一種用于平板探測器的安裝結(jié)構(gòu)的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及射線平板探測器成像技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種用于平板探測器的安裝結(jié)構(gòu)。
【背景技術(shù)】
[0002]近年來，輻射探測成像技術(shù)廣泛用于放射醫(yī)療、無損探傷等各個領(lǐng)域，高能X射線在穿透不同材質(zhì)、不同厚度的物體時產(chǎn)生的衰減不同，即探測器接收的射線強度也不同，因此可以根據(jù)探測器不同位置接收到的射線強度可以獲得被探測物體的內(nèi)部結(jié)構(gòu)特征。
[0003]常用的探測器為平板探測器，X射線先經(jīng)介質(zhì)材料轉(zhuǎn)換成可見光，再由光敏元件將可見光信號轉(zhuǎn)換成電信號，最后將模擬電信號經(jīng)模數(shù)轉(zhuǎn)換(即A/D轉(zhuǎn)換)成數(shù)字信號，因此在平板探測器中具有完成上述信號轉(zhuǎn)換的電子元器件。為降低高能X射線對探測器內(nèi)部的電子元器件所造成的輻射損傷，一般將探測器安裝有電子元器件的部分置于由鉛或鎢銅合金組成的屏蔽保護殼中。由于高能X射線是由電子加速器產(chǎn)生的，電子加速器能量越高，所需的起到屏蔽作用的平板探測器的屏蔽保護殼厚度就越大，隨之重量也就越大。
[0004]但是對于厚度和重量均較大的平板探測器屏蔽保護殼，不僅難以保證加工精度和安裝精度，而且后期對平板探測器的維護工作也非常不方便。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]為了克服現(xiàn)有技術(shù)中由于平板探測器屏蔽厚度過大，重量過大導(dǎo)致的安裝和維護不便的問題，本發(fā)明提供了一種用于平板探測器的安裝結(jié)構(gòu)，能夠方便平板探測器的安裝和后期的維護。
[0006]本發(fā)明的額外方面和優(yōu)點將部分地在下面的描述中闡述，并且部分地將從描述中變得顯然，或者可以通過本發(fā)明的實踐而得知。
[0007]本發(fā)明提供了一種用于平板探測器的安裝結(jié)構(gòu)，包括:
[0008]屏蔽組件，用于起到屏蔽射線的作用；
[0009]后蓋板，平板探測器置于所述屏蔽組件與所述后蓋板組成的屏蔽空間中；
[0010]第一調(diào)節(jié)組件，設(shè)置在所述平板探測器的底邊下方的其中一側(cè)，用于調(diào)節(jié)所述平板探測器的水平度。
[0011]根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，還包括基座，位于所述平板探測器底邊的下方以及所述屏蔽組件的下方。
[0012]根據(jù)本發(fā)明的另一個實施例，還包括第二調(diào)節(jié)組件，設(shè)置在所述平板探測器的底邊下方的另一側(cè)。
[0013]根據(jù)本發(fā)明的另一個實施例，所述第一調(diào)節(jié)組件和/或第二調(diào)節(jié)組件包括一面為斜面的調(diào)整墊塊，所述調(diào)整墊塊位于所述基座形成的斜面槽中，所述調(diào)整墊塊的斜面與所述斜面槽的斜面平行且相對設(shè)置。
[0014]根據(jù)本發(fā)明的另一個實施例，所述第一調(diào)節(jié)組件和/或第二調(diào)節(jié)組件還包括螺釘，且在所述調(diào)整墊塊的斜面及對側(cè)具有長條狀過孔，通過調(diào)整所述螺釘使得所述調(diào)整墊塊沿著所述斜面槽上下滑動。
[0015]根據(jù)本發(fā)明的另一個實施例，所述屏蔽組件在所述平板探測器的前方形成中間區(qū)域通透的窗口，射線穿過所述窗口被所述平板探測器接收并完成成像。
[0016]根據(jù)本發(fā)明的另一個實施例，所述屏蔽組件在靠近所述平板探測器頂邊的位置還具有臺階結(jié)構(gòu)，所述臺階結(jié)構(gòu)覆蓋在所述平板探測器的頂邊，并與所述后蓋板連接并固定。
[0017]根據(jù)本發(fā)明的另一個實施例，所述屏蔽組件的外表面覆蓋有一層金屬外殼。
[0018]根據(jù)本發(fā)明的另一個實施例，所述屏蔽組件的材料為鉛或鎢銅合金。
[0019]根據(jù)本發(fā)明的另一個實施例，所述屏蔽組件的不同部件之間在連接處均采用榫接形式連接。
[0020]本發(fā)明提供的用于平板探測器的安裝結(jié)構(gòu)，其中第一調(diào)節(jié)組件用于安裝后保證平板探測器的位置精確度，尤其是水平探測器的水平度，通過調(diào)節(jié)平板探測器的水平度，能夠保證穿透被探測物體相同的層射線被同一行的行像素陣列接收，避免出現(xiàn)成像錯誤。利用該安裝結(jié)構(gòu)對平板探測器進行安裝，能夠方便安裝和后期維護，還能保證成像精確度。
【附圖說明】
[0021]圖1為本發(fā)明實施例提供的一種用于平板探測的安裝結(jié)構(gòu)的立體剖視圖；
[0022]圖2為本發(fā)明對圖1中立體剖視圖沿著A-B剖開的截面圖；
[0023]圖3為本發(fā)明圖2中截面圖的局部放大圖；
[0024]圖4為本發(fā)明中第一調(diào)節(jié)組件或第二調(diào)節(jié)組件實現(xiàn)調(diào)整平板探測器水平度功能的不意圖；
[0025]圖5為圖4的立體示意圖。
[0026]附圖中各個標(biāo)記說明如下:
[0027]00、平板探測器；
[0028]10、屏蔽組件；
[0029]21、調(diào)整墊塊；
[0030]22、螺釘；
[0031]30、后蓋板；
[0032]40、基座；
[0033]50、金屬外殼；
[0034]W、窗口；
[0035]X、長條狀過孔。
【具體實施方式】
[0036]現(xiàn)在將參考附圖更全面地描述示例實施方式。然而，示例實施方式能夠以多種形式實施，且不應(yīng)被理解為限于在此闡述的實施方式；相反，提供這些實施方式使得本發(fā)明將全面和完整，并將示例實施方式的構(gòu)思全面地傳達給本領(lǐng)域的技術(shù)人員。
[0037]所描述的特征、結(jié)構(gòu)或特性可以以任何合適的方式結(jié)合在一個或更多實施方式中。在下面的描述中，提供許多具體細節(jié)從而給出對本發(fā)明的實施方式的充分理解。然而，本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)意識到，沒有所述特定細節(jié)中的一個或更多，或者采用其它的方法、組元、材料等，也可以實踐本發(fā)明的技術(shù)方案。在其它情況下，不詳細示出或描述公知結(jié)構(gòu)、材料或者操作以避免模糊本發(fā)明。
[0038]基于上述，本發(fā)明的實施例中提供了一種用于平板探測器的安裝結(jié)構(gòu)，其立體結(jié)構(gòu)圖如圖1所示，包括:
[0039]屏蔽組件10，用于起到屏蔽射線的作用；
[0040]后蓋板30，平板探測器00置于屏蔽組件10與后蓋板30組成的屏蔽空間中；
[0041]第一調(diào)節(jié)組件(圖中未示出)，設(shè)置在平板探測器00的下方，用于調(diào)節(jié)平板探測器00的水平度。
[0042]參見圖1所述的立體圖，屏蔽組件10設(shè)置在平板探測器00的一側(cè)(由于平板探測器00用于接收穿過被測物體后的射線，即按照射線的經(jīng)過順序劃分則稱之為前側(cè)，反之，與前側(cè)相對的一側(cè)稱之為后側(cè))，后蓋板30設(shè)置在平板探測器00的后側(cè)，通過第一調(diào)節(jié)組件能夠調(diào)節(jié)水平探測器00的水平度，進而保證其工作時要求較高的位置精度。
[0043]根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，對本實施例中的安裝結(jié)構(gòu)沿著A-B剖開得到的一側(cè)面剖視圖及相應(yīng)的局部放大圖分別如圖2和圖3所示。參見圖2和圖3，該安裝結(jié)構(gòu)中包括基座40，位于平板探測器00底邊的下方以及屏蔽組件10的下方?；?0用于連接平板探測器00和平板探測器工作的平臺(圖中未示出)，同時在本發(fā)明的安裝結(jié)構(gòu)中對于基座21的尺寸精度也有較高要求，一般加工完成后要經(jīng)過時效處理，充分釋放內(nèi)部的應(yīng)力。
[0044]再根據(jù)本發(fā)明的另一個實施例，該安裝結(jié)構(gòu)中還包括第二調(diào)節(jié)組件(圖中未示出)，其結(jié)構(gòu)與原理同第一調(diào)節(jié)組件，將其設(shè)置在平板探測器00的底邊下方的另一側(cè)。也就是說，在安裝結(jié)構(gòu)中可以只包括一個調(diào)節(jié)組件，設(shè)置在平板探測器的底邊下方的其中一側(cè)，這樣就能通過該調(diào)節(jié)組件改變平板探測器的水平度。同時，還可以根據(jù)需要設(shè)置兩個調(diào)節(jié)組件，分別設(shè)置在平板探測器的底邊下方的兩側(cè)，使用時通過分別調(diào)節(jié)兩個調(diào)節(jié)組件也同樣能夠改變平板探測器的水平度。
[0045]參見圖3，再根據(jù)本發(fā)明的另一個實施例，第一調(diào)節(jié)組件和/或