測(cè)試模式設(shè)定電路及設(shè)定方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及集成電路測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種用于集成電路的測(cè)試模式設(shè)定電路及設(shè)定方法。
【背景技術(shù)】
[0002]芯片在封裝過(guò)程中，由于封裝應(yīng)力等因素，可能造成芯片各項(xiàng)特性參數(shù)的漂移，故在芯片封裝之后，需要進(jìn)行測(cè)試和調(diào)試，以保證每一顆芯片都能達(dá)到產(chǎn)品規(guī)格的要求。為了便于芯片的測(cè)試，會(huì)在芯片內(nèi)集成測(cè)試模式設(shè)定電路，在芯片進(jìn)入測(cè)試模式后能對(duì)芯片進(jìn)行測(cè)試。測(cè)試模式設(shè)定電路要求不能影響芯片的正常應(yīng)用，不會(huì)對(duì)芯片造成寄生效應(yīng)。
[0003]一般情況下，測(cè)試時(shí)，通過(guò)對(duì)芯片的相應(yīng)端口加入特定的信號(hào)，從而激活內(nèi)置的測(cè)試模式設(shè)定電路，以進(jìn)入測(cè)試模式?，F(xiàn)有技術(shù)中，除了電源端口，地線之外，還需要信號(hào)端口和復(fù)位端口等額外端口。以上述現(xiàn)有技術(shù)為例，對(duì)于設(shè)置信號(hào)端口和復(fù)位端口的半導(dǎo)體芯片，通過(guò)在芯片這兩個(gè)端口加入信號(hào)，在信號(hào)端口進(jìn)入周期性的高低電平，來(lái)計(jì)數(shù)測(cè)試模式的數(shù)量，經(jīng)過(guò)一個(gè)高低電平，內(nèi)部計(jì)數(shù)器加一，實(shí)現(xiàn)計(jì)數(shù)。計(jì)數(shù)多少次，就可以產(chǎn)生多少個(gè)獨(dú)立的測(cè)試模式。在復(fù)位端口輸入作為芯片進(jìn)入測(cè)試模式的復(fù)位信號(hào)，以在測(cè)試模式下進(jìn)行復(fù)位，以便進(jìn)行其他參數(shù)的測(cè)試或調(diào)試。
[0004]對(duì)于一些集成電路而言，有時(shí)并未設(shè)置上述的部分端口，難以使用傳統(tǒng)測(cè)試模式設(shè)定電路和方法進(jìn)行測(cè)試操作，例如，對(duì)于僅有電源端口，地線端口以及輸出電壓端口的3端口半導(dǎo)體芯片等。對(duì)于這樣的半導(dǎo)體芯片來(lái)說(shuō)，如果利用現(xiàn)有技術(shù)的測(cè)試模式設(shè)定電路，則面臨端口數(shù)目不夠的問(wèn)題，因此為了設(shè)定測(cè)試模式，而需要增加端口，則造成芯片封裝尺寸的增大和成本的提高。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]有鑒于此，本發(fā)明的目的在于提供一種測(cè)試模式設(shè)定電路及設(shè)定方法，以解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的進(jìn)入測(cè)試模式所需端口數(shù)較多的技術(shù)問(wèn)題。
[0006]本發(fā)明的技術(shù)解決方案是，提供一種以下結(jié)構(gòu)的測(cè)試模式設(shè)定電路，應(yīng)用于帶有輸出電壓端口的集成電路，包括模式觸發(fā)電路和脈寬檢測(cè)電路，所述的模式觸發(fā)電路的第一輸入端與輸出電壓端口電連接，其第二輸入端接收基準(zhǔn)信號(hào)，模式觸發(fā)電路的輸出端與脈寬檢測(cè)電路連接；
[0007]進(jìn)行測(cè)試模式設(shè)定時(shí)，在集成電路的輸出電壓端口施加模式觸發(fā)信號(hào)，所述的模式觸發(fā)信號(hào)與基準(zhǔn)信號(hào)進(jìn)行比較以產(chǎn)生脈沖信號(hào)，所述的脈寬檢測(cè)電路接收脈沖信號(hào)，并檢測(cè)脈沖信號(hào)的脈寬，輸出脈寬檢測(cè)信號(hào)，所述測(cè)試模式設(shè)定電路根據(jù)所述脈寬檢測(cè)信號(hào)進(jìn)入相應(yīng)的測(cè)試模式。
[0008]優(yōu)選地，所述的測(cè)試模式設(shè)定電路還包括計(jì)數(shù)電路、燒寫(xiě)判斷電路和熔絲燒寫(xiě)電路，設(shè)定計(jì)數(shù)脈寬范圍和燒寫(xiě)脈寬范圍，所述的計(jì)數(shù)電路和燒寫(xiě)判斷電路分別接收脈寬檢測(cè)電路輸出的脈寬檢測(cè)信號(hào)，所述脈沖信號(hào)落入計(jì)數(shù)脈寬范圍時(shí)，則由計(jì)數(shù)電路對(duì)測(cè)試模式進(jìn)行計(jì)數(shù)，所述的脈沖信號(hào)落入燒寫(xiě)脈寬范圍時(shí)，則由燒寫(xiě)判斷電路判斷后進(jìn)入修調(diào)測(cè)試模式，所述熔絲燒寫(xiě)電路根據(jù)此時(shí)計(jì)數(shù)電路的計(jì)數(shù)值選擇相應(yīng)位的熔絲進(jìn)行燒斷。
[0009]優(yōu)選地，所述的脈寬檢測(cè)電路對(duì)脈沖信號(hào)的上升沿作延時(shí)處理后得到延時(shí)信號(hào)，將所述延時(shí)信號(hào)與所述脈沖信號(hào)相與，以產(chǎn)生所述的脈寬檢測(cè)信號(hào)。
[0010]優(yōu)選地，所述的測(cè)試模式設(shè)定電路還包括復(fù)位電路，設(shè)定復(fù)位脈寬范圍，所述脈沖信號(hào)落入復(fù)位脈寬范圍時(shí)，則由復(fù)位電路對(duì)測(cè)試模式復(fù)位，計(jì)數(shù)電路清零。
[0011 ] 優(yōu)選地，所述的集成電路包括功率級(jí)電路，所述的功率級(jí)電路包括主功率開(kāi)關(guān)管，所述的模式觸發(fā)信號(hào)為高低電壓信號(hào)，模式觸發(fā)信號(hào)的最低值大于功率級(jí)電路的正常輸出電壓。
[0012]本發(fā)明的另一技術(shù)解決方案是，提供一種以下的測(cè)試模式設(shè)定方法，應(yīng)用于帶有輸出電壓端口的集成電路，進(jìn)行測(cè)試模式設(shè)定時(shí)，在集成電路的輸出電壓端口施加模式觸發(fā)信號(hào)，將所述的模式觸發(fā)信號(hào)與基準(zhǔn)信號(hào)進(jìn)行比較以產(chǎn)生脈沖信號(hào)，并檢測(cè)脈沖信號(hào)的脈寬，得到脈寬檢測(cè)信號(hào)，根據(jù)表征脈沖信號(hào)脈寬范圍的脈寬檢測(cè)信號(hào)，進(jìn)入相應(yīng)的測(cè)試模式。
[0013]本發(fā)明的又一技術(shù)解決方案是，提供一種以下的集成電路，包括輸入端口、輸出電壓端口和接地端口，所述集成電路還包括上述任意一種測(cè)試模式設(shè)定電路。
[0014]采用本發(fā)明的結(jié)構(gòu)和方法，與現(xiàn)有技術(shù)相比，具有以下優(yōu)點(diǎn):本發(fā)明針對(duì)端口較少的芯片，利用有限的端口數(shù)來(lái)進(jìn)行測(cè)試模式的設(shè)定，在集成電路的輸出電壓端口施加模式觸發(fā)信號(hào)，將所述的模式觸發(fā)信號(hào)與基準(zhǔn)信號(hào)進(jìn)行比較以產(chǎn)生脈沖信號(hào)，并檢測(cè)脈沖信號(hào)的脈寬，得到脈寬檢測(cè)信號(hào)，根據(jù)表征脈沖信號(hào)脈寬范圍的脈寬檢測(cè)信號(hào)，進(jìn)入相應(yīng)的測(cè)試模式。因此，本發(fā)明能夠滿足端口數(shù)較少的芯片的測(cè)試模式的設(shè)定，無(wú)需增設(shè)專(zhuān)用端口，降低了芯片的封裝尺寸和生產(chǎn)成本。
【附圖說(shuō)明】
[0015]圖1為本發(fā)明測(cè)試模式設(shè)定電路的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0016]圖2為本發(fā)明的工作波形圖；
[0017]圖3為集成電路的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0018]下面將結(jié)合示意圖對(duì)本發(fā)明作更詳細(xì)的描述，其中表示了本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例，應(yīng)該理解本領(lǐng)域技術(shù)人員可以在此描述基礎(chǔ)上，在權(quán)利要求的范圍內(nèi)對(duì)本發(fā)明具體電路進(jìn)行變換和替換，而仍然實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的有利效果。下列描述并不作為對(duì)本發(fā)明的限制。
[0019]在下列段落中參照附圖以舉例方式更具體地描述本發(fā)明。需說(shuō)明的是，附圖均采用較為簡(jiǎn)化的形式且均使用非精準(zhǔn)的比例，僅用以方便、明晰地輔助說(shuō)明本發(fā)明實(shí)施例的目的。
[0020]本發(fā)明的基本解決方案在于，提供一種測(cè)試模式設(shè)定電路，應(yīng)用于帶有輸出電壓端口的集成電路，包括模式觸發(fā)電路和脈寬檢測(cè)電路，所述的模式觸發(fā)電路的第一輸入端與輸出電壓端口電連接，其第二輸入端接收基準(zhǔn)信號(hào)，模式觸發(fā)電路的輸出端與脈寬檢測(cè)電路連接；
[0021]進(jìn)行測(cè)試模式設(shè)定時(shí)，在集成電路的輸出電壓端口施加模式觸發(fā)信號(hào)，所述的模式觸發(fā)信號(hào)與基準(zhǔn)信號(hào)進(jìn)行比較以產(chǎn)生脈沖信號(hào)，所述的脈寬檢測(cè)電路接收脈沖信號(hào)，并檢測(cè)脈沖信號(hào)的脈寬，輸出脈寬檢測(cè)信號(hào)，所述測(cè)試模式設(shè)定電路根據(jù)所述脈寬檢測(cè)信號(hào)進(jìn)入相應(yīng)的測(cè)試模式。
[0022]參考圖1所示，示意了測(cè)試模式設(shè)定電路的原理框圖。測(cè)試模式設(shè)定電路集成于集成電路內(nèi)。OUT為集成電路的輸出電壓端口，模式觸發(fā)電路的第一輸入端連接在集成電路的輸出電壓端口 0UT，在該端口輸入模式觸發(fā)信號(hào)Vout，所述的模式觸發(fā)信號(hào)Vout為高低電壓信號(hào)(需要說(shuō)明的是，本處所指的高低電壓并非通常意義上的高低電壓，而是就信號(hào)本身存在的高電壓和低電壓相對(duì)而言的。實(shí)際上所述的高低電