專利名稱：缺少透鏡探測系統(tǒng)和方法
本申請是由Ross和Newton在1998年11月5日申請的、美國專利申請?zhí)?9/187,579的專利申請的接續(xù)申請，該申請和本申請具有相同的發(fā)明題目，在這里引用作為參考。
本發(fā)明涉及用于探測支座或組件內產(chǎn)品是否存在以及可選擇地探測產(chǎn)品的位置的系統(tǒng)，更具體地說，本發(fā)明涉及一種證實如接觸透鏡等眼科產(chǎn)品在支座內是否存在的裝置和方法。
自動系統(tǒng)可用于制造眼科產(chǎn)品，這已經(jīng)在美國專利5,080,839中公開。這些系統(tǒng)已經(jīng)達到了非常高的自動化程度。使透鏡模制，然后從模中脫離，進一步加工，接著進行組裝，所有這些均不用人進行干預。然而，即使利用自動化程度高的系統(tǒng)，也需要由人對每個組裝件進行目視檢查，以證實組裝件內有透鏡。這樣的設計增加了人工的需要以及相關的勞動成本。沒有經(jīng)過證實接觸透鏡實際轉換到組裝件中的透鏡自動裝載可導致有百分之二以上的沒有裝載透鏡的加工組件。這是利用人工裝載透鏡的一條生產(chǎn)線上所發(fā)現(xiàn)的平均比例的十倍以上。
在美國專利5568715中公開的一個現(xiàn)有技術系統(tǒng)中，在組裝件中的透鏡的探測是這樣進行的，即對組裝件背部照射散射光，并用錄象機進行光學觀察。在該系統(tǒng)中，組裝件從頂部被照亮，位于組裝件上面的照相機組件對組裝件照相。該圖象通過計算機圖象處理系統(tǒng)進行處理，以確定透鏡是否存在于組裝件中。即使該方法操作相對良好，但是費用昂貴而且軟件要很有效。
美國專利5,633,504中公開了檢測水合接觸透鏡的系統(tǒng)和方法，該系統(tǒng)和方法是通過照亮透鏡并用照相機對透鏡中發(fā)出的熒光或在容器的某些部位發(fā)出熒光并由透鏡擋住而成像。在優(yōu)選的方法中，透鏡帶有紫外線吸收介質。在一個實施例中，具有某種波長的光導致透鏡中有熒光并使透鏡出現(xiàn)和暗區(qū)對比的亮區(qū)。透鏡中的瑕疵比周圍區(qū)域更暗。在另一個實施例中，通過把保持在容器或其它支撐體中的透鏡一部分暴露到具有超出照相機所利用波長范圍之外波長的光下，使透鏡發(fā)出熒光。照相機所用這些波長不會產(chǎn)生透鏡熒光，于是瑕疵呈現(xiàn)為透鏡內的亮區(qū)。
因此，需要有一種新型的透鏡探測系統(tǒng)，該系統(tǒng)應該具有低成本和高精度。該探測系統(tǒng)可用作自動探測系統(tǒng)的一部分，該自動探測系統(tǒng)包括運輸和報廢傳送帶，用于對自動探測系統(tǒng)確定的在組件中沒有透鏡的不合格組件進行報廢。
本發(fā)明的主要目的是提供一種系統(tǒng)和方法，該系統(tǒng)和方法通過對眼科產(chǎn)品/支座組合進行電磁輻射而證實放在支座內的眼科產(chǎn)品的存在以及可選擇地探測其存在和位置。
本發(fā)明的另一個目的是提供一種證實在支座內是否有眼科產(chǎn)品存在的系統(tǒng)，其中該系統(tǒng)提供的探測精度大于1/100000。
本發(fā)明的再一個目的是提供一種證實在支座內是否有眼科產(chǎn)品存在的系統(tǒng)，其中該系統(tǒng)在制造和使用上很經(jīng)濟。
根據(jù)將在后面描述中很明顯的上述目的和其它目的，本發(fā)明提供一種用于確定在支座內是否有如接觸透鏡等眼科產(chǎn)品的存在以及可選擇地探測其位置的系統(tǒng)。透鏡是可發(fā)出熒光，可吸收或反射、更好是可吸收或反射、最好是吸收與支座不同量的電磁輻射。這種不同可以是由于在透鏡含有介質，該介質對特定波長范圍的電磁能量的反應不同于支座對其的反應。支座包括透鏡的容納部，并且最好是至少部分由可基本上透過特定波長范圍的電磁能量的材料構成。該探測系統(tǒng)包括一種用于探測支座內眼科產(chǎn)品的存在以及可選擇地探測其位置的裝置，該裝置包括(a)相對支座布置的把電磁能量輻射到支座上的電磁能量輻射源；(b)相對支座和輻射源布置探測來自輻射源的電磁能量的探測器，該電磁能量穿過產(chǎn)品和支座或被產(chǎn)品和支座反射；及(c)用于根據(jù)由產(chǎn)品對電磁能量的吸收、反射或發(fā)出熒光確定在支座內產(chǎn)品的存在或位置的處理器。
本發(fā)明的用于探測支座內眼科產(chǎn)品的存在以及可選擇地探測位置的裝置的另一個實施例包括(a)相對支座布置的把電磁能量輻射到支座上的電磁能量輻射源；(b)反射表面，使得支座位于輻射源和反射表面之間；(c)相對支座和輻射源布置探測來自輻射源的電磁能量的探測器，該電磁能量由產(chǎn)品、支座和反射表面反射；及(d)用于根據(jù)由產(chǎn)品對電磁能量發(fā)出的熒光、吸收或反射確定在支座內產(chǎn)品的存在或位置的處理器。
本發(fā)明還提供用于探測支座內眼科產(chǎn)品存在或位置的方法，所述產(chǎn)品包括可吸收或反射在特定頻率范圍的電磁能量，該方法包括a)把電磁能量照到產(chǎn)品和支座上，b)探測穿過產(chǎn)品和支座或由該產(chǎn)品和支座反射的電磁能量；及c)處理探測到的電磁能量以確定在支座內產(chǎn)品的存在或位置。
本發(fā)明提供了用于確定支座內眼科產(chǎn)品的存在以及可選擇地確定其位置的相當簡單和經(jīng)濟的系統(tǒng)。該系統(tǒng)不包括視覺系統(tǒng)，也不包括復雜的對圖象象素逐一進行分析，即采用圖象形態(tài)學來分析的軟件。
現(xiàn)在參照附圖來具體描述本發(fā)明

圖1為本發(fā)明的缺少透鏡探測裝置的示意圖，該圖示出了在輻射源和探測器之間的支座。
圖2為支座和位于其中的透鏡的透視圖。
圖3為圖2的支座和透鏡的側視圖。
圖4a為本發(fā)明的缺少透鏡探測裝置的另一個實施例以及支座的示意圖。
圖4b為本發(fā)明的缺少透鏡探測裝置的再一個實施例以及支座的示意圖。
圖5a為本發(fā)明的缺少透鏡探測裝置的傳感器頭的俯視圖。
圖5b為沿圖5a中的A-A軸的剖面圖。
圖6a為本發(fā)明的缺少透鏡探測裝置的傳感器頭的另一個實施例的俯視圖。
圖6b為沿圖6a中傳感器頭的A-A軸的剖面圖。
圖6c為沿圖6a中傳感器頭的B-B軸的剖面圖。
圖6d為沿圖6a中傳感器頭的C-C軸的剖面圖。
圖7為用于從探測器的輸入端確定透鏡存在的處理器的方框圖。
圖8為一列支座的俯視平面圖。
圖9為根據(jù)本發(fā)明的方法用于探測缺少透鏡的自動系統(tǒng)示意圖。
這里采用的術語“支座”是指透鏡的支撐容器。一般地，支座為由基體(如碗狀體)和蓋板(如襯板(lidstock))組成的凸泡組件。蓋板例如可以是透明的塑料蓋板或涂有箔片的塑料。術語“支座”在這里還表示不帶蓋板的基體。
圖1中示出了缺少透鏡探測裝置，該裝置用標號110來表示。探測裝置110包括電磁輻射源112、探測器114和處理器116。輻射源112可以是寬帶輻射源，該輻射源發(fā)出紫外線、可見光和紅外線。例如，象Phillips光熱燈泡P/NPL-S9W/10的可見光源可發(fā)出在紫外線頻帶的電磁輻射?；蛘撸椛湓?12可產(chǎn)生在窄頻帶的電磁輻射，或輻射源112與波長過濾器結合產(chǎn)生窄頻帶。例如，輻射源可產(chǎn)生窄頻帶的紫外線(波長或波長的范圍在大約190納米到400納米內)。在另一個實施例中，輻射源112可在如紫外線和可見光頻帶的選擇的范圍組內產(chǎn)生電磁輻射。輻射源112可發(fā)出脈沖的或恒定的電磁輻射。較好的輻射源112發(fā)出波長范圍從大約300納米到大約400納米，最好從大約300納米到大約350納米的紫外線的脈沖，每個脈沖間隔大約100微秒。輻射源最好位于離開探測器和支座的位置，電磁能量最好通過光導纖維、液體光纜或光導而傳遞到支座上。輻射源112可以是具有上述特征的在現(xiàn)有技術中已知或可購買到的任何光源。
探測器114可在特定范圍內響應輻射波的波長，或者該探測器可以響應寬頻帶和/或與濾光器結合使用來探測需要的特定范圍。探測器114可以是例如為光電二極管的分光計，或是光電傳感器，或是測熱計。探測器最好具有大約1毫米的直徑，可測量在探測器區(qū)域檢測到的全部電磁輻射。探測器114可以是具有上述特征的、可購買的、現(xiàn)有技術公知的、任何探測器。探測器114較好的是探測波長從大約300納米到400納米的光，更好是探測波長從大約300納米到大約350納米的光。用于圖1中實施例的典型探測器114為Part No.US 365HFI-010.00，該探測器可從Sterling Virginia的電子儀器技術公司得到。因為該探測器利用了帶通濾光器以把輻射減弱或限制到窄帶寬，所以EIT探測器具有365納米正負大約20納米的波長輻射的敏感度。
本裝置還包括一個或更多的其它的電磁輻射源和/或探測器。其它探測器的內部器件提高了本發(fā)明缺少透鏡探測系統(tǒng)的精度和準確度。
根據(jù)本發(fā)明，幾個輻射源和探測器頻率范圍的結合是可行的。例如，產(chǎn)生寬帶電磁能量的輻射源112可和適于探測有限范圍的探測器114一起使用?；蛘?，輻射源112可產(chǎn)生有限的波長范圍。而且，輻射源112和探測器114均可以相同的頻帶工作。
探測器114和例如為數(shù)字信號處理器的處理器116連接，以指示在載體或支座120內的如透鏡的眼科產(chǎn)品118存在以及可選擇地指示位置。較好的是應對該系統(tǒng)進行校準，于是透鏡118不在支座120內時探測到的能量和透鏡118在支座120內時探測到的能量之比至少為1.1∶1。更好的是，該比值為至少1.5∶1，最好大于2∶1。探測器114最好對限定數(shù)量的波長或波長范圍敏感。例如，根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，探測器114對大約為200納米或更小的帶寬敏感，較好的是對小于大約50納米敏感，更好的是對小于大約25納米的帶寬敏感，最好是對大約10納米或其以下敏感。
在一個實施例中，探測器對處理器發(fā)出信號能量輸出，在處理器中該輸出和標準值比較。對電子處理電路校準，以使該電路在一定范圍的限定電壓下工作，例如，8V信號表示透鏡118不在支座上，3V信號表示透鏡118在支座上。如果透鏡阻斷了所有的電磁輻射，例如由探測器探測到的UV輻射，那么電壓信號就為零?？梢越㈩A定的極限，例如當探測到的輻射產(chǎn)生大于5V的信號，就指示支座中的透鏡118不存在。
類似地，探測器114可進行校準以指示透鏡118在支座120中是否正確取向或不正確放置，例如沿下面將描述的支座容納部或碗狀體端部各個側邊是否正確取向或不正確放置。如果透鏡118沒有在正確的方向上放置，那么傳輸(小于吸收的輻射)或返回到探測器114的電磁能量可能小于閾值，該閾值指示透鏡118正確放置。該信息由處理器利用或傳輸?shù)娇刂破魃弦跃芙^或接受支座。
本發(fā)明的處理器可以是對于本領域普通技術人員公知或是可購買得到的任何一種普通的處理器，最好是數(shù)字信號處理器。最佳處理器是可程序化地對從探測器傳來的模擬信號進行分級。模擬信號的分級可通過下面過程獲得把模擬信號轉換成數(shù)字信號，并通過閾值分級器和/或查表或通過把數(shù)字信號與由神經(jīng)網(wǎng)絡算法而建立的邊界值比較而對數(shù)字信號進行分析。理論上處理器可分析模擬信號；然而這不是最好的。
在圖1示出的一個實施例中，透鏡118以圖2和3所示的傳統(tǒng)方式位于支座120的容納部或碗狀部。支座120具有大致為平面的頂部平面，并當從支座的頂部看時，碗狀部大致是凹進的。透鏡118位于碗狀部122中，并最好浸沒在液體中?；蛘撸哥R118可完全浸沒在含鹽的溶液中。輻射源112和探測器114相對于支座120來放置，于是，如圖1所示，電磁輻射直接射在支座120的碗狀體122上。在該實施例中，支座120沒有襯板。然而，在本實施例中的支座也可具有可透射的襯板。
在碗狀體122內的透鏡118的存在或其位置可確定為從透鏡118和支座120經(jīng)過或返回的電磁輻射吸收率的函數(shù)。和本發(fā)明一起使用的最佳接觸透鏡118帶有防紫外線成分，該結構可吸收大約94％的UVA和UVB線。典型透鏡材可買帶Norbloc牌防UV成分的Etafilcon牌材料。這些透鏡可買Jacksonville，F(xiàn)lorida的Johnson & Johnson Vision Products，Inc.的商標為Surevue和Acuvue的產(chǎn)品。UV吸收透鏡的制造在現(xiàn)有技術中是公知的，例如在美國專利5,399,692中已公開，該專利的公開內容在這里參照引用。其它公開可吸收UV輻射的接觸透鏡的專利包括美國專利4,390,676和4,528,311。也可通過UV光電引發(fā)器(photoinitiator)來吸收UV。
選擇環(huán)繞支座材料，以便可與透鏡相同程度地略微吸收或阻斷紫外線輻射。具體地說，支座120內的塑料在輻射處于探測器114探測的敏感范圍內與透鏡118在相同程度上必須不吸收和阻斷電磁輻射?？捎糜谥ё?20的典型的塑料材料包括聚丙烯和聚苯乙烯，但并不限于此。于是，在支座120內的透鏡118的存在及其位置可這樣確定，把在如紫外線的特定光譜范圍內、由探測器接收的電磁輻射電平和單獨支座120的已知電平相比較而確定。處理電路116可根據(jù)由探測器接收的減小的電磁輻射來提供指示透鏡118是否存在的信號。
在另一個實施例中，輻射源112可在紅外線范圍輻射電磁輻射。可通過把在探測器114內的紅外輻射減小的電平和相應于空支座120的基準紅外電平相比較，而指示透鏡118的存在。支座最好包括如含水溶液的液體，以便使紅外輻射從支座傳輸?shù)酵哥R118。在支座120內的水溶液足夠使透鏡118表面濕潤。在探測器114敏感的某些波長上，透鏡118是紅外線阻斷器(吸收器)。雖然UV輻射目前是最好的，但測試證明利用這個方法效果很好。還可以在可見光譜范圍利用電磁輻射。在該實施例中，使用色輝(tinted)透鏡118，由此色輝透鏡118可在探測器114敏感的可見光譜中吸收和阻斷電磁能。同樣，透鏡118可比支座120更吸濕。這樣由于透鏡中存在水，該透鏡可以與只有支座時不同的程度使電磁能吸收或返回。
圖4a示出了本發(fā)明的缺少透鏡探測裝置的另一個實施例。該缺少探測裝置200包括最好為紫外線輻射源的電磁輻射源202和四個探測器204、206、208和210。較好的是，探測器204、206、208和210探測紫外線，更好的是探測器檢測具有大約300納米到大約350納米波長的紫外線?？捎幸恍┨綔y器，較好的是有一到一百個，更好的是一到二十個，最好是一到十個。在優(yōu)選的實施例中，有四個用于探測來自單個輻射源的輻射的探測器，例如為光電二極管，以探測在支座內的接觸透鏡?？商峁┮欢〝?shù)量的輻射源，最好是每個支座對應一個。
把電磁輻射源202調好方向，于是可向容納如透鏡218的眼科產(chǎn)品的支座220進行輻射。支座220具有帶反射表面211的襯板212，反射表面朝向支座220的內部及輻射源202。一般地，襯板帶有箔片，然而也可帶有其它本領域公知的反射材料。襯板最好大致是平的。探測器和輻射源位于支座的同一側。輻射由襯板反射。
可選擇的是，支座可帶有基本上是透明的襯板，或不帶襯板。探測器可和圖1中示出的實施例相同而位于電磁輻射的另一端，或者如圖4b所示，如平板213的反射表面可相對于支座220而布置在電磁輻射源202的相對端。反射板213的功能和襯板212的反射表面相同。沒有示出的另外的選擇是，平板位于碗狀體下面，輻射源位于碗狀體上面。
電磁輻射從輻射源220經(jīng)過支座220傳輸，并通過襯板212或反射板213反射。如果透鏡218存在，那么透鏡就會吸收一些輻射源能量，這樣，就有少量能量反射到探測器204、206、208和210。探測器204、206、208和210可提供與在相關頻率范圍內的探測能量有關的信號。該信號可放大、補償，或者標稱化，以用于后面的處理。本實施例中包括上述的處理電路。
較好的是，探測器204、206、208和210位于輻射源202的周圍。更好的是，如圖5a和5b的缺少透鏡探測探頭222中所示的，探測器204、206、208和210沿輻射源202周圍徑向均勻分布。探頭222具有輻射源202和探測器204-210安裝在其中的探頭體224。較好的是，安裝探測器204-210，以使它們朝向透鏡的預期位置中心。在示出的實施例中，如圖4a中所示，輻射源和探測器朝向標有209的支座201的碗狀體的頂部中心。
圖6a-6d示出了缺少透鏡探測裝置的探頭226的另一個實施例。探頭226具有探測器204、206和208安裝在其中的探頭體228。輻射源202偏離探頭體228的中心，于是輻射源202不處在待探測的支座內透鏡的下面(或上面)的中間位置。探測器204、206和208偏離布置在裝置226的相對于布置輻射源202的一側的另一側。探測器204-208最好沿圓弧布置。而且輻射源202和探測器204-208朝透鏡的預期位置成角度布置。輻射源和探測器最好朝向在圖4a中標有209的碗狀體頂部中心。在裝置222和226中可包括另外的輻射源和探測器。
參見圖4a，探測器204、206、208和210與如數(shù)字信號處理模塊(DSP)的處理器216連接，以指示透鏡218存在以及可以選擇地指示位置。每個探測器最好發(fā)出相應于探測能量的放大信號電壓，該信號電壓轉換成用于進一步處理的離散數(shù)字信號。該系統(tǒng)可如上述進行校準。
圖7示出了包括閾值分級處理器238的缺少透鏡探測裝置一部分的方框圖。如圖7所示，探測器204-210提供接收到的反射能量的模擬指示，根據(jù)預定的電壓范圍由數(shù)字轉化器230-236或類似裝置分別把反射能量轉換成數(shù)字表達。閾值分級器238根據(jù)這些數(shù)字表達確定透鏡218是否存在于支座中。根據(jù)本發(fā)明的優(yōu)選實施例，閾值分級器238利用查表確定透鏡218的存在，該表包括對于每個數(shù)字表達組合的預定值。該查表可在校準過程中通過本領域公知的方法隨時進行。
例如，如果有兩個可能的數(shù)字表達，綠色和紅色分別表示透鏡218的存在及不存在，用于每個探測器探測到的信號，那么就有16(24)個可能的組合。根據(jù)一個閾值分級器的方案(scheme)，如果探測器204-210的所有四個數(shù)字表達均是紅色，閾值分級器238會認定透鏡218不存在。對于任何其它組合，閾值分級器238則確定在支座220內透鏡218存在。
可通過增加每個來自探測器可能的數(shù)字表達的數(shù)量，如減少預定電壓范圍的大小，來提高缺少透鏡系統(tǒng)的精度。例如，如果有三個數(shù)字表達，綠色、黃色和紅色分別表示透鏡218的存在、可能存在和不存在，于是則有81(34)個可能組合(與前面例子中的僅有16個組合相比)。根據(jù)一個閾值分級器方案，如果四個數(shù)字表達中的三個是紅色的，以及四個表達是黃色的，閾值分級器238則確定透鏡218不存在。而且，如果四個數(shù)字表達均為紅色的，閾值分級器238也確定透鏡218不存在。對于任何其它組合，閾值分級器238則確定透鏡218存在于支座220中。
在優(yōu)選實施例中，每個光電二極管(探測器)由十二位模擬-數(shù)字(A/D)轉換器讀取，該轉換器把信號數(shù)字化成100多個，更好是1000多個，最好是4096個離散電平(作為記數(shù))中的一個。如果光電二極管探測到?jīng)]有輻射時，則記數(shù)為0。在最大強度時，記數(shù)為4096。于是，當透鏡不存在時，擊中探測器的光強校準達到計數(shù)的最大電平，在最佳模式下，為4096的輸出。
在優(yōu)選實施例中，用于探測在支座中透鏡存在的裝置包括探頭，該探頭包括一個輻射源和布置在該輻射源周圍的四個探測器。優(yōu)選的探頭就象圖5a和5b中示出的裝置。優(yōu)選的裝置具有六個探頭的陣列，以同時探測在六個支座內的接觸透鏡。
可利用上述的查表來完成操作；然而，在優(yōu)選實施例中，操作是通過神經(jīng)網(wǎng)絡算法(neural net algorithm)處理器來進行的，該處理器把來自探測器的光電二極管的信號電平(計數(shù))和用于接觸透鏡存在或不存在的算法中的計數(shù)范圍進行比較。在神經(jīng)網(wǎng)絡中的計算范圍的邊界值是這樣建立的即通過使含有如10000個帶有接觸透鏡的支座的教導組(teaching set)穿過由探測支座內接觸透鏡的裝置組成的系統(tǒng)而建立。該教導組最好具有代表包括極端條件的產(chǎn)品環(huán)境的樣品，極端條件例如當反射襯板折疊時。神經(jīng)網(wǎng)絡算法是基于感覺(percetron)模式的，當結果對于教導組是已知時，建立判斷邊界值。神經(jīng)網(wǎng)絡最好在探測器之間沒有空間聯(lián)系，而需要在成像焦平面陣列上象素之間建立空間聯(lián)系。
在優(yōu)選實施例中，電磁輻射源為由Hamamatsu制造的短弧齊納(zenon)燈，該燈為結構光輻射源。來自輻射源的輻射集中在支座內接觸透鏡的預期位置，結果探測器沒有被來自支座內的雜散光射到。在實施例中，在光源上還布置有濾光器，該濾光器具有電磁能量限制成可由透鏡吸收的波長。在優(yōu)選實施例中，光源是脈沖發(fā)射的，射到透鏡較少，這樣通過具有低強度的光，避免了在透鏡中的化學變化或聚合物的破壞。在優(yōu)選實施例中，光電二極管最好是由Advanced Photonix，United Detector Technology或Hamamatsu制造的硅光電二極管。探測器最好具有低通-濾光器，該濾光器僅使低于400納米的輻射通過。包括輻射源和探測器的探頭由Applied Computing Technology，Oakridge，Tennessee制造。處理和控制連接電路和電子設備也是由Applied Computing Technology制造的。利用神經(jīng)網(wǎng)絡算法處理器可把信噪比提高到500∶1。
參見圖8，圖8示出了發(fā)泡支座324的俯視平面圖，該支座324由六個單獨支座320的直線陣列組成。每個支座320將由自動探測系統(tǒng)來探測，以確定每個單獨支座是否在碗狀體322中放有透鏡318。支座320根據(jù)靠近并略微離開碗狀體322的支座的第一側來限定校準突耳326，以及根據(jù)支座320的第二側來限定第二校準突耳。如果缺少任何透鏡318，那么整個凸泡包裝就報廢?；蛘?，在探測時，透鏡318可容納在單獨的支座320中，于是在特定支座320中的透鏡318的缺少不會導致整個支座組324的報廢。
圖9為利用了具有運輸和報廢裝置的自動探測系統(tǒng)的裝載透鏡系統(tǒng)330的示意圖。在美國專利5,568,715中公開了裝載系統(tǒng)的細節(jié)，其中公開的內容在這里引用作為參考。系統(tǒng)330一般包括運輸分系統(tǒng)332、缺少透鏡探測器310、處理器316和控制器333。透鏡(未示出)由把透鏡運輸?shù)街ё?20內并可選擇地把支座用襯板密封起來的透鏡運載機構或裝置334來傳送。支座320通過傳送帶342如箭頭示出的方向被傳送到缺少透鏡探測器310中。來自電磁輻射源312的輻射如箭頭方向所示射到并穿過示出的支座320。輻射探測器314測量射在其中的輻射，在探測器內的處理電路316把測量到的輻射量輸送到控制器333上。當反射襯板固定到支座320或反射板相對于支座320處于輻射源312的相對一端時，如圖4a或4b所示的缺少透鏡探測裝置可替換缺少透鏡探測器314。在優(yōu)選實施例中，支座被密封，襯板具有反射性，并利用圖4a、5a和5b中示出的裝置和探頭。安裝在處理器316內的控制器333連接到報廢機構336。在圖中示出的以推桿形式的報廢機構336在控制器333的控制下移動這些缺少透鏡的支座320。沒有探測透鏡的支座320由推桿344推到另一個傳送帶(未示出)，該傳送帶把它們輸送到廢品倉庫內。
在本實施例中，在水合后并在透鏡傳送到最后支座的碗狀體后進行探測。透鏡探測在施加含鹽溶液及把襯板放置并固定到支座的碗狀體之前或之后進行。探測步驟最好在檢驗步驟之后進行，檢驗步驟利用觀察系統(tǒng)和復雜的軟件，在水合步驟之前進行。更好的是，探測步驟在襯板固定到支座之后進行，以確保最后的支座容納有透鏡。
這里提到的所有專利、出版物、申請文件和測試方法被參照地引用。
根據(jù)上述詳細描述，本領域技術人員可對本發(fā)明進行許多變化。所有這些變化均包括在所附權利要求書請求的保護范圍內。
權利要求
1.一種用于探測支座內眼科產(chǎn)品的存在或位置的裝置，包括(a)相對支座布置把電磁能量輻射到支座上的電磁能量輻射源；(b)相對支座和輻射源布置探測來自輻射源的電磁能量的探測器，該電磁能量穿過產(chǎn)品和支座或被產(chǎn)品和支座反射；及(c)用于根據(jù)由產(chǎn)品對電磁能量發(fā)出熒光、吸收或反射確定在支座內產(chǎn)品的存在或位置的處理器。
2.根據(jù)權利要求1所述的裝置，其特征在于所述產(chǎn)品為接觸透鏡。
3.根據(jù)權利要求2所述的裝置，其特征在于支座包括可反射電磁能量的反射箔片。
4.根據(jù)權利要求2所述的裝置，其特征在于輻射源發(fā)出波長在紫外線范圍內的電磁能量。
5.根據(jù)權利要求4所述的裝置，其特征在于輻射源發(fā)出波長在紫外線范圍內的脈沖的電磁能量。
6.根據(jù)權利要求2所述的裝置，其特征在于輻射源發(fā)出波長在紅外線范圍的電磁能量。
7.根據(jù)權利要求2所述的裝置，其特征在于接觸透鏡含有紫外線吸收介質，該介質吸收在紫外線范圍內的電磁能量。
8.根據(jù)權利要求1所述的裝置，其特征在于所述處理器包括查表。
9.根據(jù)權利要求7所述的裝置，其特征在于所述處理器包括神經(jīng)網(wǎng)絡算法裝置。
10.根據(jù)權利要求2所述的裝置，其特征在于輻射源發(fā)出在可視范圍內的電磁能量，所述接觸透鏡具有色輝。
11.根據(jù)權利要求2所述的裝置，其特征在于所述透鏡包括可吸收或反射在特定范圍波長電磁能量的介質，支座包括透鏡的容納部，由與透鏡不同程度地吸收或反射電磁能量的材料制成。
12.根據(jù)權利要求2所述的裝置，其特征在于所述透鏡包括可吸收或反射在特定范圍波長電磁能量的介質，所述探測器對特定范圍的電磁輻射敏感。
13.根據(jù)權利要求2所述的裝置，還包括一組輻射源和一組彼此相對布置的用于探測支座內接觸透鏡存在或位置的探測器。
14.根據(jù)權利要求1所述的裝置，其特征在于所述探測器為分光計。
15.根據(jù)權利要求14所述的裝置，還包括濾光器。
16.根據(jù)權利要求1所述的裝置，還包括一到一百個探測器。
17.根據(jù)權利要求1所述的裝置，還包括一到二十個探測器。
18.一種用于探測支座內眼科產(chǎn)品存在的裝置，包括(a)相對支座布置的把電磁能量輻射到支座上的電磁能量輻射源；(b)反射表面，使得支座位于輻射源和反射表面之間；(c)相對支座和輻射源布置探測來自輻射源的電磁能量的探測器，該電磁能量由產(chǎn)品、支座和反射表面反射；及(d)用于根據(jù)由產(chǎn)品對電磁能量發(fā)出的熒光、吸收或反射確定在支座內產(chǎn)品的存在或位置的處理器。
19.一種用于探測支座內眼科產(chǎn)品存在或位置的方法，所述產(chǎn)品包括可對特定頻率范圍的電磁能量發(fā)出的熒光、吸收或反射的介質，該方法包括(a)把電磁能量照到產(chǎn)品和支座上，(b)探測穿過產(chǎn)品和支座或由該產(chǎn)品和支座反射的特定頻率范圍的電磁能量的缺少或減??；及(c)處理探測到的電磁能量以確定在支座內產(chǎn)品的存在或位置。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種用于確定在支座內諸如接觸透鏡那樣的眼科產(chǎn)品的存在以及可選擇地探測其位置的系統(tǒng)。
文檔編號G01N21/88GK1261666SQ9912771
公開日2000年8月2日 申請日期1999年11月5日 優(yōu)先權日1998年11月5日
發(fā)明者D·F·羅斯三世, T·P·紐頓, J·A·埃貝爾, P·德科爾蒂, R·L·西蒙斯, M·F·維德曼 申請人:莊臣及莊臣視力產(chǎn)品有限公司