用于烹飪器具的鍋具檢測方法及檢測裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及烹飪器具技術(shù)領(lǐng)域，具體而言，涉及一種用于烹飪器具的鍋具檢測方法和一種用于烹飪器具的鍋具檢測裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]在電磁加熱領(lǐng)域中，電磁爐通過檢鍋功能才能夠?qū)κ欠穹胖糜绣伨哌M行檢測。而檢鍋方法的好壞直接影響到檢測鍋具過程中的噪音、檢測時間及準(zhǔn)確度等，進而會影響到用戶對產(chǎn)品的使用體檢。檢鍋技術(shù)的關(guān)鍵是檢測有鍋和無鍋情況下諧振電路中電信號的差異，通過一定技術(shù)手段將差異變?yōu)榱炕臄?shù)據(jù)，從而進行判斷。
[0003]現(xiàn)有的檢鍋方式主要分為以下兩種:
[0004]電流檢鍋，電流檢鍋主要是采樣諧振回路中的電流，進而經(jīng)整流、濾波、電阻分壓、濾波等處理后輸送到控制器中進行判斷，判斷的原理為:諧振回路以某一預(yù)設(shè)頻率工作，無鍋具時，諧振回路負載小，電流小，傳送至控制器中的電壓就較小，控制器判定為無鍋；有鍋具時，諧振回路負載大，電流大，傳送至控制器中的電壓就較大，控制器判定為有鍋。
[0005]脈沖檢鍋，脈沖檢鍋主要是將IBGT的集電極高壓脈沖經(jīng)電阻分壓和運放比較器之后產(chǎn)生同步脈沖傳輸至控制器。判斷原理為:無鍋具時，線圈盤和諧振電容的自由震蕩時間長，能量衰減長，單位時間內(nèi)檢測到的脈沖個數(shù)多；有鍋具時，能量衰減快，單位時間內(nèi)檢測到的脈沖個數(shù)少。
[0006]但是，上述的電流檢鍋方案存在檢鍋時間長、檢鍋消耗能量多等缺點；而脈沖檢鍋方案存在電路方案復(fù)雜、電路利用率低(僅有檢鍋作用)、通用性差(僅能用于對單IGBT的電路方案進行檢測，不能用于對雙IGBT的電路方案進行檢測)等缺點。
[0007]因此，如何能夠縮短檢測鍋具所耗費的時間、降低檢測鍋具所消耗的能量和檢測電路的復(fù)雜度，同時提高檢測電路的通用性成為亟待解決的技術(shù)問題。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0008]本發(fā)明旨在至少解決現(xiàn)有技術(shù)或相關(guān)技術(shù)中存在的技術(shù)問題之一。
[0009]為此，本發(fā)明的一個目的在于提出了一種能夠縮短檢測鍋具所耗費的時間、降低檢測鍋具所消耗的能量和檢測電路的復(fù)雜度，同時提高檢測電路的通用性的用于烹飪器具的鍋具檢測方法及檢測裝置。
[0010]為實現(xiàn)上述目的，根據(jù)本發(fā)明的第一方面的實施例，提出了一種用于烹飪器具的鍋具檢測方法，所述烹飪器具包括由加熱線圈和諧振電容組成的諧振回路、晶體管開關(guān)和電源模塊，所述諧振回路、所述晶體管開關(guān)和所述電源模塊串聯(lián)連接，所述烹飪器具還包括與所述加熱線圈串聯(lián)的互感器和與所述互感器的次級電路相連的信號采樣電路，所述鍋具檢測方法，包括:控制所述晶體管開關(guān)在導(dǎo)通第一預(yù)定時長后進入關(guān)閉狀態(tài)；在所述晶體管開關(guān)進入所述關(guān)閉狀態(tài)的時長達到第二預(yù)定時長時，通過所述信號采樣電路采集所述互感器的次級電路中的電流信號和/或采集所述互感器的次級電路中電流的振蕩頻率；根據(jù)所述電流信號的大小和/或所述振蕩頻率的大小，判斷所述烹飪器具上是否放置鍋具。
[0011]根據(jù)本發(fā)明的實施例的鍋具檢測方法，對于單晶體管開關(guān)的電路方案，通過控制晶體管開關(guān)在導(dǎo)通第一預(yù)定時長后進入關(guān)閉狀態(tài)，以在進入關(guān)閉狀態(tài)的時長達到第二預(yù)定時長時，通過信號采樣電路采集互感器的次級電路中的電流信號和/或次級電路中電流的振蕩頻率，以對烹飪器具上是否放置鍋具進行判斷，使得能夠在實現(xiàn)對烹飪器具上是否放置鍋具進行檢測的前提下，降低了檢測電路的復(fù)雜度，同時由于僅需要晶體管開關(guān)的一次導(dǎo)通，因此也能夠有效降低檢測鍋具所消耗的能量和檢測所耗費的時間。
[0012]此外，對于雙晶體管開關(guān)的電路方案，也可以采用上述的檢測方法，具體如下所述:
[0013]根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，所述烹飪器具包括加熱線圈、第一電容、第二電容、第一晶體管開關(guān)、第二晶體管開關(guān)和電源模塊，所述第一晶體管開關(guān)和所述第二晶體管開關(guān)串聯(lián)后并聯(lián)在所述電源模塊的兩端，所述第一電容和所述第二電容串聯(lián)后并聯(lián)在所述電源模塊的兩端，所述加熱線圈的第一端連接至所述第一晶體管開關(guān)和所述第二晶體管開關(guān)之間，所述加熱線圈的第二端連接至所述第一電容和所述第二電容之間，所述烹飪器具還包括與所述加熱線圈串聯(lián)的互感器和與所述互感器的次級電路相連的信號采樣電路，所述鍋具檢測方法，包括:
[0014]控制所述第一晶體管開關(guān)處于關(guān)閉狀態(tài)，并控制所述第二晶體管開關(guān)在導(dǎo)通第一預(yù)定時長后進入關(guān)閉狀態(tài)；在所述第二晶體管開關(guān)進入所述關(guān)閉狀態(tài)的時長達到第二預(yù)定時長時，通過所述信號采樣電路采集所述互感器的次級電路中的電流信號和/或采集所述互感器的次級電路中電流的振蕩頻率；根據(jù)所述電流信號的大小和/或所述振蕩頻率的大小，判斷所述烹飪器具上是否放置鍋具。
[0015]可見，對于雙晶體管開關(guān)的電路方案，同樣可以控制第二晶體管開關(guān)導(dǎo)通一次就能夠?qū)崿F(xiàn)對烹飪器具上是否放置鍋具進行檢測，也能夠降低檢測電路的復(fù)雜度和檢測鍋具所消耗的能量，并且縮短了檢測鍋具所耗費的時間。
[0016]綜上所述，本發(fā)明提出的鍋具檢測方法不僅能夠適用于單晶體管開關(guān)的電路方案，而且適用于雙晶體管開關(guān)的電路方案，提高了檢測電路和檢測方案的通用性。
[0017]根據(jù)本發(fā)明的上述實施例的用于烹飪器具的鍋具檢測方法，還可以具有以下技術(shù)特征:
[0018]根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，判斷所述烹飪器具上是否放置鍋具的步驟具體包括:在所述電流信號的值小于或等于設(shè)定的電流閾值時，和/或在所述振蕩頻率大于或等于設(shè)定的頻率閾值時，判定所述烹飪器具上放置有鍋具；以及在所述電流信號的值大于設(shè)定的電流閾值時，和/或在所述振蕩頻率小于設(shè)定的頻率閾值時，判定所述烹飪器具上未放置鍋具。
[0019]根據(jù)本發(fā)明的實施例的鍋具檢測方法，由于烹飪器具上未放置鍋具時，諧振回路的負載小，諧振頻率低，能量衰減慢、回路中電流能夠維持較長時間，因此在經(jīng)過第二預(yù)定時長之后的電流信號值大于設(shè)定的電流閾值，并且振蕩頻率也會小于設(shè)定的頻率閾值；在烹飪器具上放置鍋具時，諧振回路的負載大，諧振頻率高，能量衰減快、回路中的電流會迅速降低，因此在經(jīng)過第二預(yù)定時長之后的電流信號值小于或等于設(shè)定的電流閾值，并且振蕩頻率也會大于或等于設(shè)定的頻率閾值，因此可以根據(jù)電流信號的值與電流閾值之間的關(guān)系，和/或振蕩頻率與頻率閾值之間的關(guān)系判斷烹飪器具上是否放置鍋具。
[0020]根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，所述第一預(yù)定時長處于10微秒至50微秒之間。
[0021]根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，所述烹飪器具還包括控制裝置，則根據(jù)所述電流信號的大小判斷所述烹飪器具上是否放置鍋具的步驟具體包括:
[0022]通過所述采樣電路將采集到的所述電流信號轉(zhuǎn)換為電壓信號并傳輸至所述控制裝置，以使所述控制裝置根據(jù)所述電壓信號的大小和/或所述振蕩頻率的大小判斷所述烹飪器具上是否放置鍋具。
[0023]具體地，由于控制裝置，如單片機通常不能處理電流信號，因此可以將電流信號轉(zhuǎn)換為電壓信號傳輸至控制裝置進行處理。
[0024]根據(jù)本發(fā)明第二方面的實施例，還提出了一種用于烹飪器具的鍋具檢測裝置，所述烹飪器具包括由加熱線圈和諧振電容組成的諧振回路、晶體管開關(guān)和電源模塊，所述諧振回路、所述晶體管開關(guān)和所述電源模塊串聯(lián)連接，所述烹飪器具還包括與所述加熱線圈串聯(lián)的互感器和與所述互感器的次級電路相連的信號采樣電路，所述鍋具檢測裝置，包括:控制單元，用于控制所述晶體管開關(guān)在導(dǎo)通第一預(yù)定時長后進入關(guān)閉狀態(tài)；采集單元，用于在所述晶體管開關(guān)進入所述關(guān)閉狀態(tài)的時長達到第二預(yù)定時長時，通過所述信號采樣電路采集所述互感器的次級電路中的電流信號和/或采集所述互感器的次級電路中電流的振蕩頻率；判斷單元，用于根據(jù)所述電流信號的大小和/或所述振蕩頻率的大小，判斷所述烹飪器具上是否放置鍋具。
[0025]根據(jù)本發(fā)明的實施例的鍋具檢測裝置，對于單晶體管開關(guān)的電路方案，通過控制晶體管開關(guān)在導(dǎo)通第一預(yù)定時長后進入關(guān)閉狀態(tài)，以在進入關(guān)閉狀態(tài)的時長達到第二預(yù)定時長時，通過信號采樣電路采集互感器的次級電路中的電流信號和/或次級電路中電流的振蕩頻率，以對烹飪器具上是否放置鍋具進行判斷，使得能夠在實現(xiàn)對烹飪器具上是否放置鍋具進行檢測的前提下，降低了檢測電路的復(fù)雜度，同時由于僅需要晶體管開關(guān)的一次導(dǎo)通，因此也能夠有效降低檢測鍋具所消耗的能量和檢測所耗費的時間。
[0026]此外，對于雙晶體管開關(guān)的電路方案，也可以采用上述的檢測方案，具體如下所述:
[0027]根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，所述烹飪器具包括加熱線圈、第一電容、第二電容、第一晶體管開關(guān)、第二晶體管開關(guān)和電源模塊，所述第一晶體管開關(guān)和所述第二晶體管開關(guān)串聯(lián)后并聯(lián)在所述電源模塊的兩端，所述第一電容和所述第二電容串聯(lián)后并聯(lián)在所述電