0055]依此類(lèi)推，可測(cè)得第四測(cè)試面、第五測(cè)試面、第六測(cè)試面與第一測(cè)試面或是第二測(cè)試面之間的垂直度。
[0056]通過(guò)測(cè)試結(jié)果可知，第一測(cè)試面或是第二測(cè)試面與第三測(cè)試面、第四測(cè)試面、第五測(cè)試面、第六測(cè)試面的垂直度分別為0.002mm、0.01mm、0.005mm、0.003mm。
[0057]實(shí)施例2
[0058]一種六面體高精度形位測(cè)量裝置，包括電感測(cè)微儀、大理石定位平板、電感測(cè)頭、第一測(cè)頭固定塊、第二測(cè)頭固定塊、標(biāo)準(zhǔn)平行刀口尺或標(biāo)準(zhǔn)棒、測(cè)頭連接線、第一支架和第二支架；
[0059]待測(cè)六面體總高25mm
[0060]第一測(cè)頭固定塊為帶有中心通孔的銅質(zhì)長(zhǎng)方體；
[0061]第二測(cè)頭固定塊為帶有中心通孔的鋼質(zhì)刀口尺；
[0062]定位平板為大理石材質(zhì)，定位平板的表面光潔度Ra0.0Olmm,平面度0.002mm,定位平板大小為10Omm X 10Omnin
[0063]電感測(cè)頭穿過(guò)第一測(cè)頭固定塊和第二測(cè)頭固定塊的中心通孔，電感測(cè)頭與第一測(cè)頭固定塊和第二測(cè)頭固定塊通過(guò)螺栓固定；
[0064]標(biāo)準(zhǔn)平行刀口尺的刀口部分平面度為0.001mm。
[0065]第一支架固定在大理石定位平板上，用于支撐電感測(cè)微儀與電感測(cè)頭的連接線；
[0066]第二支架的一端固定在大理石定位平板上，另一端帶有與大理石定位平板平行的平臺(tái)，該平臺(tái)用于固定支撐第一測(cè)頭固定塊；
[0067]電感測(cè)微儀固定在大理石定位平板上；
[0068]標(biāo)準(zhǔn)平行刀口尺固定在大理石定位平板上，標(biāo)準(zhǔn)平行刀口尺與六面體的待測(cè)面接觸，且標(biāo)準(zhǔn)平行刀口尺靠近六面體的待測(cè)面的底端；
[0069]測(cè)頭連接線的一端與電感測(cè)微儀連接，中間部分通過(guò)第一支架進(jìn)行固定，另一端與電感測(cè)頭的非敏感端連接；電感測(cè)頭的敏感端與六面體的待測(cè)面接觸，電感測(cè)頭的敏感端靠近六面體的待測(cè)面的頂端；
[0070]第二測(cè)頭固定塊用于對(duì)待測(cè)試的六面體進(jìn)行限位；
[0071]標(biāo)準(zhǔn)平行刀口尺用于對(duì)待測(cè)試的六面體進(jìn)行限位，以保證六面體的待測(cè)面與大理石定位平板垂直；
[0072]一種六面體高精度形位測(cè)量方法，該方法用于測(cè)量六面體六個(gè)面的垂直度和平行度，并命名待測(cè)試的六面體的頂面為第一測(cè)試面，底面為第二測(cè)試面，其他四個(gè)側(cè)面從上往下看，按順指針?lè)较蛞来螢榈谌郎y(cè)試面、第四測(cè)試面、第五測(cè)試面、第六測(cè)試面；
[0073]步驟為:
[0074](I)對(duì)第一測(cè)試面和第二測(cè)試面進(jìn)行研磨，使第一測(cè)試面和第二測(cè)試面均與大理石定位平板平行，并以第一測(cè)試面和第二測(cè)試面作為基準(zhǔn)面；
[0075](2)使第二測(cè)試面與大理石定位平板接觸，當(dāng)電感測(cè)頭接觸到第三測(cè)試面時(shí)，電感測(cè)微儀的指針發(fā)生偏轉(zhuǎn)，調(diào)整電感測(cè)微儀的對(duì)零旋鈕，使指針指向零位；
[0076](3)翻轉(zhuǎn)六面體，使第一測(cè)試面與大理石定位平板接觸，當(dāng)電感測(cè)頭接觸到第三測(cè)試面時(shí)，電感測(cè)微儀的指針發(fā)生偏轉(zhuǎn)，此時(shí)電感測(cè)微儀的指數(shù)即為第一測(cè)試面或是第二測(cè)試面與第三測(cè)試面的垂直度。
[0077]依此類(lèi)推，可測(cè)得第四測(cè)試面、第五測(cè)試面、第六測(cè)試面與第一測(cè)試面或是第二測(cè)試面之間的垂直度。
[0078]通過(guò)測(cè)試結(jié)果可知，第一測(cè)試面或是第二測(cè)試面與第三測(cè)試面、第四測(cè)試面、第五測(cè)試面、第六測(cè)試面的垂直度分別為0.001mm、0.005mm、0.002mm、0.004mm。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種六面體高精度形位測(cè)量裝置，其特征在于:包括電感測(cè)微儀、大理石定位平板、電感測(cè)頭、第一測(cè)頭固定塊、第二測(cè)頭固定塊、標(biāo)準(zhǔn)平行刀口尺或標(biāo)準(zhǔn)棒、測(cè)頭連接線、第一支架和第二支架； 第一測(cè)頭固定塊為帶有中心通孔的銅質(zhì)長(zhǎng)方體； 第二測(cè)頭固定塊為帶有中心通孔的鋼質(zhì)刀口尺； 電感測(cè)頭穿過(guò)第一測(cè)頭固定塊和第二測(cè)頭固定塊的中心通孔，電感測(cè)頭與第一測(cè)頭固定塊和第二測(cè)頭固定塊通過(guò)螺栓固定； 第一支架固定在大理石定位平板上，用于支撐電感測(cè)微儀與電感測(cè)頭的連接線； 第二支架的一端固定在大理石定位平板上，另一端帶有與大理石定位平板平行的平臺(tái)，該平臺(tái)用于固定支撐第一測(cè)頭固定塊； 電感測(cè)微儀固定在大理石定位平板上； 標(biāo)準(zhǔn)平行刀口尺或標(biāo)準(zhǔn)棒固定在大理石定位平板上，標(biāo)準(zhǔn)平行刀口尺或標(biāo)準(zhǔn)棒與六面體的待測(cè)面接觸，且標(biāo)準(zhǔn)平行刀口尺或標(biāo)準(zhǔn)棒靠近六面體的待測(cè)面的底端； 測(cè)頭連接線的一端與電感測(cè)微儀連接，中間部分通過(guò)第一支架進(jìn)行固定，另一端與電感測(cè)頭的非敏感端連接；電感測(cè)頭的敏感端與六面體的待測(cè)面接觸，電感測(cè)頭的敏感端靠近六面體的待測(cè)面的頂端； 第二測(cè)頭固定塊用于對(duì)待測(cè)試的六面體進(jìn)行限位； 標(biāo)準(zhǔn)平行刀口尺或標(biāo)準(zhǔn)棒用于對(duì)待測(cè)試的六面體進(jìn)行限位，以保證六面體的待測(cè)面與大理石定位平板垂直。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種六面體高精度形位測(cè)量裝置，其特征在于:大理石定位平板的表面光潔度小于Ra0.002_，平面度小于0.005_，定位平板大小根據(jù)待測(cè)六面體的大小進(jìn)行調(diào)整。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種六面體高精度形位測(cè)量裝置，其特征在于:標(biāo)準(zhǔn)棒為鋼質(zhì)圓柱，表面光潔度小于Ra0.002mm,圓柱度小于0.005mm，直徑為15mm?40mm，長(zhǎng)度根據(jù)待測(cè)六面體的大小進(jìn)行調(diào)整。
4.一種六面體高精度形位測(cè)量方法，該方法用于測(cè)量六面體六個(gè)面的垂直度，并命名待測(cè)試的六面體的頂面為第一測(cè)試面，底面為第二測(cè)試面，其他四個(gè)側(cè)面從上往下看，按順指針?lè)较蛞来螢榈谌郎y(cè)試面、第四測(cè)試面、第五測(cè)試面、第六測(cè)試面； 其特征在于步驟為: (1)對(duì)第一測(cè)試面和第二測(cè)試面進(jìn)行研磨，使第一測(cè)試面和第二測(cè)試面均與大理石定位平板平行，并以第一測(cè)試面和第二測(cè)試面作為基準(zhǔn)面； (2)使第二測(cè)試面與大理石定位平板接觸，當(dāng)電感測(cè)頭接觸到第三測(cè)試面時(shí)，電感測(cè)微儀的指針發(fā)生偏轉(zhuǎn)，調(diào)整電感測(cè)微儀的對(duì)零旋鈕，使指針指向零位； (3)翻轉(zhuǎn)六面體，使第一測(cè)試面與大理石定位平板接觸，當(dāng)電感測(cè)頭接觸到第三測(cè)試面時(shí)，電感測(cè)微儀的指針發(fā)生偏轉(zhuǎn)，此時(shí)電感測(cè)微儀的指數(shù)即為第一測(cè)試面或是第二測(cè)試面與第三測(cè)試面的垂直度。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種六面體高精度形位測(cè)量方法，其特征在于: (I)對(duì)第一測(cè)試面和第二測(cè)試面進(jìn)行研磨，使第一測(cè)試面和第二測(cè)試面均與大理石定位平板平行，并以第一測(cè)試面和第二測(cè)試面作為基準(zhǔn)面； (2)使第二測(cè)試面與大理石定位平板接觸，當(dāng)電感測(cè)頭接觸到第四測(cè)試面時(shí)，電感測(cè)微儀的指針發(fā)生偏轉(zhuǎn)，調(diào)整電感測(cè)微儀的對(duì)零旋鈕，使指針指向零位； (3)翻轉(zhuǎn)六面體，使第一測(cè)試面與大理石定位平板接觸，當(dāng)電感測(cè)頭接觸到第四測(cè)試面時(shí)，電感測(cè)微儀的指針發(fā)生偏轉(zhuǎn)，此時(shí)電感測(cè)微儀的指數(shù)即為第一測(cè)試面或是第二測(cè)試面與第四測(cè)試面的垂直度。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種六面體高精度形位測(cè)量方法，其特征在于: (1)對(duì)第一測(cè)試面和第二測(cè)試面進(jìn)行研磨，使第一測(cè)試面和第二測(cè)試面均與大理石定位平板平行，并以第一測(cè)試面和第二測(cè)試面作為基準(zhǔn)面； (2)使第二測(cè)試面與大理石定位平板接觸，當(dāng)電感測(cè)頭接觸到第五測(cè)試面時(shí)，電感測(cè)微儀的指針發(fā)生偏轉(zhuǎn)，調(diào)整電感測(cè)微儀的對(duì)零旋鈕，使指針指向零位； (3)翻轉(zhuǎn)六面體，使第一測(cè)試面與大理石定位平板接觸，當(dāng)電感測(cè)頭接觸到第五測(cè)試面時(shí)，電感測(cè)微儀的指針發(fā)生偏轉(zhuǎn)，此時(shí)電感測(cè)微儀的指數(shù)即為第一測(cè)試面或是第二測(cè)試面與第五測(cè)試面的垂直度。
7.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種六面體高精度形位測(cè)量方法，其特征在于: (1)對(duì)第一測(cè)試面和第二測(cè)試面進(jìn)行研磨，使第一測(cè)試面和第二測(cè)試面均與大理石定位平板平行，并以第一測(cè)試面和第二測(cè)試面作為基準(zhǔn)面； (2)使第二測(cè)試面與大理石定位平板接觸，當(dāng)電感測(cè)頭接觸到第六測(cè)試面時(shí)，電感測(cè)微儀的指針發(fā)生偏轉(zhuǎn)，調(diào)整電感測(cè)微儀的對(duì)零旋鈕，使指針指向零位； (3)翻轉(zhuǎn)六面體，使第一測(cè)試面與大理石定位平板接觸，當(dāng)電感測(cè)頭接觸到第六測(cè)試面時(shí)，電感測(cè)微儀的指針發(fā)生偏轉(zhuǎn)，此時(shí)電感測(cè)微儀的指數(shù)即為第一測(cè)試面或是第二測(cè)試面與第六測(cè)試面的垂直度。
【專(zhuān)利摘要】本發(fā)明涉及航天慣性器件精密檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種六面體高精度形位測(cè)量裝置及方法。該裝置包括電感測(cè)微儀、大理石定位平板、電感測(cè)頭、第一測(cè)頭固定塊、第二測(cè)頭固定塊、標(biāo)準(zhǔn)平行刀口尺或標(biāo)準(zhǔn)棒、測(cè)頭連接線、第一支架和第二支架。本發(fā)明的方法，檢測(cè)時(shí)間短，檢測(cè)效率高。一組平面的形位關(guān)系檢測(cè)時(shí)間只需2分鐘，而進(jìn)口高精度三坐標(biāo)測(cè)試儀檢測(cè)時(shí)間約為20分鐘以上，檢測(cè)效率提高了10倍以上。
【IPC分類(lèi)】G01B7-30, G01B7-305
【公開(kāi)號(hào)】CN104596410
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201510016621
【發(fā)明人】君華, 黃德, 王長(zhǎng)青, 李冰遠(yuǎn), 曹勇, 馬曉峰, 宋大海
【申請(qǐng)人】北京航天控制儀器研究所
【公開(kāi)日】2015年5月6日
【申請(qǐng)日】2015年1月13日