專利名稱：一種電子基板測(cè)試治具組的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及儀器類，特別涉及一種電子基板測(cè)試治具組。
眾所周知，電子基板為布設(shè)電子零件后，將各電子零件以適當(dāng)?shù)碾娐反?lián)或并聯(lián)，以達(dá)成某一特定的功效，電子基板上的電子電路，常會(huì)因搬運(yùn)不當(dāng)或其它原因?qū)е露搪坊驍嗦?，造成電子基板無(wú)法正常運(yùn)作，另外，由于電子基板上的電子零件數(shù)量往往數(shù)十或數(shù)百個(gè)，在電子零件布設(shè)于電子基板上，偶而會(huì)導(dǎo)致電子零件發(fā)生故障，基板上各電路形成短路或斷路的情況，而喪失電子基板應(yīng)有的功效，因此，電子基板在出廠前或裝配電子零件前，均須針對(duì)電子基板上的各電路以及各零件一一測(cè)試，由于電子基板上的電路復(fù)雜以及電子零件數(shù)量太多，因此，在電子零件的測(cè)試往往需要依賴測(cè)試治具組，配合測(cè)試主機(jī)來(lái)完成電子零件的測(cè)試工作，傳統(tǒng)的電子基板治具組是以一基座內(nèi)部依據(jù)電子基板的各電路或電子零件的接點(diǎn)位置配設(shè)有探針凸露于基座頂端面，探針底端以線路連結(jié)測(cè)試主機(jī)，探針與基座之間需配設(shè)有伸縮結(jié)構(gòu)，以便使得該探針具有一伸縮的能力，而能在探針與電子基板與電子零件的接觸過(guò)程中，以較適當(dāng)?shù)膲毫Φ钟|于接點(diǎn)上，一一的設(shè)計(jì)其相對(duì)位置，因此，一種電子基板測(cè)試治具組造價(jià)往往要需數(shù)十萬(wàn)元，甚至上百萬(wàn)元，組此等高昂的造價(jià)，造成電子基板在測(cè)試工作中的浪費(fèi)資金。
本實(shí)用新型的目的就是針對(duì)上述傳統(tǒng)的電子基板治具組的造價(jià)需數(shù)十萬(wàn)，甚至上百萬(wàn)元，這種高昂造價(jià)是不符合產(chǎn)業(yè)的經(jīng)濟(jì)效益，針對(duì)這一缺欠，提供一種電子基板測(cè)試治具組。
本實(shí)用新型的技術(shù)構(gòu)思依據(jù)本實(shí)用新型的目的，提供一種電子基板測(cè)試治具組，其結(jié)構(gòu)是由一測(cè)試針盤、萬(wàn)用針座、連接端子座所構(gòu)成，其中，在測(cè)試針盤上設(shè)有許多依據(jù)電子基板接點(diǎn)所布設(shè)的探針，在萬(wàn)用針座則以極小的密度布設(shè)有伸縮針，在連接端子座上設(shè)有許多連接端子，用來(lái)與測(cè)試主機(jī)連線；該治具組組裝后，測(cè)試主機(jī)得藉由連接端子、伸縮針及探針與電子基板上的各電路或各電子零件的接點(diǎn)連線，以偵測(cè)各電子零件的性能是否正常，此種電子基板測(cè)試治具組，要依據(jù)各種電子基板，選用適當(dāng)而且造價(jià)低的測(cè)試針盤與測(cè)試主機(jī)間接連線，達(dá)到其測(cè)試的目的，用來(lái)改善傳統(tǒng)電子基板測(cè)試治具組造價(jià)高昂的缺欠。
結(jié)合

本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)及實(shí)施例圖1為本實(shí)用新型的平面分解示意圖。
圖2為本實(shí)用新型的平面組合示意圖。
圖3為本實(shí)用新型的萬(wàn)用針座的密度示意圖。
(10)為測(cè)試針座、(11)為探針、(20)為萬(wàn)用針座、(21)為伸縮針、(22)為彈簧、(23)為套筒、(30)為連接端子座、(31)為連接端子、(32)為針筒、(40)為電子基板、(41)為接點(diǎn)。
如附圖1所示，本實(shí)用新型是由一測(cè)試針盤(10)、萬(wàn)用針座(20)、連接端子座(30)所構(gòu)成，其中，在測(cè)試針盤(10)上設(shè)有許多依據(jù)電子基板(40)中電子零件的接點(diǎn)(41)所布設(shè)的探針(11)，若電子基板(40)上的兩相鄰接點(diǎn)(41)過(guò)于靠近，探針(11)可呈一適當(dāng)?shù)膬A斜度；萬(wàn)用針座(20)則以極小的密度布設(shè)有伸縮針(21)，該伸縮針(21)利用彈簧(22)配合套筒(23)產(chǎn)生一可伸縮的彈力；連接端子座(30)上設(shè)有許多針筒(32)與連接端子(31)用來(lái)與測(cè)試主機(jī)連線。
結(jié)合附圖2及附圖3說(shuō)明本實(shí)用新型的實(shí)施例如附圖2及附圖3所示，本實(shí)用新型將測(cè)試針盤(10)、萬(wàn)用針座(20)及連接端子座(30)組裝完成后，該連接端子(31)藉由萬(wàn)用針座(20)上的伸縮針(21)以及測(cè)試針盤(10)上的探針(11)與電子基板(40)上各電子零件的接點(diǎn)(41)連結(jié)，即可進(jìn)行對(duì)電子基板(40)上的各電子零件以及電路進(jìn)行測(cè)試程序，一旦待測(cè)的電子基板有所更換，只需更換適用的測(cè)試針盤(10)及連接端子座(30)，即可針對(duì)另外一組不同布局的電子基板(40)進(jìn)行測(cè)試工作，操作上極為簡(jiǎn)便；由于測(cè)試針盤(10)與連接端子座(30)內(nèi)部的構(gòu)造簡(jiǎn)易，而且并不需極高的精密度，因此，不論在設(shè)計(jì)或制造的成本上，均相當(dāng)?shù)土?，而萬(wàn)用針座(20)其內(nèi)部的構(gòu)造較復(fù)雜，而且需要較高精密度，所以造價(jià)較為高昂，但由于萬(wàn)用針座，不論是何種規(guī)格的電子基板均可適用，所以面對(duì)不同規(guī)格或布局的電子基板，本實(shí)用新型不需要更換萬(wàn)用針座(20)，只需依據(jù)電子基板的規(guī)格及其布局選用適合的測(cè)試針盤或連接端子座即可；萬(wàn)用針座(20)上的伸縮針(21)的密度，應(yīng)視探針(11)的粗細(xì)與待測(cè)點(diǎn)的密度，而設(shè)置成最高的密度。
本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、使用方便，把電子基板測(cè)試中成本較為高昂的結(jié)構(gòu)，設(shè)計(jì)成制式化，對(duì)于各種電子基板均可適用，從而大大降低制造成本、提高經(jīng)濟(jì)效益。
權(quán)利要求1.一種電子基板測(cè)試治具組，它是由測(cè)試針盤(10)、萬(wàn)用針座(20)、連接端子座(30)所構(gòu)成，其特征在于在測(cè)試針盤(10)上設(shè)有許多依據(jù)電子基板(40)中電子零件的接點(diǎn)(41)所布設(shè)的探針(11)；在萬(wàn)用針座(20)上則以極小的密度布設(shè)有伸縮針(21)，伸縮針(21)可利用彈簧(22)配合套筒(23)產(chǎn)生一可伸縮的彈力；在連接端子座(30)上依據(jù)探針的位置設(shè)有許多針筒(32)與連接端子(31)用來(lái)與測(cè)試主機(jī)連線。
2.按照權(quán)利要求1所述的一種電子基板測(cè)試治具組，其特征在于所說(shuō)的電子基板(40)上的相鄰接點(diǎn)(41)過(guò)于靠近時(shí)，探針(11)可呈一適當(dāng)傾斜度。
3.按照權(quán)利要求1所述的一種電子基板測(cè)試治具組，其特征在于所說(shuō)的萬(wàn)用針座上的伸縮針(21)的密度，應(yīng)視探針(11)的粗細(xì)與待測(cè)點(diǎn)的密度，而設(shè)置成最高的密度。
專利摘要本實(shí)用新型是一種電子基板測(cè)試治具組,它是由測(cè)試針盤(10)、萬(wàn)用針座(20)、連接端子座(30)所構(gòu)成,其中,在測(cè)試針盤(10)上設(shè)有探針(11),在萬(wàn)用針座(20)設(shè)有伸縮針(21),在連接端子座(30)設(shè)有許多針筒(32)與連接端子(31),該治具組組裝后,測(cè)試主機(jī)時(shí),藉由連接端子(31)、伸縮針(21)及探針(11)與電子基板(40)上各電路或電子零件的接點(diǎn)連線,以偵測(cè)各電子零件是否正常以及電路是否有短路或斷路,此種治具組成本低、使用方便迅速。
文檔編號(hào)G01R31/02GK2371564SQ99207990
公開(kāi)日2000年3月29日 申請(qǐng)日期1999年4月19日 優(yōu)先權(quán)日1999年4月19日
發(fā)明者王仙萍 申請(qǐng)人:王仙萍