一種ct成像控制系統(tǒng)的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明屬于輻射成像領(lǐng)域，尤其涉及一種CT成像控制系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]目前，傳統(tǒng)單能、雙能X射線成像通常利用閃爍體型探測(cè)器，所采集得到的信號(hào)反應(yīng)了多色X射線的整體能量沉積量。由于能量沉積是對(duì)X射線能譜的能量加權(quán)積分，成像結(jié)果無(wú)法反映物質(zhì)在某個(gè)能量下的衰減信息。雙能成像包括多能CT利用不同的X射線能譜進(jìn)行成像，具有一定的物質(zhì)區(qū)分能力，但由于其物理模型所限，成像結(jié)果具有一定系統(tǒng)誤差，且X射線能譜之間總有一定重疊區(qū)域，影響了物質(zhì)區(qū)分能力，且成像效果不好，存在著一些成像模糊的地方。
[0003]因此，發(fā)明一種CT成像控制系統(tǒng)顯得非常必要。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]為了解決上述技術(shù)問(wèn)題，本發(fā)明提供一種CT成像控制系統(tǒng)，旨在解決目前的CT成像效果不好，存在著一些成像模糊地方的問(wèn)題。
[0005]為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采取的技術(shù)方案為:一種CT成像控制系統(tǒng)，該CT成像控制系統(tǒng)包括檢測(cè)發(fā)生器、初步探測(cè)模塊、細(xì)分探測(cè)模塊、數(shù)據(jù)收集模塊、數(shù)據(jù)處理模塊、中心處理模塊、顯示屏；
[0006]檢測(cè)發(fā)生器，用于對(duì)成像物體進(jìn)行檢測(cè)執(zhí)行；
[0007]初步探測(cè)模塊，與檢測(cè)發(fā)生器連接，用于對(duì)檢測(cè)物體初步檢測(cè)的；
[0008]細(xì)分探測(cè)模塊，與檢測(cè)發(fā)生器連接，用于對(duì)檢測(cè)物體細(xì)化檢測(cè)；
[0009]數(shù)據(jù)收集模塊，與初步探測(cè)模塊和細(xì)分探測(cè)模塊連接，用于對(duì)檢測(cè)數(shù)據(jù)收集；
[0010]數(shù)據(jù)處理模塊，與數(shù)據(jù)收集模塊連接，用于對(duì)數(shù)據(jù)收集模塊收集的檢測(cè)數(shù)據(jù)進(jìn)行分析；
[0011]中心處理模塊，與數(shù)據(jù)處理模塊連接，用于對(duì)檢測(cè)數(shù)據(jù)進(jìn)行處理分類(lèi)；
[0012]顯示屏，與中心處理模塊連接，用于對(duì)CT成像顯示。
[0013]進(jìn)一步，初步探測(cè)模塊包括X光機(jī)，光子計(jì)數(shù)探測(cè)器和低能探測(cè)器；細(xì)分探測(cè)模塊包括高能探測(cè)器和平板探測(cè)器；數(shù)據(jù)收集模塊包括數(shù)據(jù)采集卡和存儲(chǔ)器，數(shù)據(jù)處理模塊包括依次連接的數(shù)據(jù)降噪去干擾模塊、數(shù)據(jù)濾波模塊、數(shù)據(jù)校正模塊；中心處理模塊包括處理器，X線發(fā)生器和收發(fā)器；處理器具體采用B85-PRO GAMER主板。
[0014]進(jìn)一步，X光機(jī)采用數(shù)字X光機(jī)，數(shù)字X光機(jī)的床身通過(guò)轉(zhuǎn)軸安裝在底座上，床身繞轉(zhuǎn)軸旋轉(zhuǎn)至床面處于豎直位置，床面一端安裝有與床面垂直的踏板。
[0015]進(jìn)一步，平板探測(cè)器的內(nèi)殼與外殼之間僅通過(guò)多個(gè)連接件相連接；內(nèi)殼的邊緣部與外殼相連接；內(nèi)殼通過(guò)連接件懸吊在外殼內(nèi)部、或通過(guò)連接件懸空支撐在外殼內(nèi)部；連接件為中部是柔性材料的螺栓，螺栓的一端部連接在外殼上、另一端部連接在內(nèi)殼框架上；內(nèi)殼包括相互固定的第一殼體和第二殼體，第一殼體上開(kāi)設(shè)有用于擱置平板的收納槽，收納槽的槽口對(duì)著探測(cè)器窗口，收納槽的槽壁與平板之間設(shè)置有緩沖層，第二殼體位于第一殼體的上方并且覆蓋在收納槽的槽口周?chē)?，第二殼體與第一殼體的上表面之間設(shè)置有緩沖材料。
[0016]進(jìn)一步，數(shù)據(jù)濾波模塊采用慣性算法對(duì)獲取的去除雜波后的數(shù)據(jù)進(jìn)行數(shù)據(jù)變化趨勢(shì)的判斷計(jì)算，依據(jù)判斷結(jié)果取得當(dāng)前信號(hào)的變化趨勢(shì)；
[0017]慣性算法具體步驟如下:
[0018]步驟一，判斷相鄰2個(gè)數(shù)據(jù)的差值的絕對(duì)值是否小于系統(tǒng)的允許波動(dòng)閾值&;當(dāng)是時(shí)進(jìn)入步驟二，否則進(jìn)入步驟三；
[0019]步驟二，相鄰2個(gè)數(shù)據(jù)的差值的絕對(duì)值小于等于系統(tǒng)的允許波動(dòng)閾值&;則設(shè)置數(shù)據(jù)保持不變的索引變量和個(gè)數(shù)變量；然后轉(zhuǎn)入步驟一對(duì)下組數(shù)據(jù)進(jìn)行處理；
[0020]步驟三，判斷相鄰2個(gè)數(shù)據(jù)的差值是否小于負(fù)的系統(tǒng)的允許波動(dòng)閾值&，是，則進(jìn)入步驟四，否則進(jìn)入步驟五；
[0021]步驟四，相鄰2個(gè)數(shù)據(jù)的差值的結(jié)果小于負(fù)的系統(tǒng)的允許波動(dòng)閾值&，則說(shuō)明該相鄰的量數(shù)據(jù)保持變小的慣性，設(shè)置數(shù)據(jù)變小的索引變量和個(gè)數(shù)變量，然后轉(zhuǎn)入步驟一對(duì)下組數(shù)據(jù)進(jìn)行處理；
[0022]步驟五，判斷相鄰2個(gè)數(shù)據(jù)的差值是否大于正的系統(tǒng)的允許波動(dòng)閾值&，是，則進(jìn)入步驟六，否則進(jìn)入步驟七；
[0023]步驟六，相鄰2個(gè)數(shù)據(jù)的差值的結(jié)果大于正的系統(tǒng)的允許波動(dòng)閾值&，則說(shuō)明該相鄰的兩個(gè)數(shù)據(jù)保持變大的慣性，設(shè)置數(shù)據(jù)變大的索引變量和變大的數(shù)據(jù)個(gè)數(shù)，然后轉(zhuǎn)入步驟一對(duì)下組相鄰的數(shù)據(jù)進(jìn)行處理；否則轉(zhuǎn)入步驟七；
[0024]步驟七，設(shè)置相鄰的前一組數(shù)據(jù)的慣性索引變量和數(shù)據(jù)個(gè)數(shù)，轉(zhuǎn)入步驟八；
[0025]步驟八，判斷所有的數(shù)據(jù)處理是否完成，當(dāng)是時(shí)進(jìn)入步驟C551，退出；否則轉(zhuǎn)入步驟一。
[0026]進(jìn)一步，數(shù)據(jù)采集卡包括接口單元、緩存單元、數(shù)據(jù)發(fā)送單元和控制單元；
[0027]接口單元，將信號(hào)轉(zhuǎn)換為T(mén)TL電平信號(hào)；
[0028]緩存單元包括輸入端緩存器、高速緩存模塊、輸出端緩存器；輸入端緩存器的輸入端與接口單元連接，輸出端與高速緩存模塊連接；輸出端緩存器的輸入端與高速緩存模塊連接；高速緩存模塊分為多個(gè)緩存塊；
[0029]數(shù)據(jù)發(fā)送單元包括PCI接口、PCI/PC1-E橋接器；輸出端緩存器的輸出端通過(guò)PCI接口與PCI/PC1-E橋接器連接；PCI/PC1-E橋接器用于實(shí)現(xiàn)PCI接口與PC1-E接口的轉(zhuǎn)換；
[0030]控制單元用于實(shí)現(xiàn)采集卡數(shù)據(jù)緩存控制。
[0031]進(jìn)一步，顯示屏的顯示單元板前端設(shè)有與殼體連接的濾光板，濾光板通過(guò)磁鐵與殼體連接，濾光板以及殼體側(cè)壁上鑲嵌有相互吸合的磁鐵，濾光板由PC板和覆于PC板上的濾光薄膜層，濾光板另一面印有寬度為不小于側(cè)壁寬度的有色層。
[0032]進(jìn)一步，該CT成像控制系統(tǒng)的成像方法包括以下步驟:檢測(cè)發(fā)生器對(duì)物體執(zhí)行檢測(cè)功能；由初步探測(cè)模塊對(duì)其進(jìn)行初步檢測(cè)處理；由細(xì)分探測(cè)模塊對(duì)需要重要點(diǎn)處理的部分進(jìn)行檢測(cè)優(yōu)化；數(shù)據(jù)收集模塊實(shí)時(shí)對(duì)檢測(cè)過(guò)程中產(chǎn)生的數(shù)據(jù)進(jìn)行收集存儲(chǔ)；由數(shù)據(jù)處理模塊對(duì)成像數(shù)據(jù)進(jìn)行比對(duì)分析；中心處理模塊對(duì)收集到的數(shù)據(jù)進(jìn)行處理成像，并優(yōu)化成像內(nèi)容，由顯示屏顯示成像效果。
[0033]進(jìn)一步，所述的數(shù)據(jù)處理模塊對(duì)成像數(shù)據(jù)進(jìn)行的分析為將初步探測(cè)模塊和細(xì)分探測(cè)模塊所成像的數(shù)據(jù)進(jìn)行對(duì)比重建。
[0034]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明具有如下有益效果:本發(fā)明通過(guò)X光機(jī)、平板探測(cè)器、數(shù)據(jù)采集卡和處理器設(shè)置，使成像效果高分辨率率，高頻收集信息數(shù)據(jù)，做到了成像細(xì)分化，使其更能滿足針對(duì)用戶的需要。
【附圖說(shuō)明】
[0035]圖1示出了如本發(fā)明實(shí)施例的一種CT成像控制系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0036]結(jié)合附圖在圖上標(biāo)記以下附圖標(biāo)記:1-檢測(cè)發(fā)生器，2-初步探測(cè)模塊，21-X光機(jī)，22-光子計(jì)數(shù)探測(cè)器，23-低能探測(cè)器，3-細(xì)分探測(cè)模塊，31-高能探測(cè)器，32-平板探測(cè)器，4-數(shù)據(jù)收集模塊，41-數(shù)據(jù)采集卡，42-存儲(chǔ)器，5-中心處理模塊，51-處理器，52-X線發(fā)生器，53-收發(fā)器，6-顯示屏，7-數(shù)據(jù)處理模塊，71-數(shù)據(jù)降噪去干擾模塊，72-數(shù)據(jù)濾波模塊，73-數(shù)據(jù)校正模塊。
【具體實(shí)施方式】
[0037]下面將參考附圖并結(jié)合實(shí)施例，來(lái)詳細(xì)說(shuō)明本發(fā)明。
[0038]如圖1所示，本發(fā)明提供了一種CT成像控制系統(tǒng)，包括檢測(cè)發(fā)生器1，初步探測(cè)模塊2，細(xì)分探測(cè)模塊3，數(shù)據(jù)收集模塊4，中心處理模塊5，顯示屏6和數(shù)據(jù)處理模塊7，所述的檢測(cè)發(fā)生器I設(shè)置在一種CT成像控制系統(tǒng)的頂部，起到對(duì)成像物體進(jìn)行檢測(cè)執(zhí)行的功能；所述的初步探測(cè)模塊2設(shè)置在檢測(cè)發(fā)生器I的左側(cè)下方，起到對(duì)檢測(cè)物體初步檢測(cè)的功能；所述的細(xì)分探測(cè)模塊3設(shè)置在初步探測(cè)模塊2的右側(cè)，起到對(duì)檢測(cè)物體細(xì)化檢測(cè)的功能；所述的數(shù)據(jù)收集模塊4設(shè)置在細(xì)分探測(cè)模塊3的下方，起到對(duì)檢測(cè)數(shù)據(jù)收集分析的功能；所述的中心處理模塊5設(shè)置在數(shù)據(jù)收集模塊4的下方，起到對(duì)檢測(cè)數(shù)據(jù)進(jìn)行處理分類(lèi)的功能；所述的顯示屏6設(shè)置在中心處理模塊5的下方，起到對(duì)CT成像顯示的功能。
[0039]進(jìn)一步，所述的初步探測(cè)模塊2包括X光機(jī)21，光子計(jì)數(shù)探測(cè)器22和低能探測(cè)器23，所述的X光機(jī)21設(shè)置在初步探測(cè)模塊2的左側(cè)；所述的光子計(jì)數(shù)探測(cè)器22設(shè)置在X光機(jī)21的右側(cè)；所述的低能探測(cè)器23設(shè)置在光子探測(cè)器22的右側(cè)。
[0040]進(jìn)一步，所述的X光機(jī)21，有利于滿足條件時(shí)發(fā)出聲音和報(bào)警燈信號(hào)，可以連接局域網(wǎng)，多個(gè)終端同時(shí)檢查，射線發(fā)射自動(dòng)控制，避免誤發(fā)射。
[0041]進(jìn)一步，所述的細(xì)分探測(cè)模塊3包括高能探測(cè)器31和平板探測(cè)器32，所述的高能探測(cè)器31設(shè)置在細(xì)分探測(cè)器3的左側(cè)；所述的平板探測(cè)器32設(shè)置在高能探測(cè)器31的右側(cè)。
[0042]進(jìn)一步，所述的平板探測(cè)器32具體采用高分辨率平板探測(cè)器，有利于更好的細(xì)分探測(cè)成像，更高分辨率的檢測(cè)成像效果。
[0043]進(jìn)一步，所述的數(shù)據(jù)收集模塊4包括數(shù)據(jù)采集卡41和存儲(chǔ)器42，所述的數(shù)據(jù)采集卡41設(shè)置在數(shù)據(jù)收集模塊4的左側(cè)；所述的存儲(chǔ)器42設(shè)置在數(shù)據(jù)采集卡41的右側(cè)。
[0044]進(jìn)一步，所述的數(shù)據(jù)采集卡41具體采用高頻數(shù)據(jù)采集卡，有利于更好的收集數(shù)據(jù)，有利于收集高頻狀態(tài)下發(fā)射的數(shù)據(jù)。
[0045]進(jìn)一步，所述的數(shù)據(jù)處理模塊7包括依次連接的數(shù)據(jù)降噪去干擾模塊71、數(shù)據(jù)濾波模塊72、數(shù)據(jù)校正模塊73。
[0046]進(jìn)一步，所述的中心處理模塊5包括處理器51，X線發(fā)生器52和收發(fā)器53，所述的處理器51設(shè)置在中心處理模塊5的左側(cè)；所述的X線發(fā)生器52設(shè)置在處理器51的右側(cè)；所述的收發(fā)器53設(shè)置在X先收發(fā)器52的右側(cè)。
[0047]所述的處理器51具體采用B85-PRO GAMER主板，有利于更好的處理成像信息，便于處理器運(yùn)行流暢。
[0048]本發(fā)明采取的技術(shù)方案為:一種CT成像控制系統(tǒng)，該CT成像控制系統(tǒng)包括檢測(cè)發(fā)生器、初步探測(cè)模塊、細(xì)分探測(cè)模塊、數(shù)據(jù)收集模塊、數(shù)據(jù)處理模塊、中心處理模塊、顯示屏；
[0049]檢測(cè)發(fā)生器，用于對(duì)成像物體進(jìn)行檢測(cè)執(zhí)行；
[0050]初步探測(cè)模塊，與檢測(cè)發(fā)生器連接，用于對(duì)檢測(cè)物體初步檢測(cè)的；
[0051]細(xì)分探測(cè)模塊，與檢測(cè)發(fā)生器連接，用于對(duì)檢測(cè)物體細(xì)化檢測(cè)；
[0052]數(shù)據(jù)收集模塊，與初步探測(cè)模塊和細(xì)分探測(cè)模塊連接，用于對(duì)檢測(cè)數(shù)據(jù)收集；
[0053]數(shù)據(jù)處理模塊，與數(shù)據(jù)收集模塊連接，用于對(duì)數(shù)據(jù)收集模塊收集的檢測(cè)數(shù)據(jù)進(jìn)行分析；
[0054]中心處理模塊，與數(shù)據(jù)處理模塊連接，用于對(duì)檢測(cè)數(shù)據(jù)進(jìn)行處理分類(lèi)；
[0055]顯示屏，與中心處理模塊連接，用于對(duì)CT成像顯示。
[0056]進(jìn)一步，初步探測(cè)模塊包括X光機(jī)，光子計(jì)數(shù)探測(cè)器和低能探測(cè)器；細(xì)分探測(cè)模塊包括高能探測(cè)器和平板探測(cè)器；數(shù)據(jù)收集模塊包括數(shù)據(jù)采集卡和存儲(chǔ)器，數(shù)據(jù)處理模塊包括