào)整方案，保存與上述響應(yīng)相應(yīng)的值m53，并且把它與參數(shù)P53相關(guān)聯(lián)。這樣建立起來的表中，每個位于范圍[Smin，Smax]之外的測量值與相應(yīng)的校正相關(guān)聯(lián)。這樣的一張表如圖6所示。
圖6的表中包含多個測量值m1到mn，每個都與一校正參數(shù)P1到Pn相關(guān)聯(lián)。測量值m1到mn稱作“參考”測量值?？紤]這種情況另一個特定產(chǎn)品的電子功能受到相同的輸入激勵并產(chǎn)生響應(yīng)，該響應(yīng)在圖5中標注為56。在這種情況下，對把每個參考測量值與一個校正參數(shù)關(guān)聯(lián)起來的那張表進行搜索以找到與響應(yīng)56最接近的參考測量值。假定這個最接近的參考測量值是測量值m53，則用與參考測量值m53相關(guān)聯(lián)的參數(shù)P53替換在所考慮功能的校正級調(diào)整的參數(shù)。
當測量發(fā)生時可填寫圖6中的表若在相差一小正數(shù)誤差范圍內(nèi)在表中找到了所得的測量值，則把相應(yīng)的校正參數(shù)保存在校正級中。但是，若在一小正數(shù)范圍內(nèi)在表中未找到所得的測量值，則將測量值保存在表中，并且找出相應(yīng)的參數(shù)，例如，通過使用一種已知的調(diào)整算法，它搜索，比如說去獲得位于兩個容差閾值中間的最佳響應(yīng)。
本發(fā)明的調(diào)整算法是基于對最優(yōu)化所得的調(diào)整和最小化采樣數(shù)目的折衷，該采樣用于更新或構(gòu)造參考測量值和與之相關(guān)聯(lián)的校正參數(shù)之間的對應(yīng)表，同時還考慮了電子功能中的偏差。參考測量值數(shù)目越大并且偏差越小，調(diào)整就越接近最優(yōu)，即每個與其校正相關(guān)聯(lián)的電子功能的響應(yīng)就越接近最優(yōu)響應(yīng)Vopt。
在規(guī)則的基礎(chǔ)上更新PC的值是很重要的，例如，無論何時，與在預(yù)定范圍之外的測量值相關(guān)聯(lián)的該組產(chǎn)品數(shù)量的百分比要超過一些預(yù)定的百分比。這保證將考慮功能中的偏差。
認為測量值是可接受的容差范圍不必是有限的，例如，它可以位于一給定值和無限(直至無限大)值之間或由兩個范圍的并構(gòu)成。
在用與最接近的參考測量值相關(guān)聯(lián)的參數(shù)替代中間參數(shù)PC后，最好再進行進一步的測量以確保電子功能加上校正單元對預(yù)定輸入激勵的組合響應(yīng)的確處于預(yù)定范圍內(nèi)。
本發(fā)明的方法也可應(yīng)用于串行或并行地調(diào)整要在多個校正功能中發(fā)現(xiàn)的多個參數(shù)，可用已有的技術(shù)使其它功能對將要被調(diào)整的功能的影響最小。
并行調(diào)整參數(shù)時可采用的另一種方案在于測量功能和與之相關(guān)聯(lián)的校正在某些其它級(這些級對于要校正的偏差是中立的)的輸出上的組合響應(yīng)。例如，如果并行執(zhí)行的兩個功能級的每一個級都后接一個相應(yīng)的校正級，然后再連接到函數(shù)Fn的一個公共中立輸出級，則測量m，其中m＝Fn(m1，m2)，并且m1和m2是要校正的兩個部件的響應(yīng)。然后就可能寫出一個表把m與(m1，m2)相關(guān)聯(lián)。若對一個給定的m存在多個(m1，m2)對，則要根據(jù)與m1/p1和m2/p2表的一致性做出選擇。
本發(fā)明的方法可用于調(diào)整可在GSM類型無線電話中找到的電子功能。通常，本發(fā)明可用于補償任何能在電子或電氣設(shè)備中校正的偏差。
權(quán)利要求
1.一種用于調(diào)整某產(chǎn)品中所實現(xiàn)的電子功能(10)的方法，該產(chǎn)品構(gòu)成了要被調(diào)整的一組產(chǎn)品中的一部分，所述電子功能(10)在產(chǎn)品之間表現(xiàn)出偏差，所述方法在于把連接到所述電子功能(10)上的偏差校正級(11)中所存儲的初始參數(shù)替換成校正參數(shù)，以使所述功能(10)加上所述校正級(11)對一施加在其上的預(yù)定輸入激勵的組合響應(yīng)位于預(yù)定范圍[Smin，Smax]之內(nèi)，本方法的特征在于所述初始參數(shù)是一個中間參數(shù)(PC)，它對應(yīng)于所述功能(10)的校正參數(shù)性能曲線的平均值，無論何時，只要測量值位于所述預(yù)定范圍[Smin，Smax]之外的產(chǎn)品數(shù)量的百分比大于一預(yù)定百分比時，所述平均值(PC)就自身進行更新。
2.根據(jù)權(quán)利要求1中的方法，其特征在于對所述一組產(chǎn)品的一部分，把每個位于所述預(yù)定范圍[Smin，Smax]之外的每個測量值(m1，...，mn)存儲在一個表中，與相應(yīng)的校正參數(shù)(P1，...，Pn)相關(guān)聯(lián)，所述測量值(m1，...，mn)構(gòu)成“參考”測量值；并且對所述一組產(chǎn)品的其余部分，無論何時，當所執(zhí)行的測量位于所述預(yù)定范圍[Smin，Smax]之外時，則檢查所述表中是否存在著在相差一個小正數(shù)范圍內(nèi)基本上與所述測量值相等的參考測量值(m1，...，mn)，并且若是這樣就把所述中間參數(shù)(PC)替換為與所述相應(yīng)參考測量值(m1，...，mn)相關(guān)聯(lián)的校正參數(shù)(P1，...，Pn)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1中的方法，其特征在于把所述中間參數(shù)(PC)替換成一校正參數(shù)，使得所述功能(10)加上校正對一施加在其上的預(yù)定輸入激勵的組合響應(yīng)位于所述預(yù)定范圍[Smin，Smax]中部。
4.根據(jù)權(quán)利要求2中的方法，其特征在于無論何時，當用與所述參考測量值(m1，...，mn)相關(guān)聯(lián)的校正參數(shù)(P1，...，Pn)替換所述中間參數(shù)(PC)時，本方法在于進一步進行測量以確保所述電子功能(10)加上校正對所述預(yù)定輸入激勵的組合響應(yīng)位于所述預(yù)定范圍[Smin，Smax]之內(nèi)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1至4中任一項的方法，其特征在于它可用于調(diào)整GSM類型無線電話中所含的電子功能。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種調(diào)整產(chǎn)品中所實現(xiàn)的電子功能的方法，該產(chǎn)品構(gòu)成要被調(diào)整的一組產(chǎn)品中的一部分，所述電子功能在產(chǎn)品之間表現(xiàn)出偏差。必要時，這種方法在于用一個校正參數(shù)替換在與所述電子功能相連的偏差校正級中所存儲的初始參數(shù)，以使所述功能加上相關(guān)聯(lián)的校正級對一預(yù)定輸入激勵的組合響應(yīng)位于一預(yù)定范圍之內(nèi)。根據(jù)本發(fā)明，初始參數(shù)為一中間參數(shù)，它對應(yīng)于功能校正參數(shù)性能曲線的平均值。
文檔編號G01R31/28GK1128355SQ95107190
公開日1996年8月7日 申請日期1995年6月6日 優(yōu)先權(quán)日1994年6月6日
發(fā)明者菲利普·托蘭格雷薩 申請人:阿爾卡塔爾有限公司