專利名稱：帶有電纜樞軸的裝置測試系統(tǒng)及其安裝方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種測試電子裝置的系統(tǒng)，其中，電測頭安裝在與被測試裝置的機(jī)械手對接的位置上。具體而言，本發(fā)明涉及一種樞軸，該樞軸可與電纜連接并可隨一個可移動的測試頭一起移動。
在集成電路以及其它電子裝置的自動測試過程中，一般采用特殊的裝置機(jī)械手來定位被測試裝置。電子測試本身由一大型的、價格昂貴的自動測試系統(tǒng)來完成，該系統(tǒng)包括一個與裝置機(jī)械手相連接和對接的測試頭。該測試頭要用高速電子定時信號，這樣，電子線路必須安置在與被測試裝置盡可能近的位置上。因此，該測試頭要與電子線路緊密封裝以獲得對復(fù)雜裝置的高速測試。
一個能沿支撐結(jié)構(gòu)移動的定位器將測試頭攜至指定位置上，在那里測試頭被定位在與裝置機(jī)械手相連接和對接的位置上。該測試頭附置在該定位器上以使其可取得六度的活動空間。
這里，一個主要問題是將從包括部分自動測試系統(tǒng)的箱體當(dāng)中延伸出來的重型電纜與該測試頭相連接。由于該測試頭要移動至指定的位置處進(jìn)行定位，該重型電纜必須與該測試頭一起移動。
用于在測試頭和電纜之間提供同步運(yùn)動的常規(guī)結(jié)構(gòu)大體分為兩類電纜樞軸型和滾筒型結(jié)構(gòu)。
在滾筒型結(jié)構(gòu)中，電纜懸蕩于測試頭之下以便它可與在將測試頭重心附置在定位器上的機(jī)構(gòu)的相反側(cè)與該測試頭相連接。這一結(jié)構(gòu)免卻了電纜樞軸型方法的復(fù)雜性和昂貴費(fèi)用，但是，對于許多不同定向的測試頭來說，這一結(jié)構(gòu)使得懸于測試頭之下的電纜越過了測試頭的那一側(cè)，這樣，電纜會常常擋住測試系統(tǒng)操作者的路并且當(dāng)接口平面與地板相垂直并且大型測試頭處于低位時，測試頭與地板的距離有一定的限制。此外，滾筒型結(jié)構(gòu)要求有一條很長的電纜，因?yàn)閷δ承┒ㄏ虻臏y試頭而言，它要完全地延伸過測試頭的底部。
目前已有各式各類的電纜樞軸型結(jié)構(gòu)。在一種結(jié)構(gòu)中，其測試頭依然由定位器支撐其重心。電纜和定位器附置在測試頭相對的各端頭上。這種結(jié)構(gòu)的一個缺點(diǎn)是它不能從底下接近做得像兩只基座辦公桌一樣的水平平面機(jī)械手；該定位器在這種基座設(shè)置的地方直豎起來。
第二種樞軸型結(jié)構(gòu)將電纜穿過把測試頭附置在定位器上的機(jī)構(gòu)。這種機(jī)構(gòu)允許測試頭作樞軸運(yùn)動。通常，這種機(jī)構(gòu)包括一個通過滾珠軸承與一個外環(huán)相隔開并在該外環(huán)中旋轉(zhuǎn)的內(nèi)環(huán)。這些機(jī)構(gòu)的一個缺點(diǎn)是價格昂貴滾珠軸承本身以及將軸承座入環(huán)中的精確機(jī)械加工成本很高。
有鑒于此，本發(fā)明的一個目的就是提供一種裝置測試系統(tǒng)，它可保護(hù)把測試頭與測試系統(tǒng)相連接的電纜。當(dāng)該系統(tǒng)用于測試各類探測器和機(jī)械手時這些電纜必然有連續(xù)不斷的彎曲、扭曲以及插入和拔出。因此，這些電纜的疲勞壽命是一個重要的問題。由于制造電纜的材料的疲勞壽命隨著應(yīng)力的增加而減少，并且其施加的應(yīng)力是與產(chǎn)生彎曲或扭曲的電纜的長度成正比的，因此，本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)是控制要被彎曲或扭曲的那段電纜的長度。
另一目的在于該測試頭定位系統(tǒng)操作中的安全與方便性。其它有關(guān)的目的是提供一種可適當(dāng)?shù)卦谟糜诳山邮懿僮鞯碾娎|樞軸結(jié)構(gòu)中平衡測試頭的一種系統(tǒng)。此外，另一目的是提供一種能對接于包括形似基座書桌的探測器和機(jī)械手上并且特別是能將大型測試頭降低位置接近地板而又不使電纜觸地的系統(tǒng)。本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)在于將測試頭直接安裝在電纜樞軸結(jié)構(gòu)上。最后，本發(fā)明的一個目的是提供一種在制造上成本效益好的系統(tǒng)，特別是可免去校準(zhǔn)誤差的要求。
為達(dá)到上述目的和考慮到上述目標(biāo)，本發(fā)明提供了一種具有一個支撐結(jié)構(gòu)和能夠沿該支撐結(jié)構(gòu)移動的定位器的裝置測試系統(tǒng)。該裝置測試系統(tǒng)還包括有一個電纜樞軸殼體，該殼體限定了一個實(shí)質(zhì)上為環(huán)形的通道并且在一側(cè)有一連接結(jié)構(gòu)，以便該通道在該側(cè)部分關(guān)閉而在相對的那一側(cè)完全打開。在該殼體的通道中以可旋轉(zhuǎn)方式設(shè)置有一個單獨(dú)件的測試頭適配環(huán)。該測試頭適配環(huán)安裝在該殼體中，其安裝方法是通過該環(huán)中的一個開口將凸輪隨動件附置在該殼體上。該測試系統(tǒng)還包括一個測試頭，它附置在測試頭適配環(huán)上以使其可作樞軸運(yùn)動；一個測試箱；通過測試頭適配器環(huán)并連接于測試箱和測試頭之間的一個電纜；以及一個電纜支撐件。
應(yīng)予明確，上述的概括說明以及下面的詳細(xì)說明只是舉例，并非對本發(fā)明予以限定。
本發(fā)明可從下面的詳細(xì)說明及相關(guān)的附圖得到理解，其中

圖1A是依本發(fā)明制作的裝置測試系統(tǒng)的支撐結(jié)構(gòu)的示意圖，它顯示該系統(tǒng)的六自由度；圖1B和1C分別為沿圖1A中1B-1B以及1C-1C線剖開的剖面圖。
圖2A是一根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的測試頭適配環(huán)支撐結(jié)構(gòu)的分解圖，顯示了將測試頭附置在適配環(huán)上的一種方式。
圖2B是一由顯示附置測試頭的圖2A所示本發(fā)明實(shí)施例的測試頭適配環(huán)支撐結(jié)構(gòu)的示意圖。
圖3A-E是顯示將單獨(dú)件測試頭適配環(huán)設(shè)置在電纜樞軸殼體上的示意圖。
圖4是一根據(jù)本發(fā)明另一實(shí)施例的測試頭適配環(huán)支撐結(jié)構(gòu)的示意圖，顯示將一測試頭附置到適配環(huán)上的又一方法。
圖5是一顯示測試頭適配環(huán)支撐結(jié)構(gòu)、測試頭和環(huán)之間第三種附置實(shí)施例以及根據(jù)本發(fā)明制作的裝置測試系統(tǒng)的示意圖，以及圖6是具有偏移支撐臂的測試頭適配環(huán)支撐結(jié)構(gòu)的示意圖。
圖1A是根據(jù)本發(fā)明制作的電子裝置測試系統(tǒng)的示意圖。該系統(tǒng)大致與美國專利第4,893,074號以及4,589,815號中所述內(nèi)容相類似。
該系統(tǒng)包括有一支撐結(jié)構(gòu)(未示出)，它含有一垂直方向(圖1中Y方向)的主軸10以及定位器12。定位器12可沿著Y方向沿主軸10作垂直移動并可圍繞主軸10按θy方向旋轉(zhuǎn)。使用主鎖扣16鎖緊主鎖扣領(lǐng)套14的方式相對主軸10固定定位器12。定位器12包括一個主臂18、前臂組件20以及肘節(jié)組件22。前臂組件20在前臂安裝塊34處附置在主臂18上，以便前臂組件20能按Y方向沿主軸10作垂直移動。
前臂組件20有一垂直軸28，它按Z方向從垂直軸線位移，主軸10沿垂直軸線設(shè)置。前臂組件20按θy方向圍繞相對于主臂18的軸28旋轉(zhuǎn)。鎖扣領(lǐng)套30由肘鎖扣32啟動將前臂組件20固定在軸28上。
接下來，肘節(jié)組件22附置在前臂組件20上。肘節(jié)組件22包括有含有環(huán)形部分的肘節(jié)殼體36，垂直肘節(jié)桿38通過其設(shè)置，肘節(jié)組件22還包括有一個塊面。肘節(jié)殼體36的環(huán)形部分及其塊面可以以一個單獨(dú)的鑄模形成。垂直肘節(jié)桿38沿Z方向從軸28和主軸10移位。注意圍繞該三條分開的垂直軸10、28和38的可能的旋轉(zhuǎn)組合使測試頭56(見圖2A)沿X和Z軸線設(shè)置。肘節(jié)組件22按θy方向圍繞垂直軸38旋轉(zhuǎn)—除非被垂直肘節(jié)鎖扣40鎖定在某一位置上。
肘節(jié)組件22還可圍繞Z軸旋轉(zhuǎn)。如圖1B所示，肘節(jié)組件22還有一水平的環(huán)形部分，水平肘節(jié)桿44A通過該環(huán)形部分予以設(shè)置。水平肘節(jié)桿44A有一凸緣部分44B，它與電纜樞軸適配器46的環(huán)形凸緣端48相附接。為防止這種旋轉(zhuǎn)，水平肘節(jié)鎖扣42可用于將肘節(jié)組件22的水平肘節(jié)桿44A固定于某一位置。電纜樞軸適配器46由一般常用的螺絲、插銷、銷釘?shù)裙潭ㄔ谒街夤?jié)桿44A上。
至于接受操作，重要的是將其它各類元件以及電纜和測試頭56(如圖2B所示，下面將予以詳細(xì)說明)所造成的懸臂負(fù)載在測試頭適配環(huán)54中為進(jìn)行θz方向運(yùn)動而予以均衡。如若不加以均衡，一名操作人員按θz方向旋轉(zhuǎn)500公斤的測試頭大約要用1600牛頓·米的力矩。對于操作人員來說這樣大的力矩是很不安全的。
圖1C顯示了一種均衡方法。一只彈簧組件106穿過彈簧殼體108附置在肘節(jié)殼體36上。在殼體108之中，兩只不同的彈簧用來補(bǔ)償懸臂負(fù)載。在電纜樞軸殼體52的負(fù)載一側(cè)(在正向的X方向)，彈簧殼體108包括有一盤形彈簧181。盤形彈簧181由盤簧活塞183導(dǎo)引并由盤簧螺絲110安裝。萬向接頭銷112A通過水平肘節(jié)桿44A將盤形簧和彈簧組件106的活塞組件與肘節(jié)組件22相連接。與電纜樞軸殼體52的負(fù)載側(cè)相反(在負(fù)向的X方向)，彈簧殼體108包括有彈簧線圈185。彈簧線圈185由彈簧線圈活塞187導(dǎo)引并由彈簧線圈螺絲114所調(diào)整。萬向接頭銷112B通過水平肘節(jié)桿44A將彈簧線圈185以及彈簧組件106的彈簧線圈活塞187與肘節(jié)組件22相連接。彈簧線圈用于校準(zhǔn)，以補(bǔ)償盤形彈簧181中固有的誤差。
電纜樞軸適配器46包括凸緣48和橫梁50。橫梁50一端與凸緣48相連接(如焊接或整體鑄造)。電纜樞軸適配器46由常規(guī)的螺釘、銷釘、銷子等等附置于水平肘節(jié)桿44A上，這些螺釘或銷釘穿過凸緣48上的開口與凸緣部分44B中的各自對應(yīng)的開口相接合。橫梁50(通過螺釘、銷釘?shù)?的另一端附置于電纜樞軸殼體52上，以此連接凸緣48和電纜樞軸殼體52。電纜樞軸殼體52夾持測試頭適配環(huán)54，使該環(huán)以下述方式(按θx方向)在殼體52內(nèi)旋轉(zhuǎn)。測試頭56以若干方式附置在測試頭適配環(huán)54，使測試頭適配環(huán)54將動作傳輸至測試頭56。下面對一些上述若干方式予以說明。
測試頭56與被測試系統(tǒng)(未示出)的電子接口元件(連接器、波哥銷(Pogopin)、印刷電路板等等)相互作用。為了防止脆弱的電子接口元件在測試頭56對該系統(tǒng)的對接和移開動作中產(chǎn)生的損害和過度磨損，測試頭在動作過程中的運(yùn)動必須與電子接口元件的軸向動作精確地一致。相應(yīng)地，測試頭56必須能夠在對接和移開動作中精確地和不費(fèi)力地作笛卡爾座標(biāo)的任何和全部六個自由度的運(yùn)動。如圖1所示，這六個自由度包括x軸(水平方向，從左至右)、y軸(垂直)和z軸(水平，進(jìn)和出)上的線性運(yùn)動、以及圍繞全部都相對于安裝有電子連接元件的接口板平面中心的θx、θy和θz的軸向旋轉(zhuǎn)運(yùn)動。
本發(fā)明以確切的保證在裝置測試系統(tǒng)的定位器12和測試頭適配環(huán)54的設(shè)計(jì)中在每一運(yùn)動軸上維持均衡(如下所述)的方式獲得了六度的自由運(yùn)動度。
通常包括有若干單獨(dú)電纜(未示出)的一條電纜通過測試頭適配環(huán)54延伸進(jìn)入測試頭56。由測試頭56產(chǎn)生的電子信號及能量沿這些電纜輸入至一測試箱(未示出)中并從其箱中輸出。為承載為些電纜，設(shè)置了一個套管式的電纜支承件58。該件在其每一端都有一自由行程的球形軸承。支承件58已在美國專利第4,893,070號中作了全面說明。
如圖2A和2B所示，電纜樞軸殼體52只是部分地環(huán)繞測試頭適配環(huán)54。殼體52有一帶有2個孔62的邊緣60，兩個水平凸輪隨動件64插入孔62(按x方向)。與水平凸輪隨動件64相垂直，三個徑向凸輪隨動件66插入電纜樞軸殼體52的徑向內(nèi)表面68而進(jìn)入三個孔63。殼體52的壁70面對測試頭56敞開，它不包括類似于與殼體52相對一側(cè)的邊緣60的邊緣或凸緣。
電纜樞軸殼體52與測試頭適配環(huán)54相接合，保持測試頭適配環(huán)54到位，使測試頭適配環(huán)54可在殼體52中旋轉(zhuǎn)并將定位器12的定位運(yùn)動傳送到測試頭56。測試頭適配環(huán)54做成一個單件環(huán)，通常為一鋁板或管材，它包括導(dǎo)件82和溝槽84。亦可使用鋼材。但是鋼材通常要比鋁重并且價格要貴。
導(dǎo)件82形成在與壁70相對的那一側(cè)在測試頭適配環(huán)54外側(cè)。水平凸輪隨動件64在測試頭適配環(huán)54處于殼體52內(nèi)并到位時與導(dǎo)件82相接合。相似地，徑向槽84在測試頭適配環(huán)54的外周緣上形成。槽84在測試頭適配環(huán)54處于殼體52內(nèi)并到位時與徑向凸輪隨動件66相接合。
水平凸輪隨動件64以及徑向凸輪隨動件66是標(biāo)準(zhǔn)硬件，形成包含有針狀軸承的整體單元。這種凸輪隨動件相對于用于常規(guī)的電纜樞軸結(jié)構(gòu)的大直徑的滾珠軸承來說價格低廉，盡管它們用于高負(fù)載承載件，如測試頭適配環(huán)54之中。
按照本發(fā)明，最好用兩只水平凸輪隨動件64和三只徑向凸輪隨動件66。水平凸輪隨動件64與徑向凸輪隨動件相垂直安裝。此外，兩水平凸輪隨動件64和三只徑向凸輪隨動件66之中的兩只沿著一條想象的切割線線性地安裝，而第三只徑向凸輪隨動件66則設(shè)置于兩對水平一徑向凸輪隨動件之間。
這種凸輪隨動件結(jié)構(gòu)的優(yōu)點(diǎn)在于它減少了校準(zhǔn)誤差的要求。為分擔(dān)測試頭適配環(huán)54上懸梁負(fù)載，凸輪隨動件必須排成一行。如果三只水平輪隨動件64被采用，它們則不僅要嚴(yán)格地與徑向凸輪隨動件相垂直，而且必須排成一行以適當(dāng)?shù)胤謸?dān)負(fù)載。由于只采用兩只水平凸輪隨動件64，它們的垂直性就不是那么樣地關(guān)鍵了，而且校準(zhǔn)誤差也很容易達(dá)到。
圖3A-3D表示了如何將測試頭適配環(huán)54附置于殼體52。首先，如圖3A如示，在凸輪隨動件64插入孔62中之后，它們與導(dǎo)件82相接合。開口125此時用于安裝凸輪隨動件66。如圖3B所示，測試頭適配環(huán)旋轉(zhuǎn)以便開口125可與孔163相對合。凸輪隨動件66通過開口125插入孔163其中之一。接下來，測試頭適配環(huán)54轉(zhuǎn)動，如圖3C和3D所示，孔125與另外的孔63對合。余下的凸輪隨動件66然后插入余下的孔63。以此方式，將測試頭適配環(huán)54附置在殼體52上。
測試頭56可以用各種方法安裝于測試頭適配測試頭適配環(huán)54之上。附圖中顯示了三種將測試頭56附置于測試頭適配環(huán)54上的實(shí)施例。再看圖2A和2B，測試頭安裝架86可安裝于測試頭適配環(huán)54的內(nèi)表面88上或者安裝于測試頭適配環(huán)54的內(nèi)表面88和表面104上(或者安裝于圖4所示下面予以詳述的表面104上)。徑向螺釘、銷釘或其它類似銷釘90通過通道92與測試頭安裝架86相配合，可用于將架86定位。桿件94其固定于測試頭56，附置于測試頭安裝架86(也可做成整體)。桿件94另一端穿過測試頭安裝架86并附置在電纜支撐件58上。
圖4表示池測試頭56附置于測試頭適配環(huán)54的另一實(shí)例。在該實(shí)施例中，支撐測試頭56的籃架、裝具、或支架96直接附置于測試頭適配環(huán)54的表面104上而不必使用附加結(jié)構(gòu)(如測試頭安裝架86以及桿件94)。這些元件都可用一般常用的螺釘、插銷、或銷釘98等固定。
圖5表示了測試頭56附置于測試頭適配環(huán)54的第三個實(shí)施例。凸臺102形成于測試頭56之上，可用一般方法直接固定于測試頭適配環(huán)54上。
測試頭適配環(huán)54的外徑按需要小于測試頭56的厚度以便測試頭適配環(huán)54低于在測試頭56頂部定位的對接板的表面。這樣可防止對對接大型機(jī)械手的干擾。
給定對測試頭適配環(huán)54的外徑的限制的情況下，測試頭適配環(huán)54的內(nèi)徑隨表面104的厚度增加而減??；但是該內(nèi)徑必須足以使較粗的電纜通過以到達(dá)測試頭56。由于提供一種敞開的電纜樞軸殼體52，本發(fā)明可結(jié)合一個較薄的表面104，而獲得下面的安裝優(yōu)點(diǎn)。
在任何情況下，測試頭56的負(fù)載重心(及其相連的電纜)都應(yīng)通過測試頭適配環(huán)54中心以便測試頭在其圍繞θx軸旋轉(zhuǎn)時保持均衡。測試頭負(fù)載重心(Cg)在電纜并非對稱于Cg與測試頭56相連接時也不必做對稱校準(zhǔn)(即在某種設(shè)計(jì)中，電纜可連接于測試頭56的一邊)。這種誤差會加重均衡難度。
圖1A所示本發(fā)明的實(shí)施例采用彈簧組件來均衡測試頭(及其附加電纜)的負(fù)載。這種負(fù)載也可不用彈簧組件而如圖6所示，將測試頭適配環(huán)54置于一種補(bǔ)償位置而得到均衡。為保證負(fù)載重心沿X方向穿過測試頭適配環(huán)54的中心并沿Z方向通過凸緣48的中心，懸梁50形成為一種Z型構(gòu)造。
通常，作為本發(fā)明電纜樞軸的一部分的是常規(guī)的電纜樞軸鎖扣189。這種鎖扣一般安置在電纜樞軸殼體52上并能接合測試頭適配環(huán)54并將其鎖位。
盡管本發(fā)明在此作出顯示和說明的裝置測試系統(tǒng)包括支撐結(jié)構(gòu)、定位器、基本為圓形的通道并完全對一側(cè)敞開的電纜樞軸殼體、單件的測試頭適配器環(huán)、測試頭、測試箱、電纜、以及電纜支撐件，然而它并不僅限于所示的細(xì)節(jié)說明。任何不脫離本發(fā)明精神的各類修改或改進(jìn)亦為權(quán)利要求所保護(hù)。
權(quán)利要求
1.為測定電子裝置并且包括測試頭的裝置測試系統(tǒng)，其特征在于包括一個可移動的定位器；一個包括有內(nèi)彎曲表面并且在一側(cè)有邊緣的電纜樞軸殼體；將所述電纜樞軸殼體附置于所述定位器的裝置；一個測試頭適配器環(huán)，該測試頭適配器環(huán)包括有在鄰接所述彎曲面以及所述電纜樞軸殼體所述邊緣的同時將測試頭適配器環(huán)以旋轉(zhuǎn)方式定位的單獨(dú)機(jī)件，所述測試頭適配器環(huán)包括有一個延伸于a)沿所述測試頭適配器環(huán)外周的外表面，和b)沿所述測試頭適配器環(huán)內(nèi)周的內(nèi)表面之間的一個開口；將所述測試頭適配器環(huán)附置在所述電纜樞軸殼體上的第一附置裝置；將所述測試頭附置于所述測試頭適配器環(huán)上以使所述測試頭作樞軸運(yùn)動的第二附置裝置。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置測試系統(tǒng)，其中a)鄰近所述邊緣的所述測試頭適配器環(huán)的一個表面具有一在其表面形成的導(dǎo)件；b)所述測試頭適配器環(huán)的外周有一徑向槽；c)在所述電纜樞軸殼體的所述邊緣上設(shè)置有為接合所述導(dǎo)件的若干水平凸輪隨動件；以及d)在所述電纜樞軸殼體的所述內(nèi)徑表面上設(shè)置有為接合所述徑向槽的若干徑向凸輪隨動件。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述裝置測試系統(tǒng)，其中所述水平凸輪隨動件設(shè)置為與所述徑向凸輪隨動件相垂直。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述裝置測試系統(tǒng)，其中有2個水平凸輪隨動件和3個徑向凸輪隨動件。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述裝置測試系統(tǒng)，其中所述第二附置裝置包括a)固定于所述測試頭適配器環(huán)內(nèi)表面的測試頭安裝架；以及b)一端固定于所述測試頭并且與所述測試頭安裝架相接合的一個桿件。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述裝置測試系統(tǒng)，其中所述的第二附置裝置包括有一個支撐并且至少部分地圍封直接附置在所述測試頭適配器環(huán)上的所述測試頭的支架。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述裝置測試系統(tǒng)，其中所述第二附置裝置包括有一個直接在所述測試頭上形成并且直接與所述測試頭適配器環(huán)相連接的凸臺。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述裝置測試系統(tǒng)，其中所述測試頭適配器環(huán)的外直徑比所述測試頭的厚度要小。
9.根據(jù)權(quán)利要求1的裝置測試系統(tǒng)，其中由所述測試頭適配器環(huán)所承載的懸梁負(fù)載的重心穿過所述電纜樞軸殼體的中心。
10.根據(jù)權(quán)利要求1的裝置測試系統(tǒng)，還包括一個可被所述開口接受并可被附置于所述電纜樞軸殼體內(nèi)曲面的凸輪隨動件；
11.根據(jù)權(quán)利要求1的裝置測試系統(tǒng)，還包括一個通過所述測試頭適配器環(huán)與所述測試頭連接的電纜。
12.根據(jù)權(quán)利要求1的裝置測試系統(tǒng)，其中所述的環(huán)包括有一個在所述外表面上的槽，并且所述第一附置裝置包括有一個插入開口中，固定于所述電纜樞軸殼體，并且與槽處于滑動關(guān)系以此將所述環(huán)固定于所述電纜樞軸殼體的凸起件。
13.根據(jù)權(quán)利要求1所述裝置測試系統(tǒng)，其中所述的環(huán)包括一個在所述環(huán)側(cè)面上的附加槽，并且所述第一附置裝置包括有一個與該附加槽處于滑動關(guān)系的附加凸起件。
14.將一電纜樞軸殼體附置于用于支撐測試頭的測試頭適配器環(huán)的方法，其中所述電纜樞軸殼體包括a)內(nèi)曲面，b)在所述殼體一側(cè)的邊緣，c)若干在所述內(nèi)曲面形成的開口，每一開口用于接受若干凸輪隨動件其中之一；以及d)附置于所述邊緣的若干凸輪隨動件；所述測試頭適配器環(huán)包括a)沿所述測試頭適配器環(huán)外周的外表面，b)沿所述測試頭適配器環(huán)內(nèi)圓的內(nèi)表面，以及c)延伸于所述內(nèi)、外表面之間的開口；所述方法的特征在于包括下列步驟將所述測試頭適配器環(huán)附置于固定在所述邊緣上的若干凸輪隨動件上；轉(zhuǎn)動所述測試頭適配器環(huán)以便所述測試頭適配器環(huán)的開口與在上述內(nèi)曲面上形成的若干開口之一相對合；通過所述測試頭適配器環(huán)開口將若干凸輪隨動件其中之一插入；將所述若干凸輪隨動件之一附置在形成于內(nèi)曲面上的若干開口之一；轉(zhuǎn)動測試頭適配器環(huán)以便所述測試頭適配器環(huán)開口與在所述內(nèi)曲面形成的若干開口的另一個相對合；將所述凸輪隨動件中的另一個插入所述測試頭適配器環(huán)開口；并且將所述若干凸輪隨動件中的另一個附置于在所述內(nèi)曲面形成的若干開口之中的另一個上。
15.根據(jù)權(quán)利要求14所述的將一電纜樞軸殼體上附置于測試頭適配器環(huán)的方法，還包括將電纜通過所述測試頭適配器環(huán)與所述測試頭相連接。
全文摘要
一種將電子測試頭安裝成可圍繞三個正交軸作樞軸運(yùn)動的裝置測試系統(tǒng)。在測試箱和帶有電子信號的測試頭之間用電纜予以連接。該測試頭直接安裝于一個單件的電纜樞軸，并且該電纜通過該單件電纜樞軸接入該測試頭。該單件的電纜樞軸采用將凸輪隨動件通過該環(huán)中的開口附置在殼體上的安裝方法附置于其殼體上。
文檔編號G01R1/067GK1138165SQ96104910
公開日1996年12月18日 申請日期1996年4月22日 優(yōu)先權(quán)日1995年4月20日
發(fā)明者艾倫R·霍特 申請人:英特斯特公司