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天線測(cè)試裝置的制造方法

文檔序號(hào):8298047閱讀:373來(lái)源:國(guó)知局
天線測(cè)試裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及天線技術(shù)領(lǐng)域,特別是涉及一種天線測(cè)試裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]天線測(cè)試電波暗室模擬的是自由空間電磁環(huán)境,電波暗室六面體全部粘貼吸波材料,在主反射區(qū)粘貼比其它區(qū)域吸波性能更優(yōu)質(zhì)的吸波材料。在電波暗室中,可對(duì)天線進(jìn)行各種測(cè)試。
[0003]在一些應(yīng)用中,天線都要求可進(jìn)行多頻段的信號(hào)接收或發(fā)射。在這種多頻段天線進(jìn)行測(cè)試時(shí),就需要對(duì)天線的多個(gè)頻點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試。傳統(tǒng)的測(cè)試方法是將天線的各個(gè)測(cè)試頻點(diǎn)與暗室測(cè)試臺(tái)上的一個(gè)測(cè)試探頭連接起來(lái),然后進(jìn)行測(cè)試。一個(gè)測(cè)試頻點(diǎn)測(cè)試完成后,再連接下一個(gè)測(cè)試頻點(diǎn)。準(zhǔn)備測(cè)試的過(guò)程包括:測(cè)試人員進(jìn)入電波暗室、將天線的測(cè)試頻點(diǎn)上引出的導(dǎo)線與暗室測(cè)試探頭手工連接起來(lái)、測(cè)試人員退出電波暗室。準(zhǔn)備好之后,從暗室外面操作測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行軟件初始化,然后系統(tǒng)開(kāi)始測(cè)試。
[0004]由于要進(jìn)行多個(gè)頻點(diǎn)的測(cè)試,上述測(cè)試過(guò)程非常繁瑣,測(cè)試效率較低。同時(shí),測(cè)試人員頻繁進(jìn)出電波暗室,容易受到殘留電波輻射的影響。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]基于此,有必要提供一種可提高多頻段天線的測(cè)試效率的天線測(cè)試裝置。
[0006]一種天線測(cè)試裝置,包括至少兩個(gè)天線連接端、公共連接端、開(kāi)關(guān)控制電路和與所述至少兩個(gè)天線連接端分別對(duì)應(yīng)的至少兩個(gè)開(kāi)關(guān)單元;
[0007]每個(gè)天線連接端通過(guò)一個(gè)開(kāi)關(guān)單元與所述公共連接端連接;
[0008]每個(gè)開(kāi)關(guān)單元都與所述開(kāi)關(guān)控制電路連接,由所述開(kāi)關(guān)控制電路控制通斷;
[0009]每個(gè)天線連接端用于與待測(cè)試天線的一個(gè)測(cè)試頻點(diǎn)連接,所述公共連接端用于與外部的測(cè)試系統(tǒng)引出的測(cè)試探頭連接。
[0010]在其中一個(gè)實(shí)施例中,所述開(kāi)關(guān)控制電路為MCU、ARM或單片機(jī)。
[0011 ] 在其中一個(gè)實(shí)施例中,所述開(kāi)關(guān)單元為繼電器。
[0012]在其中一個(gè)實(shí)施例中,還包括印刷電路板,所述天線連接端、公共連接端、開(kāi)關(guān)單元以及開(kāi)關(guān)控制電路均設(shè)置在所述印刷電路板上,且相互之間通過(guò)印刷電路板上的走線互連。
[0013]在其中一個(gè)實(shí)施例中,所述天線連接端為設(shè)于所述印刷電路板上的突出的觸點(diǎn),所述觸點(diǎn)的分布與待測(cè)試天線的測(cè)試頻點(diǎn)位置對(duì)應(yīng)。
[0014]在其中一個(gè)實(shí)施例中,所述天線連接端均通過(guò)走線連接至一個(gè)集中的插接口。
[0015]在其中一個(gè)實(shí)施例中,所述開(kāi)關(guān)控制電路定時(shí)依次控制一個(gè)開(kāi)關(guān)單元導(dǎo)通。
[0016]在其中一個(gè)實(shí)施例中,所述開(kāi)關(guān)控制電路與外部控制系統(tǒng)連接,由外部控制系統(tǒng)發(fā)送指令控制開(kāi)關(guān)單元的通斷。
[0017]上述天線測(cè)試裝置可通過(guò)將待測(cè)試天線的每個(gè)測(cè)試頻點(diǎn)都與一個(gè)對(duì)應(yīng)的天線連接端連接,并且都通過(guò)開(kāi)關(guān)單元連接至公共連接端。進(jìn)而通過(guò)開(kāi)關(guān)控制電路控制開(kāi)關(guān)單元的通斷,即可控制測(cè)試頻點(diǎn)接入電波暗室測(cè)試系統(tǒng),從而可以方便快速自動(dòng)地切換頻點(diǎn)測(cè)試,使得多個(gè)頻點(diǎn)的測(cè)試過(guò)程簡(jiǎn)化,也減少了電波暗室對(duì)測(cè)試人員的電波輻射。
【附圖說(shuō)明】
[0018]圖1為一實(shí)施例的天線測(cè)試裝置結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0019]以下結(jié)合附圖和實(shí)施例進(jìn)行進(jìn)一步說(shuō)明。
[0020]如圖1所示,為一實(shí)施例的天線測(cè)試裝置結(jié)構(gòu)示意圖。該天線測(cè)試裝置10可放置在電波暗室中,并且一般是天線的測(cè)試臺(tái)的一部分。在測(cè)試時(shí),測(cè)試人員進(jìn)入暗室,將待測(cè)試天線20與天線測(cè)試裝置10的測(cè)試探頭連接好。之后測(cè)試人員離開(kāi)暗室,在暗室外操作測(cè)試系統(tǒng)30開(kāi)始測(cè)試。
[0021]如圖1所示,該天線測(cè)試裝置10包括四個(gè)天線連接端101、公共連接端102、開(kāi)關(guān)控制電路103和與四個(gè)天線連接端101分別對(duì)應(yīng)的四個(gè)開(kāi)關(guān)單元104。每個(gè)天線連接端101通過(guò)一個(gè)開(kāi)關(guān)單元104與公共連接端102連接。每個(gè)開(kāi)關(guān)單元104都與開(kāi)關(guān)控制電路103連接,由開(kāi)關(guān)控制電路103控制通斷。
[0022]該天線測(cè)試裝置10的每個(gè)天線連接端101用于與待測(cè)試天線20的一個(gè)測(cè)試頻點(diǎn)201連接,公共連接端102則用于與外部的測(cè)試系統(tǒng)30連接。
[0023]上述天線測(cè)試裝置10可通過(guò)將待測(cè)試天線20的每個(gè)測(cè)試頻點(diǎn)201都與一個(gè)對(duì)應(yīng)的天線連接端101連接,并且都通過(guò)開(kāi)關(guān)單元104連接至公共連接端102。進(jìn)而通過(guò)開(kāi)關(guān)控制電路103控制開(kāi)關(guān)單元104的通斷,即可控制測(cè)試頻點(diǎn)201接入測(cè)試系統(tǒng)30,從而可以方便快速地切換頻點(diǎn)測(cè)試,使得多個(gè)頻點(diǎn)的測(cè)試過(guò)程簡(jiǎn)化,也減少了電波暗室對(duì)測(cè)試人員的電波輻射。
[0024]上述實(shí)施例中,開(kāi)關(guān)控制電路103可以是MCU、ARM或單片機(jī)。開(kāi)關(guān)單元104可以是繼電器。
[0025]上述實(shí)施例中,天線連接端101、公共連接端102、開(kāi)關(guān)單元104以及開(kāi)關(guān)控制電路103具體是設(shè)置在印刷電路板上。天線連接端101、公共連接端102、開(kāi)關(guān)單元104以及開(kāi)關(guān)控制電路103相互之間通過(guò)印刷電路板上的走線互連。開(kāi)關(guān)控制電路103和開(kāi)關(guān)單元104則焊接在印刷電路板上。
[0026]可選地,天線連接端101可以是設(shè)于印刷電路板上的突出的觸點(diǎn),其中所述觸點(diǎn)的分布與待測(cè)試天線20的測(cè)試頻點(diǎn)201位置對(duì)應(yīng)。突出的觸點(diǎn)可以是金屬柱或類(lèi)似物。
[0027]可選地,天線連接端101還可以都通過(guò)走線連接至一個(gè)集中的插接口。該插接口中可設(shè)置接觸片或接觸點(diǎn),然后待測(cè)試天線20可將測(cè)試頻點(diǎn)201引出然后連接在該插接口中。
[0028]上述實(shí)施例中,開(kāi)關(guān)控制電路103可與外部控制系統(tǒng)40連接,由外部控制系統(tǒng)40發(fā)送指令控制開(kāi)關(guān)單元104的通斷。外部控制系統(tǒng)40可設(shè)置于電波暗室外,因此可實(shí)現(xiàn)在電波暗室外控制開(kāi)關(guān)單元104。當(dāng)開(kāi)關(guān)控制電路103采用MCU實(shí)現(xiàn)時(shí),可以用串口的方式與計(jì)算機(jī)連接通信。該通信方式簡(jiǎn)單,易于實(shí)現(xiàn)。在其他實(shí)施例中,開(kāi)關(guān)控制電路103還可定時(shí)依次控制一個(gè)開(kāi)關(guān)單元104導(dǎo)通。
[0029]上述實(shí)施例的天線測(cè)試裝置設(shè)有四個(gè)天線連接端,可用于測(cè)試具有四個(gè)以下的頻點(diǎn)的天線。可以理解,該天線測(cè)試裝置還可以設(shè)置兩個(gè)、三個(gè)或更多個(gè)天線連接端,以方便測(cè)試具有至少兩個(gè)頻點(diǎn)的天線。
[0030]以上所述實(shí)施例的各技術(shù)特征可以進(jìn)行任意的組合,為使描述簡(jiǎn)潔,未對(duì)上述實(shí)施例中的各個(gè)技術(shù)特征所有可能的組合都進(jìn)行描述,然而,只要這些技術(shù)特征的組合不存在矛盾,都應(yīng)當(dāng)認(rèn)為是本說(shuō)明書(shū)記載的范圍。
[0031]以上所述實(shí)施例僅表達(dá)了本發(fā)明的幾種實(shí)施方式,其描述較為具體和詳細(xì),但并不能因此而理解為對(duì)發(fā)明專(zhuān)利范圍的限制。應(yīng)當(dāng)指出的是,對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來(lái)說(shuō),在不脫離本發(fā)明構(gòu)思的前提下,還可以做出若干變形和改進(jìn),這些都屬于本發(fā)明的保護(hù)范圍。因此,本發(fā)明專(zhuān)利的保護(hù)范圍應(yīng)以所附權(quán)利要求為準(zhǔn)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種天線測(cè)試裝置,其特征在于,包括至少兩個(gè)天線連接端、公共連接端、開(kāi)關(guān)控制電路和與所述至少兩個(gè)天線連接端分別對(duì)應(yīng)的至少兩個(gè)開(kāi)關(guān)單元; 每個(gè)天線連接端通過(guò)一個(gè)開(kāi)關(guān)單元與所述公共連接端連接; 每個(gè)開(kāi)關(guān)單元都與所述開(kāi)關(guān)控制電路連接,由所述開(kāi)關(guān)控制電路控制通斷; 每個(gè)天線連接端用于與待測(cè)試天線的一個(gè)測(cè)試頻點(diǎn)連接,所述公共連接端用于與電波暗室測(cè)試系統(tǒng)連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的天線測(cè)試裝置,其特征在于,所述開(kāi)關(guān)控制電路為MCU、ARM或單片機(jī)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的天線測(cè)試裝置,其特征在于,所述開(kāi)關(guān)單元為繼電器。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的天線測(cè)試裝置,其特征在于,還包括印刷電路板,所述天線連接端、公共連接端、開(kāi)關(guān)單元以及開(kāi)關(guān)控制電路均設(shè)置在所述印刷電路板上,且相互之間通過(guò)印刷電路板上的走線互連。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的天線測(cè)試裝置,其特征在于,所述天線連接端為設(shè)于所述印刷電路板上的突出的觸點(diǎn),所述觸點(diǎn)的分布與待測(cè)試天線的測(cè)試頻點(diǎn)位置對(duì)應(yīng)。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的天線測(cè)試裝置,其特征在于,所述天線連接端均通過(guò)走線連接至一個(gè)集中的插接口。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的天線測(cè)試裝置,其特征在于,所述開(kāi)關(guān)控制電路定時(shí)依次控制一個(gè)開(kāi)關(guān)單元導(dǎo)通。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的天線測(cè)試裝置,其特征在于,所述開(kāi)關(guān)控制電路與外部控制系統(tǒng)連接,由外部控制系統(tǒng)發(fā)送指令控制開(kāi)關(guān)單元的通斷。
【專(zhuān)利摘要】本發(fā)明涉及一種天線測(cè)試裝置,包括至少兩個(gè)天線連接端、公共連接端、開(kāi)關(guān)控制電路和與所述至少兩個(gè)天線連接端分別對(duì)應(yīng)的至少兩個(gè)開(kāi)關(guān)單元;每個(gè)天線連接端通過(guò)一個(gè)開(kāi)關(guān)單元與所述公共連接端連接;每個(gè)開(kāi)關(guān)單元都與所述開(kāi)關(guān)控制電路連接,由所述開(kāi)關(guān)控制電路控制通斷;每個(gè)天線連接端用于與待測(cè)試天線的一個(gè)測(cè)試頻點(diǎn)連接,所述公共連接端用于與外部的測(cè)試系統(tǒng)的暗室測(cè)試探頭連接。上述天線測(cè)試裝置可通過(guò)將待測(cè)試天線的每個(gè)測(cè)試頻點(diǎn)都與一個(gè)對(duì)應(yīng)的天線連接端連接,并且都通過(guò)開(kāi)關(guān)單元連接至公共連接端。進(jìn)而通過(guò)開(kāi)關(guān)控制電路控制開(kāi)關(guān)單元的通斷,即可控制測(cè)試頻點(diǎn)接入測(cè)試系統(tǒng),從而可以方便快速地切換頻點(diǎn)測(cè)試,使得多個(gè)頻點(diǎn)的測(cè)試過(guò)程簡(jiǎn)化。
【IPC分類(lèi)】G01R29-08
【公開(kāi)號(hào)】CN104614596
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201410854588
【發(fā)明人】王春華, 周杰
【申請(qǐng)人】深圳市華信天線技術(shù)有限公司
【公開(kāi)日】2015年5月13日
【申請(qǐng)日】2014年12月31日
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