密封圈尺寸快速測量儀的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明及測量工具領(lǐng)域，尤其涉及一種密封圈尺寸快速測量儀。
【背景技術(shù)】
[0002]在頻繁的使用更換過程中，確認密封圈的尺寸是件很麻煩的事，得用量具頻繁地測量，現(xiàn)有的密封圈測量儀實際上是量具即卡尺，由于密封圈用如橡膠之類的材料制成，材質(zhì)柔軟并具有彈性在徑向容易變形，卡尺僅適用于內(nèi)徑較小或內(nèi)徑與截面直徑比較小的密封圈，對于內(nèi)徑較大或內(nèi)徑與截面直徑比較大的密封圈，很難量準確，尺寸量不準確常常造成產(chǎn)品的不合格，造成不必要的浪費。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明主要解決的技術(shù)問題是提供一種密封圈尺寸快速測量儀。
[0004]為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明采用的一個技術(shù)方案是:密封圈尺寸快速測量儀，包括測量箱，所述測量箱上表面設(shè)有擋邊，所述擋邊圍成一個槽，所述槽內(nèi)安裝有一透光玻璃，所述測量箱上開設(shè)有兩透光孔，所述測量箱內(nèi)安裝有兩射燈；
[0005]所述透光玻璃上表面設(shè)有上公差滑塊和下公差滑塊，所述上公差滑塊中心開設(shè)有上公差孔，所述下公差滑塊滑塊中心開設(shè)有下公差孔。
[0006]在本發(fā)明一個較佳實施例中，兩所述射燈分別與兩所述透光孔同軸。
[0007]在本發(fā)明一個較佳實施例中，所述槽與所述透光玻璃相配合。
[0008]在本發(fā)明一個較佳實施例中，所述上公差滑塊和所述下公差滑塊與所述透光玻璃滑動連接。
[0009]在本發(fā)明一個較佳實施例中，所述上公差孔與所述下公差孔的直徑均小于所述透光孔的直徑。
[0010]本發(fā)明的有益效果是:本發(fā)明密封圈尺寸快速測量儀，該測量儀上通過上、下公差的滑塊與透光孔進行配合使用，根據(jù)密封圈外沿與上、下公差滑塊內(nèi)壁間的透光度來檢測所測密封圈的合格性，檢測的精確度高，而且速度快。
【附圖說明】
[0011]圖1是本發(fā)明密封圈尺寸快速測量儀的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0012]附圖中各部件的標記如下:1、測量箱；2、擋邊；3、槽；4、透光孔；5、透光玻璃；6、上公差滑塊；7、下公差滑塊；8、上公差孔；9、下公差孔；10、射燈。
【具體實施方式】
[0013]下面結(jié)合附圖對本發(fā)明的較佳實施例進行詳細闡述，以使本發(fā)明的優(yōu)點和特征能更易于被本領(lǐng)域技術(shù)人員理解，從而對本發(fā)明的保護范圍做出更為清楚明確的界定。
[0014]請參閱圖1，本發(fā)明實施例包括:密封圈尺寸快速測量儀，包括測量箱1，所述測量箱I上表面設(shè)有擋邊2，所述擋邊圍成一個槽3，所述槽3內(nèi)安裝有一透光玻璃5，所述透光玻璃5既是用來承載密封圈，使其不會從所述透光孔4內(nèi)漏下，而且使得所述射燈10的光線可以從所述透光孔4射出。
[0015]所述槽3與所述透光玻璃5相配合，使得所述透光玻璃5固定在所述測量箱I表面，不會滑動。
[0016]所述測量箱I上開設(shè)有兩透光孔4，所述測量箱I內(nèi)安裝有兩射燈10，兩所述射燈10分別與兩所述透光孔4同軸，所述射燈10為該測量儀提供檢測時所需要的光源。
[0017]所述透光玻璃5上表面設(shè)有上公差滑塊6和下公差滑塊7，所述上公差滑塊6和所述下公差滑塊7與所述透光玻璃5滑動連接，所述上公差滑塊6中心開設(shè)有上公差孔8，所述下公差滑塊滑塊7中心開設(shè)有下公差孔8，所述上公差孔8與所述下公差孔9用于放置所要測量的密封圈。
[0018]所述上公差孔8與所述下公差孔9的直徑均小于所述透光孔4的直徑。
[0019]首先將所要檢測的密封圈放入所述上公差孔8內(nèi)，將所述上公差滑塊6移到其中一所述透光孔4的光圈內(nèi)，密封圈的外徑與所述上公差孔8之間無光線透出，則說明該尺寸不合格，不滿足上公差。
[0020]若密封圈的外徑與所述上公差孔8之間有光線透出，則再將所要檢測的密封圈放入所述下公差孔9，將所述下公差滑塊7移到另一所述透光孔4的光圈內(nèi)，密封圈的外徑與所述下公差孔9之間無光線透出，則說明該尺寸合格，滿足下公差。
[0021]若密封圈的外徑與所述下公差孔9之間有光線透出，則說明該尺寸不合格，小于下公差。
[0022]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明密封圈尺寸快速測量儀，該測量儀上通過上、下公差的滑塊與透光孔進行配合使用，根據(jù)密封圈外沿與上、下公差滑塊內(nèi)壁間的透光度來檢測所測密封圈的合格性，檢測的精確度高，而且速度快。
[0023]以上所述僅為本發(fā)明的實施例，并非因此限制本發(fā)明的專利范圍，凡是利用本發(fā)明說明書及附圖內(nèi)容所作的等效結(jié)構(gòu)或等效流程變換，或直接或間接運用在其他相關(guān)的技術(shù)領(lǐng)域，均同理包括在本發(fā)明的專利保護范圍內(nèi)。
【主權(quán)項】
1.密封圈尺寸快速測量儀，包括測量箱，所述測量箱上表面設(shè)有擋邊，所述擋邊圍成一個槽，所述槽內(nèi)安裝有一透光玻璃，其特征在于:所述測量箱上開設(shè)有兩透光孔，所述測量箱內(nèi)安裝有兩射燈； 所述透光玻璃上表面設(shè)有上公差滑塊和下公差滑塊，所述上公差滑塊中心開設(shè)有上公差孔，所述下公差滑塊滑塊中心開設(shè)有下公差孔。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的密封圈尺寸快速測量儀，其特征在于:兩所述射燈分別與兩所述透光孔同軸。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的密封圈尺寸快速測量儀，其特征在于:所述槽與所述透光玻璃相配合。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的密封圈尺寸快速測量儀，其特征在于:所述上公差滑塊和所述下公差滑塊與所述透光玻璃滑動連接。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的密封圈尺寸快速測量儀，其特征在于:所述上公差孔與所述下公差孔的直徑均小于所述透光孔的直徑。
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種密封圈尺寸快速測量儀，包括測量箱，所述測量箱上表面設(shè)有擋邊，所述擋邊圍成一個槽，所述槽內(nèi)安裝有一透光玻璃，所述測量箱上開設(shè)有兩透光孔，所述測量箱內(nèi)安裝有兩射燈；所述透光玻璃上表面設(shè)有上公差滑塊和下公差滑塊，所述上公差滑塊中心開設(shè)有上公差孔，所述下公差滑塊中心開設(shè)有下公差孔。通過上述方式，本發(fā)明密封圈尺寸快速測量儀，該測量儀上通過上、下公差的滑塊與透光孔進行配合使用，根據(jù)密封圈外沿與上、下公差滑塊內(nèi)壁間的透光度來檢測所測密封圈的合格性，檢測的精確度高，而且速度快。
【IPC分類】G01B11-00
【公開號】CN104613868
【申請?zhí)枴緾N201510034382
【發(fā)明人】徐東浩
【申請人】常熟賽馳機械有限公司
【公開日】2015年5月13日
【申請日】2015年1月23日