一種測量半圓弧內徑的裝置的制造方法
【技術領域】
[0001] 本發(fā)明涉及一種測量裝置，尤其是一種測量半圓弧內徑的裝置。
【背景技術】
[0002] 目前，像含有半圓弧類的零部件在驗收或者加工的過程中，需對半圓弧內徑進行 測量，因檢測手段限制，現在大部分類似結構內徑的檢測都借助于立坐標測量化該儀器測 量過程復雜、繁瑣，需要進行多處打點擬合，測量時間較長，并且不能實現半圓弧內徑100% 測量，測量費用十分昂貴，不適于長期大量使用。
[0003] 因此一種操作簡單，測量精確的用于測量半圓弧內徑的裝置是亟需被發(fā)明的。

【發(fā)明內容】

[0004] 本發(fā)明為解決上述現有技術的不足，提出一種測量半圓弧內徑的裝置，該裝置可 W快速實現半圓弧內孔的測量，具有結構簡單、使用方便，測量精確、實用高效等特點。
[0005] 本發(fā)明涉及一種測量半圓弧內徑的裝置，其包括對表塊、表架和測量儀表，所述測 量儀表上設有外圓夾持部位插入所述表架上與之對應的內孔處，通過螺釘固定，所屬表架 兩端安裝有兩個支腿，兩個支腿外露部分的長度一致，兩個支腿之間夾角為141. 058度。
[0006] 所述支腿與所述表架過盈配合安裝。
[0007] 所述支腿可拆卸。
[0008] 所述支腿外露部分的長度范圍是1. 5mm?11. 5mm，相應的所測半圓弧的內經范圍是 30mm ?50mm。
[0009] 所述測量儀表的測量桿和所述支腿的底端均與所述對表塊的圓弧形凹部相接觸。
[0010] 所述對表塊圓弧真實直徑值與被測半圓弧內徑理論值相同或接近。
[0011] 被測半圓弧的內徑值等于所述對表塊的真實直徑值減去所述測量儀表的讀數值。
[0012] 所述測量儀表為百分表或千分表。優(yōu)選的，當高精度測量時使用千分表。
[0013] 所述測量裝置的使用方法為；對表塊的制備，對表和測量。
[0014] 本發(fā)明的理論依據為： 半圓弧內徑值測量公式為；D=D0+AD =D0- Ah。
[0015] D為所需測量半圓弧內徑值，DO為對表塊圓弧直徑真實值，AD為直徑變化量，Ah 為弓高變化量(即測量時百分表讀數值，帶正負)，a為兩支腿之間的夾角。
[0016] 所述公式通過應用H角函數公式及半徑、弓高、弦長之間的關系可推導得出，當 弦長一定時，弓高變化量與直徑變化量之間的關系，即固定弦長測弓高法：AD=- ( -1) Ah,從而推導出所述的測量公式。
[0017] 當時，a為141. 058度，所W當兩支腿之間夾角為141. 058度時，本發(fā) 明測量公式為；D=D〇-A h，即被測半圓弧內徑值等于對表塊真實直徑值DO減去百分表讀數 值Ah (帶正負）。
[0018] 本發(fā)明的有益技術效果是；本發(fā)明操作簡單、實用高效，利用弓高、弦長之間的關 系算出當兩只腿之間夾角為為141. 058度時，被測半圓弧的內徑值等于對表塊真實直徑值 減去百分表刻度讀數值，有效解決了半圓弧內徑精確測量的難題，提高了半圓弧內徑的測 量效率，節(jié)省了因H坐標測量而產生的大量費用。
[0019] 下面通過附圖和實施例，對本發(fā)明的技術方案做進一步的詳細描述。
【附圖說明】
[0020] 附圖用來提供對本發(fā)明的進一步理解，并且構成本說明書的一部分，與本發(fā)明的 實施例一起用于解釋本發(fā)明，并不構成對本發(fā)明的限制。在附圖中： 圖1為本發(fā)明主視圖； 圖2為本發(fā)明左視圖； 圖中，1-對表塊，2-支腿，3-表架，4-百分表，5-螺釘，6-外圓夾持部位，7-表架內孔。
[0021]
【具體實施方式】： 一種測量半圓弧內徑的裝置，其包括對表塊1、支腿2、表架3、百分表4和螺釘5,支腿 2與表架3過盈配合安裝，保證兩個支腿之間的夾角是141. 058度，兩個支腿外露部分長度 相等，減小本發(fā)明因制造誤差而影響測量精度；然后將百分表4外圓夾持部位6插入表架內 孔7處；對表時根據實際情況通過上下移動百分表或千分表適當調整其預壓值，使預壓值 大于等于0. 5mm且小于1mm ;最后掙緊螺釘5,固定好百分表或千分表，本發(fā)明裝配完成。
[0022] 此時，所述裝置的使用方法既半圓弧內徑的測量方法為；1、對表塊1的制備，對 表塊1的對表處為圓弧型，且對表塊圓弧的真實直徑值需與被測圓弧直徑理論值相同或接 近。對表塊加工完成后需用H坐標測量儀對圓弧形凹部進行真實值測量并將真實值打刻在 對表塊下方平面處，方便后續(xù)使用，此處對表塊圓弧直徑真實值記為DO。
[0023] 2、將本發(fā)明如圖1對表，將所述測量儀表的測量桿和所述支腿的底端均與所述對 表塊的圓弧形凹部相接觸，轉動表架，觀察百分表指針，轉動刻度盤，將指針所指最大讀數 處置為零，對表完成。
[0024] 3、測量，將對完表的所述裝置放置于需測半圓弧內，放置狀態(tài)與對表時放置狀態(tài) 相同，轉動百分表，讀出指針所指最大刻度A h (帶正負)，根據公式D=D〇- A h用對表塊真實 值DO減去百分表所指最大刻度值Ah (帶正負）即為該半圓弧內徑值D，測量完畢。
[0025] 其中，在保證百分表或者千分表量程足夠的前提下可通過更換不同長度的支腿 測量不同內徑的半圓弧。 W上所述，僅是本專利的較佳實施例而已，并非是對本專利作其它形式的限制，任何熟 悉本專業(yè)的技術人員可能利用上述掲示的技術內容加W變更或改型為等同變化的等效實 施例。但是凡是未脫離本專利技術方案內容，依據本專利的技術實質對W上實施例所作的 任何簡單修改、等同變化與改型，仍屬于本專利技術方案的保護范圍。
【主權項】
1. 一種測量半圓弧內徑的裝置，包括對表塊、表架和測量儀表，所述測量儀表上設有外 圓夾持部位插入所述表架上與之對應的內孔處，通過螺釘固定，其特征在于：所屬表架兩端 安裝有兩個支腿，兩個支腿外露部分的長度相等，兩個支腿之間夾角為141. 058度。
2. 根據權利要求1所述的測量半圓弧內徑的裝置，其特征在于：所述支腿與所述表架 為過盈配合安裝。
3. 根據權利要求1所述的測量半圓弧內徑的裝置，其特征在于：所述支腿可拆卸。
4. 根據權利要求1所述的測量半圓弧內徑的裝置，其特征在于：所述支腿外露部分的 長度范圍是1. 5mm~ll. 5mm。
5. 根據權利要求1所述的測量半圓弧內徑的裝置，其特征在于：被測半圓弧的內徑值 等于所述對表塊的真實直徑值減去所述測量儀表的讀數值。
6. 根據權利要求1所述的測量半圓弧內徑的裝置，其特征在于：所述測量儀表的測量 桿和所述支腿的底端均與所述對表塊的圓弧形凹部相接觸。
7. 根據權利要求1所述的測量半圓弧內徑的裝置，其特征在于：所述對表塊的圓弧真 實直徑值與被測半圓弧內徑理論值相同或者接近。
8. 根據權利要求1-7中任一項所述的測量半圓弧內徑的裝置，其特征在于：所述測量 儀表為百分表或千分表。
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種測量半圓弧內徑的裝置，其包括對表塊、表架、測量儀表及支腿。本發(fā)明所述的裝置可以通過更換不同長度的支腿來滿足不同內徑半圓弧的測量，被測半圓弧的內徑值等于對表塊的真實值減去測量儀表的讀數值。本發(fā)明操作簡單、實用性好，測量效率高。
【IPC分類】G01B5-213, G01B5-12
【公開號】CN104596396
【申請?zhí)枴緾N201410843495
【發(fā)明人】紀建奕, 紀奕春, 位本杰, 孫麗麗, 邴啟順
【申請人】青特集團有限公司
【公開日】2015年5月6日
【申請日】2014年12月30日