觸摸屏鍍層的檢測方法及裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及觸摸屏檢測技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種觸摸屏鍍層的檢測方法及裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]近年來觸摸屏技術(shù)出現(xiàn)一種直接將ITO氧化銦通過真空鍍膜的工藝鍍?cè)谝粚硬Ａ系墓に嚰夹g(shù)。一般叫0GS(0ne Glass Solut1n) 一層玻璃方案或TOL(Touch sensorOn Lens觸摸感應(yīng)在玻璃面方案)，優(yōu)點(diǎn)在于相對(duì)傳統(tǒng)的GG (雙層玻璃)、GFF —層玻璃加兩層薄膜方案更薄，透光率更高，并且節(jié)省原材料。但是此類觸摸屏由于ITO直接鍍?cè)诓Ａ希琁TO的折射率與玻璃的折射率相差太多，為了不會(huì)容易的看出ITO圖案。必須再鍍上消影層(頂)，改善顯示效果。此類觸摸屏有鍍層4?5層，如果這些鍍層順序顛倒，會(huì)影響觸摸屏的性能，輕則跳點(diǎn)，重則觸摸屏無功能失效。現(xiàn)有的檢測僅靠供應(yīng)商自己的工藝流程管控，效果不好有混料及供應(yīng)商為降低成本可能會(huì)換料或減流程，因這些鍍層均是近乎透明的，而且是納米微米級(jí)的，從外觀上我們均不能及時(shí)發(fā)現(xiàn)。目前，市面上對(duì)由于鍍層(主要為消影層頂)順序顛倒，對(duì)性能的影響認(rèn)識(shí)不足，更談不上有效的檢測方法。
[0003]因此，需要提供一種觸摸屏鍍層的檢測方法及裝置，以解決上述技術(shù)問題。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明主要解決的技術(shù)問題是提供一種觸摸屏鍍層的檢測方法及裝置，能夠有效檢測觸摸屏鍍層順序是否顛倒，較好的檢測觸摸屏鍍層的合格率。
[0005]為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明采用的一個(gè)技術(shù)方案是:提供一種觸摸屏鍍層的檢測方法，觸摸屏包括基板和設(shè)置在基板上的觸摸屏鍍層，觸摸屏鍍層包括設(shè)置在基板上的第一層和設(shè)置在第一層上的第二層，第一層和第二層中一者為消影層，另一者為透明導(dǎo)電層，檢測方法包括:分別獲取第一層和第二層的特征X射線的譜線；根據(jù)第一層和第二層的特征X射線的譜線分析第一層和第二層的成分；根據(jù)第一層和第二層的成分判斷第一層和第二層中何者為消影層，何者為透明導(dǎo)電層，以判斷觸摸屏鍍層是否合格，其中，若第一層為透明導(dǎo)電層，第二層為消影層則觸摸屏鍍層為合格，反之，則不合格。
[0006]其中，分別獲取第一層和第二層的特征X射線的譜線的步驟包括:用電子束照射觸摸屏鍍層表面以激發(fā)第一層和第二層的特征X射線；觀測并分別獲取第一層和第二層的特征X射線的譜線。
[0007]其中，分別獲取第一層和第二層的特征X射線的譜線的步驟還包括:利用電子顯微鏡觀察觸摸屏鍍層的橫截面，以區(qū)分第一層和第二層。
[0008]其中，觸摸屏鍍層還包括位于第一層下的第三層和位于第二層上的第四層，其中分別獲取第一層和第二層的特征X射線的譜線的步驟包括:用電子束照射鍍層表面以激發(fā)第一層、第二層、第三層以及第四層的特征X射線；觀測并分別獲取第一層、第二層、第三層以及第四層的特征X射線的譜線。
[0009]其中，分別獲取第一層和第二層的特征X射線的譜線的步驟還包括:利用電子顯微鏡觀察觸摸屏鍍層的橫截面，以區(qū)分第一層、第二層、第三層以及第四層。
[0010]其中，檢測方法還包括:根據(jù)第三層和第四層的特征X射線的譜線分析第三層和第四層的成分；根據(jù)第三層和第四層的成分判斷第三層是否為二氧化硅層，判斷第四層是否為有機(jī)絕緣保護(hù)層。
[0011]其中，根據(jù)第一層和第二層的特征X射線的譜線分析第一層和第二層的成分的步驟包括:將第一層和第二層的特征X射線的譜線分別與預(yù)先獲取的消影層的特征X射線的標(biāo)準(zhǔn)消影層譜線和透明導(dǎo)電層的特征X射線的標(biāo)準(zhǔn)透明導(dǎo)電層譜線進(jìn)行比對(duì)，其中，第一層和第二層中與標(biāo)準(zhǔn)消影層譜線一致的其成分與消影層一致，與標(biāo)準(zhǔn)透明導(dǎo)電層譜線一致的其成分與透明導(dǎo)電層一致。
[0012]其中，根據(jù)第三層和第四層的特征X射線的譜線分析第三層和第四層的成分的步驟包括:將第三層的特征X射線的譜線與預(yù)先獲取的二氧化硅層的特征X射線的標(biāo)準(zhǔn)二氧化硅層譜線比對(duì)，若一致則第三層的成分與二氧化硅層的成分一致，將第四層的特征X射線的譜線與預(yù)先獲取的有機(jī)絕緣保護(hù)層的特征X射線的標(biāo)準(zhǔn)有機(jī)絕緣保護(hù)層譜線進(jìn)行比對(duì)，若一致則第四層的成分與有機(jī)絕緣保護(hù)層的成分一致。
[0013]為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明采用的另一個(gè)技術(shù)方案是:提供一種觸摸屏鍍層的檢測裝置，該觸摸屏包括基板和觸摸屏鍍層，觸摸屏鍍層包括設(shè)置在基板上的第一層和設(shè)置在第一層上的第二層，第一層和第二層中一者為消影層，另一者為透明導(dǎo)電層，檢測裝置包括:特征X射線獲取單元，用于分別獲取第一層和第二層的特征X射線的譜線；譜線分析單元，用于根據(jù)第一層和第二層的特征X射線的譜線分析第一層和第二層的成分；處理單元，用于根據(jù)第一層和第二層的成分判斷第一層和第二層中何者為消影層，何者為透明導(dǎo)電層，以判斷觸摸屏鍍層是否合格，其中，若第一層為透明導(dǎo)電層，第二層為消影層則觸摸屏鍍層為合格，反之，則不合格。
[0014]其中，特征X射線獲取單元包括:電子束激發(fā)器，用于發(fā)射電子束照射觸摸屏鍍層表面以激發(fā)第一層和第二層的特征X射線；電子顯微鏡和能譜探測儀，用于觀測并分別獲取第一層和第二層的特征X射線的譜線。
[0015]本發(fā)明的有益效果是:區(qū)別于現(xiàn)有技術(shù)的情況，本發(fā)明通過分別獲取第一層和第二層的特征X射線的譜線；根據(jù)第一層和第二層的特征X射線的譜線分析第一層和第二層的成分，并根據(jù)第一層和第二層的成分判斷第一層和第二層中何者為消影層，何者為透明導(dǎo)電層，以判斷觸摸屏鍍層是否合格，從而能夠有效檢測觸摸屏鍍層順序是否顛倒，較好的檢測觸摸屏鍍層的是否合格。
【附圖說明】
[0016]圖1是本發(fā)明第一實(shí)施例的觸摸屏鍍層的檢測方法的流程圖；
[0017]圖2是本發(fā)明第二實(shí)施例的觸摸屏鍍層的檢測方法的流程圖；
[0018]圖3是本發(fā)明優(yōu)選實(shí)施例的觸摸屏鍍層的檢測裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0019]下面結(jié)合附圖和實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行詳細(xì)的說明。
[0020]請(qǐng)參閱圖1，圖1是本發(fā)明第一實(shí)施例的觸摸屏鍍層的檢測方法的流程圖。在本實(shí)施例中，觸摸屏包括基板和設(shè)置在基板上的觸摸屏鍍層，觸摸屏鍍層包括設(shè)置在基板上的第一層和設(shè)置在第一層上的第二層，第一層和第二層中一者為消影層，另一者為透明導(dǎo)電層，優(yōu)選地，消影層成分為五氧化二鈮，透明導(dǎo)電層的成分為三氧化二銦。觸摸屏鍍層的檢測方法包括:
[0021]步驟Sll:分別獲取第一層和第二層的特征X射線的譜線。
[0022]在步驟Sll中，例如，利用特征X射線獲取單元分別獲取第一層和第二層的特征X射線的譜線，該步驟具體可以包括:利用電子顯微鏡觀察觸摸屏鍍層的橫截面，以區(qū)分第一層和第二層；電子束激發(fā)器用電子束照射觸摸屏鍍層表面以激發(fā)第一層和第二層的特征X射線；利用電子顯微鏡和能譜探測儀觀測并分別獲取第一層和第二層的特征X射線的譜線。
[0023]步驟S12:根據(jù)第一層和第二層的特征X射線的譜線分析第一層和第二層的成分。
[0024]在步驟S12中，例如，利用譜線分析單元根據(jù)第一層和第二層的特征X射線的譜線分析第一層和第二層的成分，該步驟具體包括:譜線分析單元將第一層和第二層的特征X射線的譜線分別與預(yù)先獲取的消影層的特征X射線的標(biāo)準(zhǔn)消影層譜線和透明導(dǎo)電層的特征X射線的標(biāo)準(zhǔn)透明導(dǎo)電層譜線進(jìn)行比對(duì)，其中，第一層和第二層中與標(biāo)準(zhǔn)消影層譜線一致的其成分與消影層一致，與標(biāo)準(zhǔn)透明導(dǎo)電層譜線一致的其成分與透明導(dǎo)電層一致。
[0025]步驟S13:根據(jù)第一層和第二層的成分判斷第一層和第二層中何者為消影層，何者為透明導(dǎo)電層，以判斷觸摸屏鍍層是否合格。
[0026]在步驟S13中，例如，利用處理單元根據(jù)第一層和第二層的成分判斷第一層和第二層中何者為消影層，何者為透明導(dǎo)電層，以判斷觸摸屏鍍層是否合格。第一層和第二層中與標(biāo)準(zhǔn)消影層譜線一致的其成分與消影層一致，該鍍層即為消影層。與標(biāo)準(zhǔn)透明導(dǎo)電層譜線一致的其成分與透明導(dǎo)電層一致，該鍍層即為透明導(dǎo)電層。若第一層為透明導(dǎo)電層，第二層為消影層則觸摸屏鍍層為合格，反之，若第一層為消影層，第二層為透明導(dǎo)電層，則不合格。
[0027]請(qǐng)參閱圖2，圖2是本發(fā)明第二實(shí)施例的觸摸屏鍍層的檢測方法的流程圖。在本實(shí)施例中，觸摸屏包括基板和設(shè)置在基板上的觸摸屏鍍層，觸摸屏鍍層包括設(shè)置在基板上的第一層和設(shè)置在第一層上的第二層，第一層和第二層中一者為消影層，另一者為透明導(dǎo)電層，觸摸屏鍍層還包括位于第一層下的第三層和位于第二層上的第四層。優(yōu)選地，消影層成分為五氧化二鈮，透明導(dǎo)電層的成分為三氧化二銦。
[0028]步驟S21:利用電子顯微鏡觀察觸摸屏鍍層的橫截面，以區(qū)分第一層、第二層、第三層以及第四層。
[0029]步驟S22:用電子束照射鍍層表面以激發(fā)第一層、第二層、第三層以及第四層的特征X射線。
[0030]在步驟S22中，例如，電子束激發(fā)器用電子束照射鍍層表面以激發(fā)第一層、第二層、第三層以及第四層的特征X射線。
[0031]步驟S23:觀測并分別獲取第一層、第二層、第三層以及第四層的特征X射線的譜線。
[0032]在步驟S23中，例如，利用電子顯微鏡和能譜探測儀觀測并分別獲取第一層、第二層、第三層以及第四層的特征X射線的譜線。
[0033]步驟S24:根據(jù)第一層和第二層的特征X射線的譜線分析第一層和第二層的成分，根據(jù)第三層和第四層的特征X射線的譜線分析第三層和第四層的成分。
[0034]在步驟S24中，例如，利用